Способ определения дифракционного поляризационного отношения — SU 1679321 (original) (raw)
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 9) .Ж. 679321 А 1 Й 240 НИ ЗОБ РЕТ И венный универсиУстройство (фиг.1, закрепленный на фильтр-поляризатор сталл 4, детектор 5,к коротковолногенографии,месть испОльзовано роля степени сосодер штоке , иссл т источни братора 2 уемый кри вляется упрощеионного полярио устройство, с вляется способ; ифракционного ия р отй, изметодом (йд -ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(56) Сое Н. ес а.Х-Вау Ро 1 аггег. - ,/. Арр.Раув., 1961, ч. 32,. М 10,. р, 1982, 1945.Олехнович Н, М, и др. Измерение поляризационных характеристик рентгеновских дифрагированных пучков, Изв. АН БССР. Сер.физико-мат. наук, 1981, М 2, с, 64 - 67.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИФРАКЦИОННОГО ПОЛЯРИЗАЦИОННОГО ОТНОШЕНИЯ(57) Изобретение относится.к коротковолновой дифрактометрии (рентгенографии,мессбауэрографии) и может быть использовано для неразрушающего контроля степени совершенства кристаллов. Цель изобретения - упрощение определения Изобретение относитсявой дифрактометрии (рентсбауэрографии) и может быдля неразрушающего контвершенства кристаллов,Целью изобретения яние определения дифракцзационного отношения. На фиг. 1 предс",аале помощью которого осущес на фиг. 2 - зависимость поияризационного отноше меренная мессбауэровски плотность дислокации). дифракционного поляризационного отношения. Мессбауэровское излучение пропускают через резонансный фильтр-поляризатор, что позволяет проводить непосредственные измерения интегральной интенсивности отражения,не определяя кривую качания. Измерения л иа поляризованных компонент интегральной интенсивности отражения проводят, направляя внешнее магнитное поле параллельно и перпендикулярно плоскости рассеяния и двигая мессбауэровский источник с резонансной скоростью, соответствующей одному из ядерных переходов с разностью магнитных квантовых чисел, равной нулю, Затем, меняя скорость движения источника, добиваются наруше ния условия ядерного резонанса и измеряют интегральную интенсивность при неполяризованном пучке падающего на исталл излучения. 2 ил. Излучение от источника 1, закрепленно го на штоке вибратора 2, проходит чере фильтр-поляризатор 3 и падает на исследу емый кристалл 4. Отраженное от кристалла излучение регистрируется детектором 5, ус тановленным под двойным брэгговским уг лом. Падающий на кристалл пучок имее расходимость значительно большую, чем область отражения кристалла, поэтому измеряемая в эксперименте величина -Мессбауэровское излучение пропускают 50 через резонансный фильтр-поляризатор, направляют на кристалл. Измеряют интегральные интенсивности отражения й исгполяризованных компонент, при этом перемещают мессбауэровский источник с 55 резонансной скоростью, соответствующей одному иэ ядерных переходов с разностью магнитных квантовых чисел, равной нулю, затем изменяют скорость движения источника до нарушения условия ядерного резонанса, снимают магнитное поле с поляризатора, измеряют интегральную интенсивность отражения при неполяриэованном излучении вне резонанса.На зависимости р от й (фиг, 2), изме ряют мессбауэровским методом, обращает внимание совпадение значения для кристалла, содержащего большое количество дефектов с расчетом по кинематической теории дифракции, ОБ - угол Брэгге. Вместе 10 с тем р, измеренное для бездислокацион. ного кристалла, оказалось меньше рассчитанного по динамической теории. Это может быть связано с наличием в кристалле других дефектов (включений, кластеров, 15 вакансий и пр.), Значений р, превышающих динамический предел, в данном эксперименте не обнаружено, что может быть связано с большой глубиной экстинкции.Таким образом, использование 20 уникальных поляриэационных свойств мессбауэровского излучения позволяет разработать простой метод измерения дифракционного поляриэационного отношения, характеризующего степень со вершенства структуры кристаллов Формула изобретенияСпособ определения дифракционного поляризационного отношения, заключаю щийся в том, что монохроматическое коротковолновое излучение направляют на исследуемый кристалл и проводят измерения интегральных интенсивностей отра.жения био поляризованных компонент, 35 о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения определения, мессбауэровское . излучение пропускают через резонансныйфильтр-поляризатор из железной фольги, установленный перпендикулярно пучку излучения, направляют его на кристалл, накладывают магнитное поле на поляризатор, проводят измерения интегральных интенсивностей отражения ЛИЛ поляризованных компонент 1 я,д при направлении магнитного поля в плоскости поляризатора соответственно параллельно и перпендикулярно плоскости рассеяния, при этом перемещают мессбауэровский источник с резонансной скоростью, соответствующей одному иэ ядерных переходов с разностью магнитных квантовых чисел, равной нулю. затем изменяют скорость движения источника до нарушения условия ядерного резонанса, снимают магнитное поле с поляризатора, измеряют интегральную интенсивность отражения 1 со при неполяризованном пучке падающего на кристалл излучения вне резонанса и определяют дифракционное поляризационное отношение по формулеЗОВ -4 р =;т:кь1 оо - у где 6 -1 Оо 1 РГ " постоянная величина для данного поляризатора 1", 12" и Й - определяемыеиз спектра поглощения поляризатора интенсивности излучения при трех различных значениях скорости движения источника, выбранных по обе стороны от крайней линии Йй = + 1 на одинаковом расстоянии, равном расстоянию между ближайшими крайними линиями в спектре. поглощения и вдали от резонанса, причем 11 П - интенсивность при скорости, соответствующей резонансу Ьт - О, ЖП - разность магнитных квантовых чисел возбужденного и основного состояний резонансных ядер поляризатора.1679321 сев лла дактор Заказ 3207 Тираж 359 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 оизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 сее 2 Фв
Способ определения дифракционного поляризационного отношения