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Un détecteur à dérive au silicium (en anglais Silicon drift detector ou SDD) est un détecteur de rayons X utilisé en spectrométrie de fluorescence des rayons X (X-ray fluorescence ou XRF et EDS) et en microscopie électronique. Comparées à celles d'autres détecteurs de rayons X, leurs principales caractéristiques sont : * taux de comptage élevé * assez bonne résolution en énergie (par exemple 125 eV pour la raie Kα du manganèse) * refroidissement Peltier