Perturbation_par_une_particule_isolée (original) (raw)

Une perturbation par une particule isolée (PPI) (en anglais : Single event upset) est un changement d'état provoqué par une seule particule ionisante (ions, électrons, photons ...) frappant un nœud sensible dans un dispositif microélectronique, comme dans un microprocesseur, une , ou transistors de puissance. Le changement d'état est le résultat de la charge libre créée par ionisation dans ou à proximité d'un nœud important d'un élément logique (par exemple dans un "bit" de mémoire). L'erreur de la donnée de sortie ou du fonctionnement de l'appareil causée par cette impact est appelée perturbation par une particule isolée ou .

Property	Value
dbo:abstract	Une perturbation par une particule isolée (PPI) (en anglais : Single event upset) est un changement d'état provoqué par une seule particule ionisante (ions, électrons, photons ...) frappant un nœud sensible dans un dispositif microélectronique, comme dans un microprocesseur, une , ou transistors de puissance. Le changement d'état est le résultat de la charge libre créée par ionisation dans ou à proximité d'un nœud important d'un élément logique (par exemple dans un "bit" de mémoire). L'erreur de la donnée de sortie ou du fonctionnement de l'appareil causée par cette impact est appelée perturbation par une particule isolée ou . Une perturbation par une particule isolée en elle-même n'est pas considérée comme endommageant de façon permanente la fonctionnalité du transistor ou des circuits contrairement au cas du , d’une isolée ou d’un claquage isolé. Ce sont tous des exemples d'une classe générale d'effets de rayonnement dans les appareils électroniques appelés effets à événement unique (EEU). (fr)
dbo:thumbnail	wiki-commons:Special:FilePath/Airbus_A330-303,_Qantas_AN0743607.jpg?width=300
dbo:wikiPageExternalLink	http://crc.stanford.edu/crc_papers/CRC-TR-01-4.pdf http://etd.library.vanderbilt.edu/ETD-db/available/etd-11022005-161757/ http://radhome.gsfc.nasa.gov/radhome/see.htm http://www.seutest.com http://adsabs.harvard.edu/cgi-bin/nph-abs_connect http://www.research.ibm.com/journal/rd40-1.html http://spectrum.library.concordia.ca/15130/%7C http://www.rcnp.osaka-u.ac.jp/~annurep/2001/genkou/sec3/kobayashi.pdf http://www.microsemi.com/products/fpga-soc/reliability/see http://scholarsarchive.byu.edu/etd/521/ http://ieeexplore.ieee.org/xpls/icp.jsp%3Farnumber=6187516 https://web.archive.org/web/20050310163239/http:/www.altera.com/products/devices/stratix/features/stx-seu.html https://web.archive.org/web/20050316074002/http:/www.boeing.com/assocproducts/radiationlab/publications/ https://web.archive.org/web/20051018163723/http:/flightlinux.gsfc.nasa.gov/docs/Target_Arch_Report.html https://web.archive.org/web/20060103143222/http:/www-hpc.jpl.nasa.gov/PEP/pls/papers/Fault_analysis.pdf http://stinet.dtic.mil/oai/oai%3F&verb=getRecord&metadataPrefix=html&identifier=ADA333415 http://www.usenix.org/events/usenix07/tech/li.html
dbo:wikiPageID	13193555 (xsd:integer)
dbo:wikiPageLength	14734 (xsd:nonNegativeInteger)
dbo:wikiPageRevisionID	186980413 (xsd:integer)
dbo:wikiPageWikiLink	dbpedia-fr:Accélérateur_de_particules dbpedia-fr:Belgique dbpedia-fr:Bruxelles category-fr:Électronique_numérique dbpedia-fr:Ceinture_de_Van_Allen dbpedia-fr:Code_de_Gray dbpedia-fr:Cyclotron dbpedia-fr:Césium_137 dbpedia-fr:Distance_de_Hamming dbpedia-fr:Durcissement_(électronique) dbpedia-fr:Encapsulation_(électronique) dbpedia-fr:Essai_nucléaire dbpedia-fr:Goddard_Space_Flight_Center dbpedia-fr:IBM dbpedia-fr:Ionisation dbpedia-fr:Magnétosphère dbpedia-fr:Mémoire_à_code_correcteur_d'erreurs dbpedia-fr:Particule_élémentaire dbpedia-fr:Particule_α dbpedia-fr:Radioactivité dbpedia-fr:Rayonnement_cosmique dbpedia-fr:Schaerbeek dbpedia-fr:Semi-conducteur dbpedia-fr:Silicium_sur_isolant dbpedia-fr:Somme_de_contrôle dbpedia-fr:Thyristor dbpedia-fr:Timothy_C._May dbpedia-fr:Transistor dbpedia-fr:Université_Yale dbpedia-fr:Verrouillage dbpedia-fr:Épitaxie dbpedia-fr:Microprocesseur dbpedia-fr:Déclenchement_parasite_destructif dbpedia-fr:Déclenchement_parasite_isolé dbpedia-fr:Défaillance_logicielle dbpedia-fr:Emballement_thermique dbpedia-fr:Erreur_logicielle dbpedia-fr:Fichier:Airbus_A330-303,_Qantas_AN0743607.jpg dbpedia-fr:Memory_scrubbing dbpedia-fr:Mémoire_à_semi-conducteur dbpedia-fr:Rupture_de_grille dbpedia-fr:Silicium_sur_saphir dbpedia-fr:Structure_parasite dbpedia-fr:Transitoire_à_événement_unique dbpedia-fr:Éruption_de_particules_solaires
prop-fr:année	1990 (xsd:integer) 1991 (xsd:integer) 1997 (xsd:integer) 2005 (xsd:integer) 2006 (xsd:integer) 2011 (xsd:integer)
prop-fr:auteur	A. G. Costantine (fr) C. L. Howe (fr) D. R. Roth (fr) J. A. Thompson (fr) R. Islam (fr) T. Z. Fullem (fr)
prop-fr:fr	Code de Johnson (fr) Code de Libaw-Craig (fr) Compteur de Johnson (fr)
prop-fr:isbn	978 (xsd:integer)
prop-fr:langue	de (fr) en (fr)
prop-fr:lireEnLigne	http://etd.library.vanderbilt.edu/ETD-db/available/etd-11022005-161757/ http://stinet.dtic.mil/oai/oai%3F&verb=getRecord&metadataPrefix=html&identifier=ADA333415
prop-fr:pagesTotales	298 (xsd:integer)
prop-fr:titre	The role of charge collection in the single event upset (fr) An Advanced Single Event Upset Tester (fr) Design, Construction and Programming of a Microcontroller-Based Testbench Suitable for Radiation Testing of Microelectronic Circuits (fr) Radiation-induced energy deposition and single event upset error rates in scaled microelectronic structures (fr) High-speed Energy-efficient Soft Error Tolerant Flip-flops (fr) Radiation detection using single event upsets in memory chips (fr)
prop-fr:trad	Johnson-Code (fr) Libaw-Craig-Code (fr) Ring counter (fr)
prop-fr:url	http://spectrum.library.concordia.ca/15130/\| type=masters (fr)
prop-fr:wikiPageUsesTemplate	dbpedia-fr:Modèle:ProQuest dbpedia-fr:Modèle:Date- dbpedia-fr:Modèle:Lien dbpedia-fr:Modèle:Ouvrage dbpedia-fr:Modèle:Portail dbpedia-fr:Modèle:Traduction/Référence dbpedia-fr:Modèle:Article_principal dbpedia-fr:Modèle:À_wikifier
prop-fr:éditeur	Naval Postgraduate School (fr) Concordia University (fr) Vanderbilt University (fr) Rensselaer Polytechnic Institute (fr) Binghamton University (fr) Clemson University (fr)
dct:subject	category-fr:Électronique_numérique
rdfs:comment	Une perturbation par une particule isolée (PPI) (en anglais : Single event upset) est un changement d'état provoqué par une seule particule ionisante (ions, électrons, photons ...) frappant un nœud sensible dans un dispositif microélectronique, comme dans un microprocesseur, une , ou transistors de puissance. Le changement d'état est le résultat de la charge libre créée par ionisation dans ou à proximité d'un nœud important d'un élément logique (par exemple dans un "bit" de mémoire). L'erreur de la donnée de sortie ou du fonctionnement de l'appareil causée par cette impact est appelée perturbation par une particule isolée ou . (fr)
rdfs:label	Perturbation par une particule isolée (fr) Single Event Upset (de) Single event upset (es) Порушенням в результаті одиничної події (uk)
owl:sameAs	dbr:Single-event_upset wikidata:Q1476733 dbpedia-de:Single_Event_Upset dbpedia-es:Single_event_upset dbpedia-simple:Single_event_upset dbpedia-tr:Single_event_upset dbpedia-uk:Порушенням_в_результаті_одиничної_події dbpedia-zh:单粒子翻转 http://g.co/kg/m/06r59m http://ma-graph.org/entity/2780073065
prov:wasDerivedFrom	wikipedia-fr:Perturbation_par_une_particule_isolée?oldid=186980413&ns=0
foaf:depiction	wiki-commons:Special:FilePath/Airbus_A330-303,_Qantas_AN0743607.jpg
foaf:isPrimaryTopicOf	wikipedia-fr:Perturbation_par_une_particule_isolée
is dbo:wikiPageRedirects of	dbpedia-fr:Single-event_upset
is dbo:wikiPageWikiLink of	dbpedia-fr:Herschel_(télescope_spatial) dbpedia-fr:Vol_Qantas_72 dbpedia-fr:Single-event_upset
is oa:hasTarget of	tag-fr:UkFrResource tag-fr:DeFrResource tag-fr:EsFrResource tag-fr:WdtFrResource
is foaf:primaryTopic of	wikipedia-fr:Perturbation_par_une_particule_isolée