Способ измерения оптической плотности веществ — SU 346976 (original) (raw)
Текст
Союз Советски)СоциалистическихРеспублик висимое от авт. етельст Заявлено 18,111.19 Кл. 6 011 1 Ло 1411943/26-25) с присоединением заявк Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и открытийорит ь М 35.241,6 (088.8) 73, Бюллетег)писания 3.1 Опубликовано 17.1 Х, Дата опубликования тп Авторы зобретени аявитель С. В. Кузьмин и В. В. Матвеевовосибирский институт органической хи Сибирского отделения АН СССР СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ПЛОТНОСТИ ВЕ 2 ка, т - длител вого импульса; светового имплПредлагается измерительного свето. ительность эталонного ностьт - длса.измеря (1 э величину Л:+111 15 Изобретение относится к способам измерения оптической плотности веществ с помощью двухлучевых фотометров.Известные способы измерения для достижения линейной зависимости показаний двухлучевого фотометра от оптической плотности требуют использования логарифмирующего диода в качестве нагрузочного сопротивления в цепи фотоприемника фотометра и не обеспечивают необходимой точности измерений.Цель изобретения - повышение точности и стабильности измерения оптической плотности веществ с помощью двухлучевых фотометров с обеспечением линейной зависимости показаний от плотности.Для этого по предлагаемому способу измеряют отношение переменной составляющей выходного сигнала фотоприемника фотометра к его постоянной составляющей, а отношение длительностей эталонного и измерительного световых импульсов устанавливают в пределах 1 - :0,7.На чертежах показана зависимость интенсивности светового потока на катоде фотоприемника двухлучевого фотометра от времени.На фиг. 1 приведены отклонения от линейности показаний фотометра. Здесь 1 - интенсивность измерительного светового потока;1, - интенсивность эталонного светового потоНа фиг. 2 приведены графики зависимост= (Ю О 1 п 10 - )0 которая, очевидно, и выражает отклонениепоказаний такого двухлучевого фотометра от линейности относительно оптической плотности образца. Кривая 1 соответствует величине б для обычного фотометра (%=1, - 1); кривая 2 соответствует величине б для фотометра, использующего предлагаемый способ при т,/т=1, кривая 3 - при т,/т=0,85; кривая4 - при тэйт=0,80.Из чертежа видно, что предлагаемый способ О позволяет сохранить линейность показанийдифференциального фотометра в пределах 1% вплоть до значений оптической плотности 0,3,Предлагаемый способ может быть реализован, например, путем измерения детектирован.ной переменной составляющей выходного напряжения фотоприемника с помощью автоматического моста, опорным напряжением которого служит постоянная составляющая выходного напряжения фотоприемника, а дисковый модулятор эталонного и измерительного световых каналов имеет вырезы, обеспечивающие требуемое отношение длительностей эталонного и измерительного световых импульсов. Предмет изобретения Способ измерения оптической плотности веществ путем измерения величины фототока, 5 пропорционального поступающему световомупотоку, с использованием двухлучевого фото- метра, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и стабильности измерения оптической плотности с обеспечением линей ной зависимости показаний от плотности, измеряют отношение переменной составляющей фототока к его постоянной составляющей, а отношение длитсльностей эталонного и измерительного световых импульсов устанавлива ют в пределах 1 - :0,7.Заказ 4510 Изд. М 10 Тираж 755 Годписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 45 Типография, пр. Сапунова, 2
Заявка
1411943
С. В. Кузьмин, В. В. Матвеев Новосибирский институт органической хими Сибирского отделени СССР
МПК / Метки
МПК: G01J 1/36
Метки: веществ, оптической, плотности
Опубликовано: 01.01.1972