| dbo:abstract |
Scanning capacitance microscopy (SCM) is a variety of scanning probe microscopy in which a narrow probe electrode is positioned in contact or close proximity of a sample's surface and scanned. SCM characterizes the surface of the sample using information obtained from the change in electrostatic capacitance between the surface and the probe. (en) 走査型静電容量顕微鏡法（そうさがたせいでんようりょうけんびきょうほう、英語: Scanning Capacitance Microscopy: SCM）は、顕微鏡法の一手法。 (ja) Skaningowy mikroskop pojemnościowy (z ang. SCM - Scanning Capacitance Microscopy) – obrazuje zmiany przestrzenne w pojemności elektrycznej badanej próbki. Pomiędzy badaną powierzchnią a sondą skanującą indukowane jest napięcie elektryczne. Dźwigienka bezkontaktowo przesuwa się nad próbką, układ elektroniczny umieszczony na jej końcu wykrywa zmiany stałej dielektrycznej ośrodka, znajdującego się pomiędzy sondą a próbką. (pl) |
| dbo:wikiPageID |
11515113 (xsd:integer) |
| dbo:wikiPageLength |
6788 (xsd:nonNegativeInteger) |
| dbo:wikiPageRevisionID |
1085970801 (xsd:integer) |
| dbo:wikiPageWikiLink |
dbr:Capacitance_Electronic_Disc dbr:Dopant dbr:Atomic_force_microscope dbr:Hafnium dbr:Germanium dbr:Quantum_dot dbr:Atomic_layer_deposition dbc:Scanning_probe_microscopy dbr:Dielectric dbr:2DEG dbr:Scanning_probe_microscopy dbr:Semiconductor dbr:Atomic_nanoscope dbr:Probe_microscopy |
| dbp:wikiPageUsesTemplate |
dbt:SPM2 dbt:Reflist |
| dct:subject |
dbc:Scanning_probe_microscopy |
| gold:hypernym |
dbr:Variety |
| rdf:type |
dbo:Grape |
| rdfs:comment |
Scanning capacitance microscopy (SCM) is a variety of scanning probe microscopy in which a narrow probe electrode is positioned in contact or close proximity of a sample's surface and scanned. SCM characterizes the surface of the sample using information obtained from the change in electrostatic capacitance between the surface and the probe. (en) 走査型静電容量顕微鏡法（そうさがたせいでんようりょうけんびきょうほう、英語: Scanning Capacitance Microscopy: SCM）は、顕微鏡法の一手法。 (ja) Skaningowy mikroskop pojemnościowy (z ang. SCM - Scanning Capacitance Microscopy) – obrazuje zmiany przestrzenne w pojemności elektrycznej badanej próbki. Pomiędzy badaną powierzchnią a sondą skanującą indukowane jest napięcie elektryczne. Dźwigienka bezkontaktowo przesuwa się nad próbką, układ elektroniczny umieszczony na jej końcu wykrywa zmiany stałej dielektrycznej ośrodka, znajdującego się pomiędzy sondą a próbką. (pl) |
| rdfs:label |
走査型静電容量顕微鏡法 (ja) Scanning capacitance microscopy (en) Skaningowy mikroskop pojemnościowy (pl) |
| owl:sameAs |
freebase:Scanning capacitance microscopy yago-res:Scanning capacitance microscopy wikidata:Scanning capacitance microscopy dbpedia-ja:Scanning capacitance microscopy dbpedia-pl:Scanning capacitance microscopy https://global.dbpedia.org/id/54hDH |
| prov:wasDerivedFrom |
wikipedia-en:Scanning_capacitance_microscopy?oldid=1085970801&ns=0 |
| foaf:isPrimaryTopicOf |
wikipedia-en:Scanning_capacitance_microscopy |
| is dbo:wikiPageDisambiguates of |
dbr:SCM |
| is dbo:wikiPageWikiLink of |
dbr:Index_of_physics_articles_(S) dbr:Rachel_Oliver_(scientist) dbr:SCM dbr:Scanning_probe_microscopy dbr:Scanning_microscopy |
| is foaf:primaryTopic of |
wikipedia-en:Scanning_capacitance_microscopy |