Способ тепловой дефектоскопии изделий и материалов — SU 1396756 (original) (raw)
Описание
1. Способ тепловой дефектоскопии изделий и материалов, включающий облучение их поверхности источником излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля путем установления помех, связанных с изменением излучательной способности контролируемой поверхности, получают два тепловых изображения объекта контроля в интервале до 30 мс после включения источника излучения и после выключения источника излучения совмещают полученные изображения и по соответствию аномалий изображений отличают истинные дефекты от ложных.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что первое тепловое изображение объекта контроля получают в отраженном излучении источника излучения.
3. Способ по пп.1 и 2, отличающийся тем, что температуру источника излучения при получении первого теплового изображения и температуру нагрева поверхности при получении второго теплового изображения объекта контроля выбирают равными.
Заявка
3986330/25, 05.11.1985
Научно-исследовательский институт интроскопии
Бекешко Н. А, Арсентьев Н. С, Воронин И. Д, Ковалев А. В
МПК / Метки
МПК: G01N 25/72
Метки: дефектоскопии, тепловой
Опубликовано: 20.02.2000