Микронеровностей — Метка (original) (raw)
Патенты с меткой «микронеровностей»
Прибор для определения микронеровностей криволинейных поверхностей, в частности поверхности желобов подшипниковых колец
Номер патента: 144298
Опубликовано: 01.01.1962
МПК: F16C 13/00, G01B 7/34
Метки: желобов, колец, криволинейных, микронеровностей, поверхностей, поверхности, подшипниковых, прибор, частности
...11 для перемещения линейки 5,Подшипнпковое кольцо 12, поверхность 13желоба 14 которого подлежит измерению, ус тацавлцвается желобом 14 на установочныйножевой сегмент 3, при этом торцовая поверхность 15 кольца контактирует с линейкой 5. Прц опускании груза 16 устройства 11 со скоростью, регулируемой перемещением иглы 10 17 гидравлического тормоза 18, опускается цпоршень 19 гидроусилцтеля 20, несущий клин 21, который в результате взаимодействия с роликом 22 передвигает ползун 6 с опорной линейкой 5. Это приводит к повороту кольца 15 12 относительно сегмента 3, Во время этог,.поворота игла 8 датчика 7 ощупывает поверхность 13 желооа 14 ц в зависимости от величины мцкронеровностей колеблется в поперечном направлении. Для фиксации...
Заполнитель микропор и микронеровностей поверхности пенополистироловых моделей
Номер патента: 722654
Опубликовано: 25.03.1980
Авторы: Антипенко, Бойко, Бочаров, Конопелько, Конотопов, Косолапова, Кулагина, Черкасова, Чернов
МПК: B22C 3/00
Метки: заполнитель, микронеровностей, микропор, моделей, пенополистироловых, поверхности
...и гесиетрической точности отливок т и необходимо рабо" тать с подогретыми или расплавленными веществами. 1 три температурах 40- 80 оС.При обработке металлов резанием широко известно применение водомасляных эмульсий 3).Экспериментальное и опытно-промыш ленноеопробование применения водо- масляных эмульсий в качестве заполнителя микропор и микронеровностей поверхности пенополистироловых моделей с целью улучшения качества отливок показало их высокую эффективность, Положительный эффект изобретения в ликвидации или резком снижении специфического брака отливок по эасору объясняется следующим образом.После поверхностной обработки моделей эмульсией и выдержки их на воздухе поверХностный слой моделей насыщается маслснн, масляная пленка...
Устройство для определения средней глубины микронеровностей
Номер патента: 1232938
Опубликовано: 23.05.1986
Автор: Беседин
МПК: G01B 7/34
Метки: глубины, микронеровностей, средней
...21.1, и на выходе компаратора 20.1 появитсялог. "1", которая запирает ключ 22.1,Интегратор 21,1 становится в режим хранения. Напряжение на его выходе останется равным напряжению первого выступа,Когда входное напряжение упадет до нуля и перейдет в минус, компаратор 26 знака переключится в состояние лог, "О" и будет удерживать триггеры 25 в сброшенном состоянии все время, пока входной сигнал отрицателен.Все компараторы 20 находятся в состоянии лог,"1", потому что входной сигнал отрицателен, на выходе интегратора 21.1 положительное напряжение, соответствующее первому выступу, а на выходах остальных интеграторов 21.2-.21,5 напряжение равно О,Когда входной сигнал вновь перейдет с минуса в плюс, компаратор 26 переключится в состояние лог,"1"...
Визуальный способ оценки шероховатости плоской поверхности в заданном диапазоне высот микронеровностей
Номер патента: 1265473
Опубликовано: 23.10.1986
Авторы: Кайнер, Пучкова, Щербатых
МПК: G01B 11/30, G01B 9/02
Метки: визуальный, высот, диапазоне, заданном, микронеровностей, оценки, плоской, поверхности, шероховатости
...4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для оценки шероховатости плоской поверхности в задан ном диапазоне высот микронеровнос. тей,Цель изобретения - повышение точности оценки и оценки не только плоских, а также и криволинейных поверхностей, путем повышения объективности оценки, поскольку оценивается наличие или отсутствие интерференционной картины, а также за счет использования жидкости в качестве элемента, предназначенного для получения интерференционной картины.Визуальный способ оценки шероховатости поверхности осуществляется: следующим образом.Предварительно подбирают ряд жидкостей, составляя его последовательно от жидкости, дающей интерференционную картину при наименьших...
Способ измерения высоты микронеровностей шероховатой поверхности и устройство для его осуществления
Номер патента: 1302141
Опубликовано: 07.04.1987
Авторы: Ангельский, Максимяк
МПК: G01B 11/30
Метки: высоты, микронеровностей, поверхности, шероховатой
...пластинка 13 преобразует взаимно ортогональные линейные поляризации составляющих информационных и опорного каналов во взаимно ортогональные циркуляционные поляризации. Суперпозиция взаимно ортогонально поляризованных волн опорной и любой из информационных составляющих дает линейную поляризацию с определенным азимутом при условии, что интенсивности суперпонирующих составляющих равны, Выравнивание интенсивностей достигается путем вращения четвертьволновой пластинки 2. Интенсивность света, прошедшего через систему четвертьволновая пластинка 2 - поляризатор 4, определяется взаимной ориентацией главной оси пластинки 2 и плоскостью пропускания поляризатора 4. Изменяя угол между указанными направлениями, управляют интенсивностью прошедшего...
Способ измерения функции распределения углов наклона микронеровностей шероховатой поверхности
Номер патента: 1456778
Опубликовано: 07.02.1989
МПК: G01B 11/30
Метки: микронеровностей, наклона, поверхности, распределения, углов, функции, шероховатой
...6, диафрагма 7, электрооптический модулятор 8,фотоэлектрический блок 9 регистрации, устройство О связи с объектом,гликроЭВМ 11, исследуемый объект 12,Способ осущестгляется следующимобразом.,Из когерептного излучения от источника 1 с помощью коллиматора 2Формируют Ьолну с плоским волновггмФронтом, Получают с помощью четнертьволновой пластинки 3 циркулярную поляризацию излучения и, пропуская его через поляризатор 4, формируют плоскость колебаний световойоволны под углом О с 3 ГС 90 к плоскости падения. Освещают волной иссле" дуемую поверхность и проецируют объективом 5 изображение этой поверхности в плоскость полевой диафрагмы 7, пропуская при этом излучение через поляризатор б. Размер диафрагмы 7 выбирают равным порядка 0,1...
Рефлектометрический способ измерения средней высоты микронеровностей шероховатой поверхности
Номер патента: 1529039
Опубликовано: 15.12.1989
Авторы: Лисицын, Надежкин, Фокин
МПК: G01B 11/30
Метки: высоты, микронеровностей, поверхности, рефлектометрический, средней, шероховатой
...отношения.Способ осуществляют следующим образом,Зондирующее излучение лазера 1 направляют через светоделительную пластинку 2 на исследуемую поверхностьдетали 9. Деталь 9 помещают в центркривизны сферического отражающегозеркала 3 и сообщают им гармоническиеколебания с помощью механизма 4 вокруг оси, проходящей через точку Озондирования и перпендикулярной плоскости падения излучения. Ось, проходящая через точку О и перпендикулярная плоскости падения излучения, составляет прямой угол с осью 02. Уголд падения излучения на исследуемуюповерхность изменяется, что вызываетмодуляцию интенсивности зеркальнойсоставляющей излучения, отраженногоот исследуемой поверхности. Зеркало3 возвращает отраженный от исследуемой поверхности детали 9 в зеркальном...
Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей
Номер патента: 1562696
Опубликовано: 07.05.1990
МПК: G01B 11/30
Метки: крутизны, микронеровностей, поверхностей, распределения, шероховатых
...через анализатор 13 и магнитооптическую ячейку 14.Размер полевой диафрагмы 12 выбирают порядка 1/10 части размера зоны корреляции. С помощью анализатора 13 и магнитооптической ячейки 14 определяется ситуация, когда колебания светового поля в нулевой полосе интерФеренционной картины оказываются строго линейно поляризованными. При этом измеряется величина прилагаемого в этот момент времени напряжения к электрооптическому кристаллу 9, а также азимут попяризации световых колебаний и интенсивность в нулевой полосе интерференционной картины.Далее, путем сканирования полученного когерентного изображения шероховатой поверхности выделяется новая зона корреляции, и, таким образом, определяется массив значений напря- - , жений Ц,...
Способ определения функции распределения углов наклона микронеровностей шероховатой поверхности
Номер патента: 1635000
Опубликовано: 15.03.1991
МПК: G01B 11/30
Метки: микронеровностей, наклона, поверхности, распределения, углов, функции, шероховатой
...4 состообьективов и диафрагмы междужит для расширения пучка и форволны с плоским волновым фростинка 2 ориентируется таким обее ось наибольшей скорости сост45 с плоскостью поляризациипучка, что позволяет получить циркулярную поляризацию освещающего пучка. Поляризатор 6 вращается с помощью шагового двигателя (не показан), что обеспечивает вращение плоскости колебаний световой волны относительно плоскости падения, Объект 12 осуществляет поляризационнофазовую модуляцию лазерного пучка, Объектив 5 проецирует изображение исследуемой шероховатой поверхности объекта 12 сквозь поляризатор 3 в плоскость полевой диафрагмы 7, за которой расположены магнитооптический модулятор 8 и фотоэлектрический блок 9 регистрации, Размер полевой диафрагмы 7...
Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей
Номер патента: 1645811
Опубликовано: 30.04.1991
Авторы: Недужко, Стринадко, Ушенко
МПК: G01B 11/30
Метки: крутизны, микронеровностей, поверхностей, распределения, шероховатых
...комитета по113035, Москва, Жа,1 изводственно-издательский комбина На вход устройства поступает излучение от источника 1 излучения - однородового лазера ЛГ.Пластину 2 ориентируют так, чтобы ее ось наибольшей скорости составляла угол 45 относительно плоскости колебаний вектора электрической напряженности лазерной волны, что обеспечивает формирование циркулярно поляризованной волны, Поляризатор 3 устанавливают под произвольным углом 0 р ( 90 относительно плоскости падения, Коллиматор 4, состоящий из двух обьективов и диафрагмы между ними /на чертеже не показаны/, служит для расширения пучка и формирования волны с плоским волновым фронтом. Исследуемый обьект 13 осуществляет поляризационнофазовую модуляцию освещающего пучка....
Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатой поверхности
Номер патента: 1744457
Опубликовано: 30.06.1992
Авторы: Ермоленко, Стринадко, Ушенко
МПК: G01B 11/30
Метки: крутизны, микронеровностей, поверхности, распределения, шероховатой
...опорном канале освещающий лазерный пучок с помощью поворотного зеркала 6 направляется на реплику шероховатой поверхности 7, Сформированное таким образом когерентное изображение реплики проецируется объективом 8 в плоскость регистрации, в которой расположен фоторегистрирующий транспарант 10, а перед ним находится анализатор 11, ось пропускания световых колебаний которого ориентирована под углом 45 относительно плоскости падения. Фотослой регистрирует распределение интенсивностей в когерентном изображении реплики шероховатой поверхности.Далее с помощью вращающегося анализатора в угловых пределах 45 - 135 относительно плоскости падения формируют различные проекции плоскости световых колебаний в зонах корреляции когерентного...