Дифракционные решетки — G02B 5/18 — МПК (original) (raw)
Способ изготовления отражательных дифракционных решеток
Номер патента: 49373
Опубликовано: 31.08.1936
Автор: Бурмистров
МПК: G02B 5/18
Метки: дифракционных, отражательных, решеток
...обойти, воспользовавшись методом химико-физической копировки металлических поверхностеи с стеклянных поверхностей.ФМетод изготовления металлических отражательных дифракционных решеток копировкой заключается в том, что штрихи йеобходимой частоты, ширины и длины наносят на стеклянную оптическую поверхность, имеющую равную, но обратную кривизну заданной решетки (или плоскость для плоских решеток). Затем стеклянную поверхность натирают тончайшим порошком талька, обрабатывают раствором хлористого олова и серебрят обычными растворами для серебрвния зеркал. Поверх серебряного слоя электролитическим путем наносят толстый (от 1 до 5 мм) слой меди; при этом регулируют осаждение меди так чтобы она легла слоем равной толщины по всей поверхности...
Делительная машина для изготовления дифракционных решеток
Номер патента: 67403
Опубликовано: 01.01.1946
Автор: Гарбер
МПК: B23Q 16/02, G02B 5/18
Метки: делительная, дифракционных, решеток
...относительно статора 29 осуществляется путем перепуска масла из одной полости в другую. Ротор 27 дает грубую подачу и большую скорость вращения. Ротор 28 дает точную установку.Перепуск масла, а следовательно, и вращение роторов производятся насосами 30, раоотающими непрерывно, Эти насосы снабжены шунтамк с заслонками переменного отверстия со шкалой 31.Клапаны 32 в требуемых случаях отключают ротативный насос 27 и 28, в результате чего; или ротор 27 вращается, а ротор 28 стоит, или ротор 27 стоит, а ротор 28 вращается, или оба ротора стоят - в эот момент происходит нарезка делений на лимбе.Переключения работы осуществляются механизмом, который приводится в движение реле 33, действующим от фотоэлемента 34 и усилителя 36,Фотоэлемент 34...
Способ изготовления поляроидов
Номер патента: 72739
Опубликовано: 01.01.1948
Автор: Аршинов
МПК: G02B 5/18, G02B 5/30
Метки: поляроидов
...герапатита или другого плеохроичного вещества, обладающего резко выраженным плеохроизмом, почти полной абсорбцией световых лучей с колебаниями, параллельными длине кристаллов, и почти полным пропусканием световых лучей с колебаниями, перпендпкулярнымп длине кристаллов. При растирании такой капли между двумя стеклами, из которых одно или оба передвигаются взад и вперед параллельно иаиравлеишо бороздок, игольчатые кристаллики герапатита илп других веществ распределяются по плоскостям стекол в бороздках и параллельно своей длине. Таким образом будут получены поляроиды с изолированным слоем плеохроичного вещества.Для большего возможного сокращения светорассеянпя показатель преломления стекла при примененип кристаллов герапатита должен...
Способ изготовления отражательных дифракционных решеток
Номер патента: 90078
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Кокош
МПК: C03C 17/00, G02B 1/10, G02B 5/18 ...
Метки: дифракционных, отражательных, решеток
...слон другой стеклянной пластинкой и перпепдпкулярттш)К 11118 СТ 1111 К 8 Ь 1 НЗГОТОЛЯЮТ 111.111 ф,который затем полируют. Для получения резкой границыПРОГР 1 ВЛИНЗ 11 8 ДЛЯ НЗНП-ЕНПЯ ПОСТОЯННОЙ ЗЕХЫЕТКН ЦЛНФ ИЗГОТОВЛЯ 1 ОТ 110,71 РЯЗ/ТИЧНЕЛМИ УГЛЗМН К11.18 СТ 1111811 8 СЛСДОК СЛОЯМ МРЖЦД 11115111.Например. если сделать толтцнну каждого слоя равной 1 мк, тобудет МОЖ но иметь отраъкательнухо решетку с 500 пггрихами на 1 мм. При толщине слоен и 0.2 мк на 1 ммогргзжатеыльнотт решетки будет приходиться 2500 иттрихов.1. Способ тазтотовдтения отражательных дитфттакттиоътньтх рептеток,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что на сте 1 ляниухо пластинку распылением н вакууме наносят чередующиеся слои различных металлов и солей,тюкргяваитг нанесенные...
Устройство для автоматического счета движущихся интерференционных полос
Номер патента: 91873
Опубликовано: 01.01.1951
Авторы: Герасимов, Смолянский
МПК: G01B 9/02, G01D 5/38, G02B 5/18 ...
Метки: движущихся, интерференционных, полос, счета
...чтобы одна полоса в точности покрывала диафрагму 4 и была параллельна ее краяь.Непосредственно за диафрагмой установлены два зеркала 7 п 8 под углом 45" и оси линзы 3, делящие плоскость диафрагмы иа три равные части как цзобра)коцо на фиг. 2. Свет от крайних участков диаф 10 рагмы, отражаясь от зеркал, (н)надает на фото;)лемеить 9 и 10. 1 асть света от среднего участка диафрагмы проходит ъежду зеркалами и попадает иа (ротоэ(еме)т 11. При перемещении зеркала 5 1 роис,(одит пе редвижение изображения полос в плоскости диафрагмы 4 в направлении, перпендикулярном делящим краям зеркал. Такое движение должно вызвать соответственный поворот ротора синхронного электродвигателя 12. Передвижение интерференционной картины на одну полосу...
Асферическая отражательная дифракционная решетка с одной плоскостью симметрии
Номер патента: 105957
Опубликовано: 01.01.1957
Автор: Щепеткин
МПК: G02B 5/18
Метки: асферическая, дифракционная, одной, отражательная, плоскостью, решетка, симметрии
...решеткой повышается разрешающая сила прибора и значитегпло увеличивается яркость спектра.Уравнение поверхности асферичсской решетки с одной плоскостью симметрии может быть представлено в виде ряда:Еп - Рп-Я,- б И (1)казанные коэффициенть Вычисляются из условия исправления аберрации для двух сопряженных точек: точки щели и точки спектрального изображения.Асферическая решетка с одной плоскостью симметрии создает оптимальные условия образования спектра при минимально возможных значениях аберрации при установке решетки на окружности Роуланда и фокусировке спектра на той же окружности, а следовательно, при исправлении аберрации для точек, лежяцих на окружностиоуландя105957 щели эффективность асферической решетки с одной плоскостью...
Способ копирования плоских и вогнутых гравированных дифракционных решеток
Номер патента: 107620
Опубликовано: 01.01.1957
МПК: G02B 5/18
Метки: вогнутых, гравированных, дифракционных, копирования, плоских, решеток
...быть равным радиусу кривизны копируемой решетки.3. Получение позитивного отпечатка поверхности дифракционной решетки на слое желатина. Стеклянная подложка погружается в воду, на слой желатина накладывается пленка с негативным отпечатком штрихов, после чего подложка извлекается из воды и помещается в центрифугу, где позитивный отпечаток штрихов получается под действием центробежной силы.4. Удаление с подложки пленки полиметилметакрилата путем ее растворения, например, в дихлорэтане.М 10620 Поверхность готовой копии для повышения коэффициента отражения покрывается алюминием в вакууме, Отпечаток закрепляется нагреванием его при температуре 180 - 200, после чего он становится устойчивым против воздействия воды. Комитет по делам изобретений и...
Интерферометр с обратно-круговым ходом
Номер патента: 132840
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Архипов, Желудов, Киселев
МПК: G01B 9/02, G02B 5/08, G02B 5/18 ...
Метки: интерферометр, обратно-круговым, ходом
...исследуемых объектов больших размеров в параллельный пучок лучей,В описываемом интерферометре эти недостатки устранены применением плоской диффракционной решетки с симметричным профилем штрихов для разделения и соединения интерферирующих пучков лучей и двух плоских зеркал, поворачивающихся вокруг общей оси.На фиг, 1 схематически изображен ход лучей в описываемом интерферометре; на фиг. 2, 3, 4 - ход лучей при различных конструктивных вариантах интерферометра.В интерферометре установлены два плоских зеркала 1 и 2, Для разделения и соединения интерферирующих пучков лучей применена плоская диффракционная решетка 3 с плоским профилем штрихов, на которую параллельный пучок падает под прямым углом, Интерферируют между собой пучки лучей,...
Спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модуляцией и обратно-круговым ходом лучей
Номер патента: 135257
Опубликовано: 01.01.1961
Автор: Голубицкий
МПК: G01B 9/02, G01J 3/20, G02B 5/18 ...
Метки: амплитудной, интерференционной, лучей, модуляцией, обратно-круговым, селективной, спектрометр, ходом
...Клясс 4211, 20( ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИК АВ)ОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ дпигна ч гр/рп б ./с/ ГОГУ 633(к/Й ПЕКТРОМЕТР С ИМПЛ ИТУДНОЙ ТЕРФ ДУЛЯ ХОД ЕРЕИ ЦсОЧ ПИЕс И О ОМ ЛУЧЕЙ 1. 17 1.1 О 1,"1О-К РУ ГО (5 Ы М ии( и /и, Ь с(ВР(.5( /с/(5(,и спкрь)ии ири/о, , Ц(:ГВ Рво ) рвфв , (1/11 Киви ВИВ (.о:/. .МВ(И( Р О,)( И нут лсВОИ чсс, Илас(и.и и)с,с ,.,а :, и(ОИВ От)/(ж( Г)1051 01 лсвой части пластинки 2 и Осип Г)тГ(1:(5 (")/(, )и ) и 7 а), ти",(Г)т пластинки 2Гк 1 и;)ОВьис си си ))Оу(цсс( и, (5,стс 5(,ГИ), : )т( )ОистГ; ),:( ЯО. ,Г)л 5(ци 51;Г)ГОтО )10.5 5(ТО,) ) 3 ВИ, О , (О сс/11 и.( с) ф )ОмРт) и 5(В,1 ЯО тс( ОР,) атиО) ъГГ)ВОЙ)1;1, ы( с мГЦ,5 У( Дслы(1; вссси. ТОВ ВИ 51(Г)Т И (ТИ1(И 10(ТИ (вТ( (1)ИГ)И в ,(Р 1:И)1(И/ИИ СТРПРни, ис)1 В .1(и" Г.10...
Способ изготовления прозрачных дифракционных решеток
Номер патента: 141643
Опубликовано: 01.01.1961
МПК: G02B 5/18
Метки: дифракционных, прозрачных, решеток
...нарезаемых затем на делительной машине. При этом дно получившихся штрихов касается поверхности стеклянной пластинки.После нарезания решетку подвергают травлению раствором, содержащим 0,5 г КМп О: и 20 сяа НгЯО 4 на 100 си, при температуре 20 - п 0, в зависимости от толщины слоя алюминия. При травлении дно штриха постепенно расширяется, образуя прозрачную часть штриха, а его вершина остается непрозрачной. Для более однородного смачивания поверхность решетки предварительно обрабатывают слабым раствором соды, благодаря чему процесс травления проходит более равномерно, Прозрачные части штрихов получаются одинаковыми и сохраняется точность, дотигнутая при нарезании решетки, Соотношение между прозрачной и непрозрачной частями штрихов...
Одноступенный способ копирования диффракционных решеток и эшелетт
Номер патента: 146071
Опубликовано: 01.01.1962
Авторы: Красикова, Митина, Нижин, Торбин
МПК: G02B 5/18
Метки: диффракционных, копирования, одноступенный, решеток, эшелетт
...синтетические смолы холодного отвердения, например, полиэфирную смолу. Отпечаток на слое твердой смолы отделяют от исходной решетки путем временной деформации подложек.Полученную копию после отделения от исходной решетки нагревают до 100 и для повышения коэффициента отражения покрывают слоем алюминия.Копии вогнутых дифракционных решеток получают в два приема - сначала получают первичную копию на подложке с выпуклой поверхностью, а затем ее используют для получения вторичных вогнутых копий, что обеспечивает высокое качество получаемых негативных копий и сохраняет возможность многократного копирования каждой получаемой копии.Одноступенный способ копирования дифракцнонных решеток и эшелетт обеспечивает получение отражательных копий,...
Модель дифракционной решетки
Номер патента: 146531
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Филатов
МПК: G02B 5/18
Метки: дифракционной, модель, решетки
...прозрачные целлулоидные линейки 5 и б. Расстояние между осями меньше ширины линеек, поэтому линейки наложены друг на друга. На линейках нанесены поперечные черные штрихи с интервалами, равными толщине штрихов. Пластины, после установки линеек, скрепляются по углам болтиками 7 с прозрачными шайбами, поставленными между пластинами для обеспечения свободного перемещения линеек.Для объяснения принципа действия дифракционной решетки модель посредством проекционного фонаря проектируется на экран. В вертикальном положении, соответствующем центральному изображению, штрихи на обеих линейках совпадают. При отклонении линеек в сторону от вертикального положения поперечные штрихи смещаются относительно друг друга. В некотором положении линеек...
166518
Номер патента: 166518
Опубликовано: 01.01.1964
МПК: G02B 5/18, G02B 5/28
Метки: 166518
...диффракционная решетка, расположенная в расходящемся монохроматическом пучке.На чертеже изображен один из вариантов устройства для получения синусоидальной миры,Свет от монохроматического источника У с помощью кондепсора 2 собирается на щели 3, за которой установлена подвижная диффракционная решетка 4, образующая мнимые когерентные изображения щели. Оптическая система б, установленная за диффракционной решеткой, образует действительные диффракционн которых выд зуют па экра ну, период к 5 шетки, длинымежду решет диафрагмой иУстройствомощью зеркал 10 частоты (50 ые изображения щели, два пз ляются диафрагмой б и обране 7 интерференционную картиоторой зависит от частоты револны освещения и расстояний кой и источником и между экраном.может...
Поляризатор
Номер патента: 185510
Опубликовано: 01.01.1966
МПК: G02B 1/10, G02B 27/28, G02B 5/18, G02B 5/30 ...
Метки: поляризатор
...дифракционных решеток известно.Предлагаемый поляризатор электромагнитных волн впервые использует поляризующее действие решетки, работающей на пропускание, Решетка нарезана в виде системы параллельных штрихов в металлическом слое, нанесенном на подложку, прозрачную в выбранном спектральном диапазоне. Ширина штрихов решетки и расстояние между ними меньше длины волны в выбранном участке спектра. Так, например, для области длин волн 10 мм можно сделать расстояние между штрихами, равным 1 мл, а ширину штриха 0,5 мм.Аналогично известным поляризаторам, в случае, если падающее электромагнитное излучение поляризовано, решетка работает как эффективный аттенюа тор, пропускающий лишь часть излучения, определяемую проекцией вектора электрического...
Устройство для сканирования дифракционныхрешеток
Номер патента: 234704
Опубликовано: 01.01.1969
Автор: Блох
МПК: G02B 5/18
Метки: дифракционныхрешеток, сканирования
...линейки рычагов, укреплен на специальной карете, которая при поощи пружины связана с гайкой винта таким образом, что ошибки, возникающие от биения винта и подшипников, не влияют на рабочий столик с дифракцпонными решетками.На чертеже изображено устройство функционального привода дифракционных решеток для спектрофотометров. Оно вк.тточает в себя столик 1 с решетками, рычаги 2 и 3 с рабочими линейками, винт 4 с гайкой 5, направляющий стержень 6 с кареткой 7 и рабочим роликом 8, упор 9 каретки, упорный винт 10, пружину 11, сегменты 12 с пазами под фиксатор и рычаг 18 с фиксатором.Равномерныдвижением гайки 5 по винту 4 перемещают каретку 7, на,которой укреплен ролик 8, вдоль направляющего стержня б,Составитель И. И. Нсбосклонова 1 с(иктор...
Способ защиты дифракционных решеток
Номер патента: 239745
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Зкаменсккй, Лапшин
МПК: G02B 5/18
Метки: дифракционных, защиты, решеток
...подслоя на поверхность решетки испаряют титан в двух вольфрамовых лодочках размером 50 Х 10 х 0,05 лл 1, вставленных одна в другую. Загруженные титаном лодочки прокаливают при вакууме не менее 5,10 -мм рт. ст. С началом испарения титана вакуум улучшается, так как титан поглощает остаточные газы. Поддерживают испарение титана при напряжении 36 в и токе 120 а.Требуемая толщина подслоя титана порядка 1000 - 2000 А.Нанесение подслоя контролируют путем регистрации количества испарившегося вещества и фотоэлектрическим методом - пропусканием света через подложку (решетку),После испарения титана сразу же испаряют алюминий, доводя толщину его слоя до размеров, предусмотренных руководствами. Затем после нанесения слоя алюминия нарезают...
Способ изготовления дифракционных решеток с переменным шагом
Номер патента: 269528
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Герасимов, Кошелев, Яковлев
МПК: G02B 5/18
Метки: дифракционных, переменным, решеток, шагом
...изготовляемой решетки и отсчитывается радиотехническим устройством, Сигналы от последнего управляют работой электромаг нитной муфты, прерывающей после прохождения определенного количества полос движение каретки с заготовкой.Если одной из отсчетных решеток сообщитьв процессе нарезанпя решетки дополнитель ное перемещение в направлении подачи заготовки, то разность хода интерферпрующих пучков и соответственно число полос, прошедших в поле зрения отсчетной системы, будут связаны с перед 1 ещециедт заготовки более Зо слсокпой функцией, включающей в себя заПодписнотий при Совете Министров СССРаб д. 45 Ти,а к 480 по делагп изобретений и открь Москва, К, Раушская иЗаказ 2083 3ЦИИИПИ Комит ппография, пр. Сапунова кон движения указанного...
Интерферометр с фазовой дифракционной решеткой
Номер патента: 272603
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01B 9/02, G02B 5/18
Метки: дифракционной, интерферометр, решеткой, фазовой
...Нлевой максимум раснрострацяется так же. как распростра цялся бы свет при отсутствии дифракцпоццойрешетки. Остальные максимумы отклонены от нулевого на некоторый угол.Поскольку изображения когерецтцы, то притталокетттти имеет место обычная ицтерферен ционная картина, характерная для двух лхчевых иптерферометров. Она позволяет измерять разность хода световых лучей, вносимую нсс,ттед смой ттеодцородностью.Качество тттттертЬеретттттоттттотт картины зави сит от амплитуд ицтерферпрующих волн. Лляболыттетт освещенности амплитуды волн должны быть достаточно велики, а для достаточно высокой контрастности полос амппитуды должны быть близки дрг другу. При этом необхо димо, чтобы решетка дчя оптимальных условий интерференции двл схем пулевого и...
Интерферометр для контроля качества полированных торических поверхностей
Номер патента: 272604
Опубликовано: 01.01.1970
Автор: Пур
МПК: G02B 5/18
Метки: интерферометр, качества, поверхностей, полированных, торических
...торическая поверхность 9. В фокальной плоскости объектива 8 образуется кольцевое изображение АА, плоскость которого перпендикулярна оптической оси объектива 8. Торическая поверхносгь 9 устанавливается так, чтобы геометрическое место центров кривизны сечений, проходящих через ось кольца шарикоподшипнпка (мерндиональные сечения), совпало с кольцевым изображением АА. Тогда все лучи, падающие на торическую поверхность, будут направлены нормально к ней и после отражения от торической поверхности пойдут в обратном направлении. По интерференционной картине с помощью объектива 8 определяют качество поверхности с точностью 0,05 - 0,15,як.Для контроля торических поверхностей колец упорных шарикоподшипннков в плоскости кольцевого...
Зонная пластина
Номер патента: 323656
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G01C 15/12, G02B 5/18
...полосы и расстояние от центра пластины до краев полос по соотношениям: о 2(Р д 1 14 гг - 1,79"-и 2(рг/)Лрггг -2(р г д) 4 п 0 о 031 / 1 - сооси симчетрииттрачьной попкраев гг-ой пол где Е ния от о края це внешнего ветственно расстояонной пластины до осы внутреннего и сы,Изобретение относится к области высокоточных геодезических измерений,Известны зонные пласпины, формирующиеизображение точечного источника света плпфокусирующие параллельный пучок света подобно сферической или цилиндрической линзев зависимости от формы зон Френеля. Такиезонные пластины представляют собой совокупность чередующихся прозрачных и затемненных полос, в общем случае взаимно пересекающихся, с затемненной центральной зо.ной. При этом точность нанесения краев...
350387
Номер патента: 350387
Опубликовано: 01.01.1972
Автор: Ямбаев
МПК: G01C 15/12, G02B 5/18
Метки: 350387
...является их дискретность, т. е. отнесение их к определенному расстоянию от пластины до плоскости формирования изображения источника,Поэтому при створных измерениях, когда положение этой плоскости задано, необходимо для каждой промежуточной точки использовать свою специально рассчитанную и изготовленную зонную пластину.Для формирования изображения источника света на любом расстоянии от пластины в пределах заданного диапазона в предлагаемой пластине прямые, определяющие границы участков, пересекаются в общей точке на оси симметрии пластины.На фиг. 1 показан визирный знак для геодезических створных измерений на основе описываемой зонной пластины; на фиг, 2 - расчет пластины. Зонная пластина 1 содержит несколько, например четыре,...
Вогнутая дифракционная решетка
Номер патента: 387319
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Куинджи, Стрешнев, Ташнев
МПК: G02B 5/18
Метки: вогнутая, дифракционная, решетка
...решетки, жестко ение относится к Р Уроению.ы дифракционныс решетки со штриенчатого профиля, у которых уголбочими гранями всех штрихов и плоеления есть величина постоянная. таллизациидифракцио одложкой 3 арезается т 4 всех штр ее образую ким образом, что рахов наклонены к кащей под одинаковыми Цель изобретения к 1 щей способности и Для этого в предл чие грани всех штр тельной ее образую лами. На чертеже изоб мой вогнутой дифре разреша- увеличени светосилы, агаемом устро ихов наклоне щей под один Предмет изобрете 0 Вогнутая дифракционная репенчатым профилем, отличающа с целью увеличения разрешающ сти и светосилы, рабочие грани наклонены к касательной ее обр 5 одинаковыми углами. ния йстве рабоны к касаковыми угажена схема...
Способ изготовления копий дифракционных решеток
Номер патента: 404036
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Ахмадеев, Куинджи, Стрешнев
МПК: G02B 5/18
Метки: дифракционных, копий, решеток
...по ируюетилно молы на паве е,шетки с пе.риоы путем (вместе ью, наесением ма (или рофобиСпособ изгот ных решеток,пуветки-матрицы,Изобретение относится и оптико-,механической промышлеяности, а именно к технологииизготовления дифракционных решеток.Известен способ изготовления копий дифракционных решеток путем формованияштрихов решетки-магрицы, нанесения слоясмолы на ее,поверхность, совмещения с подложкой корпии, полимеризации смолы и отделения корпий,Однако при отделении копии,от решеткиматрицы частицы смолы остаются на ее поверхности, образуя мииранеровности и иокажая профиль ее штрихов, а следовательно,снижая точность последующих копий, снимаемых с решетки-,матрицы, В,результате помере увеличения числа копий, снимаемых содной...
Способ изготовления оптической дифракционной решетки
Номер патента: 361598
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Иностранцы, Хайнц, Хорст
МПК: G02B 5/18
Метки: дифракционной, оптической, решетки
...с оригиналом при их совместном повороте относительно падающего 5 света; на фиг, 5 - готовое изделие - фотопластина с треугольным рельефным профилем.Фотопластину 1 (см. фиг. 1) поворачиваютсветочувствительным слоем к оригиналу 2, 20 представляющему собой амплитудную решетку с прозрачными параллельными щелями 3 или интерференционными полосами. Фотопластину устанавлива 5 налом, на который падает п чок света 4, с минимальным чивающим свободное переме стины поперек щелей оригин микронривода, например пье О или магнитострикционного.361598 иг.У фиг 5 оригинала определяется необходимой точностью выполнения рельефного профиля.Для изготовления рельефной решетки перемещают фотопластину по стрелке А поступательно или вращают ее относительно оси,...
415627
Номер патента: 415627
Опубликовано: 15.02.1974
МПК: G02B 5/18
Метки: 415627
...3), Варьируя о, со и ЛТ, а также угловое расстояние мекду точками с разной температурой, можно получить различное распределение показагеля преломления по длине кристалла, Кристалл вытягивается со скоростью о (которая будет своей для кристаллов разного типа) до тех пор, пока его длгша не превзойдет размер необходимого дифрякционного элемента. Диаметр выращиваемого кристалла подбирается также в зависимости от желаемых размеров дифракционного элемента, Другой прием получения периодического изменения показателя преломления - выращивание кристалла в поле с периодически меняющейся (например, за счет изменены мощности нагрева) температурой. Кристалл при этом можно вращать или не вращать. Можно менять периодически и другие параметры роста...
Устройство для измерения коэффициента отражения дифракционной решетки
Номер патента: 469942
Опубликовано: 05.05.1975
Автор: Лобачев
МПК: G02B 5/18
Метки: дифракционной, коэффициента, отражения, решетки
...выходной щели 5 и приемной площадки фотоприемника вокруг оси, совпадающей с центром дифракциоцной решетки 3, можно производить измерения при любых углах дифракции. За счет вращения дифракциоцной ре 1 петки 3 вокруг той же оси обеспечивается возможность осуществить измерения показателя отражения при любых углах падения излучения ца решетку 3.1 аким образом, предлагаемое устройство позволяет производить измерения при любых условиях работы дифракционной решетки. При установке вогнутых дифракционцых решеток входной объектив 2 занимает такое положение, при котором изображение входной щели 1, образованное объективом 2, совпадает с точкой, лежащей на круге Роуланда исследуемой вогнутой решетки. Для удовлетворения этих условий должно быть...
Способ изготовления оптической дифракционной решетки
Номер патента: 485607
Опубликовано: 25.09.1975
Авторы: Иоханнес, Хайнц, Хорст
МПК: G02B 5/18
Метки: дифракционной, оптической, решетки
...решетка с треугольнымпрофилем.Устройство (фиг, 1 ) содержит лазеный источник света 1, линзу 2, диафрагму 3, шизу 4, а также два зеркала: полупрэзрачное 5 и отражаюнее Ь, Пучки7 и 8 света отражаются на фотопластину9 с фотослоем, ца который экспонируютсяинторферениоцсые полось 1,1: я изгэтозлешщ Опттческой дифракциэш 7 ой решетки с рельефным профилем, 485607например, треугольной формы (фиг, 3)экспонируют фотопластину 9 последовательно серией интерференционных полоспространственные частоты которых соответственно гармоникам высших порядков(фиг, 2 б, в и г) основной системы полосфиГ. 2 а находятся между собой в отношении целых чисел. Частота полос зависитот угла между пучками света 7 и 8, ко торый устанавливают поворотом...
Оптическое устройство для автоматического распознавания микроструктур материалов
Номер патента: 548824
Опубликовано: 28.02.1977
Авторы: Алексеев, Белоглазов
МПК: G02B 5/18
Метки: микроструктур, оптическое, распознавания
...коррелятор 6 содержит фотохромное стекло 7 и матовое стекло 8. Тип фотохромного вещества и спектральные характеристики светофильтров подбираются так, что под воздействием светового потока 113, Отракенного от зеркала 9, фотохромное стекло меняет свою прозрачность, образуя маску исследуемой ыпкроструктмръ, а поток 114 проходит через эту маску, не меняя ее прозрачност 11, Согласно принципу рдооты корреляторов Майера - Эпплера 6, 10, существует такая плоскость, расположенная перпендикулярно к оптической оси коррелятора, что распределение освещенности в этой плоскости пропорционально значениям взаимной двухмерной корреляционной функции изображения, идущего со светового экрана, и изображения, представленного на маске. Поло= жение этой...
Автоколлимационный способ контроля качества отражательных реплик диффракционных решеток
Номер патента: 558242
Опубликовано: 15.05.1977
МПК: G02B 5/18
Метки: автоколлимационный, диффракционных, качества, отражательных, реплик, решеток
...сходящийся и направляют на выпуклую реплику 5 дифракционной решетки. Числовая апертура сходящегося пучка лучей от 0,05 до 0,2. Вершину реплики 5 совмещают с оптической осью объектива 2 и наклоняют к этой оси на угол ь. Величину угла наклона выбирают в пределах от 5 до 45, так чтобы обеспечить получение автоколлимационного хода лучей в соответствии с формулой 2 з 1 па=лКЛ, где а - угол между нормалью к решетке и оптической осью объектива, равный тр; Х - длина волны источника излучения; К в порядок спектра; Ж - число штрихов на 1 мм проверяемой решетки,558242 тавитель В. ВанториТекред М. Семенов едактор И. Шубинаказ 1999/18ЦНИИП рректор Н, Аук Изд, Мв 455 сударственного коми по делам изобретен 35, Москва, Ж, РПодппспоистров СССР Тираж ета...
Способ изготовления дифракционных решеток
Номер патента: 561922
Опубликовано: 15.06.1977
Авторы: Куинджи, Стрежнев, Хайбуллин, Штырков
МПК: G02B 5/18
Метки: дифракционных, решеток
...рсшеткц по предложенномуспособу изготавливают в следу 1 ощсй последовательности.Полированную поверхность подложки решетки из стекла бомбардируют на ионном ус корителе оыстрымц ионами того же металла,5 вг 922 Составитель В, ВанторинТехред 3. Тараненко Редактор С. Хейфиц Корректор А. Степанова Заказ 1613/1 Изд Мо 551 Тираж 633 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 например алюминия, что и последующий слой металла алюминия, в котором формируют штрихи решеток. При этом в поверхностном слое стекла подложки образуется слой металла, настолько прочно связанный с подложкой, что его можно удалить с подложки...