Цеснек — Автор (original) (raw)
Цеснек
Приемопередающее устройство лазерного локатора
Номер патента: 805785
Опубликовано: 20.07.1999
Авторы: Кузнецов, Литвинов, Осадчев, Погосов, Тищенко, Цеснек
МПК: G01S 7/48
Метки: лазерного, локатора, приемопередающее
Приемопередающее устройство лазерного локатора, содержащее последовательно установленные лазер, входную оптическую систему, оптический расщепитель, первый акустооптический модулятор и выходную оптическую систему, отражатель, сопряженный с оптическим расщепителем и выходной оптической системой, и первый фоторегистратор, вход которого посредством линзы сопряжен с оптическим расщепителем, а также поглотители, отличающееся тем, что, с целью повышения точности при одновременном измерении линейных и угловых перемещений объекта, в него дополнительно введены первый ответвитель, установленный между входной оптической системой и оптическим расщепителем, второй ответвитель, сопряженный с первым...
Устройство для обработки асферических поверхностей
Номер патента: 1042891
Опубликовано: 23.09.1983
Авторы: Ашкеров, Ефремов, Минаев, Репкин, Сорокин, Цеснек
МПК: B23B 5/40
Метки: асферических, поверхностей
...осевоНаиболее близким к изобретению по го перемещения инструмента 7, включаютехнической сущности является устрой щее датчик 8 осевого перемещения (Д 1),ство для обработки асферических повер- датчик 9 угла поворота (Д 2) и электрон.ностей в котором в качестве толкателя, но-вычислительную машину (ЭВМ) 10,контактирующего с плоским копиром, Привод осевого перемещения инструмениспользован цилиндрический плунжвр, тального шпинделя 6 выполнен в винеимеющий плоскую поверхность, совпада- пневмоцндиндра 11 и связанного с нимющую по углу с поверхностью копнра. регулятора 12 цавления. ИнструментальМежду осями шпинделя и пдунжвра име ная головка 4 снабжена установленнымется некоторое расстояние, благодаря Оцоэитно цилиндру 1 1 аэростатическимчему...
Устройство для контроля шероховатости поверхности
Номер патента: 1033863
Опубликовано: 07.08.1983
Авторы: Дерюгин, Осовицкий, Сотин, Тищенко, Цеснек, Челяев
МПК: G01B 11/30
Метки: поверхности, шероховатости
...выполняющую функции элемента оптической связи приемника и источника с контролируемой поверхностью через две диэлектрическиепленки, нанесенные одна на контролируемую поверхность 1 а другая - на основание элемента связи. Элемент связивыполнен в виде прямоугольной призмы АР, причем его основанием служит гипотенузная грань2 1 . 5 1 О 15 20 25 ЗО 5 5 О 5 Целью изобретения является повышение информативности результатов измерений и расширение диапазона контролируемых поверхностей.Указанная цель достигается тем, чтов устройстве, содержашем, расположенные по одну сторону от контролируемойповерхности, источник и приемник излучения и устанавливаемый на нее черездве диэлектрические пленки оптическийэлемент связи, последний выполнен в виде тела...
Способ изготовления алмазных элементов
Номер патента: 986770
Опубликовано: 07.01.1983
Авторы: Глухов, Засосов, Орлов, Ходаков, Цеснек
МПК: B24D 17/00
...Вслед986770 П р и м е р, Изготовление алмазного инструмента на основе порошковмеди и олова в соотношении 80:20 иалмазного порошка фракции 14/10 сконцентрацией 12,5%.Последовательность изготовления:смешивание шихты, прессование таблеток ф 10 х Зв холодном состоянии придавлении 4, 5 тс/см ; термообработка в кипящем глицерине в течение5-60 мин.10 Условия испытания инструмента:микротвердость по Вринеллю; натурные испытания на станке 9 ШПвстандартных условиях согласно утвержденной инструкции на операции 15 второго перехода шлифования стеклаК 8. В качестве СОЖ применяется30-ный раствор глицерина в воде.Число оборотов шпинделя 1500 в мин,давление прижима 0,9 кгс/см , цикл ;щ обработки 40 с.Результаты испытаний...
Устройство для измерения фактической площади контакта
Номер патента: 968608
Опубликовано: 23.10.1982
Авторы: Ашкеров, Букреев, Осадчев, Погосов, Тищенко, Цеснек, Черемискин
МПК: G01B 11/28
Метки: контакта, площади, фактической
...избежать ошибки в измерениях при использовании низкой акустической частоты. В этом случае эффективная толщина оптического ь 9 лновода Ьф,уже не отвечает неравенству ЬЗ(Ъ и зто приводит к тому, что в режиме стоячей акустической волны нельзя пренебрегать ее воздействием на нолноводный пучок. Использование контрольного образца позволяет проводить сравнительный анализ ФПК контролируемых образцов.Таким образом, выполнение приемника акустических волн в виде интерференционного блока установленного Устройство содержит излучатель 1акустических волн, например пьезоэлектрический, эталонный образец 2,на одной из сторон которого установлен излучатель 1, а противоположнаясторона предназначена для установки 5контролируемого изделия 3,...
Устройство для центробежной обработки деталей
Номер патента: 963830
Опубликовано: 07.10.1982
Авторы: Бурштейн, Каргальцев, Ковалева, Малышев, Путиловский, Тоцкий, Цеснек
МПК: B24B 31/08
Метки: центробежной
...и зубчатую передачи 10,и 11, валы 12, шарниры 13 и вертикальные валы 3 с рабочими камерами 1. Стол 2 соединен с электродвигателем 14 через вал 15 и редгктором 16Устройство работает следующим образомДепали, наполнитель и рабочую жидкость (обрабатывающая среда) загружают в рабочие камеры 1. Наклоняют рабочие намеры 1 на требуемый угол а, определенной технологическим процессам. Наклон рабочих камер 1 осуществляется следующим образом, 963830При вращении винтовой пары 7 тяпи 8 ьоздействуют на корпуса 5, наклоняя их виесте с вертикальными валами. 3 относительно шарниров 13. Вместе с вертикальными валами 3 налоняются на угол сс раоочне камеры 1. Включают электродвигатели 9 и 14, при этом происходит соответственно вращение рабочих камер...
Акустооптический дефлектор
Номер патента: 911437
Опубликовано: 07.03.1982
Авторы: Ашкеров, Коломиец, Литвинов, Мирошин, Осадчев, Погосов, Тищенко, Цеснек
МПК: G02F 1/33
Метки: акустооптический, дефлектор
...поглотителя 5 и возвые, будителя 9 может, быть иным.фиг. 2).Устройство содержит элемент 1 вво- Независимость управления интенсивда оптического излучения в волновод ностью отклоненного пучка в точкахнесущий слой планарного оптическо- растра обеспечивается уменьшениемго волновода 2, подложку 3, раздели 25 толщины несущего слоя волновода дотельный слой 4 (прозрачный диэлектрик значения й , лежащего в пределах,с малым показателем преломления, наи 1при котором существует только однапример кварцевое стекло), поглотитель оптическая волноводная Н-мода. На5 акустических волн, блоки.б, 8 уп- фиг. 3 представлены дисперсионныеравления, возбудитель 7 АПВ, возбуди- зО кривые у = 1(Ь), где т - замедлениетель 9 акустических сдвиговых 11 волн, оптических...
Двухслойная режущая пластина
Номер патента: 795734
Опубликовано: 15.01.1981
Авторы: Малахов, Моденов, Разумов, Семерчан, Цеснек
МПК: B23B 27/20
Метки: двухслойная, пластина, режущая
...получаемой заготовки, в том числе и на границу контакта ее с металлической подкладкой. Эти загрязнения концентрируются на границе в виде тонкой пленки и ухудшают качество сцепления материалов 20 режущего слоя и подкладки. Для улучшенияусловий отвода этих загрязнений в подкладке выполняют отверстия и заполняют их исходным порошком алмаза, а поверхность подкладки, обращенную к алмазному порош795734 формула изобретения г,3 Составитель Г. Каменецкая Редактор А. Наурсков Тех ред А. Бойкас Корректор М. Демчик Заказ 9426/11 ТиРаж 159 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, уЛ. Проектная; 4ку, выполняют рельефной, например, в...
Способ оценки шероховатости поверхности
Номер патента: 678276
Опубликовано: 05.08.1979
Авторы: Дерюгин, Осовицкий, Сотин, Цветаев, Цеснек, Челяев
МПК: G01B 11/30
Метки: оценки, поверхности, шероховатости
...кривым, находятфункцию спектральной плотности шерохова.тостей поверхностей,Сущность способа заключается в том, чтосвет от когерентного источника 1 многократно678276 ЩфЯПИ Заказ 4542/27 866 Подписио Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4 3рассеивается на шероховатостях исследуемой поверхности, являющейся частью оптического волновода, и излучается в виде узкой дуги. Оптический волновод может быть образован с нанесенным на ее основание закритическим шоем связи, диэлектрической пленкой на исследуемой поверхности и самой поверхностью, Диэлектрической пленкой на исследуемой по верхности может служить жидкость с большим показателем преломления (например, нитробен. 10 , эол), или легко смываемая органическая плен. ка...
Способ обработки точных оптических поверхностей
Номер патента: 569436
Опубликовано: 25.08.1977
Авторы: Жданов, Коваленко, Мармузов, Маслов, Цеснек
МПК: B24B 13/00
Метки: оптических, поверхностей, точных
...температурные деформации. В зоне обработки создаетсяотносительная влажность воздух щью герметичного кожуха, на испаряверхность которого подается во естае испаряюшей поверхности можзевать любой пористый материалный, например, на внутреннюю и рзамкнутого объема,С влажной повеох ти будет происходить испарение жидкости до тех пор, пока в замк м объеме давление паров жидкости не достигнет давления насыщенного пара этой жидкости,при даиной температуре. В этом случае устанавливается ,динамическое равновесие между жидкостью и насыщенным паром. Дальнейшее понижение температуры испаряющейся жидкости прекращается и тем пература стабилизируется по всему объему Так как замкнутый объем не является теплоизолированным от окружающей среды, то в...
Способ асферизации поверхности вращения с применением “маски”
Номер патента: 557909
Опубликовано: 15.05.1977
Авторы: Лысянный, Цеснек
МПК: B24B 13/00
Метки: асферизации, вращения, маски, поверхности, применением
...к области абразивтки и может быть использовано ленин крупногабаритных зеркал и азимутальных ошибок обрабатываемой поверхности.Поставленная цель достигается за счет установления на рабочую поверхность инстру 5 мента управляемой системы рабочих элементов, перекрывающих все зоны изделия.Систему рабочих элементов в предлагаемом способе располагаютлибо в области рабочей поверхности маски, например, пол 10 постыл заполняя ее поверхность, либо вне ее.Рабочие элементы управляются некоторымпрограммным устройством, вводящим и выводящим элементы в соприкосновение с обрабатываемой поверхностью в процессе всего15 времени обработки.Программа включений элементов определяется исходя из припуска на обработку в азимутальпом направлении всех зон...
Способ контроля формы вогнутых асферических поверхностей
Номер патента: 473049
Опубликовано: 05.06.1975
Авторы: Лозбенев, Орлов, Соловьев, Цеснек, Юров
МПК: G01B 11/24, G01B 9/08
Метки: асферических, вогнутых, поверхностей, формы
...в частности к контролю формы вогнутых асферических поверхностей.По основному авт. св,267084 известен способ контроля формы вогнутых асферических поверхностей.Этот способ имеет сравнительно невысокую точность измерений.Целью изобретения является повышение точности и объективности контроля. Это достигается тем, что изображения прямоугольной диафрагмы автоколлимационной трубы проецируют на фотокатод телевизионной трубки через маску, площадь щели которой симметрично возрастает по обе стороны от оптической оси,На фиг, 1 показан вариант фотоэлектрического устройства для реализации предлагаемого способа; на фиг. 2 - выходная часть оптического измерительного тракта и фотокатод телевизионной трубки телекамеры.Фотоэлектрическое устройство содержит...
Патентноrtтихкйчсскдя кикпиптр»
Номер патента: 271857
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Бартенев, Елкин, Жукова, Кумари, Неповинский, Цеснек
МПК: G01N 19/02, G01N 3/56
Метки: кикпиптр», патентноrtтихкйчсскдя
...элемента 4 в конце каждого хода, и контрольно-измерительную аппаратуру 9.Установка снабжена также параллелограммным механизмом 10 в виде шарнирно связанных между собой элементов, ца одном цз которых размещено устройство 1, а также устройством для нагрева (охлажденця) в виде трубопровода П для подвода агента ц гибкого теплопровода 12, соприкасающегося с истирающим элементом 4. Устройство для перемещения последнего выполнено в виде двух барабанов 13 и 14 с приводом 5 для их вращения, на которых размещается истирающий элемент 4, взаимодействующих с кулачками 8.Установка работает следующим образом.В устройстве 1 крепят образец 2, устанавливают цеобходпмое усилие прцжатця его к истирающему элементу 4 нагружателем 7, на271857 Предмет...
Способ асферизации поверхности вращения с применением «маски»
Номер патента: 217999
Опубликовано: 01.01.1968
Авторы: Голованова, Качкин, Крылова, Цеснек, Шевелькова
МПК: B24B 13/00
Метки: асферизации, вращения, маски, поверхности, применением
...поверем маски, устываемой поверчто, с целью позготавливаемойной ретуши, обртия прппускаент с рабочей ия оос аюс коибез дводяменя Известны способы асферизации поверхностей вращения с применением маски, устанавливаемой соосно с обрабатываемой поверхностью.При применении описываемого способа для получения высокой точности изготавливаемой поверхности без дополнительной ретуши обработку производят путем снятия припуска, для чего применяют инструмент с рабочей поверхностью, выполненной в виде фигурных участков, обеспечивающих полировку различных зон заготовки в последовательности и с интенсивностью, определяемыми закочами асферизации. Инструмент базируют по заготовке на точках, одна из которых совпадаег с центром вращения, а остальные...
Способ контроля геометрических размеров выпуклых поверхностей тел вращения
Номер патента: 120931
Опубликовано: 01.01.1959
Авторы: Духопел, Цеснек, Шатенев
МПК: G01B 11/25
Метки: вращения, выпуклых, геометрических, поверхностей, размеров, тел
...плоскости которого помещена диафрагма 2 с круглым отверстием малого диаметра. Между объективом коллиматора 1 и исследуемым телом 3 расположена сетка 4, выполненная в виде ряда прозрачных и непрозрачных концентрических колец известного диаметра.Прибор устанавливается так, что оптическая ось коллиматора совпадает с осью исследуемого тела 3. Прн освещении отверстия диафрагмы 2 источником света 5 на поверхности тела 3 будет проецироваться ряд чередующихся светлых и темных колец б, соответствующих кольцам сетки 4.Контроль размеров тела 3 осуществляется по зонам путем измерения расстояния межд теневыми проекциями соседних 1 олец с помощью микроскопа 7. Параметры измеряемой зоны вычисляются по соответстВующиъ 1 формулам, полученным из ура 1...