Элементы конструкций — G01J 3/02 — МПК (original) (raw)
Прибор для сравнения сыпучих тел по их цвету
Номер патента: 17799
Опубликовано: 30.09.1930
Автор: Самейт
МПК: G01J 1/02, G01J 3/02, G01J 3/46 ...
Метки: прибор, сравнения, сыпучих, тел, цвету
...1 и 2) на клетки 4, соприкасающиеся со сличительной клеткой 5. С наружной стороны клетки 4 и сличительные клетки 5 прнкрь 1 ты бесцветными прозрачными стеклами 12, вставленными,в. рамку .2.Края стекол 12 и рамки 2 прикрыты створчатой рамкой 6, одна сторона,которой;прикреплена, к рамке 2 петлями 7; а остальные стороны - зацепками (крюч ками) 8. Створчатая рамка 6 снабжена задвижками 9, Сличительные клетки 5 имеют выходные отверстия 10, через боковые стенки ящика, Отверстия 10 прикрыты снаружи заслонками 11.ЪПри пользовании прибором клетки 4 наполняются стандартными,. образцамиФ. Ж.,соответствующих видов сыйучих например сухих тертых красок, чего прикрываются стеклами 12 и с чатой рамкой 6, Подлежащий сли сыпучий материал засыпается чере...
Устройство для разборки шкурок по тонам их окраски
Номер патента: 29620
Опубликовано: 31.03.1933
Автор: Платунов
МПК: G01J 1/02, G01J 3/02, G01J 3/51 ...
Метки: окраски, разборки, тонам, шкурок
...которого снабжена клиновидной щелью 11 (фиг. 4).Выделанные шкурки 18 (фиг, 1) укладываются вручную на определенных расстояниях друг от друга на полотно транспортера 1, которое может быть снабжено соответствующими отметками (прорезами). При периодическом перемещении полотна (перемещение на расстояние между двумя отметками может длиться, например, одну секунду, а стояние - две секунды) шкурки последовательно устанавливаются под нижним отверстием рефлектора 2. Свет, отраженный от испытываемой шкурки, падает через линзу 4 и диафрагмы на, фотоэлемент б; в то же время свет, отраженный от эталонной пластинки 7, падает соответственно на фотоэлемент 8,Фотоэлементы 6 и 8 включены навстречу друг другу, при чем уравнива тировкд шкурок...
Устройство для разборки шкурок мелких зверьков по тонам их окраски
Номер патента: 29621
Опубликовано: 31.03.1933
Автор: Платунов
МПК: G01J 1/02, G01J 3/02, G01J 3/51 ...
Метки: зверьков, мелких, окраски, разборки, тонам, шкурок
...1 и 2) состоит из полуцилиндрического колпака-осветителя 7,в верхней части которого, на разных интервалах, расположены лампы 2 с акранами 3, обеспечивающими получение рассеянного света.В передней стенке колпака проделаны окна 4, прикрытые светофильтрами. Под колпаком 7 установлен конвейер 6 для настилки испытуемых шкурок 5, а параллельно конвейеру расположены наклон" ные полки 7 для образцовых шкурок 8верхнюю часть полотна конвейера б, вследствие чего для удерживания шкурок применены доски 9, накладываемые на головные части шкурок.Часть конвейера б выступает за пределы колпака 7 для удобства настилки шкурок и их предварительной браковки(фиг. 1). Под полотном конвейера установлены наклонные жолоба 70, по которым рассортироваиные...
Прибор для бинокулярного смешения цветов
Номер патента: 41716
Опубликовано: 28.02.1935
Автор: Компанейский
МПК: G01J 3/02, G01J 3/46
Метки: бинокулярного, прибор, смешения, цветов
...обоими экранами перед призмами 7 и 8 на равном от обоих экрандв расстоянии перед стереоскопом помещен выдвижной стержень 3 с четырьмя укрепленными одча над другой призмами 14, 15, 16, 17 полного внутреннего отражения, расположенными таким образом, что грань между первой 14 и второй 15 призмами сверху находитсяна уровне осей двигателей. Стержень 13 выдвигается вверх настолько, чтобы при его выдвижении на уровне осей двигателей оказалась грань между третьей 16 и четвертой 17 призмою сверху. Призмы расположены так, чтобы правый глаз видел через. стереоскоп и через первую 14 или третью 16 призмы правый экран, а левый глаз видел через вторую 15 или четвертую 17 призму - левый экран.Со стороны, противоположной стороне, на которой...
Прибор для бинокулярного смешения цветов
Номер патента: 41717
Опубликовано: 28.02.1935
Автор: Компанейский
МПК: G01J 3/02, G01J 3/50
Метки: бинокулярного, прибор, смешения, цветов
...18 и 19 включаются лампочки, имеющие только один какой-либо светофильтр. Реостаты 22, 23 включены паралле ьно, причем провода, идущие от обоих реостатов, соединяются в один 25, Один из полюсов лампочек без светофильтров включается в провод 26. Провод 25 соединяется с реостатом 27, в провод 26 - с реостатом 28; оба реостата имеют общую ручку 29, изменяющую сопротивление, аналогично тому, как изменяется сопротивление от движения ручки 24 реостатов 22 и 23. Реостаты 27 и 28 включены параллельно, причем провода, идущие от обоих реостатов, соединяются в один общий провод 30, проходящий через источник тока 31 и далее присоединяющийся к проводу 32, который соединяет все вторые полюса каждой из лампочек. Указанные выше соединения:.делаются...
Установка для сортировки легированных сталей методом спектрального анализа
Номер патента: 42715
Опубликовано: 30.04.1935
Авторы: Ландсберг, Мандельштам, Тулянкин, Цейден
МПК: G01J 3/02, G01J 3/14
Метки: анализа, легированных, методом, сортировки, спектрального, сталей
...бы затруднить плавное перемещение их по шинам р, К салазкам прикреплен защитный экран 5; предохраняющий аппарат от попадания в него пыли при крайних положениях салазок с окуляром. Для полной защиты аппарата от пыли головка снабжена еще крышками 8 ии, На крышке головки укреплена пластинка,.иа которой выгравированы риски и химические символы элементов Сг, Ч, Мп, Со, М, Ф, Мо, а окуляр снабжен указателем ю. При совпадении указателя с риской какого-,либо элемента. в ,поле зрения окуляра видны наиболее характерные линии данного элемента. Число химических элементов, подлежащих определению ври помощи этого прибора, может бытьв случае надобности расширено.Конструкция . конденсора (фиг 4) обеспечйвает быстрое иплавное .перемещение...
Объектив спектрографа
Номер патента: 61495
Опубликовано: 01.01.1942
Автор: Кириллов
МПК: G01J 3/02, G02B 13/14
Метки: объектив, спектрографа
...автоколлимационном спектроИз теории оптических инструментов известно, что исправления кривизны поля можно достигнуть двумя путями: выбором материалов, из которых изготовляется объектив, и конструкцией объектива.Кривизна зависит от вторичного спектра, который обусловливается дисперсией входящих в систему материалов. Выбором конструкции объектива можно получить реально наименьшую кривизну, которая получается от применения того или иного материала.Применение фтористого лития может дать наименьшую кривизну благодаря тому, что он из всех известных материалов обладает наименьшей дисперсией для ультрафиолетовой области спектра,Наклон плоскости спектра к оптической оси камеры зависит (при одной и той же системе призм) исключительно от дисперсии...
Призма для спектральных приборов
Номер патента: 74633
Опубликовано: 01.01.1949
Автор: Шугар
МПК: G01J 3/02, G02B 5/04
Метки: приборов, призма, спектральных
...позволяющей повысить ее разрешающую способность.Призма (фиг. 1) имеет форму прямоугольной трапеции и изготовляется из флинтгласса, Ее можно представить состоящей из призмы: АВС с преломляющим углом АВС, равным 45, призмы ВСО полного внутреннего отражения и призмы М)Е с преломляющим углом ВАЕ, равным 45.Чтобы уменьшить отражение лучей, падающих на грань АВ и сделать пучок более широким, приклеивается кронглассовая призма АМВ, а для того, чтобы лучи, отраженные от грани В 1), не отражались тактике и от грани АЕ, к грани АЕ приклеивается кронглассовая призма ЕНР. Благодаря большому преломляющему углу дисперсия призмы ЕИР должна быть почти вдвое больше, чем у призмы АВВЕ.Если призму АВОЕ удлинить вдвое (см. фиг. 2), то лучи испытают...
Цветной денситометр для определения цветных плотностей
Номер патента: 79977
Опубликовано: 01.01.1949
Автор: Смирнов
МПК: G01J 1/06, G01J 3/02, G01J 3/51 ...
Метки: денситометр, плотностей, цветной, цветных
...его уставаюгтаот объект.Псею нзмерс 1 ттюгем ююрнбор юстпэуз ююо чдс"гм, дсбп юась юю, н с тца фотометрнческнх солей от светя, юнчюосредстценно оадитого ц кусик 2 и от с цетя .сучей 4 и 5. Дая эюгого урциицдют ююолс луча 4 с ююо"юзм кубика 2, закрынрдое входное откэсюююс сферы 3, и затем уэацютиянт ююсле луча 5, нре;Нюярптельтто зякэь;юю лею:ое ходпос отс рстие. Дл устрднеии ююотерь света чсрсз протицолеждпсие цходпыс отверстия последние расююолагднгюч и сфере 3 нод уюгюом друю к другу. При измерених тетюости луч с, ююротиедпптй через югрпборньн фильтры 7, является доююолнюттегттптюз и цвету исследусмого сктоого луча 4 (;юо белого). Измеренс пцетпости зяключаетс юю тсот, что регулироююю;ою заслонок с 1 ют 1 ьтэоюю 7 добпююднтст...
Фотоэлектрический колориметр
Номер патента: 84069
Опубликовано: 01.01.1950
МПК: G01J 3/02, G01J 3/46
Метки: колориметр, фотоэлектрический
...цзооражсцьЙ ц 2 фиг. 4, цсскогько Отличдтся От кОвстодсрждтсля, и 300 ра)ксццОГО ц;1 фцГ. 1, тс.1, то в лсВОЙ сГО 12 ст 1 имсстся паз 7 для свстофильтра.К 10 Вст 2 для мисроаналиЗОВ 1 фиг. 6) ц)сст СКВ 031.Ос цродольцос 0 еВсрстис для прохо)кдения свстовй 0 луча и ряд всртикалы 1 ьх ОтесрстЙ. В которые ВстаВлЯютс 51 прооики (фиГ. 7) с исслсдсмым )створом. ПОООИ 1)ка В кюВстс фикс 1 рустся 1) тсм цадВИГдция имс 01 цсГдся В сс кольце 8 выреза 9 ца штифт-фиксатор 10; эти штифты 10 установлсцы у кд)(дОГО ИЗ Вертикальных ОтвсрстиЙ 1(1 ОВсты.К 10 встд-сосуд для рсфрдктоъстрцчсского 2 П 2 л 33 111)1 Г. ь), выполнсцная из стекла и заполцясмая исслсдусмым раствором, сцабжсцд расДо 8.ЯОС 1 ПОЛОКЕННЫК Иа ПУТИ СЕСТОВОГО У 12 ЗИГЗ 2...
Держатель электрода прибора для спектрально микроанализа материалов
Номер патента: 84536
Опубликовано: 01.01.1950
МПК: G01J 3/02, G01J 3/28
Метки: держатель, микроанализа, прибора, спектрально, электрода
...5 постоянного состава.Образец, подлежащий испытанию, кладут иа предэ)етитяй Столик 1, которьш предварительно поворачивают в крайнее положение до упора. Рассматривая поверхность шлифа образца 6 в мшроскои и иерсдвитая столик при помощи двух винтов координатной подачи, находят место пробы и совмещают его с перекрестием нитей, Затем иа шлиф накладывают тонкую пластинку 7 изолирующего вещества (сго;(а) с отверстием 10 - 15 мк так, чтобы центр отверстия совпадал с, перекрестием, и н этом положении пластинку 7 посредством Объет(тоде 1)кате)Тя 8 фикс 11)у)от иа шлифе. Затем столик поворачивают до упора так, что с вь)бранной точкой иа шлифе будет совмещена ось электрода 5. Таким образом, искра оказывается строго направленной иа выбранцьш...
Призма для спектрального анализа
Номер патента: 88487
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Гаргер
МПК: G01J 3/02, G02B 5/04
Метки: анализа, призма, спектрального
...а(ализа.Ди(Ьракциоицая решетка 1 (илц ес копия) усталиматорцой линзой 2 перпецдикулярцо оптцческВплотную или ца небольшом расстояциц от решетк 1бедренная призма .3.Пучок лучей, идущих от источицка света 4,еле прохокдеция через решетку рассеивается и п 1под цекоторым углом,.н(окио так подобрать постояцну 10 решетки, прсломляющий уго 1призмы и показатель преломлсция стекла, чтобы удовлетворить условиюядимсцьшсго Отклоцсцц 51 кслтых лучсй.Например, для 60 кроцгласовой призмы рси 1 еткя должца иметь7Л. И 811 С 17 Призма зе 1 ачнтельно уВелнпвает расхождение луче 1, создаВаемое решеткой. Если длину спектра только от призмы обозначить через (1, Отдельно От решеткР 1 - а, е От призмы х решетки 1 В том уке нОр 51 дке) -- а, то получится...
Штатив к спектрографу для анализа порошкообразных веществ
Номер патента: 102392
Опубликовано: 01.01.1956
Авторы: Лобанов, Решетников
МПК: G01J 3/02
Метки: анализа, веществ, порошкообразных, спектрографу, штатив
...т 3 орСии 111(л 33 в к сикг 333 ра(1 у;лн анализа 1 р(3. 3;333313 ивк И( стВ. о т л и и а о и Й ( н т(а. чтк с 1 ель 1 о ПОВывсния к,(чес(3 и )до.(ства рацоты, нижний ектрд. Нрепазначеииыи;ьи иомепе - ; и а 3 ч порошкеорзны:. (еиеств. сы ио,и Ои в 3(и;с;ис 331, Н 1(пв(ь 311(г( ВО 3(13131(313з;3 Ши 1 и (33 н(ть 3,Ни;кн и 5(,ект 133.3 н(тат 3 Ва, 3133 к(т Из( и(3 кругкности 1 ас(1 И 3 гализируемого вещества. вь еи 13 33 де диска ) иг. т(и и(3. И 13131 киви Г 13 33; 3 И(1 ТС и аи;и ( о 1 ен изОитируитатива Нзоосто 33(5 я.1 ястся штат(в к снсктрографу., пре,изиачен(ь 1;1,53 3(иал 33 путем с;3;иг(пя в пламени д 1 п Ирой и( - рошкоооразиык веществ, рассьшаинык топк 3 ".и 1 Иа иоьчи(и( м ни;пм . л 3; - 3 ООДС.Про,;31(асзй 133(л(т 333 33,1 3;(е...
Штатив к микроинтерферометрам и подобным им приборам
Номер патента: 102667
Опубликовано: 01.01.1956
Автор: Левин
МПК: G01B 9/02, G01J 3/02
Метки: микроинтерферометрам, подобным, приборам, штатив
...1)срометр) (1) в непосредственной близости от оптической оси об ьектггва имеет пяту Г 2), которая может быть выполнена в виде сФеры, цилиндра, тора и т. д.Опорная поверкность пяты ирполизптельно совпадает г гглв готьго наилу пней паводки микроскопа или микроинтсрферометра. Благодаря этому в ряде случаев ири контакте пяты с испытуемой поверкностью автоматически обеспечивается наводка п в поле зрения появляются интереренционные полосы. Держатель (3) прибо 1)а (или сам прибор) выполняется в в)где достаточно длинной штанги, связанной с основанием штатива пружинным шарниром ),4). Црп перемещении держателя (3), например, с помощьго крсмальсры, или при перемещении столика (5) возникает контакт опорной пяты (2) с поверкностьго...
Устройство для ослабления яркости света
Номер патента: 107411
Опубликовано: 01.01.1957
Автор: Бортников
МПК: G01J 3/02, G02B 19/00
Метки: ослабления, света, яркости
...4, диафрагма - 6 ,римежу точного изображения источника, диафрагма щслп - 6 и щель спектографа - 7.В системс трсхлипзового коиденсоря ряспОлягаотся две системы логарифмической объемной диафрагмы.Первая из них находится между первой и второй линзами конденсора в составе логарифмической объемной диафрпмы Я и вспомогательных диафрагм обычного типа с прямоуголь. ными отверстиями 9 и 6.Вторая система расположена между второй и третьей линзами кондснсоря и составе логарифмической объемной диафрагмы 10 и вспомогательных диафрагм обычного типа с прямоугольными отверстиями 11 и 12.Действие системы трехлинзового КОНДСНСОРЯ СОСТОИТ В ТОМ, ЧТО ЛИНЗЯ 2 проецирует увеличенное изображение источника светя 1 на плоскость линзы 3, а линза 3 проецирует...
Приспособление к спектроскопу для визуальной спектрометрии окрашенных растворов
Номер патента: 112400
Опубликовано: 01.01.1958
Автор: Покровский
МПК: G01J 3/02, G01J 3/46
Метки: визуальной, окрашенных, растворов, спектрометрии, спектроскопу
...1., и. ;303 ВС;):Птс(1)13 Г. 1 ).ж 5 я кгп 1 О:;25 косст ),с этз;1 ОцИЫ); ЯС ГВС)ОЗ ".СЯ:3 ЛИВЯСТСЯ П 1)ОТИ:3 ПИ:КИСГ 07 С 3 П:Ь, СВС, ОБОИ ИС. ЛИ С.СК(Росно 32 . 3 ЬПО(Сиа С)с,Яс)10 П 13Опи,)0 тсг.ьц 031 Яп 1)ЯЯГСЦИИ, посредством зуб.атои переда и цс показана ца чсргсже . Вс)хняя кс Ло 112400вета 2 с плоскопараллельными стенками, заполняемая исследуемым раствором, закрепляется неподвижно по"редством зажимов в вертикальном положении против верхней половины световой щели спектроскопа. К нижней части клиновидной кюветы прикреплена миллиметровая шкала 3, посредством которой определяется положение кюветы относительно световой щели спектроскопа.Во втором варианте (фиг, 2) обе кюветы имеют одинаковую длину, причем клиновидную кювету...
Теневой прибор для одновременной регистрации двух теневых картин
Номер патента: 119698
Опубликовано: 01.01.1959
МПК: G01J 3/02, G02B 27/14
Метки: двух, картин, одновременной, прибор, регистрации, теневой, теневых
...фокальной плоскости приемной части установлены два взаимно перпендикулярных ножа 7 и 8, каждый из которых имеет самостоятельный механизм поворота и передвижения. Лезвия этих ножей устанавливаются параллельно относительно изображений двух щелей. Изображения щели, перпендикулярные лезвию ножа, погашаются при помощи поляризующих устройств, состоящих из призм Рошона 9 в коллиматоре и поляроидов 10 в приемной части, Оба световых потока проходят одни и те же точки и сечения просматриваемого поля, что обеспечивается применением в оптической системе прибора элементов 11 типа призмы-куб, имеющих светоделительный слой. Эти элементы сводят оба пучка света в один. В оптической системе имеются, кроме того, конденсаторы, откидные зеркала и две...
Способ спектрального определения микроэлементов
Номер патента: 126291
Опубликовано: 01.01.1960
Автор: Гвирцман
МПК: G01J 3/02, G01N 33/50
Метки: микроэлементов, спектрального
...фигурной фрезы. Он помещается между угольными электродами 3 и 4.Тигель-электрод 1 имеет емкость до 0,2,я.г с тем, чтобы все манипуляции с биосредами (высушивание, озоление, ооработка кислотами) могли производиться в том же тигле, в котором потом навеска сжигается в вольтовой дуге.Для снижения теплоотдачи сжигаемой навески окружаметам угольный тигель-электрод 1, заполненный биосредамливается на очень тонком графитовом стержне, защищенрого сгорания углублением на нижнем угольном электродеруется между электродами 3 и 4 с помощью тонких термизолирующих алундовых трубок Б.Укрепленный между угольными электродами угольный тигель-электрод 1 равномерно прогревается и испарение в нем микроэлементов биосред происходит за несколько секунд. При этом...
Прибор для спектрального анализа света, отраженного от рудных минералов, углей и т. п. объектов
Номер патента: 134048
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Ионин, Лукин, Марьенко, Пономарева
МПК: G01J 3/02
Метки: анализа, минералов, объектов, отраженного, прибор, рудных, света, спектрального, углей
...рамка со щелями требуемых размеров.Основные детали конструкции прибора показаны на чертеже. Здесь.1 - осветительное устройство; 2 - нижняя часть полярцзационного микроскопа; 3 - подвикный столик; 4 - Г-образный тубус; 5 - откидной окуляр; 6 -- дцспергирующая система и 7 - фотоумножитель.Нияя ас 2 поляризационного микроскопа заканчивается диафрагмой (не показано на чертеже) и откидным окуляром 5, установленным перед щелью дцспсргирующей системы 6, что 1 юзволяет вести п." риодцческий визуальныи контроль поступающего в дцспсргцрующую систему света, За диспсргируюшей системой 6 перед фотоумножителем 7 в приборе установлена подвижная окулярная рамка (не показана ця чертеже) с передвигаемой в ней пластинкой со щелями требуемых...
Способ отбора проб расплава для спектрального анализа и их транспортировка к спектроскопу
Номер патента: 135648
Опубликовано: 01.01.1961
Автор: Якоби
МПК: G01J 3/02, G01N 1/10
Метки: анализа, отбора, проб, расплава, спектрального, спектроскопу, транспортировка
...перематывается с катушки 2 ца катушку 3, проходя прц этом через ролики 4, 5 и б. Ролик 5 фиксирует положение проволоки 1 над поверхностью расплавленного металла 7, Генератор 8 служит для электроискрового отбора пробы расплавленного металла на проволоку 1. Напряжение от генератора 9, который служит для возбужденцч спектра, подается ца проволоку 1 и контрэлектрод 10, находящийся ца оптической осп спектрографа 11.При производстве анализа на проволоку 1, проходящую над расплавом, электроискровым способом переносится проба металла. Отобранная ца проволоку проба металла транспортируется к спектрографу 11, где с помощью генератора 9 возбуждается дуга между коцтрэлектродом 10 и проволокой 1 и производится спектральный анализ пробы.При...
Аппарат для спектрального анализа
Номер патента: 146075
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Русанов
МПК: G01J 3/02
Метки: анализа, аппарат, спектрального
...над дугой трубки или производится обдув дуги снизу широкой струей воздуха.Воздух в камеру подается вентилятором, установленным в ящике. Давление воздуха в камере, не превышающее 7 мм вод. ст., автоматически поддерживается, независимо от количества поступающего в камеру воздуха, с помощью гидравлического затвора 7. Последний соединяется с камерой трубкой 8.Верхняя крышка и одна из соединенных с ней стенок камеры откидываются на шарнире вместе с укрепленной на крышке трубкой 5. Это обеспечивает возможность быстрой смены дисков в камере и очистки трубки э, через которую осуществляется вынос порошка в пламя. В трубке почти не остается порошка, и при анализе веществ очистка трубки обычно не производится,Насыпание порошка на диски...
162339
Номер патента: 162339
Опубликовано: 01.01.1964
МПК: G01J 3/02, G01J 3/18
Метки: 162339
...щели в исходном и конечном положении последней на фокяльно круге 7, так как длина рычага 11 постоянна и равна расстояниюОсяи 8 и 17, Следоватслыо, во всех полокен 5 х;1 яфрягмы 4 с щелью 5 на фокяльном круге канал щели д всегдя Оудет направлен на неподвижный полюс дифракционной решетки 3. 1-1 а чертеже показано двя положе пя рычага 9, отличающиеся на угол а,При использовании сменных дифракционрсшеток, пмеОщих ряз;Иные ряд 5 усы кривизны, в описанное устройство не вносится каких-либо конструктивных изменений, так как рычаг 11 может свободно перемещаться по плоскости гайки 14.Для уменьшения трения в точке соприкосновения рычагов 11 и 12 опорный палец 19 может быть заменен роликовой опорой.Предмет изобретенияУстройство для непрерывной...
Электрострикционное устройство для юстировки, перемещения и крепления пластин фабри-перо
Номер патента: 195657
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Германска, Иностранец
МПК: G01J 3/02, G01J 3/26
Метки: крепления, перемещения, пластин, фабри-перо, электрострикционное, юстировки
...поверхность перемычек нанесен проводящий слой 15, Участки покрытия на наружных поверхностях перемычек изолированы друг От друга.К электропроводящсму слою 15 перемычек подается напряжение, Регулируя напряжение на каждой перемычке, можно изменить угол клина между пластинами 12, 13, про изводя гаким образом юстировку прибора.Прилагая одинаковое напряжение ко всем трем участкам электропроводящего покрытия перемычек можно плавно менять расстояние мехкду пластинами при сохранении угла клина,На опоре 1 б (см, фиг. 2) находятся перемещаемые по направляющей 17 салазки 18, к которым прикреплены две параллельные Опоры 19, 20 с вырезами 21, 22, расположенные под поямым углом к направлсни 0 пеоемещения.Цилиндр 23 находится между опорами. Один конец...
Штатив для спектрального анализатора
Номер патента: 198033
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Волгоградский, Машиностроени
МПК: G01D 11/02, G01D 11/30, G01J 3/02 ...
Метки: анализатора, спектрального, штатив
...разлп шой орпепта страпстве, держате выполнен в виде п сажспного на Втул стенке кожуха шта штейна совмещена затора,ктрал и д25 овор ку, у тпва с о Известные штативы для спектрального анализа веществ содержат держатели электродов внутри радиопомехозащитпого корпуса с выведенными наружу корпуса рукоятками механизма перемещения анализируемого электрода. Однако вертикальное расположение электродов и отсутствие смепнтях приспособлений ограничиваюг спектральпо-аналитические возможности штатива,Описываемый штатив позволяет использовать все известные способы расположения противоэлектрода в пространстве и, кроме того, анализировать образцы разнообразных форм и в различпвтх агрегатных состояниях.На чертеже изображен описываемый штатив.Он...
Вакуумный спектрограф
Номер патента: 204624
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Старцев, Тверь, Фридман
МПК: G01J 3/02
Метки: вакуумный, спектрограф
...притвие в т монт ить нанавливо упрощ Предложенный вакуумный спектрограф отличается от известных тем, что в нем установлена наружная вакуумная камера, снабженная механизмом транспортировки кассеты из камеры в кассетную часть спектрографа и обратно, отделенная от спектрографа вакуумным затвором, а в кассетную часть введено автоматическое устройство для приема и закрепления кассеты.Вследствие этого упрощается кинематичеь прибора путем изъятия вакуумных , что приводит к увеличению его точбора. Создаются удобства при установке и смене кассеты, так как эти операции производятся в отдельной наружной камере, имеющей открытый доступ к месту установки кассеты.5 На чертеже изображено описываемое устройство.Оно содержит корпус вакуумного...
Устройство для поворота дифракционных решеток
Номер патента: 238822
Опубликовано: 01.01.1969
Автор: Барска
МПК: G01J 3/02
Метки: дифракционных, поворота, решеток
...1 полнить с переменным радиусом (например, вдоль оси) и снабдить устройством, позВОля 01 цпм вводить В сопри 1 юсновсн 51 с с р 1- 0 чагом ту илп иную его часть, чтобы получитьвозможность легко изменять радиус и, слсдо- ВЯТСЛЬНО, ПОДДСРЖИВЯТЬ НСИЗМСНН 1 М ИЛП МСП 5 гь по своему усмотрс.Пю масштаб спектр.11 Сртсжс прсдсгязлснл кинс)ят 111 ескя 51 5 се)1 првдложснного устройства.11 оси 1 поворотюг столика ) н;1 когоромзячрсплень дпфракцпонныс решетки Л, поса)ксн рычаг 4, соединяемый со столиком фикс- .ром ). Опсряя позер.,ность рычага лежит 30 в его радиальной плоскости и взаимодейстет с поверностью вращения толкгеля б.238822 Предмет изобретения Составитель И, Небосклонова иктор Б. Б. Федотов Техред Л. Я. Левина 1(орректор Н, И....
Способ юстировки спектральных приборов скользящего падения
Номер патента: 243213
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Васильев, Ефремов, Лукашева
МПК: G01J 3/02, G02B 27/14
Метки: падения, приборов, скользящего, спектральных, юстировки
...фиг. 1 показан первый эта на фиг. 2 - второй,Неподвижную щель 1 снимают щель 2 освещают каким-либо 20 Измерив расстояния 1 от центр до этой щели и 1, до ее наиболее кального изображения 2 т, добив ства этих расстояний во всем д ремещений щели. Практически сделать измерения по краям диа но-два в середине, чтобы с помо оптических и геометрических фо лить взаимное расположение и радиусов инструментального кру 30 ности двойных фокусных расстоГлавная погрешность измерения расстояния до изображения связана с аберрациями сферической поверхности решетки, особенно при малых углах скольжения (2), поэтому должна быть подобрана оптимальная ширина освещения решетки. Однако, сам метод измерения расстояния до наиболее четкого изображения и выведения...
265489
Номер патента: 265489
Опубликовано: 01.01.1970
Автор: Есилевский
МПК: G01J 3/02
Метки: 265489
...к излучка изий луч сравнелизи ее д прохождеяется высоаница мекми, опредевсе время даря чему темы не меВ предложенной осветительной системе к горелке перпендикулярно ее торцу рядом с отверстиями для выхода газа (в 2 - З,дгдг) прикреплена тонкая пластина из непрозрачного материала, стойкого при температуре пламени, Пластина делит поток излучения на рабочий луч, проходящий через пламя, и сравнительный луч, гроходящий мимо пламени. Это позволяет уменьшить потери излучения прп изменении уровня установки горелки, а также упростить конструкцию системы.На чертеже ддзобракена схема осветительной системы.Излучение от источника 1 света с помощью линзы 2 пропускается пучком, приближающимся к параллельному, через пламя горелки 3. Пластинкой 4...
Интерференционный фильтр
Номер патента: 266265
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01J 1/22, G01J 3/02
Метки: интерференционный, фильтр
...из пары: германий - фтористый стронций.Это позволяет повысить устойчивость фильтров к климатическим и механическим факторам, а также расширить область их прозрач ности до 25 мкм.Изготовление фильтров осуществляется на вакуумной установке, обеспечивающей контроль за толщинами слоев и нагрев подложек в процессе испарения. Германий (монокри сталл) испаряется из графитовых тиглей, а фтористый стронций - из вольфрамовых лодочек. Давление в процессе испарения не должно превышать 5 10 "мм рт. ст. Подложки перед испарением нагреваются до темпе ратуры 270 - 300 С, В процессе нанесения слоев их температура должна поддерживаться в интервале 270 - 320 С. Необходимо обеспечить равномерный нагрев подложек и образца, по которому ведется контроль...