Максимумов — Метка (original) (raw)

Патенты с меткой «максимумов»

Многоканальное устройство определения максимумов

Номер патента: 1032426

Опубликовано: 30.07.1983

...канала, а выходыамплитудных компараторов 1 +1 и 1 - 1каналов соединены через соответствующий элемент ИЛИ со вторым входомтриггераканала.На чертеже представлена функциональная схема многоканального устрой"ства определения максимумов,Многоканальное устройство определения максимумов содержит синхронизатор 1 инверторы 2, амплитудные компараторы 3, триггеры 4, элементы И5 и элемвнты ИЛИ 6.Рассмотрим работу устройства дляслуцая трех каналов 1 обработки Щ ).Пусть на вход устройства поступаютПОСТОЯННЫЕ наПРЯжЕНИЯ 02 0 0 .Синхронизатор выдает на управляющие входы интеграторов строб. На со 32126ответствующие сигнальные входы интеграторов поступают напряжения Ц ,Я,0, Во время действия строба на выхо-,дах интеграторов напряжение линейнонарастает...

Устройство для определения максимумов яркости в изображении

Номер патента: 1336059

Опубликовано: 07.09.1987

Автор: Черепаха

МПК: G06K 9/00

Метки: изображении, максимумов, яркости

...К 1 610 зависимость сопротивления к,от площади освещенной поверхности характеризует зависимость, приведенная на фиг. 2, где вертикальная ось характеризует сопротивление К, горизонтальная - отношение площади Б,; освещенной поверхности к полной площади Б приемной поверхности Сопротивление такого пространственного пикового детектора изменится не более, чем на 1,57., относительно темнового сопротивления Кт при изменении плошади Б светового пятна 0,5- 1007 относительно полной площади Б приемной поверхности.Так как слой фотопроводника 3 выполнен со сверхлинейной фотопроводимостью, то в режиме малых освещенкостей (1-20 Лк) при изменении освещенности Е в 2 раза сопротивление Кслоя фотопроводника изменится в 7-8раз, В результате этого...

Устройство определения временного положения и уровня максимумов сигнала

Номер патента: 1437979

Опубликовано: 15.11.1988

Авторы: Белов, Гацев, Глазунов, Чумаков

МПК: H03K 5/153

Метки: временного, максимумов, положения, сигнала, уровня

...разрешая прохождение импульсов, поступающих на его второй вход.Импульсы со второго и третьего выходов блока 3 сравнения, формируемые им после достижения сигналом максимума при выполнении условия (2) или (3) соответственно, через элемент ИЛИ 8 и элемент 10 совпадения поступают на счетный вход счетчика 12 (фиг.2 з). После поступления на счетный вход счетчика 12 некоторого числа импульсов происходит останов счетчика 12 и Я-й импульс, поступающий на счетный вход, транслируется на первый выход счетчика 12 (фиг.2 и). Импульс с первого выхода счетчика 12, являющийся признаком наличия максимума сигнала ПИпосле прохожденйя им элемента 1 Л:1 14 поступает на выход 20 устройства (фиг. 2 м). Одновременно на втором выходе счетчика 12...

Устройство для определения координат максимумов сигнала

Номер патента: 1522236

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Марипов, Филатов

МПК: G06F 17/18

Метки: координат, максимумов, сигнала

...О 45 50 55 5 з 22 сывает триггеры группы 13 через элемент ИЛИ 29 и сбрасывает триггер 32, В результате этого триггером 32 через элемент И 31 кампаратор 30 выключается из работы устройства, а включается компаратир 26 через элемент Г;И 27. Начинается анализ очередного локального максимума, Амплитуда импульсов сигнала сравнивается са шкалой напряжения, образованной источникам 11 опорного напряжения и резисторным делителем 12, Каждый последующий импульс, больший предыдущего, приводит к переключению одного или нескольких триггеров 13, чти приводит к образованию импульса на выходе первого элемента ИЛИ 15 через элементы И 14 группы. Этот импульс дает разрешение записи в регистр 1,6 координат си счетчиков 4 и 5 и значения амплитуды с...

Способ определения температур максимумов числа центров кристаллизации и линейной скорости роста кристаллов

Номер патента: 1791777

Опубликовано: 30.01.1993

Авторы: Дубовик, Ивченко, Непомнящий, Райхел

МПК: G01N 33/38

Метки: кристаллизации, кристаллов, линейной, максимумов, роста, скорости, температур, центров, числа

...да темпера тур(йо 5 образцов: на каждую температу- . ру), укэ 3 анных в табл, 1-3, в печис сйлитбйь 1 миЙЙРевэтелямй. Прикаждой.последу)ощей темпер; туре образцы выни-.мают иЗ"печи и "охлаж,ают на воздухе,по сле чего производят профилирование полированной поверхностй с помощью профилографэ-йрофилометра мздели 201,- - йключающее запись профилограмм и из-мерение йнтегральной шероховатости. 35 Профилограммы записывают при вертикальном увеличении 2 г 0000 и горизонталь ном - 4000 крат и оп зеделяют количествопиков на единицу длины профилограммы (по 3 участка Йа каждом "образце). После 40 профилирования образцы исследуют методом угольно-платиновой реплика ции, Предварительное травление исследуемой поверхн 6 сти осуществляют в 2,4-ном...