Аттестации — Метка (original) (raw)
Патенты с меткой «аттестации»
Способ аттестации угловых плиток
Номер патента: 97234
Опубликовано: 01.01.1954
Автор: Когут
МПК: G01B 11/26, G01B 3/30
Метки: аттестации, плиток, угловых
...1 ри ОтсутстВии ук 2;)апнь 1 х иЗмсритс)ы)ых средств поверка угловьх мер, входяь(их В стандартные наборы, может быть выполненапримс 1)ением предлаГасмОГО спосо(32, которьЙ Ос 33 сстл 5)ется приборОМ, СЛУЖ 21 НИ);ЛЛ 51 ЛИПЕИНЫХ ИЗМсрСПИИ,П РСДЛ с Га С ) Ь 13 С)30(00 Зд КЛОЧ а ЕТС 51 В ТОМ, ЧТО У Г 7 0131)С ПЛ ПТКИСОСс) 353 ОТС 5 Б ОЛОК)3 Т 2 КИМ ООРЗЗОМ, 3 ТОб 11 ("М)с)Р)ЬП) 310.Иисзльны) (. 3 блока, с:,:32 или рс 735)ос) 3 ,Глов , ", бы, ра( и 0 пл). 90или был олизок к этим значениям. Каждая пз пли)(и( набора должнаБОИТИ, ПО КРс 1 ИПСИ МЕЕ, В 0;3 ИП Из ОЛОКОВ, )ИС;О КОТОПЬ 3 Х ДОЛЖНООыть рс)БНО числ", и:1 пток, вход 5)цих В наоор, 1 К 2 ж;30) 133 сос 12 В.лепных аким Образо 1 блокОВ с ПОмоп 1 ыо п 1)ибора, 1)р( "п)БЗН 2 ченноГО дл 51...
Компаратор для аттестации штриховых мер
Номер патента: 221311
Опубликовано: 01.01.1968
Авторы: Авдулов, Владзиевский, Залькинд, Карпов, Кошлев, Махров, Нечецкий, Никитин
МПК: G01B 9/04
Метки: аттестации, компаратор, мер, штриховых
...следующим образом. Световой луч от лампы 19 конденсатором 20 направляется на диафрагму 21. Световая полоса, вырезанная диафрагмой, проектируется объективом 22 на поверхность шкалы. На пути светового луча находится плоскопараллельная стеклянная пластинка 13 с обмоткой 12, находящейся в поле постоянного магнита 23. По обмотке течет переменный ток, вызывающий вибрацию пластинки и сканирование изображения щели диафрагмы на поверхности шкалы. Световой луч, отраженный от поверхности шкалы, при помощи призмы 24 направляется на фотоприемник 25. При периодическом прохождении светового луча через штрих 26 на шкале (вследствие затемнения луча на фотоприемнике) возникают импульсы тока.Время 1, и 1., между импульсами равно лишь в том случае,...
Способ аттестации приборов
Номер патента: 236030
Опубликовано: 01.01.1969
МПК: G01B 3/00
Метки: аттестации, приборов
...но н ь.т р св м я ычи 2 где ), . ьстстзец:о пс длине.- диаметры от )с: И,двук кра ООТ. 3 ст ни сцен ця сред способ сй пр Прсдлагаемь)й прогиба образую Б прсдлагасмо бор используют О для работы с обри - мс р ниямецим и дл е один и тот сстации обр стрелы валов. е присцссодля ат зцов и зцами 113 всстсц спосос аттестации приоэ);01), ц:)- )ме)351 ющик ст 1)слу прОГиоа образ 101 цсц тс 1 я враще Пя, имсющ го погрешности форт) в виде ссдлсобразцсстц, бикообразцсст:1 и ИЗОГцутОст: Оси, цо насрсеп)ы. сорэ)3 пят),Г 1 рсдлагасмый способ отличается ст цзвсстцогс те., что для упрсщени 5 п)с:;Ос;я аттестации прцсо;)я снааля ня кязаццо Псоттарцровяццом п,)ибсре отбцраОт ца Грс; )- ЦЫС ООР 23 ЦЫ, ЦМС)01 ЦЦС ПОГРЕ 1 ЦЦОСТЦ фо,Ы и виде бочкооб 1323 ностц...
Прибор для поверки и аттестации криволинейных эвольвентных поверхностей
Номер патента: 304427
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Гафанович
МПК: G01B 9/02
Метки: аттестации, криволинейных, поверки, поверхностей, прибор, эвольвентных
...измерения полярного угла и для интерферомстра измерения радиуса-вектора, благодаря чему можно наблюдать интерферсцццоццыс картины в белом свете прц разцостях хода 0,2 , 4 1, , 2 л 1 (где и=О, 1,2),Таким образом, образуется цнтерферецпцонцая шкала с интервалом делений в 21, реалцз емая ахроматическими полосами перецалохкенця; далее, попадая ца светоделцтельный элемент 6 ц светодслцтельцьш кубик 7, каждый луч разделяется ца две составляющих. 11 з светодслцтельцого элемента 6 в виде призмы Кестсрса оцц втходят двумя парал304427 фиг лсльвымц лучами, каждый цз которых, пройдя компснсатор 4 и попадая ца уголковые отражатели 3, возвращается в св" тоделительный элемент 5 и затем в зрительпую трубу, где и паблодагтся иптерферепционная...
Устройство для измерения фазовых сдвигов при аттестации аттенюаторов
Номер патента: 346683
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G01R 25/00, G01R 35/00
Метки: аттенюаторов, аттестации, сдвигов, фазовых
...стробоскопические преобразователи 1 и 2, которые при наличии входного сигнала преобразуют высокую частоту в фиксированное значение низкой частоты (4,3 кгт 1) с цомощью устройства 10 фазовой автоподстройки частоты, сравнивающего фазу выходного сигнала усилителя-ограничителя 7 с фазой сигнала образцового генератора 9 и соответственно 10 управляющего частотой гетеродина 3.С помощью аттенюаторов 4, 5 (индуктивных переменных делителей с кольцеобразными сердечниками) производят уравнивание входных амплитуд, усилителей-ограничителей 15 б, 7 и производят отсчет фазового сдвига поотсчетному устройству 8. С генератора 11 повышенной частоты сигнал подается на вход 12 аттестуемого аттенюатора 13 и на вход 14 устройства для измерения фазовых...
Визирная система для аттестации фотограмметрических камер
Номер патента: 369533
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G02B 27/32
Метки: аттестации, визирная, камер, фотограмметрических
...прямоугольных призм, составляющих 25 блок куб-призмы 8, Передний фокус объектива (7, 16) совмещается с осью вращения стола 1. Схема микроскопа содержит пентапризму, склеенную из двух блоков 17 и 18 и имеющую в плоскости склейки светоделительное 30 покрытие. За пентапризмой расположены объринципиальная схеположение относи- а 1 с направляющиоллиматором, одно- функции осветите- укрепляется исслеложенной в ее карНа чертеже показана ма визирной системы и е тельно поворотного стол ми каретками 2, 8 и авто временно выполняющим ля 4. На поворотном стол дуемая камера 5 с расп 2лоскости комп арирован ной шПредмет изобретениягд 4 Составитель Л. Тахтаджянктор С. Хейфиц Техред Т. Курилко Корректор О, Тюрина Заказ 1784/2 Изд.1391 Тираж 551ЦНИИПИ...
Компаратор для аттестации линейных штриховых мер
Номер патента: 441444
Опубликовано: 30.08.1974
Авторы: Боровков, Делюнов, Маламед, Ольшевский, Рукавицын, Скворцов
МПК: G01B 11/02
Метки: аттестации, компаратор, линейных, мер, штриховых
...привод 3 перемещения стола, который вызывает перемещение образцовой и поверяемой штриховых мер мимо фотоэлектрических микроскопов.В момент прохождения границы штриха одной из шкал через оптическую ось одного из фотоэлектрических микроскопов последний выдает сигнал, который преобразован логическим блоком 10 в команду Начало счета. Этот момент соответствует точке А (см. фиг. 2),После поступления команды Начало счета в счетчике 11 накопляется сумма высокочастотных импульсов. В зависимости от того, от какого из фотоэлектрических микроскопов приходит импульс, преобразованный в команду Начало счета, накопленной сумме приписывается знак плюс или минус.В момент прохождения границы второго штриха (точка В на фиг, 2) через оптическую ось...
Способ аттестации плеча рычага
Номер патента: 478205
Опубликовано: 25.07.1975
МПК: G01L 1/08
Метки: аттестации, плеча, рычага
...эталонного момента на одну из опор плеча "в" накладывают эталонную гирюи коромысло уравновешиаю либык грузом Т до исходчого равновесия. После шения точга предлага я с еча рь тан му на рычаге ное плечо с я но которполнителбазами,занными 15 вно вь ояние змеряют расс базами, накл дываю енее у ивают рыно т чаг грузом до и ставляют зтало накладывают на известного клас равновесия рыч водят с учетом зованных весом сходного положения, перенную гирю на другую базу, 20 аттестуемое плечо гири а точности до исага, а аттестацию равенства моменто гирь известного одного леча прокласса гирю на одну из баз, маттестуемого плеча, урав аттестуемом плече и весомири на дополнительном плеч478205 Составитель А.НовикРедактор Текред Н,ХннееваН.Данилович...
Устройство для аттестации штриховых мер
Номер патента: 505005
Опубликовано: 28.02.1976
МПК: G02B 27/32
Метки: аттестации, мер, штриховых
...с положительным смещением на сетке (на чертеже не показан).10 Перед фотоприемниками размещены диафрагмы 7, обеспечивающие прохождение накатод (не показан) фотоприемника светового потока в зоне первого минимума дифракционной картины. Обработка сигнала с фотоприемников 6 15 происходит в дифференциальном усилителе 8и частотомере 9.Штриховая мера 1 перемещается вместе состолом (не показан) делительной машины при нарезании очередного штриха, освещается ис точником 2 монохроматического света. Лучлазера расширяется и коллимируется оптической системой 3. Далее фотоприемники 6 регистрируют манимумы дифракционной картины от щели 5 и аттестуемого штриха 10.25 Сигналы с фотоприемников поступают на усилитель 8 и далее на частотомер 9....
Настроечный эталон для измерения диаметров конусов и способ его аттестации
Номер патента: 552502
Опубликовано: 30.03.1977
Автор: Кайнер
МПК: G01B 5/08
Метки: аттестации, диаметров, конусов, настроечный, эталон
...одну из его частей переворачивают и собирают так, чтобы грани, образовывавшие ранее плоскость разъема, стали измерительными,На фиг. 1 изображен пв положении настрой3 на фиг. 2 - то же, в средств при измеренииположении аттестации,,Эталон (см. фиг. 1) выполнен в виде состоящего из двух частей 1 и 2 призматического тела с трапецеидальным основанием, соответствующим профилю контролируемого объекта. Угол 2 а между боковыми сторонами трапеции равен углу при вершине контролируемого конуса. Боковые грани 3 и 4 эталона выполнены плоскими, доведенными, что обеспечивает их притираемость. Плоскость разъема 5 эталона совпадает с биссекторной плоскостью угла 2 а. Грани, образующие плоскость разъема, также выполнены плоскими, доведенными. Высота...
Способ аттестации равновесной влажности газов в замкнутых объемах и устройство для его осуществления
Номер патента: 595660
Опубликовано: 28.02.1978
Авторы: Гершкович, Качкачишвили
МПК: G01N 19/10
Метки: аттестации, влажности, газов, замкнутых, объемах, равновесной
...иолключси через комютп".Оитис клдтдиь к замкит томт об)ъем и литтд)гичсскому гсисрдтору влажности. 11 т чертеже изобрджстто устройство, реяли с.с).тес посл.тдГдс):ьи Спосоо.,;0 состсти 1 из замкнутого объема 1, сод;рждщсго дтгсстусмос вещество тсрмостата 2, гдзового оитура, в котором установлен кслгидриру ощти:;сритсльиый прсобразоватслт, 3, Обрд; ц)ВОГО липами)еского Гштсрат 01 эаком;ттт;, югцит( клапатгов 5 - 7.акая 18017 113; 301 Тира)к 1122 1 осударствснного комптста Совста Министров (;СГ 1 г по дслаги иног)р(.тоний и открьг(ий 113035, Москва, )К-ЗГг, 1 гауи(скан иаб,; 4 5,ииснос 1 П ппография, ир. (;апуиова, 2 Предлагае.,ый способ осущесгвляется следующим образом,Замкнутый обьем 1 с аттсстуемой цярогя -зовой смесью, ц(1.(Одящийся...
Имитатор плоскости для аттестации плоскомеров
Номер патента: 600388
Опубликовано: 30.03.1978
Авторы: Волкова, Левин, Пинаев
МПК: G01B 11/24, G01M 11/00, G02B 27/30 ...
Метки: аттестации, имитатор, плоскомеров, плоскости
...марка Л, выполцец- О ная в виде прозрачного кружка. Для подсвечивания марки А используется осветитель 5 с копденсором б.Имитатор плоскости работает следующим образом.В центре основания 1 помещают испытуемый плоскомер, который последовательно наводят на каждую светящуюся марку оптической оси каждого коллиматора и определяют таким образом полную погрешность испытуемого прибора.При определении составляющих погрешности, например величины углового отклонения визирной оси от ее первоначального положения, визирную ось испытуемого прибора выставляюг по первой и последней марке оптической оси одного из коллиматоров так, что в поле зрения испытуемого плоскомера изображения этих марок совмещаются со штрихом перекрестия. Вращая плоскомер на...
Способ аттестации приборов для измерения радиального зазора шариподшипников
Номер патента: 627306
Опубликовано: 05.10.1978
Авторы: Ботнер, Гитнев, Городецкий, Зарецкий, Пилипчук, Филиппов, Юлин
МПК: G01B 5/14
Метки: аттестации, зазора, приборов, радиального, шариподшипников
...действительные значения погрешности прибора.Белью изобретения является повышение точности аттестации приборов.Этв цель достигается тем, что используют два комплекта шариков с аттестованной разностью средних диаметров, размещают их поочередно в один и тот. же комплект колец подшипника, измеряют радиальный зазор и по разности между измеренными значениями радиального за зора и действительной удвоенной. разностью средних диаметров двух комплекто шариков судят о систематической погрец ности прибора.Аттестация испособу производ устанавливают между внутренним жным кольцами, измеряют рвдиальазор, затем первый комплект шариЗаказ 5602/37 Тираж 872 Подписное11 НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССРпо делам изобретений и...
Устройство для аттестации пентагонального блока
Номер патента: 629446
Опубликовано: 25.10.1978
Авторы: Боровой, Горбань, Шанойло
МПК: G01B 11/26
Метки: аттестации, блока, пентагонального
...технической сущности и достигаемому результату к изобретению является устройство для аттестации пентагонального блока, содержащееопорный коллиматор, юстировочный столикдля размещения контролируемого блока иизмерительный автоколлиматор 2),ЕНТАРЭНАЛЬНОГО БЛОКА629446 . 4з чей зоны) н повторяют работу по снятиюотсчетов. Вычисляют среднее значение улла отклонения луча пентагональным блои 9ком.тра ( ЩсР ) поочередно оптически связан с каждым н опорных колпиматоров..Пульт 6 управлении и углоизмерительный автоколлиматор 7 располагают рядом что позволяет производить операции по а тестации пентагональных блоков одному оператору с одного Рабочего места,Работает устройство следующим образом.На юстировочный столик Э устанавлива- Е ют контролируемый...
Тангенциальная установка для аттестации угломерных приборов
Номер патента: 655891
Опубликовано: 05.04.1979
Авторы: Морозов, Финкельштейн, Чуличкин
МПК: G01B 11/26
Метки: аттестации, приборов, тангенциальная, угломерных
...45 относительно горизонтали.5 Устройство работает следующим образом,Измерение в вертикальной плоскости поосц У.Устанавливают линейку 3 по индикатору6 нуля в начальное положение. Установочными винтами измеряемого прибора совмещают в его поле зрения изображение центра перекрытия коллиматора 4 с центром перекрытия прибора 8. Помещая на линейке 3 аттестованную концевую меру 7 заранее расформула изобретения Редактор А. МурадянЗаказ 1498/30 ого комитета СССРний и открытийРаушская наб. д. 4/5Ужгород, ул. Проекти ЦНИИ п П 3035,Филиал ПИ Государственделам изобрет Москва, Ж, П Патент, г. считанного размера, задают линейке по индикатору 6 необходимый угол наклона в вертикальной плоскости. Изображение центра перекрытия коллиматора 4 в поле зрения...
Способ аттестации стендов постоянного углового ускорения
Номер патента: 657357
Опубликовано: 15.04.1979
Авторы: Иванов, Иванова, Тимошенко, Цивирко, Чаленко
МПК: G01P 21/00
Метки: аттестации, постоянного, стендов, углового, ускорения
...запись начинают, открывая ключевую схему типа И б, которая элс.трически соединена с выходом генератора импульсов 3, командным импульсом, формируемым в измерительной системе 7, входящей в состав образцового стенда. В момент начала записи с помощью измерительной системы 7 измеряют угловую скорость вращения вала о(он начинают подсчет числа и эаписыраемых импульсов эа время 35 равноускоренного вращения вала образцового стенда. Угол между двумя соседними метками импульсов на поверхности кругового носителя изменяется по нелинейному закону вида:4074 меряют частотомером 12 период следования воспроизводимых импульсов Т.Одновременно определяют угловую скорость; ро, соответствующую началу воспроизведения импульсов, с помощью частотомера 13где С...
Устройство для аттестации преобразователей угла поворота в код
Номер патента: 694884
Опубликовано: 30.10.1979
МПК: G08C 25/00
Метки: аттестации, код, поворота, преобразователей, угла
...фазометра 14, выход которого соединен с входом самописца 15.Работает устройство следующим образом,На предметный столик 4 устанавливают аттестуемый преобразователь 11, после регулировки положения ротора относительно оси вращения шпинделя 3 статор прсооразователя 11 закрепляют при помощи механизма 13 фиксации к кронштсй 1.у 7 п;.атформы 2. Платформу фпксиру 1 от в заданном положении болтами 8. Включают привод вращения шпинделя 3. С выходов г;реобразователей 9 и 11 подаются спгкалы В фазомстр 14. Самописсц 15 записывает диаграмму суммарной погрешности преобразования угла преобразователями 9 и 11.После записи диаграммы (один или несколько оборотов шпинделя 3) г:ривод 1 О выключают. Гайки болтов 8 Отвинчива;от, С помощью маховика б...
Устройство для аттестации пентагонального блока
Номер патента: 696284
Опубликовано: 05.11.1979
Авторы: Боровой, Горбань, Новак, Шанойло
МПК: G01B 11/26
Метки: аттестации, блока, пентагонального
...согласовании нормалей к плоско- параллельным зеркалам 3 и 4 с визирными осями опорных коллиматоров 1 и 2, предварительной расстановке устройства и непосредственной аттестации угла отклонения контролируемого блока .12,Согласование нормалей к плоскопараллельным зеркалам 3 и 4 с визирными осями опорных коллиматоров 1 и 2 производят в следующей последовательности.На юстировочный столик 8 устанавливают вспомогательный автоколлим ацио нный прибор (на чертеже не показан). Включают подсветку опорного коллиматора, например 1, и совмещают визирную ось вспомогательного автоколлимационного прибора с визирной осью зпорного коллиматора 1. Выключают подсветку опорного коллиматора 1, устанав ливают зеркало 3 перед объективом опорного коллиматора 1 и,...
Способ аттестации большегрузных образцовых гирь
Номер патента: 711374
Опубликовано: 25.01.1980
Авторы: Безрядин, Денщиков, Шенфельд
МПК: G01G 23/02
Метки: аттестации, большегрузных, гирь, образцовых
...10, успокоитель 11, ограничители 12,датчик некомпенсации 13, индикатор-усилитель 14, отсчетное устройство 15, поверяемую большегрузную образцовую гирю 16, грузоприемные площадки 17 и18, механизм 19 фиксации площадки, набор аттестованных гирь меньших диапазонов 20, транспортирующие устройства21 и 22, механизм фиксации 18 плошадки 23, ограничитель колебаний 24 подвески.Способ осуществляется следующим образом.Предварительно на образцовых весахмалой и средней-грузоподъемности, например, используя способ элонгации (т. е.по максимумам колебаний весов в однуи другую сторону), определяют действительную массу (аттестуют по массе) на- З 0боры гирь 20 граммового, килограммового, десяти-и стокилограммового диапазонов, имеющих массы,В,После...
Способ аттестации рычажных устройств
Номер патента: 732713
Опубликовано: 05.05.1980
Авторы: Маяков, Никитин, Панин
МПК: G01L 25/00
Метки: аттестации, рычажных, устройств
...за счет того, что входную призму нагружают на номинальную нагрузку, перемещают рычаги в рабочем направлении и определяют передаточное число как отношение перемещений входной и выходной призм.На чертеже представлено устройство, реализующее предлагаемый способ аттестации рычажных устройств.Устройство состоит из тягоизмерительного станка 1, трехрычажного градуировочного .механизма 2, входной призмы 3, выходной призмы 4, измерительных приборов 10 линейных перемещений 5, груза 6 и распорного блока 7. Входную призму нагружают номинальным грузом. С помощью распорного блока 7 15перемещают трехрычажный градуировочный механизм, при этом измеряют расстояния Н, и Не,которые пройдут входная и выходная призмы, а передаточное число определяется по...
Устройство для аттестации штриховых мер
Номер патента: 771463
Опубликовано: 15.10.1980
Автор: Ежкин
МПК: G01B 11/00
Метки: аттестации, мер, штриховых
...использовать один канал фотоэлектронной обработки, применение в котором динамического фотоэлектрического микроскопа 5 позволяет производить аттестацию при непрерывном со стабилизированной скоростью Ч перемещении аттестуемой штриховой меры 11. Динамический фотоэлектрический микроскоп 5 выделяет середины оптических изображений штрихов 12 в плоскостях щелей образцовой диафрагмы 4 и в виде дельта-импульсов подает их на схему 7 управления, которая выделяет те дельта-импульсы, расстояние между которыми соответствует разности длин единиц (шагов) аттестуемых интервалов в плоскостях щелей образцовой диафрагмы 41. Г(1 - порядковый номер единицы аттестуемого интервала) и расстоянию между серединами щелей образцовой диафрагмы 1. о Вычислительный...
Устройство для аттестации большегрузных образцовых гирь
Номер патента: 773444
Опубликовано: 23.10.1980
Авторы: Безрядин, Денщиков, Довыденко, Шенфельд
МПК: G01G 1/18
Метки: аттестации, большегрузных, гирь, образцовых
...для арретирования коромысла 1 в моменты лерестановки аттестуемой 33 и образцовой 43 гирь на чашке 32 в верхнем положении механизма 35 вертикальногс, подъема.Устройство работает следующим образом.Предварительно при отсутствии на чашке 32 аттестуемых и образцовых гирь 33 и 43, а также грузов 7 на коромысле 1, производится проверка положения равновесия последнего по нулевым показателям выходного отсчетного блока 23, когда компенсационный ток 1 к отсутствует, 1 к = О. Вслучае необходимости точка равновесия коромысла 1 корректируется с помощью тарировочной гайки 9. Затемкоромысло 1 с помощью упора 41 и кулачка 42 арретируется, включается механизм 39 арретирования и гашения колебаний подвески 24, а чашка 32 спомощью .систем электропривода...
Способ аттестации термостатированногонормального элемента
Номер патента: 828273
Опубликовано: 07.05.1981
Автор: Егорычев
МПК: H01M 6/28
Метки: аттестации, термостатированногонормального, элемента
...изобретения является повышение точности,и удобства эксплуатации терм остатиров анных НЭ.Эта цель достигается тем, что по предлагаемому способу при сличении ЭДС аттестуемого и образцового НЭ определяютразность значений ЭДС, иизменяя температуру термостата аттестуемого НЭ, компенсируют эту разность значений ЭДС иприписывают аттестуемому элементу значение ЭДС, равное значению ЭДС образцового НЭ.На чертеже приведена функциональнаясхема устройства, реализующего предлагаемый способ.При аттестации термостатированныхНЭ по предлагаемому способу отличаютаттестуемый и образцовый НЭ, определяютразность в значениях ЭДС сличаемых НЭ,изменяя температуру в термостате аттестуемого НЭ, компенсируют разность ЭДСНЭ, приписывают аттестуемому НЭ значение...
Устройство для аттестации штриховых мер
Номер патента: 849002
Опубликовано: 23.07.1981
Автор: Ежкин
МПК: G01B 11/00
Метки: аттестации, мер, штриховых
...узла 10, соединенного со схемой 8 кварцевого генератора и схемой 9 коррекции.Расстояние между серединами щелей диафрагмы выбирается из условия (,+2 ь,+д ) (ьу-ь,-д ъ, )а ширина щелей В=Ь Г.Устройство работает следующим образом.Источник света 1 через оптический элемент 2 освещает аттестуемую меру 11 со штрихами 12, световые изображения которых переносятся объективом 3 в плоскости щелей образцовой диафрагмы 4, за которой расположен фотокатод б динамического фотоэлектрического микроскопа 5, Расстояние между серединами двух щелей образцовой диафрагмы 4 выбирается Из условия,+2 Ь +Ь Ъ ) Г 4 Ь;6(Ь, -2 Ь -Ь Ъа) ) исключающего возможность одновременного появления оптических изображений штрихов в обеих щелях образцовой диафрагмы 4; что дает...
Устройство для аттестации штриховых мер
Номер патента: 877461
Опубликовано: 30.10.1981
Автор: Бобро
МПК: G02B 27/32
Метки: аттестации, мер, штриховых
...схему 11 и 12 согласования на вход фильтра 13 и 14 нижних частот. Отфильтрованный сигнал поступает на схему 15и 16 дифференцирования. Продифференцированный сигнал поступает на нульорган 17 и 18, определяющий момент 55 изменения знака производной, который представляется формирователем 19и 20 в виде отсчетного импульса,1поступающего иа вход регистрирующейсистемы , а именно на вход схемы 2 управления. Первым на вход схемы 2 управления поступает отсчетный импульс из блока 10 от 0-го штриха. При поступлении этого импульса схема 21 3 управления включает в работу блок 26 ввода поправки на аттестационную погрешность расстояния между центрами двух щелей образцового элемента.Работа этого блока осуществляет О ся следующим образом.Схемой 21...
Устройство для аттестации пентагонального блока
Номер патента: 911151
Опубликовано: 07.03.1982
Авторы: Боровой, Гузенко, Овчар
МПК: G01B 11/26
Метки: аттестации, блока, пентагонального
...автоколлиматор оптически связан с одной катетной гранью зеркальной прямоугольной призмы, а в другом автоколформула изобретения ВНИИПИ . Заказ 1099/22 Тираж 614 Подписно филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 3 91115лиматор в процессе аттестации черезпентагональный блок - со второйкатетной гранью призмы.На чертеже представлена схемаустройства..Устройство состоит из актокол.лиматора 1, оптического блока 2,пентагонального отражателя 3 и пентагонального блока 4.Устройство работает следующим образом.Пентагональный отражатель 3 фиксируют в положении, при котором осуществляется оптическая связь автокол+лиматора 1 с Одной из катетных граней 1прямоугольной призмы 2 и снимают отсчет 01 по автоколлиматору 1, затемперемещают...
Способ аттестации стендов для градуировки акселерометров
Номер патента: 1012147
Опубликовано: 15.04.1983
МПК: G01P 21/00
Метки: акселерометров, аттестации, градуировки, стендов
...устанавливают на аттестуемый стенд и измеряют период следования воспроизводимых импульсов придвижении платформы аттестуемого стен10 15 го стенда находят из выражения 25 ЗО 20 35 40 45 50 55 60 65 да, одновременно с записью последовательности импульсов с постоянным периодом следования производят счит ;тывание и измерение периода этой по,следовательности при прохождении импульсами Фиксированного расстояния,при этом измеряют время прохожденияэтого расстояния, затем на аттестуемом стенде одновременно с измерениемпериода следования воспроизводимыхимпульсов считывают и измеряют период следования импульсов при прохождении ими фиксированного расстояния,измеряют время прохождения этогорасстояния, а ускорение аттестуемо,тт,+1 т, т, 3...
Образцовая мера для аттестации и настройки приборов для измерения радиального зазора подшипников
Номер патента: 1044953
Опубликовано: 30.09.1983
МПК: G01B 5/14
Метки: аттестации, зазора, мера, настройки, образцовая, подшипников, приборов, радиального
...подшипников, содержащей два коаксиально расположенных цилиндрическихкольца, установленный между нимитехнологический сепаратор и размещаемые в процессе испытания в гневдах сепаратора комплекты тел качения с аттестованной разницей средних диаметров, на наружной поверх"ности наружного кольца выполненыпопарно параллельные лыски, количество которых равно числу гнездсепаратора, оси симметрии которыхперпендикулярны поверхностям соот-,ветствующих лысок, сепаратор жестко закреплен на внутренней поверхности наружного кольца, а каждый 4нз комплектов выполненв виде двухтел качения, размещенных в диаметрально расположенных гнездах сепаратора,На фиг. 1 показана схема образцовой меры аттестации и настройкиприборов для измерения радиальйогозазора...
Мера толщины покрытия и способ ее аттестации и поверки
Номер патента: 1106981
Опубликовано: 07.08.1984
Авторы: Балаев, Леонов, Лухвич, Рудницкий
МПК: G01B 7/06
Метки: аттестации, мера, поверки, покрытия, толщины
...производятследующим образом.Устанавливают на горизонтальнуюповерхность пластину 1 до нанесения5покрытия и измеряют ординаты У у2 Фи Уф от трех реперных точек, находящихся в углублениях 2 и от поверх.ности пластины в фиксированной точ где ке А . После этого определяют уУ +М +У2 3Ср3и находят разность(у -У 4 ). Эта разность характеризуетвеличину выступания поверхности пластины в точке А над поверхностями реперных точек.После нанесения покрытия 3 на верхнюю поверхность пластины 1 (углубления 2 защищены от покрытия) такжеизмеряют ординаты12 Ф 3Ъф и определяют разность (у - у 1,В этом случае значение у отличаесртся от вычисленного ранее у наа величину толщины покрытияПДеиствительную толщину покрытия6 определяют по формулеср ф) )ц Ф)Е сли...