Способ исследования кинетики пропитки пористыхтел — SU 209029 (original) (raw)
Текст
2 О 9029 ОПИСАН И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Саветских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 2,Ч 111.1966 ( 1095082/28-12)с присоединением заявкиКл. 421, 9/ МПК С 01 п рио Комитет по изобретений и ори Совете М СССРвл ткрц публиковано 17.1.1968. Бюллетень 9(088.8) У истро Дата опубликования описания 22.1 Ч.196 Авторызобретен. Кореневская и В. В, Лаврентьев аявитель СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ КИНЕТИКИ ПРОТЕЛ И ПОРИСТЫХ зившись от основания призмы, - на фотоэлемент 7. По мере смачивания образца в той части, которая находится в контакте с призмой 4, световой поток, попадающий на фотоэлемент 7, уменьшается. По разности световых потоков регистрируемых фотоэлементами б и 7, оценивают степень пропитки образца. Известен способ исследования кинетики пропитки пористых тел, согласно которому, концы образца, расположенного на подставке, помещают в резервуар с исследуемой жидкостью.Предлагаемый способ отличается от извест ного тем, что, с целью повышения точности измерения, образец прижимают к основанию равнобедренной стеклянной призмы, освещают его световым потоком и по изменению полного внутреннего отражения светового потока 10 от основания призмы при соприкосновении жидкости с поверхностью стекла оценивают степень пропитки образца.На чертеже схематическидля реализации пр Способ исследования кинетики пропи ристых тел, по которому концы образ положенного на подставке, помещают вуар с исследуемой жидкостью, отлича тем, что, с целью повышения точности ния, образец прижимают к основанию бедренной стеклянной призмы, освеща световым потоком и по изменению внутреннего отражения светового поток нования призмы при соприкосновении сти с поверхностью стекла оценивают пропитки образца. изображено устедлагаемого спо образца 1 омещаю и прижи енной ст вещают о попадаетроиствособа.Концыставке 2,жидкостьравнобедрпризму освой поток расположенного на подв кювету 3 с исследуемой ают образец к основанию клянной призмы 4. Затем 20 источника света 5. Светона фотоэлемент б и, отраредмет изобретения тки поца, расв резерюиийся измере- равноют его полного а от ос- жидко- степеньСоставитель В. ГумяицевРедактор Г. К, Гончарова Текред Л, К. Малова Корректор С. ф. ГоптаренкоЗаказ 673/20 Тираж 530 ПодписноеЦНИИПИ Когиитета по делам изобретений и открытий прп Совете Министров СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4Типография, пр. Сапунова, 2
Заявка
1095082
Н. С. Кореневска, В. В. Лаврентьев
МПК / Метки
МПК: G01N 21/47
Метки: исследования, кинетики, пористыхтел, пропитки
Опубликовано: 01.01.1968