Способ определения тонких структурных изменений в растянутых полимерах — SU 1413493 (original) (raw)

Текст

(5 И 4 6 01 М 23 2 ННЫЙ КОМИТЕТ СССРЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ ГОСУДАРСТ ПО ДЕЛАМ Я ОПИСАНИЕ ИЗОБР АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ тиросян, Р. И нян.8) Ф,О. идр. мления рентге овых узоров. -а, т, 9, с. 477,Полимерные 1968, с. 509 -сар Определениеовских лучейИзвестия АН1974.монокристал.(56) Эйрамджянпоказателя прелос помощью муарАрм.ССР. ФизикДжейл Ф. Хлы. М,: Химия,л. 28государственный универси(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОНКИХ СТРУКТУРНЫХ ИЗМЕНЕНИЙ В РАСТЯНУТЫХ ПОЛИМЕРАХ(57) Изобретение относится к рентгенографическим способам исследования полимерных веществ. Цель - повышение чувствительности и экспрессности способа. Используют рентгеновский трехблочный интерферометр для исследования надмолекулярной структуры полимеров. Между зеркальным и анализирующим блоками интерферометра размещают распятую пленку полимера в двух положениях, при которых ось ее растяжения лежит в плоскости дифрак 4 ки или перпендикулярна ей. Из полученных картин рентгеновского муара рассчитывают локальные плотности. Из отношения плотностей определяют относительные смещения соседних кристаллических или аморфных областей вдоль или поперек направления растяжения, 2 ил.(Р - Р,) я.оЬ - расстояния между полосами муаров, полученных от интерферометра без образца и с образцомсоответственно;- толщина образца;- длина волны падающего рентгеновского излучения;- декремент показателя преломления воздуха. где / и После этого определяют р 1 и р 2 по формуле р=3,67 10 -- , где А, Л - атомныи- Ь Дн3,вес и полное число электронов в атоме,Отношение полученных плотностей обратно пропорционально межкристаллическим расстояниям вдоль и поперек оси растяжения пленки, поскольку облучаемые объемы по пучку как в первом, так и во втором случае равны друг другу (геометрические размеры пучка в обоих случаях одинаковы): ф 1 щр + ф 1 Щам ЛЬР + //2 тН- У 2р 1 Р 2 Изобретение относится к рентгенографическим способам исследования полимерных веществ и моЖет быть использовано для определения структурных особенностей растянутых полимеров.Цель изобретения - повышение чувствительности и экспрессности способа.На фиг. 1 и 2 изображена рентгенооптическая схема предлагаемого способа.На чертежах обозначены М, А - зеркальный и анализирующий блоки. Р - образец - растянутая пленка полимера, Х - пучок рентгеновских лучей, Р - экран или фотопленка, 0 - ось растяжения.Способ осуществляют следующим образом.Рентгеновский пучок, падая на первый кристаллический блок под углом Брэгга, расщепляется на два пучка - проходящий и дифрагированный, которые дифрагируют во втором блоке М и складываются у входной поверхности блока А, образуя интерференционную картину - муаровые узоры на экране т". Помещение на пути одного из дифрагированных пучок растянутой пленки приводит к смещению муаровых полос. Измерив смещение, находят о - декремент показателя преломления рентгеновых лучей по фор- муле где У 1 и М 2 - число кристаллических иаморфных областей в облучаемой области вдоль и поперек оси растяжения соответственно;5т.Р и щ" - массы единичных кристаллических и аморфных областей соответственно;р и р 2 - средние плотности вдоль и поперек оси растяжения.10 С учетом того, что межкристаллическиерасстояния с 1=1/У;, где =1,2; 1 - длина облучаемой пленки, получаем А/А=р 2/рьТаким образом, определив отношениеплотностей в двух направлениях, можно найти, во сколько раз кристаллиты вдоль оси растяжения расположены дальше по сравнению с кристаллитами в перпендикулярном этой оси направлении.Пример. Пленку полихлоропрена растягивали на 300% и помещали между блоками трехблочного интерферометра, как показано на фиг. 1 и 2, Толщина пленки до растяжения 600 мк. Излучение С и К. Экспозиция 1 ч. Режим - 30 кВ, 15 мА.Отношение А/д 2 для растянутого на 300% полихлоропрена составляло 1,84.25 Точность определения плотности по предлагаемому способу составляет 10 10г/см.Формула изобретенияСпособ определения тонких структурныхизменений в растянутых полимерах, заключающийся в том, что на растянутую пленку полимера направляют пучок рентгеновского излучения и регистрируют дифракционную картину, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и экспрессности способа, растянутую пленку полимера помещают в трехблочный рентгеновский интерферометр, на который под углом Брэгга направляют рентгеновский пучок, при этом 40 пленку помещают между зеркальным и анализирующим блоками интерферометра перпендикулярно отраженному пучку, производят съемку картин муара для двух положений пленки, при которых ось ее растяжения лежит в плоскости дифракции или перпендикулярна ей, по картине муара, полученной для каждого из положений пленки, рассчитывают локальную плотность и по отношению плотностей определяют значение относительных смещений соседних кристаллических или аморфных областей вдоль и поперек направления растяжения.о.Ожс вскиие Корректор С. ЧерниПодписноепо дслаги изобретений и открытиГшс к а я наб., д. 4,5ятис, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

4196535, 19.02.1987

ЕРЕВАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

МАРТИРОСЯН АИДА АЙКАЗОВНА, БАГДАСАРЯН РУБЕН ИСРАЕЛОВИЧ, БЕЗИРГАНЯН ПЕТРОС АКОПОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 23/20

Метки: изменений, полимерах, растянутых, структурных, тонких

Опубликовано: 30.07.1988

Код ссылки

Способ определения тонких структурных изменений в растянутых полимерах