Длинах — Метка (original) (raw)

Патенты с меткой «длинах»

Способ обнаружения разницы в длинах двух ваеров при тралении и определения ее величины

Номер патента: 248300

Опубликовано: 01.01.1969

Метки: ваеров, величины, двух, длинах, обнаружения, разницы, тралении

...например, талью,Предлагаемый способ поясняется чертежом,1.1 а схеме обозначены траловая лебедка 1,палубные ваерные ролики 2, ваера 3 и 4 (3 -положение ваеров до стягивания, 4 - положение ваеров после стягивания), таль б, передвижная шкала 6 для замера стрелы прогиба ваера, основания 7 передвижных шкал, оттяж ки 8 для крепления оснований шкал, точкикрепления 9 оттяжек, стрелы прогиба 10 ваеров,Способ заключается в следующем.Во время траления в районе между лебед кой 1 и роликами 2 над ваерами с помощьюоттяжек 8 между точками креплей 9 раскрепляют основания шкал 7, а затем устанавливают нули передвижных шкал 6 против образующих ваеров. Стягивают талью 5 ваера, 15 онпрсгибаются. По отсчетам на передвижных шкалах судят о величине стрел...

Спектрофотометр, работающий на дискретных длинах волн

Номер патента: 1333243

Опубликовано: 23.08.1987

Авторы: Андраш, Бела, Карой, Лоранд

МПК: G01J 3/42

Метки: волн, дискретных, длинах, работающий, спектрофотометр

...объективом и детектором излучения, соединенным через усилитель и аналого-цифровой преобразователь с блоком обработки, а также блок отображения, соединенный с блоком обработки, пульт управления, соединенный с блоком обработки, и блок управления, соединенный с источниками излучения, пультом управления, блоком обработки и аналого-цифровым преобразователем, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с 30 35 40 45 щения точности измерений, источникисвета выполнены в виде светодиодов,испускающих квазимонохроматическоеизлучение различных длин воли или лазерных диодов, держатель источниковсвета имеет цилиндрическую, коническую или кольцеобразную форму, устройство отклонения излучения содержит,по меньшей мере одно зеркало, обес 55 печивающее поочередную...

Способ определения разности углов планетной рефракции на двух длинах волн

Номер патента: 1779933

Опубликовано: 07.12.1992

Авторы: Гурвич, Соколовский

МПК: G01C 21/24

Метки: волн, двух, длинах, планетной, разности, рефракции, углов

...ахроматические оптические системы высокого разрешения.Известен способ автономной космической навигации путем измерений разности углов планетной рефракции на двух длинах волн,Однако недостатком существующего способа измерения разности углов планетной рефракции на двух длинах волн является тот факт, что для его реализации требуется ахроматическая оптическая система высокого разрешения, Например, при высоте перигея луча визирования источника 30 км разность углов рефракции для длин волн 0,4 и 0,8 мкм составляет 2" и, следова1179933 Составитель С.СокольскийРедактор И,Савина Техред М.Моргентал Корректор Н.Слободян Заказ 4429 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ С 113035, Москва, Ж,...