Зеркально — Метка (original) (raw)
Патенты с меткой «зеркально»
Устройство для коррекции качества изображения зеркально линзовых объективов
Номер патента: 219239
Опубликовано: 01.01.1968
Авторы: Гальперн, Королева, Пустберг
МПК: G02B 1/10, G02B 13/18, G02B 17/08 ...
Метки: зеркально, изображения, качества, коррекции, линзовых, объективов
...и в ход лучей вводится зеркало 4. Приэтом в ход лучей объектива вводится плоско- параллельная пластинка толщиной 2, вносящая положительную сферическую аберрацию и уменьшающая сферическую аберрацию объ ектива для волн длиной Р,.+Лг В связи с тем,что пластинка дает удлиненный ход лучей, расстояния между осью вращения и отражающими плоскостями зеркал подбираются гак, что отрезки 4 и А изменяются на величину Ы 1 и 41 таким образом, что отрезок 5 Р 1 о для первого положения равняется 5 рт для второго положения компенсирующего устрой.ства.30 Рассчитанный в качестве примера зеркаль.Закае 2598/8 Тпрахк 530Ц 111 Й ПИ Комитета по делам изобретений и открытий прпй 4 осква, Центр, пр. Серова, д. 4 Подписи вете Мииисгров СССшография, пр...
Способ контроля непараллельности зеркально
Номер патента: 326445
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G01B 11/26
Метки: зеркально, непараллельности
...1 - 7 и 11 - 13 представляет собой автоколлиматор типа АКТ.За объективом автоколлиматора помещена диафрагма 8, выполненная в виде двух со- ЗО прикасающихся круглых отверстий. дпафраг326445 Предмет зобретения Спосоо контроля непараллельности зеркальнд отражающих торцов непрозрачной детали с приз енением оптических устройств, от.ппчаюш,яйся тем, что, с целью повышения производительности и упрощения процесса контроля, и ка естве оптических устройств исгользуют автоколлиматор и коллиматор с,плоским зеркалом в фокальной плоскости, установленные навстречу друг другу, располагают между ними контролируемую деталь так, чтобы обращенная к автоколлиматору торцовая плоскость детали была перпендикулярна падающему на нее осевому пучку света и чтобы...
Способ определения размеров микрочастиц, обладающих зеркально гладкими поверхностями
Номер патента: 387265
Опубликовано: 01.01.1973
Автор: Баулин
МПК: G01N 15/02
Метки: гладкими, зеркально, микрочастиц, обладающих, поверхностями, размеров
...в том, что часть светового потока, преобразованного частицей, попадает в ФЭУ, вызывая в нем фототок, по величине которого судят о размерах частицы.Цель изобретения - повышение точности измерений.Это достигается тем, что частицу облучают двумя световыми потоками, направленными под острым углом друг к другу, и носителем информации являются лучи, зеркально отраженные поверхностью частицы. относится к способам опремикрочастиц, обладаюими поверхностями. На чертеже представлена схема, иллюстрирующая предлагаемый способ,Свет от системы источников 1 попадает на 2 частицу 2. Часть светового потока, падающего на частицу, зеркально отражаясь от ее поверхности, попадает в объектив микроскопа 3, Таким образом, частица видна в микроскоп в виде...
Устройство крепления юстировочного зеркала в зеркально линзовом объективе
Номер патента: 495629
Опубликовано: 15.12.1975
Авторы: Авдеева, Бордуков, Кулаков
МПК: G02B 7/18
Метки: зеркала, зеркально, крепления, линзовом, объективе, юстировочного
...зеркала в зеркально-линзовом объективе.Устройство содержит плоско-паралле юстировочное зеркало 1 с наружным от ющпм слоем, завальцованно , установленную на вкладыше стью поворота в двух взаимно рн п.чоскостях, для чего оправа срернческим керном 4, тремя пр винтамп 6,Вкладыш 3 выполнен в виде центрального диска 7 и наружного кольца 8, соединенных друг с другом тремя ребрами жесткости 9, и установлен внутри корпуса объектива 10 между первой линзон 11 и плоскостью переднего торца 12 объектива.Для исключения дополнительных световых потерь наружный днамстр центрального диска 7 с установленным на нем зеркалом выполнен меньше диаметра центральной нерабочей части объектива, а ребра жесткости 9 вкладыша 3 совмещены с ребрами жесткости 13...
Устройство для контроля непараллельности зеркально отражающих торцев непрозрачной детали
Номер патента: 511521
Опубликовано: 25.04.1976
Авторы: Коломийцов, Урнис
МПК: G01B 11/26
Метки: детали, зеркально, непараллельности, непрозрачной, отражающих, торцев
...оптической осиавтоколлиматора,На чертеже дана оптичесивя схема предлагаемого устройства,Оно содержит автокаллимугольную призму 2, столрегулвровки контролируемойчертеже не показан). Гипотенузная грань призмы 2 установлена перпендикулярно к оптической оси автоколлиматора 1. Длина гипотенузной грани призмы больше диаметра объектива автоколлиматора и определя 5 ется величиной угла между осью и торцами контролируемой детали 3, а также ее длиной.Устройство работает следующим образом.При отсутствии контролируемой детали в поле зрения автоколлиматора находятся два автоколлимационных изображения марки М и М : изображение М получено1при непосредственном отражении световых 15 пучков, вышедших из автоколлиматора от участка А гипотенузной...
Устройство для измерения толщины зеркально отражающих покрытий в процессе их нанесения
Номер патента: 1055960
Опубликовано: 23.11.1983
Авторы: Новиков, Сорокоумов
МПК: G01B 11/06
Метки: зеркально, нанесения, отражающих, покрытий, процессе, толщины
...Котодетектора от втолщины покрытия при наличии шумовой помехи приводит к возникновению существенной погрешности в определениитолщины покрытия,Целью изобретения является повышение точности измерения толщины зеркально отражающих покрытий в процессе их нанесения.Поставленная цель достигается тем,что в устройстве для измерения толщины зеркально отражающих покрытий впроцессе их нанесения, содержащемодномодовый газовый лазер, включающий переднее и заднее зеркала, Котодетектор с электронным блоком обработки и свидетель, предназначенныйдля нанесения на него покрытия иустановленяый под углом к оптическойоси лазера перед его передним зеркалом, равнымд, = агсз 1 пЧ 11.-Н 1где О - размер поперечного сеченияактивной среды лазера;1. - расстояние от...
Способ контактной точечной сварки двух зеркально симметричных узлов
Номер патента: 1260137
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Герасимов, Тейтельбаум
МПК: B23K 11/10
Метки: двух, зеркально, контактной, сварки, симметричных, точечной, узлов
...3 поворота со стойкой 4, на которой смонтированы направляющие 5 для механизмов 6 и 7 независимого вертикального перемещения телеско пических рук 8 и 9, на которых закреплены двухстепенные приводные шарниры 10 и 11 со сварочными клещами 12 и 13, кондукторы 14 и 15 и систему 16 управления.Способ осуществляют следующим обра 25 зом.Два зеркально симметричных узла 17 и 18 с продольными швами располагают симметрично относительно линии движения промышленного робота, Последний находится в исходном положении вне зоны сварки. Руки 8 и 9 втянуты и находятся на уровне свариваемых швов.По сигналу системы 16 управления промышленный роботот начинает непрерывное движение из исходного положения вдоль свариваемых узлов. При подходе к первой точке...
Устройство для контроля прямых двугранных углов зеркально призменных элементов
Номер патента: 1276939
Опубликовано: 15.12.1986
Автор: Соловьев
МПК: G01B 11/26, G01M 11/00
Метки: двугранных, зеркально, призменных, прямых, углов, элементов
...2 и 30плоскопяраллельной пластиной 5 параллельно отраженному от нее световогопотока, Кроме того, приемное устройство 7 установлено за плоскопяряллельной пластиной 5 против хода отраженного от нее светового потока,при этом зеркало 1 и контролируемаяпризма установлены ня предметном столике 8, имеющем возможность поворотана 1800 вокруг оси 9, перпендикулярной оптической оси светового потока,причем ребро контролируемого двуграцного угла призмы направлено к зеркалу 1,Устройство функционирует следующим образом,на зеркало 1 и, отразившись от него,вторично падают ца соответствующиеграни призмы, при этом после отражения от первой грани призмы световойпучок проходит сквозь плоскспараллельную пластину 5, а световой пучок,отраженный от второй...
Стенд для испытания двух зеркально расположенных рессор
Номер патента: 1402828
Опубликовано: 15.06.1988
Авторы: Леневич, Марутян, Ракицкий, Семенко
МПК: G01M 17/04
Метки: двух, зеркально, испытания, расположенных, рессор, стенд
...стойками 2, на которых закреплены опоры 3 концов двухиспытуемых рессор 4, механизм нагружения,имеющий гидроцилиндр 5 и устройство дляпредварительного деформирования рессор,Это устройство имеет обойму 6, охватывающую рессоры, и нажимное средство,выполненное, например, в виде винта 7, завернутого в верхнюю часть обоймы, Нажимное средство может быть выполнено в видегидроцилиндра, электромагнита и т. д.Гидроцилиндр 5 закреплен на основании 1посредством опоры 8 со сферическим подшипником, а шток гидроцилиндра 5 снабженнаконечником 9, на котором шарнирно установлена обойма 6. Гидроцилиндр 5 снабжен электрогидравлическим следягцим при.водом (не показан) .Опоры 3 установлены на стойках 2 с возможностьк) регулирования их положения 25по...
Ультразвуковой дефектоскоп для контроля изделий зеркально теневым методом
Номер патента: 1559281
Опубликовано: 23.04.1990
Авторы: Брандис, Васелашку, Заика, Лончак
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектоскоп, зеркально, методом, теневым, ультразвуковой
...на ультразвуковой преобразователь 3, усиливаютсяусилителем 4 и видеоусилителем 5,Формирователь 14 эоны счета выраба тывает в каждом периоде следованиясинхроимпульсов импульс прямоугольнойформы, задержка и длительность которого выбираются с учетом времени прихода донного сигнала во всех типах рельсов с допустимой степенью их износа, На время действия этого импульса отпирается формирователь 10 счетных импульсов, который подает серию импульсов с частотой 500 кГц на счетчик 11 и аналогичную серию импульсов, находящихся в противофазе первой серии, на вход реверсивного счетчика 13, Первый триггер 15, который запускается фронтом зоны счета и опрокидывается донным сигналом с вндеоусилителя, совпавшим во времени с зоной счета,...
Способ измерения коэффициента температуропроводности зеркально отражающих материалов
Номер патента: 1627949
Опубликовано: 15.02.1991
Авторы: Докучаев, Зиновьев, Коршунов, Шихов
МПК: G01N 25/18
Метки: зеркально, коэффициента, отражающих, температуропроводности
...с итывающего лазера не влияет на результаты измерения. Все перечисленное дает возможность свести величину погрешности в определении температуропроводности к величине погрешности в определении модулирующей частоты в и запаздывания по фазе Ьр,На чертеже показана схема устройства, с помощью которого реализуют способ.Устройство состоит из источника 1 теплового излучения, модулятора 2, опорного генератора 3, Не-Ие лазера 4, дифракционной решетки 5, линзы 6, оптического клина 7,линзы 8, фотоэлектрического приемника 9, амплитудно-фазового измерителя 10, ЭВМ 11, частотомера 12.С помощью устройства способ осуществляют следующим образом.Лазерный луч иэ источника 1, модулированный по гармоническому закону модулятором 2 и опорным генератором 3,...