Измерение спектрального распределения рентгеновских лучей или корпускулярных излучений — G01T 1/36 — МПК (original) (raw)
Прибор для измерения жесткости рентгеновых лучей
Номер патента: 5760
Опубликовано: 30.06.1928
Автор: Орлов
МПК: G01T 1/36
Метки: жесткости, лучей, прибор, рентгеновых
...5 изображенную отдельно на фиг, 2), изготоконце визира, полукружки от обоих экранов одновременно под одинаковым углом зрения и может, поворачивая визир, привести их к одинаковой степени яркости флуоресценции. Указатель, соединенный с рычагом ИС и подвижным экраном, дает на круговой шкале прибора непосредственно в о/оо/о меру ослабления данного и чка рентгеновых л чей в вленную из вещества, не обладающего специфическим поглощением в пределах применяемых длин волн, например, из бакелита или алюминия. П и некото ой толщине такого р Р У У фильтра (слой половинного погло-, заслоняющей неподвижный экран щения)яркость обеих половин круж-, пластинке бакелита или алюминия, ка сделается одинаковой, и тол- или - при косинусной шкале - о/...
Спектрограф для рентгеновских лучей
Номер патента: 45749
Опубликовано: 31.01.1936
МПК: G01T 1/36
Метки: лучей, рентгеновских, спектрограф
...таким образом, что поверхность фокального цилиндра и поверхность, по которой изгибается кристалл, представляют одно целое и соприкасаются по линии, проходящей через середину кристалла, Таким образом, самое изготовление создает условия юстировки, т. е. касание поверхности фокального цилиндра с поверхностью цилиндра, по которому изогнут кристалл, а также параллельность их осей, Размеры сектора таковы, что позволяют заснимать область углов от 20 до 70, Сектор прорезан внутри по горизонтальному направлению таким образом, чтобы пропустить падающий и отраженный пучок.В передней части сектора имеется вставка 2 с укрепленным в ней ножом 3,4, представляющая собой две диафрагмы.Назначение диафрагм ограничивать по высоте как падающий, так и...
Фото элемент для рентгеновских лучей
Номер патента: 64249
Опубликовано: 01.01.1945
Автор: Фефер
МПК: G01T 1/36, H01J 40/06
Метки: лучей, рентгеновских, фото, элемент
...поэтому последнйе сек нодь 1 в секционном фотоэ е ции фотоэлемента, не будут эмити- агенте дел 4 ютя из тонкой алюминировать электроны, так как мягкиес минимальной поглоевой ольги с минимал лучи поглотятся в первых слоях фощающей способностью. токатодов, соответствующих краю ущ сть изобретен(ия поясняетсяС щность изо поглощения этих длин волн.четежом на котро, на котором изображенаэлектрическая схема включенияВ зависимости отрежима экспло предлагаемого секци атации и материала антикатода фотоэлемента д рсекционированяого трубки и пр., для мягкюй части лучеи:для рентгеновских спектра рентгеновского излучения Здесь: Р; - иможет быть взят ряд элементов ских лучей Р - и бесь: - источник рентгеновА 1ских л чей,- исследуемый объект,% Мд, Я,...
Рентгеновский спектрограф
Номер патента: 78161
Опубликовано: 01.01.1949
Автор: Блохин
МПК: G01N 23/223, G01T 1/36, H05G 1/02 ...
Метки: рентгеновский, спектрограф
...11 ется по фокальному кругу кристалла 11. Платформа счетчик Имеет вилку 12, скользящук) по жестко закрепленной шцильке 13. Прп перемен;ениях плеча вилка автоматически повораццвдст счетчик тдк, что ось сго всегда направлена к центру кристалла.Для автоматической регистрации показаний примсцец комб 1 цшр- ванный редуктор следующего устройства: ясцц.(рс)ццы)й 1 двигатель вра М 7861 цяет черВ 51 к, св 51 зянныЙ с черв 51 чн 011 шестернеЙ, дя 101 цеЙ замедление в 100 раз. Этя шестерня свободно проворачивается на валу счетчика.С червячной шестерней связана малая шестерня, сцепленная с боль.шой, свободно поворачивающейся на валу барабана. Передача дает замедление В 2,5 раза. Г большой шестерней на валу барабана связана малая шестерня,...
Кристаллодержатель для рентгеновских спектрографов и тому подобных приборов с изогнутыми кристаллами
Номер патента: 88047
Опубликовано: 01.01.1950
МПК: G01N 23/223, G01T 1/36, H05G 1/02 ...
Метки: изогнутыми, кристаллами, кристаллодержатель, подобных, приборов, рентгеновских, спектрографов, тому
...в цем изгибается между двумя парами неподвижных опор, смещенных одна относительно другой.1 аким способом весьм просто получить кристаллы с большой д,ц(ой р абоего участка, что су:1 ествсшо увеличивает светослу спектрографов и, упрощая установку кристалла, устраняет необходимость производить чрезвычаццо тру оемкуо фокусировку, необходиму(о прц пользовании извсст(ы ми крцстяллодержателями.На фиг. 1 изобр яжен продольнь 1 разрез криста,(лоде 13)к(тсгя; и фиг, 2 - разрез по х 1 Л ца фиг. 1.Кристяллодержатель состоит пз двух стальных пластин 1 и крист Г- лцческой пластины 2, зажатых между двумя пар ап поперечных жестких планок 5 так, чтоцхсрсдпце плоскости совпадая)т. Жест;ОСТЬ СЦСТЕ(Ы ДВУХ СтГЦЦЫХ стин 1 при 1 згбс догг)кця быть зцячитсльцо...
Кристаллодержатель для рентгеновских спектрографов с изогнутым кристаллом
Номер патента: 88056
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Боровский
МПК: G01N 23/223, G01T 1/36, H05G 1/02 ...
Метки: изогнутым, кристаллодержатель, кристаллом, рентгеновских, спектрографов
...разрз сминой втулки.1 ристяллодср)категп, состоит из плоской питы 1, ца которой уста- ИГ)В,спы стыр Вертикягп 5 иык стоики 2. концы которы заточены ця КОЦЧЛЛ 51 ООГС.ГЧЕЦИЯ СТЯЦОВКИ криста;Г 1 ичсск ОЙ пд асти 1 ы.Расстояние между стойками прп данной длине и толшице кристаллической пластины рассчитывается таким образом, чтобь 1 прогио пдушсч О по цпццдриккой повсркцосги участка криста,ла между двуз;5 срслци.1 и стойками. оотВтстВО- вял заляцш)му ралпусу изгиба па 1 о;гонка илп измсицис радиуса пагп б) я кристалла осущсствл я етс пябором оцкостсппьк втулок 1 фпг. 31. Палеваемык иа рдйпц СТОПКИ, ПГЦ ГРИ ПОМОЩИ ЭКСССЦТ- рипы. Втч;ок 3, ПОГожспис кот- ры. в пге фпкспрус.тся винтамп 4. 1. 1 рцСТядГ 1 ОЛрж 1 СггЬ Л,51 рНТ- геиовскц.;...
Кристаллодержатель для рентгеновских спектрографов
Номер патента: 88250
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Гильварг
МПК: G01N 23/223, G01T 1/36, H05G 1/02 ...
Метки: кристаллодержатель, рентгеновских, спектрографов
...предлагается кристаллодержатель изготовлять из материала с малым температурным коэффициентом расширения, в частности из стекла пирекс, а посадку фокусирующего кристалла в кристаллодержатель производить на оптический контакт.Изготовление кристаллодержателсй из стекла или других подобных материалов значительно уменыпает и;менение формы кристаллодеркатсля при изменении температуры, позволяет обрабатывать их с точюстью, необходимой для осуществления оптического контакта между кристаллодержателем и кристаллической пластиной, что, в свою очередь, создает правильный изгиб кристаллической пластинки, обеспечивая использование для работы всей ее площади, давая, таким обра. зсм, общее увеличение интенсивности излучения и сокращение экспозиции...
Рентгеновский спектрометр
Номер патента: 93891
Опубликовано: 01.01.1952
Автор: Нарбутт
МПК: G01N 23/223, G01T 1/36, H05G 1/02 ...
Метки: рентгеновский, спектрометр
...по линейке пропорционален длине волны спектральной линии, сфокусированной в направлении, совпадающем с осью хобота 5., Действуощая длиа хобота (от центра О до осп, соединяющей хобот с малой кареткой) выбр.на с таким расчетом, чтобы 1 ллс ня шкале 1 пр данной постоянной кристаллаОс 1 що -- 4,25 А) соответствовал 10;СЕ. Конструкция предусматривает простой переход на другую действующую длину хобота для часто используемой ориентировки кварцаОс постоянной дз,: 1,17 Л. В этомХ Г случае мы получаем 2,5-. 11 еМ М реход осуществляется перестановкой пальца, соединяющего центры 1 И хобота 5 и каретки 2, в положение, при котором он будет соединять центры Я.Столик 12, несущий мощный излучатель первичной радиации, а также вторичный излучатель Г и...
Сцинтилляционный спектрограф бета, гаммаи других ионизирующих излучений
Номер патента: 114458
Опубликовано: 01.01.1958
Автор: Маркелов
МПК: G01T 1/20, G01T 1/208, G01T 1/36 ...
Метки: бета, гаммаи, других, излучений, ионизирующих, спектрограф, сцинтилляционный
...этого остроконечные импульсыпреобразуются в прямоугольные импульсы той же амплитуды. Эти импульсы усиливаются линейным усилителем и подаются на горизонтальныс отклоняющие пластины запоминающей трубки 3, а на модуляторчерез линию задержки подается импульс подсветки луча. Длительностьи время задержки подобраны таким образом, чтобы засветка луча происходила в момент его остановки при максимальном значении амплитуды напряжения прямоугольного импульса, поданного на пластины.На вертикальные отклоняющие пластины непрерывно подается синусоидальное напряжение высокой частоты порядка 6 лггц, В результате одновременного воздействия на горизонтальные, вертикальные пластины и на модулятор напряжений указанной формы на люминофоревозникает...
Сцинтиляционный гамма-спектрометр
Номер патента: 115807
Опубликовано: 01.01.1958
Автор: Ионов
МПК: G01T 1/36
Метки: гамма-спектрометр, сцинтиляционный
...устройства, присоединенные своими выходами к входу схемы совпадений.Устроен сцинтилляционный гамма-спектрометр следующим образом. ницаемую камеру; нерабочие поверхности призм покрываются светостражающим составом. На кристалл направляется параллельный пучок исследуемого гамма-излуче. ния, а каждый из ФЭУ, в отдельности, на одну из спектрометрических радиосхем, причем органы управления обеих схем по установке уровня и ширине дискриминации механически объединены таким образом, что при их изменении и уровень дискриминации, и ширина дискриминации у обеих смех оказываются одинаковыми. Взаимная подгонка фотоумножителей со схемами производится особыми подгоночными сопротивлениями по одному из максимумов известного радиоактивного изотопа,...
Способ определения спектральных характеристик радиоактивных излучений и устройство для его осуществления
Номер патента: 119625
Опубликовано: 01.01.1959
Авторы: Балясный, Дмитриев, Ионов
МПК: G01T 1/36
Метки: излучений, радиоактивных, спектральных, характеристик
...первого счетчика к скорости счета второго. Для облегчения измерения пиковых значений напряжения предлагается применение трех емкостей, переключаемых круговым коммутатором поочередно на зарядкудо соответствующего пикового значения напряжения, на измерение ина разряд,Принципиальная схема устройства для автоматического полученияспектральных характеристик излучения изображена на чертеже. Импульсы У, от первого счетчика поступают на вход накопительной ячейки, работающей в линейной части характеристики. В качестве накопиЪо 119625 тельной ячейки используются три емкости С, С" и С", последовательно переключаемые в круговом порядке на заряд до пикового значения в , на измерение У. - 2 и на разряд - 3. Для переключений используется круговой...
Автостабилизированный сцинтилляционный спектрометр радиоактивных излучений
Номер патента: 119626
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Горский
МПК: G01T 1/36
Метки: автостабилизированный, излучений, радиоактивных, спектрометр, сцинтилляционный
...закрытым. В виду малой толщины и плотности сцинтиллятора 3 эффективность его к гамма-излучению невелика, а к бета-частицам равна 100%. Импульсы с фотоумножителя 4, вызванные, в основном, прохождением бета-частиц через сцинтиллятор 3, поступают на усилитель 12 и далее на триггер Шмидта 13, который вырабатывает два прямоугольных разнополярных селекторных импульса, Триггер Шмидта 13,составляет с электронными ключами 10 и 11 электронный коммутатор. Нормально открытый ключ 10 подключен к линейному импульсному усилителю 14, импульсы с которого поступают на амплитудный анализатор 15,Электронный ключ 11 подключен к импульсному усилителю 16, импульсы с которого поступают на измеритель амплитуды 17. Вырабатываемое последним постоянное напряжение,...
Сцинтилляционный спектрометр быстрых нейтронов
Номер патента: 124555
Опубликовано: 01.01.1959
МПК: G01T 1/203, G01T 1/36, G01T 3/06 ...
Метки: быстрых, нейтронов, спектрометр, сцинтилляционный
...помещены параллельно образующим цилиндра нити из другой сцинтиллирующей пластмассы с другим спектром испускания. Детектор помещен между фотокатодами двух фотоумножителей, обладающих разными спектральными ха)актсристикамиФотоумножители включены в схему отбора антисовпадснпй, которая линейно пропскает на анализатор импульсы от сцинт)1 лляцин в нигях при отсутстьш сцинтилляций в окружающей пластмассе. Так производится отбор лобовых протонов отдачи.Новым и полезным В и",)едложен 11 И яВляется применение двух сцинтиллиру 1 ощих пластасс с различнымн характеристикамифотоумно)кителей с ралной спектральной уВствиеностью, что позволяет более надежно разделять сцинтилляции от лобовых и остальных протонов отда ш,Предмет изобрете п...
Избирательный спектрометр заряженных частиц
Номер патента: 125058
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Немец
МПК: G01T 1/36
Метки: заряженных, избирательный, спектрометр, частиц
...и энергией частиц. Каждая секция разрезного электрода присоединена к собственному усилителю. При прохождении частиц параллельно электродам импульс возникает лишь на тех секциях, над которыми пролетела частица.При помощи схем совмещений и антисовпадений, используя импульсы от каждой секции отрицательного электрода и основной импульс ,с положительного электрода, возможно осуществить определение частицБлок-схема спектрометра приведена на чертеже.Полный ионизационный импульс (со сплошного электрода) 1 у"иливается основным усилителем 2 и подается параллельно на дискриминаторы 3 и схему задержки 4. Каждый дискриминатор может настраиваться на срабатывание от импуль"ов, лежащих в определенных пределах амплитуд. С выходов дискриминаторов...
Рентгеновский спектрограф
Номер патента: 126286
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Мосальский, Штауберг
МПК: G01N 23/223, G01T 1/36, H05G 1/02 ...
Метки: рентгеновский, спектрограф
...катода, в течение все. го времени анализа совершает возвратно-поступательное движение по рабочей плоскости удлиненного анода. Конструктивно анод выполнен виде маятника, точка закрепления которого совмещается с осевой линией кристалла. Производя качающие движения, катод меняет угол падения рентгеновских лучей на кристалл, что является полной аналогией рабо 1 ы обычной подвижной кассеты.На фиг. 1 схематически изображена р ся катода в средневолновой области рентгеновского с э из кругл Роуланда 1, кристалла кварца 2, катода 3126286 Предмет изобретения Рентгеновский спектрограф, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения интервала рентгеновского спектра вещества и сокращения времени анализа, в нем катод рентгеновской...
Устройство для измерения ионных токов в масс спектрометрических схемах
Номер патента: 144559
Опубликовано: 01.01.1962
Авторы: Любимов, Павлов, Раховский
МПК: G01T 1/36, H01J 43/10, H01J 47/08 ...
Метки: ионных, масс, спектрометрических, схемах, токов
...исследованиях ионных токов, имеющих величину порядка 10-тв - 10-тт а,Устройство содержит динод, Гейгеровский торцовый счетчик для мягких р-излучений и пересчетный прибор.При использовании этой системы в ионно-оптических схемах, где энергия ионов лучка мала, после выхода из анализатора создается дополнительное электрическое поле, обеспечивающее ускорение ионов н сообщение им необходимой для создания эффекта вторичной электронной эмиссии с динода энергии. Декствует устройство следующим образом. Ионный пучок 1 направляется на динод 2, где возникает вторичная электронная эмиссия 3. Вторичные электроны по выходе из динода ускоряются в специально созданном электрическом поле 4 и попадают на торцовый счетчик 5.Так как при...
Способ относительного перемещения кристалла и счетчика в рентгеновском спектрографе
Номер патента: 146074
Опубликовано: 01.01.1962
Авторы: Богданов, Боровский, Дицман
МПК: G01N 23/223, G01T 1/36, H05G 1/02 ...
Метки: кристалла, относительного, перемещения, рентгеновском, спектрографе, счетчика
...4 н 5 на шлицовый вал б. Косозубая шестерня 7, скользящая по шлицовому валу б совместно с кареткой К кристаллодеркателя, передает вращение на ходовой винт КС посредством косозубой шестерни 8 и сцепления Гука. Каретка С счетчика перемещается от ходового винта КС по направляющим (на схеме не показаны).Угол поворота кристалла и счетчика обеспечивается двумя штангами, закрепленными на одной оси на каретке, скользящей по копиру 9. Последний представляет собой сектор, радиус которого соответствует радиусу круга Роуланда,В описываемом, согласно предложенному способу, устройстве исследование может вестись методом на отражение с микрофокусным источником рентгеновского излучения.Предложенный способ может найти применение при изготовлении...
Автостабилизированный спектрометр радиоактивных излучений
Номер патента: 148759
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Серж
МПК: G01T 1/36
Метки: автостабилизированный, излучений, радиоактивных, спектрометр
...на фотоумножитель 4, возбуждая импульсы малой длительности, амплитуда которых постоянна и превышает максимально возможную амплитуду импульсов, возникающих при радиоактивном излучении Таким образом, контрольные импульсы не пропускаются дискриминатором Ь, а снимаются с точки С на диодный выпрямитель 10, который связан через конденсатор 11 с движком переменного потенциометра 12. Потенциометр включен параллельно источнику И высокостабильного постоянного напряжения, а его движок совершает непрерывное круговое движение в пределах всего диапазона сопротивления потенциометра, меняя тем самым в каждый момент времени величину снимаемого с потенциометра эталонного напряжения.Круговое движение движка может задаваться, например, электродвигателем...
Способ измерения средней энергии ионов
Номер патента: 150954
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Морозов
МПК: G01T 1/36
Метки: ионов, средней, энергии
...ускоренных ионов. Для этого пучокН+ ускоренных ионов (предпочтительно молекулярных, например Н 2 пропускается через реакционную камеру, наполненную газом с давлением (порядка 0,1 - ; 1 лм рт. ст.), обеспечивающим наиболее вероятное однократное взаимодействие с ионами пучка. Спектр излучений, образующихся при этом из пучка возбужденных ионов и атомов (например, Н 2+ и Н, + ), измеряется спектромером. По результату измерения положения спектральных линий определяется скорость ионов или атомов по сооружению для релятивистского допплер-эффекта: массе покоя иона и его Энергия ионов определяется по известискорости посредством соотношения;150954 Постоянство и однородность энергии ионов, ускоренных современным электростатическим генератором, и...
155567
Номер патента: 155567
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: G01T 1/36, H01J 49/06
Метки: 155567
...1 ощем выборс значений Н, и распределении напряженности магнитного поля служат магнитными линзам для частиц с импульсом вылетающих из источника под углом а(ао. Если величина фокусного расстояния 1, которым можно характеризогать опт 111 ескую силу линзы для частиц с импу;1 ьсом Ро меньше раССтО 111 Ия ОГ ИСтОЧНИКа дО бЛИжайШЕй ОбдаСтИ ПОВЫШЕННОЙ НанряАВ.енности поля 1 Г ( я 1, то тол 1 р 1 пересечения тряентории настины с осью 2 после прохождения 2-й линзы В 1 или А) р)ао и при соблюдении условия Д)ао частица окажется запертой в магнитной ловушке, образоганной магнитным полем между 2-й и 3-й магнитными катушками (1 очки В и С). В случае, если р(ао при пересечении частицей оси Л в ин 1 ервале между 2-й и 3-й катушками, то после...
155570
Номер патента: 155570
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: G01T 1/36, H01J 47/02, H01J 49/02 ...
Метки: 155570
...поля, проходящими черезграницы каждой отдельной секции коллектора 2. Плотность ионизацииопределяется, в основном, ионизационными потерями электронов придвижении их в газе камеры, которые равныИЕУеЕз1 пИХ тс2 асЧ8где Е - энергия электронов;У - число атомов тормозящего вещества в 1 смз;Л - атомный номер тормозящего вещества;е - заряд электрона;тс - энергия покоя электрона;1 - средняя энергия ионизации.Таким образом, плотность ионизации в отдельном объеме камерыбудет пропорциональна не только числу прошедших через объем электронов, по логарифму их энергии, Для энергий, много больших энергийпокоя электрона, этой логарифмической зависимостью можно пренебречь. Для малых энергий эта зависимость может быть учтена по приведенной формуле....
158638
Номер патента: 158638
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: G01T 1/36, H01J 47/04, H01J 49/04 ...
Метки: 158638
...сопротивления изоляции б.Измерительный конденсатор 1 посредством переключателя 10 переводится из режима измерения па контроль изоляции 6 внутреннего :)лектрода 7 посредством батареи 11 и электрометрического усилителя 9.В предлагаемом спсктрометре в качестве балластного конденсатора применены электроды 12 и 13 гидроизоляторов 14, причем для зашиты изоляции 6 внутреннего электрода от загрязнения аэрозолями эти электроды выполнены в виде стаканов, образующих лабиринт,Для повышения чувствительности спектрометра ионов к плотности полярного объемного заряда и к подвижости частиц применена широкая регулировка расхода воздуха для выведения спектрометра ионог; па наиболее благоприятный режим измерения в интересующей часги спект 1)а легких,...
158959
Номер патента: 158959
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: G01T 1/36, H05H 13/00
Метки: 158959
...1,.Поскольку ток пучка в циклотропе имеетестествецпу 1 о модуляцию, то под гг понимается усредненное значение, т. е,ти. - = -и 1) хгг,1тогде Т - период сстественпой модуляции.При раоотс циклотропа возм 05 кеп фоп у-лу -чей и нейтронов, поэтому схема измсрсп 15должна быть пороговой,Для коэффициента рекомбинации полу с оследующее выражение:1,7 10 и2/ргде ЛЕр - энергия иона, соответствующаяразности скоростей иона и электрона,Процесс измерения средней энергии пучкаионов и распределения пх по эперп 1 ям заключается в следующем.При цалцчпп цоппого п,гкг 1 па хпппсппв иоцопровод 1 электроц 1 юп пушки 4 с помощью электромагнита 5 направляется пучокэлектронов с энергией еСг, причем для умспьшспия времеви измерения энергия еЕ, уст 1 павгп 1 вается...
160231
Номер патента: 160231
Опубликовано: 01.01.1964
МПК: G01T 1/36
Метки: 160231
...и поэтому толщина фольг может быть сколь угодно малой. Расстояние между эмитирующей и собирающими фольгамц зависит от фокусирующих свойств спектрографа и должно быть по возможности малым.Электроны, обладающие различными энергиями, проходят через различные точки линии фокусов спектрографа ц вызывают вторичную эмиссию с полос эмитирующей фольги. На собирающие фольги подается положительное напряжение, под влиянием которого вторичные электроны собираются на фольгах. Для исключения влияния магнитного поля рассеяния на работу датчика он должен быть тщательно заэкранирован.На каждой полосе эмитирующей фольги скапливается положительный заряд, пропорциональный числу проп 1 едших через нес электронов. После прохождения одного импульса тока...
162603
Номер патента: 162603
Опубликовано: 01.01.1964
МПК: G01T 1/36, G01V 5/02
Метки: 162603
...ПО ДЕЛАМИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙСССР УДК Опубликовано 08,7.1964, Бюллетень10 лФСПОСОБ ПОДЗЕМНЫХ ГЕОФИЗИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ1 одпнснпя группо ЛЬ 82 Предмет изобретения В основном авт, св.148162 описан спо. соб подземных геофизических исследовании плотности горных пород, лежащих выше уровня наблюдения, По этому способу поглощение проникающей компоненты космического излучения измеряют с помощью узкона. правленного телескопа под разными зенитными и азимутальными углами в разных точках горизонтальной выработки.Предложенный способ отличается от изве стного тем, что предусматривает измерение энергетического спектра космического излучения для повышения разрешающей способности проводимых исследований. Способ подземных геофизических исследо. ваний...
Способ регистрации энергии радиоактивногоизлучения
Номер патента: 163295
Опубликовано: 01.01.1964
Авторы: Уша, Федорченко
МПК: G01T 1/36
Метки: радиоактивногоизлучения, регистрации, энергии
...отрицательной обратной связи (для стабилизации коэффициента усиления) коэффициент усиления по заряду такой системы, согласно (3), также инвариантен и равенКг 1 яос - =- ос (ехай)1+К 1где: К - коэффициент усиления по заряду при введении обратной связи;у о - коэффициент обратной связи; Ь 1 О, (оо) - установившееся значение переходной характеристики усилителя с обратной связью,Исходя из установленных соотношений, предлагается новый зарядовый способ регистрации энергии радиоактивного излучения.Выходной заряд Я датчика подается на вход линейного усилителя тока. Полоса пропускания усилительного тракта выбирается в зависимости от спектрального состава сигнала датчика и электрических шумов усилителя и датчика, чтобы обеспечить максимальное...
Способ определения характеристик бета-излучателей: с; лл. 1111
Номер патента: 167583
Опубликовано: 01.01.1965
МПК: G01T 1/36
Метки: бета-излучателей, л.л, характеристик
...тканеэквивалентный сцинтилляционный кристалл 1, толщина которого больше максимального пробега любой бета- частицы в измеряемом веществе; фотоэлектронный умнокитель 2; катодный повторитель 3; нсперсгружагопгийся линейный усилитель 4; многоканальный амплитудный анализатор 5; блок арифметического преобразующего усгройства 6, в котором происходит операция умножения числа импулг.сов (частиц),приходящегося на некоторый интервал энергии, на соответствующие значения средних ионизационных потерь, Сумма произведений числа частиц на средние ионизационные поте-.5 ри регистрируется интегрирующим устройством с выходом на стрелочный прибор 7 (шкала 1), проградуированный в величинах поглощенной дозы (в радах). Общее число частиц регистрируется...
171476
Номер патента: 171476
Опубликовано: 01.01.1965
МПК: G01T 1/36, H01J 49/02
Метки: 171476
...излучения определяется по отклонению частиц магнитным и электрическим полями. Они содеркат источник а-частиц, детекторы ядер отдачи и а-частиц и вакуумную камеру.В предлагаемом пролетном спектрометре детектор ядер отдачи, задающий начало отсче. та времени пролета частицы, источник излучения и детектор а-частнц, фиксирующий конец 10 отсчета, расположены на одной прямой, что позволяет измерять энергию а-частиц по времени пробега фиксированной базы,В качестве детекторов излучения используют прострельные электронные умножители или 15 вторичноэмиссионные СВЧ-детекторы излучения. ке изобракена схема пре тного спектрометра а-част агае- про 20 рной о ых па. во состоит из основной разбо камеры 1 и камер 2, 3, в кот рны источник излучения и...
173331
Номер патента: 173331
Опубликовано: 01.01.1965
Автор: Никольский
МПК: G01T 1/36
Метки: 173331
...1, источник рентгеновского или гамма-излучения 2 и детектор излу чения 3,При рассеянии рентгеновских лучеи на атомах кристаллической решетки анализатора для некоторых длин волн, зависящих от угла падения лучей на кристалл и расстояния меж ду атомными плоскостями по закону Брегга -Вульфа, наблюдается интерференция. Закон Брегга - Вульфа имеет следующий вид: пХ=2 дз 1 пО, где Х - длина волны, п - порядок отражения, д - расстояние между атомными 0 плоскостями кристалла- анализатора, 0 - уголпадения и отражения рентгеновских лучей.При помещении кристалла-анализатора вэлектрическое поле происходит деформация кристалла в результате обратного пьезоэффек та, в частности - изменение расстояния Й между атомными плоскостями кристалла. В...