С использованием электрической дуги или разрядов — G01N 21/67 — МПК (original) (raw)
Способ введения исследуемого материала при спектральном анализе в зону горения дуги
Номер патента: 94590
Опубликовано: 01.01.1952
Автор: Семенов
МПК: G01J 3/28, G01N 1/28, G01N 21/67 ...
Метки: анализе, введения, горения, дуги, зону, исследуемого, спектральном
...у остальным известныт методов, такик как испарение с тарелоч кн, иросыпка, ьвсденис оордзпа на бу. :жнык полоскам и т, д.Предлагаемый способ ввеленпя исследуемого .атсриала в зону горения луги лает 1 ОЗМОжНОСтЬ ПРаКтПЧССКИ УСтРДНИтЬ ВСЕ ие Реч исленные нел Остатки.(пособ отличается тем, что исслс 1 уемый материал помещаот В тонкостенную угольную трубочку (соломинку) и вдвигаГрт сс ЧЕ 1 ЕЗ ОтВЕРСтпс Ь ЭЛЕКтрОЛЕ С Равномсиной скоростно В прострднстгО мс"жЛ ЭЛЕКтрОлд 1 П. отиМ ЛОСтптастея ПОЛУСнне спммстпчного и постоянного по Рд:мерам оолакд псслелуемого материала.На чертеже изооражено устройство лля осупествления преллагделгого способа ввелснця исслелуемгго мсторгала в зону гогения луги.Соломинка (1). наполненная агатепалом (О) для...
Способ спектрального анализа твердых непроводящих материалов
Номер патента: 136929
Опубликовано: 01.01.1961
Автор: Исаев
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, непроводящих, спектрального, твердых
...зону искрового разряда исследуемы. веществ применяют, например, способы р,створен плп пст 1 р; ния их в порошок для последующего смешения прооы с токолроволящимп веществами.Предлагаемый сгОсоб спектра,ьного:.4 н:лпз ворых токонепреводящих материалов исключает необходимость рчготовления проб в виде порошков, брикетов из них пли растворов, О позвотяет освободиться от сложного оборудования для введения вещества пробы в разряд фульгураторы или устройства для продувки порошков), а также устраняет подготовку электродов и связанные с этим операции их набивки, пропитки и сушки. Эти преимущества предлагаемого способа обеспечиваются тем, что на исследуемый образец путем испарения в вакууме наносят тонкий токопроводяшпй слой чистого металла,...
160859
Номер патента: 160859
Опубликовано: 01.01.1964
МПК: G01J 3/00, G01J 3/04, G01N 21/67, G02B 21/00 ...
Метки: 160859
...1 через систему 2, 3, 4 опакиллюминатора, отражаясь от кварцевой пластинки 5, попадает на объект б исследования вотраженном свете либо на электроды 7 и 8 приконтроле их установки,Контроль осуществляется через оптическуюсистему, состоящую из микрообъектива 9, наклонной кварцевой пластинки 5, ахроматического кварц-флюоритового блока линз 10, наклонного плоского зеркала 11, вогнутого кварцевого зеркала 12, объектива И зрительнойтрубки, проектирующего изображение с поверхности зеркала 12 в окуляр 14 с увеличением 1:1,Узкая щель, прорезанная в слое алюминия зеркала 12, является щелью спектрального прибора с оптическими деталями 15, 1 б, 17, 18, после которых интенсивность выбранных аналитических линий через прорезь в зеркале 18...
Способ спектрального анализа
Номер патента: 254859
Опубликовано: 01.01.1969
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, спектрального
...в процессе ское крат ой цепи,с использовозбуждения я тем, что, с зоразрядного ществляют пе- размыкание Известны способы спектрального анализа с использованием тлеющего разряда для возбуждения исследуемой смеси.Предложенный способ отличается от известных тем, что в процессе анализа осуществляют периодическое кратковременное размыкание разрядной цепи,Это повышает яркость газоразрядного столба и тем самым - чувствительность анализа.Реализация предложенного способа может быть осуществлена следующим образом,Последовательно с трубкой тлеющего разряда включают небольшой искровой промежуток. При периодическом пробое этого промежутка трубка тлеющего разряда оказывается под напряжением, значительно превышающим напряжение статического пробоя...
Способ спектрального анализа металлов на содержание газов
Номер патента: 277376
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01J 3/10, G01N 21/67
Метки: анализа, газов, металлов, содержание, спектрального
...гольньй электрол, зато( конус. Давление воздуха 100 зьн рт. ст. Использу ры линии: да возоужв скровг дукгвност тектрода г ец(:ый па в рабочей ют аналити дают с пом режиме30 лкгн. спользуют усеченный ка мере - . ческце па Ге 7511 А; Х 17442 - Ге 7511 А О 17771 О ретения едмет цз Спосоо сектральногона содержание газов с вов искровом разряде, осущццженцом давлении, от.ис целью новь(шсния двслюченця н обкодцмостц вщитной с(рсдь, вс оуждедят при давлениц окргн80 - 150 льг рт. ст,Известс(с(осоо спектралного зналз геталлов на содержание газов, заключающйся в том, что ооразец помещают в камеру, заголецную защцтныг( газом год дав;с(с (г 250 - 300 лгн рт. ст., и возбуждают пробу с помощью низкозольтцсго исрового разряда.Предлокеньй способ...
Способ атомно-абсорбционного анализа
Номер патента: 303570
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Фишман
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, атомно-абсорбционного
...атомно-абсорбционного анализа вещества, по которому анализируемое вещество атомизируют в межэлектродном промежутке дуги постоянного тока и измеряют поглощение светового потока, пропускаемого через этот промежуток. Для устранения световых и электрических помех дуги излучение, просвечивающес поглощающий слой, модулируют и регистрируют узкополосным приемником, настроенным на частоту модуляции. Недостатком известного способа является необходимость использования сложного оборудования.Цель изобретения - упрощение способа атомно-абсорбционного анализа. диске стробоскопа 5, вращаемого синхронным мотором б и монохроматор 7 ц регистрируют резонансное излучение регистрцрующим блоком, состоящим из фотоумножителя 8, питае мого стабилизатором 9, и...
Способ определения примесей в кадмии•-; . • iai
Номер патента: 331307
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G01N 21/67
...изобретения является распособа определения примесей Лд, СцМд, А 1, ба, Т 1, Сте, Яп, %, Со, РЬ, Лз Те, Сг, Мо, Мп, Ге в кадмии с чувств стью 10 - т - 10-з%,Это достигается тем, что в анализируемую навеску кадмия весом 50 г добавляют 50 - 100 лг свинца (свинец марки Сспектрально чистый по всем примесям) или 50 - 100 мг висмута (висмут марки Виспектрально чистый, содержание примесей меньше 10 о - 10 - т%) и проводят отгонку кадмия в вакууме О, прс оставлен р й в рвисмута.При отгонке 50 г кадмия в присутствии 50 - 100 мг свинца все примеси остаются в свинце, полностью отгоняется ртуть и на 40 - 50% испаряется цинк. После растворения свинца в азотной кислоте раствор переносят в чашку для выпаривания и получают осадки (концентрат...
355532
Номер патента: 355532
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Жигаловска, Шилина
МПК: G01N 21/67
Метки: 355532
...анализа сухого остатка, смешанного с буферным веществом методом эмис сионной спектроскопии.Целью изобретения является повышение чувствительности анализа растворов спектральноо-эмиссионным методом.Цель достигается благодаря тому, что бу о ферное вещество используют в количестве, в 10 - 100 раз превышающем количество анализируемой пробы.Предложенный способ анализа проб малого веса заключается в следующем,15Исследуемую пробу концентрируют изтвора путем электролитического осаждени торец угольного электрода, предварительно обработанного таким образом. Электрод помещают на несколько секунд в ацетон на глуби ну 1 - 1,5 см, выдерживают в лаке из аэрофотопленки на ацетоне концентрацией 15% в течение часа. После высыхания лака с торца...
Способ спектрального анализа
Номер патента: 371488
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01J 3/10, G01N 21/67
Метки: анализа, спектрального
...зца осу. в полом Изобретение относится к области спектрального анализа материалов, применяемых, например, в атомной энергетике.Известен способ спектрального анализа материалов, основанный на возбуждении анализируемой пробы и регистрации ее излучения,В известном способе возбуждение образцаосуществляют путем его испарения,Предлагаемый способ позволяет повыситьчувствительность анализа материалов, содер. 10жащих смесь трудноиспаряемых и легколетучих элементов,Достигается это тем, что возбуждение образца осуществляют путем катодного распыления в охлаждаемом полом катоде. 15П р и м е р, Анализу подвергают цинк иокись цинка высокой чистоты на медь, железо, кадмий. Для анализа используют вакуумную установку для изотопного...
Устройство для введения раствора при спектральном анализе
Номер патента: 373604
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Кочетков, Скрипников
МПК: G01J 3/10, G01N 21/67
Метки: анализе, введения, раствора, спектральном
...электрода ан няя за счет по пористом откуда она п углублением для исследуемого крыта пористым материалом 3, льтровальной бумагой. Бумага с помощью колечка 4.пении углуоления в держателе ализируемой жидкостью, послед- капиллярных сил поднимается у материалу к торцу электрода, оступает в зону разряда. ройство отличается от изасть электрода, контактиием для исследуемого раристым материалом, наьной бумагой. Это повыпоступления раствора в мет из женное усттем, что чс углубленпокрыта пофильтровалбильностьлиза.теже показ ния Устроиство д спектральном ан и держатель эле исследуемого ра что, с целью пов ления раствора трода, контакти исследуемого ра материалом, нап гой. ля введениализе, содектрода сствора, отышения став зону аналрующая с...
418777
Номер патента: 418777
Опубликовано: 05.03.1974
МПК: G01N 21/67
Метки: 418777
...атомизатора путем измерения поглощения светоного потока в межэлектродном промежутке в периоды горения дуги. Недсстатки этих способов состоят,в плохой воспроизводимости результатов и сложности реализации.Предложенный способ атомн-аабсрРбционого анализа заключается в том, что для диспергирования и иопарения металлических образцов используется исторовой разряд, а образовавцтиеся пары вместе с потоком воздуха или другого газа подаются в пламя газовой горелки.Способ поясняется чертежом.Светом лампы 1 просвечивают пламя газовой горелки 2, в которое;потоком воздуха вносятся пары анализируемого образца металла. Анализируемые образцы устанавливают в держатели 3, помещенные в проточной камере 4, Держатели подключают к искровому генератору...
421954
Номер патента: 421954
Опубликовано: 30.03.1974
МПК: G01N 21/67
Метки: 421954
...н 1 пр 5)жсния можст служить, Например, трансформатор Тесла.ВО Врсм 51 контрОля Гсрмстизиров 1 ццы 11 коцтакт помсщаОт В сосд с жидким Лиэ,.с 1 ктриком, олаголаря чему исключается свечсцис внешцих электродов и повышается высоковольтная прочность по внешней поверхности Оболочки.Материал сос) да, в который наливаОг жидкий диэлскт)ик, и сяз диэлсктрик до,1 ж. ны обладать лостаточцой прозрачностью в измеряемом интервале спектра цзлучеция газового разряда.Для анализа спектра излучения газового разряда в магццтоуправлясмом контакте пр 1- годны отечествсццыс спектрометры ос)ычцого типа.Для быстроты измерений желатеменять фотоэлектрическук) запись иго спектра из.зу 1 с ия.Как известно, оптические измерения могутЗаказ 5584 Изд. Мо 1437 Тираж...
Способ эмиссионного спектрального анализа сталей
Номер патента: 436270
Опубликовано: 15.07.1974
Авторы: Кочережкина, Мочалов
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, спектрального, сталей, эмиссионного
...СТАЛЕЙтельность анализа кулярные лось испонда зовань а и для спектраль- инертных зобретения дм Способ 10 за стале" нии спек с целью ности оп материал 15 аммиакаанали- буждем, что, вительруемых юсфере эмиссионн и при искро тров, о тл повышения ределения ов, анализго спектр вом и дуг и чаю щи точности состава проводят ального вом во йся т и чувс анализи в ат Изобретение относится к области методов эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов.Известны способы эмиссионногоного анализа в воздухе, атмосфереи других газов.Предлагаемый способ позволяет повысить точность анализа различных материалов. Достигается это тем, что анализ проводят в атмосфере аммиака, который под воздействием искры или дуги диссоциирует на азот и .атомарный...
Способ степени насыщения металлических поверхностей абразивом
Номер патента: 465578
Опубликовано: 30.03.1975
Авторы: Гавронская, Кремень, Певзнер, Хазанова
МПК: G01N 13/14, G01N 21/67
Метки: абразивом, металлических, насыщения, поверхностей, степени
...что исследуемую поверхность сжигают в дуге или искре при непрерывном поступательном движении образца и по спектру излучения поверхностного слоя судят о степени его насыщения абразивом. С .целью повышения точности и экспрессности определения контроль степени насыщения металлической поверхности абразивом по предлагаемому способу осуществляют следующим образом. На направляющие спектрографа устанавливают устройство для перемещения контролируемого образца, являющегося нижним электродом электрической дуги. Включая механизм перемещения образца, осуществляют сжигание его поверхности и с помощью спектрографа фиксируют спектральные линии, характерные для элементов, содержащихся на поверхности образца, Затем полуспектр сравнивают либо со...
Устройство для уменьшения самообращения спектральных линий
Номер патента: 894495
Опубликовано: 30.12.1981
МПК: G01N 21/67
Метки: линий, самообращения, спектральных, уменьшения
...дополнительное поле не воздействует наплазму разряда,15На фиг, 1 показана схема предлагаемого устройства на фиг. 2 - регистрограммы провалов в центре спект"ральных линий, полученные без наложения дополнительного электрического 20поля и с его наложением.Устройство содержит (фиг. Ц основные электроды 1, между которымигорит электрический разряд 2. Основные электроды 1 устанавливают Внутридополнительного электрода 3, выпол"ненвого, например, в виде циливдра, вкотором сделано сквозное отверстие 4для выхода излучения. Яа дополиий род 3 посредством клеммы 5 подают потенциал относительноклеммы 6, соединенной через регисто"ры 7 у имеющие большое сопротивлевиерс основными электродами 1.П р и м е р 1. Медные электродыдиаметром б мм...
Способ определения засоренности комбикормов металлопримесями
Номер патента: 895928
Опубликовано: 07.01.1982
Автор: Чаусовский
МПК: G01N 21/67
Метки: засоренности, комбикормов, металлопримесями
...свечение коронирования металлопримесей в комбикорме обусловлено тем, что барьерный разряд генерирует множество электрических зарядов и стекание этих зарядов с кромок частиц металлопримесей и сопровождается коронированием с соответствующим, локализованным в месте нахождения частиц металлопримесей в комбикорме, характеристическим свечением. Это позволяет непосредственно в ходе испытании через верхнюю оптически прозрачную электродную систему 5 и б визуально регистрировать по локальным характеристическим свечениям коронирующих металлопримесеи количественное содержание всех, как металломагнитных так и металлонемагнитных частиц,имеющихся в комбикорме, Нанесение масштабнои сетки на оптически прозрач - ную электродную систему 5 и б...
Дуговой способ возбуждения спектра исследуемого образца
Номер патента: 922599
Опубликовано: 23.04.1982
МПК: G01N 21/67
Метки: возбуждения, дуговой, исследуемого, образца, спектра
...электроду. Спектры регистрируют при помощи спектрографа РМ, работЬющего в режиме двойного лучепрохож 1 ения, при этом обраРная линейная дис-,в персия составляет 0,37 нм/мм, Цель, спектрографа шириной 20 мкм освещается трехйинзовой системой, промежуточная диафрагма - круглое окошко диаметром 17 мм, расстояние между электродами устанавливается по узкой диафрагме 0=3,2 мм. Свемезатоценные электроды обжигаются 25 с в дуге постоянного тока при токе генератора 5 А. После съемки каждого спектра электроды охлаждаются 60 с потоком воздуха. Время экспозиции составляет 10 с. Сила тока дуги, на которую нак" ладываются импульсы разрядов конденсаторов, во всех случаях составляет 5 А, а длительность основного импульса - 65 мкс. Частота следования...
Способ спектрального анализа металлов и сплавов
Номер патента: 987482
Опубликовано: 07.01.1983
Авторы: Бодин, Жиглинский, Калмаков
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, металлов, спектрального, сплавов
...пределах, то корреляционная связь носит прямолинейный характер, .т.е. имеет видй = А(Я-У 1)+В(У), (1) где Й, г и Э - средние значенияизмеряемых величин;А и В коэффициенты регрессии, вычисляемые при помощи парных коэффициентов корреляции г,гщ 2 гз; г 2 и стандартов я я,Я, измеряемых величии по формулам21 -Г Гт 2, т,Х 21-г 2 5Х 32 Г - 3"Г, 52 3 2 о 1 Г 13 а1- 2 Э(2) Наличие множественной корреляцион ной связи позволяет просто проводить результаты анализа к стандартным условиям в плазме, Практическая процедура состоит в том, что с помощью формул (1) все результаты измерений 5 г приводятся к одним и тем же условиям эксперимента, характеризуемым значениями г 1 а например г и Тогда для любого определения, давшего отклонения Ф, и д.от...
Буферная смесь для спектрального определения микроэлементов в объектах биосферы
Номер патента: 1056010
Опубликовано: 23.11.1983
Авторы: Елизарьева, Заирова, Колодкин, Огнев, Огнева
МПК: G01N 21/67
Метки: биосферы, буферная, микроэлементов, объектах, смесь, спектрального
...его фракций. Каждый результат, приведенный в табл. 2, является средним из восьми параллельных определенийРасчет баланса содержания микроэлементов в исходном продукте и его фракция говорят о достаточной точности проведенного анализа.1Еще одним подтверждением увеличения точности анализа при применении предлагаемой буферной смеси являются результаты определения содержания микропримесей в стандартных образцах почв и горных пород, различающихся по .составу,основных компонентов, при условиях, рекомендуемых для биологических материалов, В табл. 3 приведен основной состав стандартных образцов, а в табл, 4 аттестованные содержания микропримесей и результа 55 60 65 с выравниванием содержаний основныхэлементов в пробах, подготовленныхк...
Способ эмиссионного спектрального анализа порошковых материалов
Номер патента: 1092391
Опубликовано: 15.05.1984
Авторы: Огнев, Огнева, Шевченко
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, порошковых, спектрального, эмиссионного
...скоростью 15-25 об(мин в постоянном поперечном магнитном поленапряженностью 30-40 Э.На чертеже показана общая схемаустройства реализующего предлагаеььй способ.Схема включает электрод 1 с пробой (анод, противоэлектрод 2 (катод),электромагниты 3, включающие соленоиды 4 и сердечники 5 блок 6, служащий для вращения электрода 1 с пробой и включающий двигатель 7 (например РД-О 9-А), цаягу 8 для закрепле-ния электрода 1 с пробой, связаннуюс двигателем 7 при помощи передаточного мехаяизма 9,Соленоиды 4 имеют одинаковое количество ы тков (300-350). Сердечники5 изготовлены из отожженного железа,имеют диаметр -8 мм и длину 40-50 ммкаждык. Для уменьшения рассеиваниямагнитного поля полюса сердечников5, обращенные к электроду 1 с пробой,сточены на...
Способ эмиссионного спектрального анализа неорганических летучих хлоридов на примеси щелочных элементов
Номер патента: 1122944
Опубликовано: 07.11.1984
Авторы: Максимов, Рудневский, Шишов
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, летучих, неорганических, примеси, спектрального, хлоридов, щелочных, элементов, эмиссионного
...кадмия в количестве 658 10 "-12" 10 фг.На фиг, 1 показана зависимость,интенсивности линии натрия от процентного содержания кадмия в растворе; на фиг. 2 - градуировочные графики для определения натрия в исследуемом концентрате,В качестве примера реализации предлагаемого способа описан анализ летучего хлорида германия (СеС 14) на примесь Иа.Анализ по предлагаемому способупроизводится следующим образом,Концентрат примеси после вакуумной дистилляции растворяют в 2 млконцевтрированной азотной кислоты,Затем на торец основания полого катода наносят 5-б -ный раствор азотнокислого Сд в количестве 0,02 мл.Раствор высушивают под кварцевой лампой и покрывают его пленкой полистирола путем осаждения на него однойкапли 0,5 .-ного раствора...
Способ спектрального анализа порошков варианты
Номер патента: 1136065
Опубликовано: 23.01.1985
Авторы: Белоусов, Бородин, Бурмистров, Семенов, Хитров
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, варианты, порошков, спектрального
...(где концентрация З 0 паров от испарившихся частиц выше) увеличивает толщину излучающей эоны дуги и полноценно, как и в предыдущем варианте, компенсирует некоторое снижение интенсивности полезного сиг.1 нала, наблюдаемое вследствие разделения зонВ совокупности зти операции обеспечивают отбор в спектральный прибор для последующих измерений такого 40 излучения оптимальной зоны дуги, которое характеризуется не меньшей по сравнению с известным способом интенсивностью полезного сигнала и существенно меньшей интенсивностью фона, что в итоге увеличивает соотно шение полезного сигнала и фона.Снижение интенсивности фона в излучении, отбираемом из оптимальной зоны дуги в спектральный прибор для последующих измерений, обеспечивает при...
Способ спектрального анализа взвесей
Номер патента: 1140012
Опубликовано: 15.02.1985
Авторы: Авдеенко, Амеличева, Бубнов, Урманшин
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, взвесей, спектрального
...размы кания электродов, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью увеличения чувствительности анализа путем уменьшения рассеивания света и сокра щения времени анализа, взвесь вводят через капилляр струей по касательной вдоль канала разряда, на который воздействуют поперечным магнитным полем, смещающим разряд в сторону входной щели спектрального прибора,,5/ / ,ИЗОбрЕтЕНИЕ О)Н(тт ГС) К ГГГ(.КТро -с: ко пи) и можс т быть ис ПОль 3 ( В я но три СПЕТ(трдЛЬЕ 0. ДтДЛ)3(ЗВ С)С(1 Б ПО ком диапазоне к(11 ент;)дц;Й,(ибо)1 Рсз б/П 1( ким к Г;)е;Лс Гдс."Ом",1 О ТЕХНИЧЕСКОЙ СУКОССИ И ДОГт:ГД - 25РЕОМу р" 3 уЛЬТЯТ у яц/151(.тГ с "ПО С Об Спек Ч)сд 1 ы 00 дд:и 3 т)ДГтВОР 013С 01 31 с.СНО 1(СТ(РОМУ ДГОтг)Й РДРЯ/ Гст:3 Дс 7 КТ .3/ТГ К МЕХ ЦИЧЕ С г(й ГО 3...
Устройство для спектрального анализа
Номер патента: 1140013
Опубликовано: 15.02.1985
Авторы: Огнев, Огнева, Свинарев
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, спектрального
...два вертикальнорасположенных электрода, один из которых выполнен с каналом для помещения пробы, и источник магнитного поля, электроды в устройстве выполненыГ-образцыми й устацонлець 1 параллельно, навстречу полочками один к дру 20гому, при этом во втором электроделополцительцо ныполцец канал дляпомещения пробы, а источник магнитного поля выполнен в виде двух электромагнитов, расположенных симметрично относительно плоскости, проходящей через оси электродов.Иа Фиг. 1 показана с: ема устройства, вид со стороны одного электроиагнитф на фиг, 2 - то же, вид сверху; на Фиг. 3 - Форма применяемыхэлектродов.Устройство состоит из двух Г- образных электродов 1, каждый из которыхимеет канал 2 для помещения пробы,двух токопронодящих держателей...
Устройство для определения щелочных металлов
Номер патента: 1140014
Опубликовано: 15.02.1985
Авторы: Огнев, Огнева, Седова, Тесленко
МПК: G01N 21/67
...алюмосиликатцого состава) или спек (при 15 анализе глинозема). Испарение пробы начинается через 1-2 с и заканчивается через 100 с после зажигания дуги. Кривая испарения образует два максимума. Формирование первого происходит в течение 40 с.После зажигания дуги в кварцевой трубке 5 благодаря разнице температур ца ее концах возникает интенсивная тяга. Пламя дуги втягивается 25 в трубку 5, образуя в ней отчетливо различимые на глаз по цвету зоны. На расстоянии 12 мм от торца стержня 2 с пробой по оси пламени наблюдается зона, окрашенная свечением атомов щелочных металлов (ореол), которая на расстоянии 20 мм достигает максимальной интенсивности, Тяга обеспечивает стабильность положения пламени на оптической оси спектраль 35 ного прибора и...
Способ спектрального анализа порошкообразных проб на трудновозбудимые элементы и устройство для его осуществления
Номер патента: 1161852
Опубликовано: 15.06.1985
Авторы: Перевертун, Фатхудинов
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, порошкообразных, проб, спектрального, трудновозбудимые, элементы
...осажденной пробы.Кроме того, устройство для реализации способа, содержащее источник возбуждения и подключенные к источнику камерный электрод и противоэлек трод, противоэлектрод выполнен из металла с высокой эрозийной способностью с углублением в торце в виде полусферы, причем расстояние между электродами и радиус. полусферы равны и связаны с диаметром электрода соотношениями 0,5-1.На фиг. 1 изображены электроды,их расположение и выполнение; нафиг. 2 - спектры проб при импульсном 35воздействии; на фиг. 3, 4 - зависи-.,мость количества вышедшего порошка иинтенсивности линий,от величины про-,межутка. Способ осуществляется следующим образом (фиг, 1).Навеску анализируемой пробы 1 размещаеют в полом электроде 2, выполненном в виде...
Способ микроспектрального анализа химического состава вещества
Номер патента: 1187035
Опубликовано: 23.10.1985
Авторы: Дашук, Ковтун, Лукашенко, Мартиросов
МПК: G01N 21/39, G01N 21/67
Метки: анализа, вещества, микроспектрального, состава, химического
...напряжения на разрядном промежутке свыше 10 В/с разряд устойчиво формируетгся на поверхности диэлектрика в виде однорядного диффузорного разряда, и может формироваться на значительных площадях. При этом формирование скользящего разряда имеет место как при размещении диэлектрика в вакууме при давлении остаточного газа 1 10 Па, так и при наличии вблизи-%поверхности диэлектрика газовой среды с давлением 1 10 Па.бСкользящий разряд в незавершенной стадии в основном развивается на фронте импульса напряжения, На Фронте импульса напряжения имеет место максимальное значение вводимой в незавершенный разряд энергии 1 Еда на единицу длины разряда (Е - продольный градиент напряжения в разряде), так как значение тока 1, протекающего через...
Способ количественного определения микроэлементов в воде неизвестного состава
Номер патента: 1188601
Опубликовано: 30.10.1985
Авторы: Латикайнен, Никитина, Хохлов
МПК: G01N 21/67
Метки: воде, количественного, микроэлементов, неизвестного, состава
...для опре деления содержания микроэлементов в пресных и минерализованных водах неизвестного состава, для целей изу чения состава вод, используемых в народном хозяйстве, для контроля загрязнений окружающей среды, для исследования природных водоемов и источников. 0Цель изобретения - одновременное определение с высокой правильностьюи точностью (при упрощении анализа) содержания микроэлементов.в водах неизвестного состава. 15Для этого по предлагаемому способу определяют содержание элементов . (К, Ба, Са, Мя, Я) общим химическим анализом воды. Пробу воды упаривают до сухого сульфатного остатка (для 10 анлиза достаточно 5 мг остатка). Остаток высушивают до постоянного веса. Навеску сухого остатка разбавляют чистым угольным порошком 1:3...