Текстур — Метка (original) (raw)
Патенты с меткой «текстур»
Способ выявления магнитной и кристаллической текстур
Номер патента: 435567
Опубликовано: 05.07.1974
Автор: Ларина
МПК: G01N 27/72, G01N 27/82
Метки: выявления, кристаллической, магнитной, текстур
...агнитну чертеж ы на асра поверхность паню суспензию,х представленыповерхности одноличной степенью осят спиртоорошковые и того же азмагничикартин магнит вания.На ф 90%; н на 30 чивает иг. 1 магн а фиг,2- 50% и на ся. ения магнитнои ивключающий налярно или вдоль гнитной суспензии 10 ра- на фиг интеграспособувляют ьных кар операцию ред нане мет изобретения Способ выявления магнитной и кристаллической текстур, включающий намагничивание перпендикулярно магнитной или кристаллической текстуровки, нанесение магнитной суспензии и размагничивание, отл и ча ю щи йс я тем, что, с целью получения четких интегральных картин, операцию размагничивания осуществляют перед нанесением магнитнон суспензии,и.следующают докулярноьной...
Способ контроля гексагональных текстур листовых материалов
Номер патента: 1245971
Опубликовано: 23.07.1986
Авторы: Брюханов, Гохман, Царенко
МПК: G01N 25/00
Метки: гексагональных, листовых, текстур
...величина С, а уголпри помощи1245971 ОтношеСтепеньобжатияж ние главныхосей эллипса.Исход 50 ная 1 01,122 271,172 321,181 331,218 36 28 20 33 40 35 60 36 80 формулы (4), Нахождение угла Ы значительно упрощается, если предвари- . тельно построить градуировочный график зависимости данного материала по формуле (4). 5П р и м е р. Изучают листы титана ВТ 1-0 толщиной 0,7-3 вам. Исходные листы, полученные теплой прокаткой, прокатывают при комнатной температуре на лабораторном стане с диаметром валков 140 мм без реверса до 20, 20, 60 и 807 обжатия по толщине. Контрольный образец, в качестве которого был выбран лист, прокатный с обжатием 80% по толщине, облучают рентгеновс ким СцК,излучением и регистрируется интенсивность отраженных лучей при...
Устройство формирования признаков для распознавания изображений однородных текстур
Номер патента: 1410073
Опубликовано: 15.07.1988
МПК: G06K 9/00
Метки: изображений, однородных, признаков, распознавания, текстур, формирования
...7 присутствуют импульсы, число и длительность которых соответствуют числу пересечений с соответствующим уровнем и временем нахождения над ним сигнала изображения текстуры, фиг. 2 в и 2 г. 1+1-й счетчик 8 подсчитывает импульсы, поступающие с выхода дешифратора 7, таким образом определяя число пересече,ний с заданным -м уровнем. Полученные значения отображаются блоком индикации 5. Выходные импульсы генератора импульсов 10, фиг. 2 е, перемножаются на х-и элементе И 9, 12 с импульсами с -го выхода дешнфратора 7. Таким образом, на выходах элементов И 9, 12 формируются последовательности импульсов, фиг, 2 ж, и 2 з, Число импульсов в последовательности на выходе 1-го элемента И 9,12 пропорционально суммарной длительности импульсов на...
Способ классификации текстур горных пород
Номер патента: 1578598
Опубликовано: 15.07.1990
МПК: G01N 21/25
Метки: горных, классификации, пород, текстур
...минерала в соответствиис различными схемами опробования обнаруживается, что существуют значимыеотклонения этой величины от значений,полученных при К=1, зависимые от количества потерянной геометрическойинформации за счет масштабной транс"Формации изображения. Величина этогоотклонения является характеристической в отношении геометрической сложности рисунка и его структурной анизотропности (нетождественности в отношении двух ортогональных пространственных направлений)П р и м е р. Отбирали два образцакарбонагной породы (кальцифира) Первый образец обладал полосчатой текстурой, второй - пятнистой, Из образцов изготавливали две полированныепластины с размерами 120 х 120 х 30 мм.На поверхность пластин при помощитуши была нанесена...
Способ получения электронограмм типа косых текстур тонких пластинчатых кристаллов
Номер патента: 1649397
Опубликовано: 15.05.1991
Авторы: Жухлистов, Звягин, Кязумов, Фоминенков
МПК: G01N 23/20
Метки: косых, кристаллов, пластинчатых, текстур, типа, тонких, электронограмм
...образца вокруг нормали к плоскости препаратодержателя (крнсталла) на угол в пределах до 360 .При этом для получения. отдельных составляющих полной дифракционной картины моно- кристальную пластинку перед ее нак-,. лоном устанавливают таким образом, чтобы радиусы того или иного рефлекса оказались параллельными оси наклона препаратодержателя, и экспозицию производят при вращении кристалла на такие углы (60-180 в. зависимости от геометрии злектронограммы в перпендикулярном положении), чтобы узловые ряды от разных рефлексов одинакового радиуса не перекрывались вдоль элпипса. При неблагоприятных для дифракции условиях съемку электронограмм можно производить при вращении в меньших угловых интервалах,,и требующаяся дифракционная информа,ция...