Электромагнитный дефектоскоп — SU 1272212 (original) (raw)
Текст
(51) 4 С 01 И 27/90 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ М АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Пермский политехнический институт(56) Авторское свидетельство СССР У 945769, кл. ( 0 1 И 27/90, 1982.Авторское свидетельство СССР У 167062, кл. С 01 М 27/90 1963,(54) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП(57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии электропроводящих объектов. Повышениедостоверности контроля достигается благодаря тому, что в дефектоскопе используются два измерительныхканала, каждый из которых выполненс обратной связью, обеспечивающейзаданный режим измерения, и генератор выполнен управляемым, Путем автоматической регулировки частоты генератора 2 в процессе измерения устанавливаются режимы при работе каждого из измерительных каналов, При отсутствии дефектов в изделии напряжение на выходе обоих каналов отличаются в К раз, где К - коэффициентусиления масштабного усилителя 10.Это соотношение не зависит от величины удельной электропроводности 6изделия, В результате индикации дефекта при вариации б не произойдет.1 ил.1272212 Составитель П,ШкатовРедактор Н.Рогулич ТехредЛ.Сердюкова Корректор Г.Решетник Заказ 6332/42 Тираж 778 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 вход которого подключен к задатчику, и интегратором, являющимся выхо-дом измерительного канала, выход второго измерительного канала подключенк второму входу первого вычитателячерез масштабный усилитель, генератор выполнен управляемым и подключен своим управляющим входом к выходу второго буферного каскада, соединенного входами с выходами первого измерительного канала и масштабного усилителя.
Заявка
3915493, 25.06.1985
ПЕРМСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
ГОРОХОВ АНАТОЛИЙ ВАЛЕРЬЕВИЧ, ПАНОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ, САДИКОВ АЛЕКСЕЙ ЯКОВЛЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/90
Метки: дефектоскоп, электромагнитный
Опубликовано: 23.11.1986