Штриха — Метка (original) (raw)
Патенты с меткой «штриха»
Фокус светового штриха в аппаратах для записи звуков
Номер патента: 27800
Опубликовано: 30.09.1932
МПК: G01G 23/26
Метки: аппаратах, записи, звуков, светового, фокус, штриха
...весы предназначаются для автоматического и непрерывного определения веса материала, вырабатываемого трикотажно -вязальною машиной, путем соответствующего весу отклонения груза.На чертеже фиг. 1 изображает вертикальный разрез весов; фиг. 2 - то же, вид сверху.Н предлагаемых циферблатных весах (фиг. 1 и 2) для автоматического и непрерывного определения веса материала, нарабатываемого трикотажно-вязальными машинами, применен вилкообразный рычаг 3 с укрепленной к нему призмой 2 с одного конца и призменной серьгой 4 - с другого конца. Призма 2 упирается в подушку 1, неподвижно укрепленную к шпинделю 17 машины. К рычагу 3, на -призменных серьгах 5 и б, подвешена втулка 15 с тазом 7. Рычаг 3, через призменную серьгу 4, тягу и призменную...
Приспособление к измерительному микроскопу для проверки расстояния штриха от рабочей кромки на измерительных ножах
Номер патента: 50962
Опубликовано: 01.01.1937
Автор: Сенкевич
МПК: G02B 21/32
Метки: измерительному, измерительных, кромки, микроскопу, ножах, проверки, рабочей, расстояния, штриха
...трубу устанавливают на нуль шкалы, После этого вынимают эталонный измерительный нож 13 и вместо него ставят обмеряемый нож. Каретку вместе с контрольным валиВ предлагаемом приспособлении к измерительному микроскопу для поверки расстояния штриха от рабочей кромки. на измерительных ножах применена поворотная головка для опти. метрической трубы, с целью установки последней перпендикулярно к оси валика, помещенного в центре подвижной части микроскопа,На схематическом чертеже фиг, 1 изображает вид приспособления сбоку; фиг. 2 - поперечный его разрез; фиг. 3 - вид сверху.В прикрепленном к неподвижной плите универсального микроскопа основании 1 имеются направляющие, в которых могут перемещаться салазки 2 при помощи гайки 3 и винта 4. К...
Полуавтомат для нанесения кольцевого декоративного штриха на крышки часов
Номер патента: 231340
Опубликовано: 01.01.1968
Автор: Шипунов
МПК: B24B 21/02, B24B 5/04
Метки: декоративного, кольцевого, крышки, нанесения, полуавтомат, часов, штриха
...герметичности в полости 27 при установленной на насадке 25 детали для обработки.Распределитель 3 системы подвода вакуума и подачи сжатого воздуха включает стакан 28, диск 29 с отверстиями 30, распределитель 31 с пазом 32, диафрагму 33, отделяющую полость 34 от полости 35. Диск 29 укреплен на валу 1 и вращается вместе с нпм. Вакуумный насос 36 соединен с распределителем 3 с помощью трубопровода 37, а система сжатого воздуха подведена с помощью трубопровода 38,В механизм блокировки привода стола 2 включено пневмореле 39, связанное системой воздуховода с рабочими шпинделями и с системой электрооборудования.Перед пуском станка производится подготовка к работе лентопротяжного механизма 11, на катушки 12 и 13 которого через ролики 15...
Фотоэлектрический микроскоп для контроля положения штриха меры
Номер патента: 323646
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G01B 11/02, G01B 9/04
Метки: меры, микроскоп, положения, фотоэлектрический, штриха
...(нониуса). Конвест жен изоо Предлагаемое устройство относится к области измерительной техники, а именно, к приборад 1 для проверки штрихового измерительного инструмента, содержащего шкалу и индекс (нониус),Известен фотоэлектрический микроскоп для контроля положения штриха меры, содержащий оптическую систему наведения на штрих и отсчетиое устройство.Микроскоп перестанавливают для последовательного наведения на штрих шкалы и штрих-индекс с отсчетом несовпадения штрихов по перемещению самого микроскопа,Работа с помощью известного устройства является малопроизводительной, и, кроме того, в измерение вносятся погрешности за счет установки,Предлагаемый микроскоп позво.пяет измерять величину несовпадения штриха и пприха-индекса (ноииуса) за...
Способ фокусировки изображения штриха
Номер патента: 347722
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Грамматин, Насауленко
МПК: G01D 13/00, G02B 27/40
Метки: изображения, фокусировки, штриха
...фокусировки и снижает требование к точности изготовления объектива.На фиг. 1 показано перемещение изображения штриха вдоль оптической оси объектива, при повороте последнего вокруг оси, параллельной штриху, общий вид; на фиг, 2 - то же, вид сверху; на фиг. 3 изображено образование параболы, по которой перемещается изображение штриха об ьективом, устаиовлеш 1 ым неподвижно, при перемегцепии штриха в плоскости, перпендикулярной оптической оси объектива, вид сверху.Предлагаемый способ основан на наличии значительного астигматизма и кривизны изображения у простейших оптических систем типа одиночных линз, склеенных объективов и т. д. Если предмет 1 (штрих светового указателя), перпендикулярный плоскости чертежа (см. фиг. 3), перемещается в...
Измеритель координаты светового штриха
Номер патента: 731281
Опубликовано: 30.04.1980
Авторы: Антонов, Ивин, Михайлов, Шавырин
МПК: G01B 19/34
Метки: измеритель, координаты, светового, штриха
...светового штриха в центре сканистора,10 цель изобретения - расширениефункциональных возможностей устройства,Указанная цель достигается тем,что измеритель снабжен компарато 15 ром с .симметричным гистерезисом,соединенным входом с выходом дифференцирующего угла,На Фиг. 1 представлена блок-схема измерителя; на фиг. 2-5 - эпюры20 напряжений, поясняюшке его работу.Измеритель содержит сканистор 1,источник 2 напряжения, генератор 3развертывающего напряжения треугольной Формы, дифференцирующий узел25 4 и компаратор 5 с симметричным гистерезисом.Устройство работает следуюшимобразом.Полученное после дифференцирова 30 ния напряжения О (фиг. 3) напряже731281 Фи иг. д ние Оз (фиг. 4) поступает на компаратор 5 с симметричным...
Фотоэлектрический способ определенияположения штриха шкалы
Номер патента: 807053
Опубликовано: 23.02.1981
МПК: G01B 9/04
Метки: определенияположения, фотоэлектрический, шкалы, штриха
...интерферометра прибора 5 для определения координаты, элементы 7 сравнения, цифровой вольтметр 8, специализированную ЭВМ 9 цифропечатающее устройство 10.Способ реализуется следующим образом.Перед началом измерения выбирают уровни напряжения И, И ,. (Фиг.2), в зоне, где измененйе сйгнала И . пропорционально перемещению Х. Измерения проводятся ри перемещении фотоприемника 4 и диафрагмы 3 относительно штрихов 2 меры 1. В процессе измерения текущее значение сигнала И сравнивают с выбранными уровнями сравнения Иср = И Испуг = И 2 при помощи элементов 7 сравнения. При совпадениях Ис с величинами Иср. И р элементы 7 сравнения формируютс.о гсйгналы опроса, по которым прибор 5 (ИПЛ.10 М,52) фиксирует координаты х ,х, х., жестко связанного с диаф...
Способ контроля ширины штриха дифракционной решетки
Номер патента: 1290065
Опубликовано: 15.02.1987
Авторы: Гингис, Ключников, Маренков, Новиков, Сухочев
МПК: G01B 21/00
Метки: дифракционной, решетки, ширины, штриха
...на друга блоком 4 деления.Ширина штриха дифракционной решетки 5 вычисляется по соотношениюЬ= - агс созу -7 ГГ% 7 цгде б - ширина штриха дифракционной решетки;Т - период дифракционной решетки;(/2 - амплитуда электрического сигнала,снимаемого с фотопреобразователя 2;Ь 3 - амплитуда электрического сигнала,снимаемого с фотопреобразователя 3,При измерении относительной неидентичности коэффициентов передачи фотопреобразователей 2 и 3 с помощью блока 4 деления находится величина ро, равная/2Ро -УЗгде У 2 и УЗ - амплитуды электрических сигналов, снимаемых с фотопреобразователей 2 иЗ.Затем фотопреобразователи 2 и 3 переставляются местами, т. е. фотопреобразователь 2 фиксирует интенсивность дифракционного максимума первого порядка, а...
Способ выработки информации о расположении штриха меры при ее динамической поверке
Номер патента: 1348642
Опубликовано: 30.10.1987
Автор: Рогов
МПК: G01B 21/00
Метки: выработки, динамической, информации, меры, поверке, расположении, штриха
...а, (6)д огде 7 - компенсирующий интервал;Ч - скорость перемещения меры,аЬ, - изменение расстояния междушкаловой поверхностью и мик42 где50 5 13486роскопом соответственно вначале и конце расчетногоучастка1(ьЬ) - функция влияния изменениярасстояния на регистрируемоерасположение штриха.Данная зависимость выводится на основании того, что среднее значение функции влияния Г(ьЬ) на расчетномл участке, равное интегралу Г(ьЬ)с 1 Л,Во связано с временным интервалом Ь ,тсч., на который смещается из-эа изменения расстояния между шкаловой поверхностью и микроскопом, коэффициентом масштабного преобразования 1/Ч, Таким образом, алгебраическое суммированиес , компенсируетотсЧ (Вид функции Г(ьЬ) влияния изменения расстояния между микроскопом и...
Способ измерения ширины штриха лимба
Номер патента: 1620822
Опубликовано: 15.01.1991
Автор: Борисюк
МПК: G01B 11/00
...У проходит через фотоэлектричедатчики 1 и 2, а точка О совпадает с поворота базировочного устройства.стройство, реализующее способ, работает следующим образом..1620822 Для параллельных кромок штриха 4 ширина В штриха определяется из соотноше- ния в, х 2 31 п т В 1 В 2 со 12) Таким образом, предложенн позволяет определить параметры лимба 3, в том числе его ширину, точностью, так как смещение о относительно оси поворота бази устройства не влияет на результат ния,ый способ штриха 4 С выСОкои си лимба овочного ы измереСпособ измерения ширины штриха лимба, заключающийся в том, что устанавливают контролируемый лимб в базировочное устройство, выполненное с возможностью 25 поворота вокруг заданной оси, поворачивают контролируемый лимб...