Ферритоеых — Метка (original) (raw)

Патенты с меткой «ферритоеых»

Способ измерения импульсных магнитных параметров ферритоеых плат

Номер патента: 238667

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Дерюгин, Дроботов

МПК: G01R 31/28, G11C 11/02, G11C 29/00 ...

Метки: импульсных, магнитных, параметров, плат, ферритоеых

...э.д.с. так, чтобы амплитуда э.д.с. с контрольной платы достигла значения, равного величине этой амплитуды до изменвния температуры.Сущность способа заключается в следующем:Г 1 рограмму импульсов тока подают как на ячейку проверяемой платы, так и на ячейку входящей в состав устройства контрольной ферритовой платы с известныхи параметрами, которая выполнена из того же материала, имеет такие же размеры и находит=я в одинаковых с проверяемой платой температурных условиях. Амплитудные значения э,д.с., считываемые с проверяемой ячейки, ус ливаются измерителем э.д.с. Периодически этим же измерителем усиливаются значения э.д.с., считываемые с контрольной ячейки, Прп измененни од в,.шянием изменения температуры ахплитуды э.д.с., считываемой с...