Электронные или ионные микроскопы; трубки с дифракцией электронов или ионов — H01J 37/26 — МПК (original) (raw)
Электростатическая линза для электронных микроскопов
Номер патента: 74547
Опубликовано: 01.01.1949
Автор: Янчевский
МПК: H01J 29/62, H01J 37/26
Метки: линза, микроскопов, электронных, электростатическая
...выполне,ние.Первый по пути электронного луча электрод линзы выполнен плоским по всей его поверхuостн, а второй и третий электроды имеют плоские части, параллельные в области прохождения электронного луча плоскости первого электрода. Такая конструкция позволяет легко располагать исследуемый объект на поверхности первого электрода, так как фокальная плоскость линз оказывается вынесенной за ее пределы.Конструктивное выполнение изобретения,поясняется прилагаемым чертежом, где фокальная плоскость отмечена буквой Р. Преимуществом предлагаемой электростатической линзы является меньший вес и объем ее по сравнению с ранее известными, а также простота ее изготовления, так как изолятор среднего электрода имеет форму простого гладкого цилиндра,...
Электростатический электронный микроскоп
Номер патента: 79645
Опубликовано: 01.01.1949
Автор: Фетисов
МПК: H01J 37/12, H01J 37/26
Метки: микроскоп, электронный, электростатический
...ПОДВОД НЯП)51- )ксппя внутри колонны.Описываемый микроскоп изобряжсп пя при.пи ясмом чертеже.Злсктроны, выделяемые накаленпыъ КятОдох 1, форми 1)чютс 51 В пучок и уск 01)5 ютс 5 Ири помощи уп р я вля к) щего электрода 2 и анод- но 11;гия(Ь)Ягмы .). Перед обьекто)л 10 установлена осветительная диафря ма 4, вырезаюп 1 яя тонкий пу 0 К эс(1) ОНОВ, КОтОР ы 11 и Я- дясг чя объект, частично рас(СгИВЯСТС 5 Б ПЕЛ П, фИКСИ 1)751 СЬ Л ИП- замп ), 6 и 7, дает изображение па экря)с 8 или фотопластинкс. Все электронно-,1 учевые элементы установлсн и На мет;пличсском тубу-9. При работе прибора необходимо регулировать только положение нпгп катода винтом 1 и перемсИЯть 00 ьект 10 через,пок 11) дг 1 я В 1 б 01)(1 и жнОГО " 1 с(ткя ряссмО- рспия.Тубус...
Устройство для ввода и удаления объектов из вакуумного пространства
Номер патента: 89385
Опубликовано: 01.01.1950
МПК: H01J 37/20, H01J 37/26
Метки: вакуумного, ввода, объектов, пространства, удаления
...чертежом. На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство,в выдвинуУСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗ ВАКУтом, а на фиг, 2 - во вдвинутом положении.Объект 1 укреплен (ввинчен) в подвижной цилиндрический держатель 3. При работе объект располагается внутри магнитной или электростатической линзы 2.Конический конец держателя 3 входит без зазора в коническое отверстие предметного столика 4, переставляемого по высоте при помощи зажима 5,Чтобы обеспечить вюзможность перестановки предметного столика, цилиндрический держатель 3 пюдве. шен жестко в направляющем ци. линдре б с помющью штифтов. Цилиндр б скользит в металлическом пустотелом цилиндре 8. Перемещение производится при помощи шестерни 9, которая имеет зацепление с рейками на цилиндрах б и 8. Вал...
Объектив магнитного электронного микроскопа
Номер патента: 91046
Опубликовано: 01.01.1950
МПК: H01J 37/141, H01J 37/26
Метки: магнитного, микроскопа, объектив, электронного
...при большддх намагничивающих токах ц недостаточно высокого качества.Описываемый объектив имеет несколько щелей из немагнитного материала, причем первое изображение возникает при меньшем намагничивании ц с меньшим увеличением, чем у однощелевого при той жс ддоддструдцдддд ступени увслцчсдпдя объсд:,тцва микроскопа. Изображения появятся при меньших ампсрвцтках намагничцвающсго тока, чем у одпощслсвого объектива ц с большим увсличспием. При этом разрспдающая способность повышается.Схема получения изображения с применением многощелевого полюсного лаколе пцдка предлагаемого объктлва приведена на чертеже, где а, о, в,.з, и - псмагнцтпыс зазоры в мпогощелсвом наконечнике;1, 2 п. п+ 1 - элсддтропддд дс пзображенпя; КЛ - корпус линзы; ОЛ...
91280
Номер патента: 91280
Опубликовано: 01.01.1951
МПК: G03C 3/00, H01J 37/26
Метки: 91280
...клапана 5 с .резиноным уплотнением, передвигаемая по вертикали винтовым толкателем 6, На противоположной части диска имеютси направляющие рейки, в которые вставляется обычнан фотокассета размером 4, б х 6 см.Работает шлюз следулцим образом, Оператор вращая рукоятку 7 под нимает с помощью пары шестерен 8 и 9 шлюзовой клапан, изолируя тем самым шлюзовую камеру от микроскопа, Только после етого возможен впуск воздуха в шлюзовую камеру, осуществляемый клапаном 10, который открывается назатием кнопки на стержне 11. Ори опущенном шлюзовом клапане впуск воздуха невозможен, так как стержень 11 упирается в нижний конец винтового толкателя 6, Открывая люк 12, оператор заменяет кассету, вновь его. закрывает и переводит форвакуумный насос на...
Магнитная линза для фокусировки корпускулярных лучей, преимущественно электронных и протонных микроскопов, с перемещающимися полюсными наконечниками
Номер патента: 93227
Опубликовано: 01.01.1952
Автор: Сушкин
МПК: H01J 29/66, H01J 37/26
Метки: корпускулярных, линза, лучей, магнитная, микроскопов, наконечниками, перемещающимися, полюсными, преимущественно, протонных, фокусировки, электронных
...Юле, ооразуемое на оси линзы в области немагнитного зазора 3, является фокусирующей оптикой микроскопа. Для получения короткофокусной линзы при большой скорости электронов внутрь линзы помещен полюсный наконечник 4 пз материала, обладаОщего большим магнитным нас;ыщением.Ввиду ТОГО что магп 1 Г 1 Ос поле создастся только в области немагнитного зазора полк 1 сцого наконечника 4, сремещать вск 1 линзу це ооязатсльно, а достаточно осуществить перемещение только одного по,юсцсчс 1 яссИсячника. Для выполнения этого внешний диаметр полюсного наконечника 4 сделан меньше иутреннего диаметра панцыря 2 ,инзы. Немагнитный зазор полюсного наконечника также меньше пемагцитпого зазора 3 панцыря.Верхняя часть полюсного наконечника имеет фланец 5,...
93435
Номер патента: 93435
Опубликовано: 01.01.1952
МПК: H01J 29/66, H01J 37/26
Метки: 93435
...щели в отдельности невозможно. Раздельное же управление полем имеет значительные преимущества для практического применения микроскопа. Затруднение в раздельном питании каждого зазора возникает из-за близкого расположения зазоров.Цель изобретения - обеспечить раздельную регулировку магнитного поля в каждой щели линзы для лучшей фокусировки корпускулярных лучей. Достигается это тем, что линза снабжена двумя коаксиально расположенными соленоидами, заключенными в кожухе из магнитомягкого материала. Кожух образует магнитопровод, по которому магнитный поток от каждой обмотки может проходить только в одном не- магнитном зазоре линзы,На чертеже изображена ли3 М 93435 . - 2 - 43Обмотка "подмагничивания выполнена в виде двух коаксиально...
94235
Номер патента: 94235
Опубликовано: 01.01.1952
МПК: H01J 29/56, H01J 29/64, H01J 37/26
Метки: 94235
...применение цилиндрической магнитной линзы позволяет достигнуть необходимой степени коррекции приосевого астигматизма магнитных объективов для электронных микроскопов высокого разрешения,Магнитная линза может состоять из двух нлн вых петель, перекрещивающихся под углом в 45. Линза в щели полюсного наконечника корректир 1 емой линзы и у ез нарушения вакуума в приборе.На фиг, 1 схематично представлено устройство цилиндрической линзы; на фиг. 2 - электрическая схема линзы, состоящей из двух токовых петель.Линза состоит из двух или четырех ра е й плоскости токовых петель 1, изготовленных из ов одников и перекрещивающихся под углом 45,.Члина а петли должна быть намного больше расстояния в жду двумя параллельными...
Линза для электронно-оптической системы
Номер патента: 109277
Опубликовано: 01.01.1957
Автор: Фридрих
МПК: H01J 29/56, H01J 29/64, H01J 37/26 ...
Метки: линза, системы, электронно-оптической
...выполнена материала, навольфрама. т систе диаф тем, асим аперт из сл прим электр бженнот, цель агнитн диафр итногорбида за длямы, сцарагмой,что, спетрин ьурнаяабомагнер из ка Предметом изобретения является линза для электронно-оптической системы, в частности, для электронных микроскопов с электромагнитным или магнитно-статическим возбуждением и системой пол юсных наконечников, с помощью которых магнитное поле концентрируется в зазоре, где проходит пучок электронных лучей. Для устранения краевых лучей в таких линзах служат апертурная диафрагма, расположенная по ходу луча, ниже зазора.Согласно изобретению, с целью уменьшения асимметрии магнитного поля линзы, апертурную диафрагму изготовляют не из цемагнитного материала, например из...
Устройство для подачи на электроды отклоняющей системы электронных микроскопов и т. п. аппаратов напряжений компенсирующих аксиальный астигматизм электронно-оптической системы
Номер патента: 114630
Опубликовано: 01.01.1958
МПК: H01J 29/56, H01J 37/26
Метки: аксиальный, аппаратов, астигматизм, компенсирующих, микроскопов, напряжений, отклоняющей, подачи, системы, электроды, электронно-оптической, электронных
...устройства; на фиг. 2 - схема того же устройства, обеспечивающая получение предела регулирования в 180 а; на фиг. 3 - схематическое положение рукояток регуляторов.Требуемое для компенсирующего астигматизма устройства постоянное напряжение снимается с зажимов 1 и 2 и подается для регулировки амплитуды на потенциометр 3. Напряжение Уа, снимаемое с этого потенциометра, подается на два последовательно соединенных моста, состоящих из сопротивлений 4, б, б и 7, 8, 9 соответственно, причем сопротивления б и 9 выполнены регулируемыми. Ползуны этих двух сопротивлений, регулируемых совместно, заземлены. С концов регулируемых сопротивлений б и 9 и заземления снимаются напряжения У У 2 и - У - У, служащие для установки компенсирующего устройства....
Способ определения времени экспозиции в электронно-лучевых приборах
Номер патента: 117115
Опубликовано: 01.01.1958
Автор: Сушкин
МПК: H01J 37/26
Метки: времени, приборах, экспозиции, электронно-лучевых
...микроскопе монтируется Источник 1 ультрафиолето- ВОГО излучения,;у От кооэого с гомсцьО зсэка;1 2 направляотея на защищенный участок 4 флюоресцирующего экрана о, на который пронцируется электронное изображение 5.Флюоресциэу 10 пиЙ экэан сВетится под в;иянием ультрфполетового света и это свс 101:ис з;ВСит от Интенсивности злучателя, которое эсГули 1 эуется 1 эсостатоэ В цепи накала источни 12. Для Опредегения Врсыени экспозиции 1 эеостатоэ 1 накала источ 1 Нк 1 подоирается т 21".Оп нака,1, при котором яркость свечения от электронного излучения будет равна яркости свечения под влиянием ультрафиолетового света. Прибор, определяОщий ток накала истоника ии н 21 цэяжснпя П 2 кала Градуп 1 э ется 1 епосэедствснно В секундах экспозиции,...
Камера для электронно-микроскопических и электронно графических исследований объектов в газовой среде
Номер патента: 118563
Опубликовано: 01.01.1959
Авторы: Безлепкин, Зайцев, Стоянова
МПК: H01J 37/26
Метки: газовой, графических, исследований, камера, объектов, среде, электронно, электронно-микроскопических
...термоустойчивости она покрывается тонким (около 10 А) угольным слоем. Использование такой пленки, прозрачно герметизирующей камеру, в сочетании с простой коммутационной системой, позволяющей поочередно соединять камеру либо с вакуумным насосом, либо с баллонами, содержащими тот или иной газ, делает систему полностью изолированной от вакуумной системы электронной пушки.Новым в предлагаемой камере является использование пленок, приготовленных описанным выше способом, улучшающих качества электронно-микроскопических камер.Общая схема описываемой приставки к электронному микроскопу показана на чертеже.Пучок электронов, поперечное сечение которого ограничивается диафрагмами 1 и 2, проходит сквозь камеру А (изображена на чертежеПредмет...
Устройство для повышения яркости и контраста изображения в электронном микроскопе
Номер патента: 119630
Опубликовано: 01.01.1959
Авторы: Верцнер, Воробьев, Оксман, Ченцов
МПК: H01J 31/38, H01J 37/26
Метки: изображения, контраста, микроскопе, повышения, электронном, яркости
...4 передающей трубки типа Видикон, которая соединена телевизионным каналом с кинескопом о. Посредством оптики электронного микроскопа 3 на мишень проектируется изображение исследуемого объекта 6, что приводит к возникновению проводимости в слое полупроводника. Кроме того, мишень облучает,"я сканируьощим электронным пучком, создаваемым системой 4. Одновременное воздействие обоих пучков вызывает образование на поверхности мишени потенциального рельефа, который считается системой 4, аналогично тому, как это происходит в передающих телевизионных трубках типа Видикон.Выделяющийся на сопротивлении 7 сигнал используется позле усиления в усилителе 8 для модуляции пучка кинескопа 5, на экране которого, ведется наблюдение изображения, Развертка...
Электронный микроскоп
Номер патента: 122822
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Стоянов
МПК: H01J 29/56, H01J 29/80, H01J 37/26 ...
Метки: микроскоп, электронный
...с регулируемой степенью увеличения.Этот недостаток устранен в предлагаемом электронном микроскопе применением в чем второй промежуточной линзы, установленной соосно с основной промежуточной линзой на расстояшги от нее, определяемом фокусными расстояниями линз микроскопа.Схема проекционного блока электронного микроскопа изображена на чертеже. Микроскоп содержит две промежуточных линзы 1 и 2 и проекционную линзу 3.Действие такой системы заключается в следующем. Прн увеличении ускоряющего напряжения, соответствующем изменению увеличения микроскопа, фокусные расстояния обеих промежуточных линз изменяются. В результате увеличения преломляющей силы первой промежуточной линзы главный луч в ее фокальной плоскости сильнее отклоняется к оси,...
Ахроматизированный электронный микроскоп
Номер патента: 124991
Опубликовано: 01.01.1959
Авторы: Дер-Шварц, Кушнир, Розенфельд
МПК: H01J 29/56, H01J 29/70, H01J 29/80 ...
Метки: ахроматизированный, микроскоп, электронный
...развертки регистрирующего устройства в одном направлении должна быть больше амплитуды развертки в другом направлении во столько раз, во сколько увеличение в первом из направлений меньше, чем во втором. Конструкция описываемого микроскопа показана на чертеже, Электронное изображение, сформированное в колонне 1 микроскопа, попадает на экран 2, имеющий отверстие 3. Диаметр отверстия соответствует разрешаемому расстоянию. Пучки электронов, формирующие изображение рассматриваемого участка, преобразованные после отверстия 3 в последовательность токовых импульсов, через моиохроматор 4 попадают на вход усилителя тока 5. Снимаемые с выхо. да усилителя 5 сигналы усиливаются широкополосным усилителем напряжения 6 и воздействуют на...
Камера объектов для электронных микроскопов
Номер патента: 125851
Опубликовано: 01.01.1960
Автор: Почтарев
МПК: H01J 37/26
Метки: камера, микроскопов, объектов, электронных
...Положительный электрод 1, изолированный от земли изолятором 2, укреплен в оправе 3, фиксируемой винтами 4 после центровки электрода относительно оптической оси микроскопа, Внутри электрода размещен подвижной столик б, который может перемещаться при помощи изолирующих толкателей, управляемых снаружи, во взаимно-перпендикулярных направлениях для пересмотра объекта. Объект 6 устанавливается в коническое гнездо объектодержателя 7, расположенного в подвижном столике б, Для смены объекта штанга-толкатель 8 подводится к ооъектодержателю 7 и сцепляется с ним замком 9, После сцепления штангу-толкатель двигают вперед до тех пор, пока объектодержатель не войдет в гильзу 10 до упора, Гильза 10 вместе с объектом выводится из камеры через шлюз....
Способ приготовления препарата для электронно микроскопических исследований
Номер патента: 131421
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Жуков, Тульчинский, Шадрин
МПК: G01N 1/28, H01J 37/26
Метки: исследований, микроскопических, препарата, приготовления, электронно
...укрепленную н131421 Предмет изобретения Спос оо ппиготовления препарата д тя электронно-микроскопических исследований, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью улучшения качества препарата и ускорения процесса, распыл суспензии производят и регулируемом воздушном потоке с применением ударной волны. ОПЕЧАТКАНа стр, 2 в строке 14 снизу, следует читать: в течение долей секунды. Телрсд А. А. Кудрявицкая Редактои О. Д. Ус Корректор Л. Е. Чекунова Поди. к печ. 2.Х 1.60 гЗак. 9388 Формат бум. 70108/г, Об".гсм 0,17 п. л. Тираж 1050 Цена 25 коп,; с 1.1.61 г. - 3 коа. ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центр, М, Черкасский пер., д, 2/6Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при...
Прибор для изготовления препаратов порошкообразных веществ для электронно-микроскопических исследований
Номер патента: 132734
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Тульчинский, Юрасов
МПК: G01N 1/28, H01J 37/26
Метки: веществ, исследований, порошкообразных, препаратов, прибор, электронно-микроскопических
...11 ленкуподл ожку.Прибор смонтирован на штативе 4, на котором размещены верхний и нижний узлы заземления 5, две кремальеры 6 и кронштейн 7, Кроме этого, в приборе предусмотрены: нижний держатель 8 с контактным уст132734ройством, жестко связанный с кремальерой б и нижним стаканом 9, центральный держатель 10 с клеммной колодкой и контактным распределительным устройством, связанный с кронштейном 7 и центральным стаканом 11; верхний держатель 12 с контактным устройством, жестко соединенный с кремальерой и верхним стаканом 13.Прибор работает следующим образом.С помощью имеющегося маховичка разводятся верхний И и нижний 9 стаканы и в салазки 14 верхнего стакана вставляегся патрон-объектодержатель 1 с предметной сеточкой, на которую...
Способ непрерывной регистрации электронограмм
Номер патента: 133955
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Капличный, Степанов, Шуляк
МПК: G01N 23/207, H01J 31/38, H01J 37/26 ...
Метки: непрерывной, регистрации, электронограмм
...Г 1 олупроводпиковый слой 3 является одновременно мишенью для электронОго пучка считываошей системы с) Нередйюцей т)убки типа Видикон, которая связана с кинескопом 6 телевизионным каналом. Проектирование дффракционной картины на полупроводниковом слое 3 приводит к возникновению проводимз -ги в этом слое. Одповременп:)е воздейстие электронного пучка 2 и пучка считывающей системы ) образует па мишени потенциальный рельеф, который считывается систсмой тяк )к, как это проис);олпт в псредяющ 1:( телевизионных трубка): типа Вдикон. 11 р этом используется только линейная развертка с пты2 паощей системы а. Сигнал, выделяющийся па сопротивлении 7, шсл; усиления в усилите.с о подается на вертикально отклоняощую систему кинескопа 6. Сигналы...
Прибор для расщепления препаратов, изучаемых методом электронной микроскопии
Номер патента: 141561
Опубликовано: 01.01.1961
Авторы: Жуков, Тульчинский, Шадрин
МПК: G01N 1/28, H01J 37/26
Метки: изучаемых, методом, микроскопии, препаратов, прибор, расщепления, электронной
...2 - конструктивное оформление замкнутой камеры.Однополупериодный выпрямитель, собранный, например, на газо- троне 1 типа ВГ, включен во вторичную обмотку 2 повышающего трансформатора, первичная обмотка 3 которого выполнена в виде отдельных секций, позволяющих регулировать выходное напряжение. Емкостный генератор импульсов содержит ограничивающее сопротивление 4, разрядную емкость 5, формирующий промежуток б и рабочие электроды 7 и 8, Выпрямленное напряжение заряжает емкость 5 до тех пор, пока напряжение на емкости не достигнет величины разряда формирующего промежутка, который, пробиваясь, замкнет емкость на рабочие электроды 7 и 8.Один из электродов 7 выполнен подвижным и заземлен для обеспечения безопасной работы прибора. Внутри...
Прибор для изготовления препаратов порошкообразных веществ для электронно-микроскопических исследований
Номер патента: 145669
Опубликовано: 01.01.1962
Авторы: Сорокин, Тульчинский, Юрасов
МПК: G01N 1/44, H01J 37/26
Метки: веществ, исследований, порошкообразных, препаратов, прибор, электронно-микроскопических
...питающее устройство и защитный кожух 6. В нижнем потенциальном узле установлен стакан 7 с чашечкой 8, в которой помещается образец. К чашечке при помощи гибкой экранированной шины 9 подводится отрицательный потенциал порядка - 600 в,В верхнем потенциальном узле расположен патрон 10 с объектодержателем 11 и электродом 12 к к которому через экранированную шину 13 подводится положительный потенциал +600 в,Для получения основного рабочего поля равномерным между электродом 12 и регулирующей сеткой 14 помещена дополнительная потен145669циальная экранирующая сетка 15, к которой подведено положительное напряжение порядка +250 в при помощи шины 1 б.Необходимым условием качественной и стабильной работы прибора является одновременная подача...
155893
Номер патента: 155893
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: H01J 37/26
Метки: 155893
...и закрытия крышки и устройство о поджатия и запирания ее, механизм 7 впуска воздуха и механизм 8 его откачки.Во время наблюдения крышка 3 шлюзовой камеры открыта, манипулятор 2 устранен из рабочего объема микроскопа,При смене объекта крышку 3 закрывают с помощью устройства о открытия и закрытия посредством рычага 4, запирают и поджимают ее устройством б; нажатием на кнопку механизма 7 впуска воздуха заполняют камеру воздухом, после чего держатель 1 с манипулятором 2 и объектом свободно вынимается из камеры. Затем заменяют объект (на чертежах не показан), держатель 1 с манипулятором 2 вставляют в люк камеры, при помощи механизма 8 откачки воз155893 Предмет изобретения Шлюзовая камера объектов для электронного микроскопа с...
156253
Номер патента: 156253
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: H01J 37/26
Метки: 156253
...До156253полнительный астигматизм, вносимый коррегирующими элементами пластины П-образного сечения, больше нормы. С увеличением расстояния от коррегирующих элементов до оси пучка их влияние уменьшается, поэтому астигматизм при отклонениях пучка в пределах 1 не превышает собственного астигматизма конденсора. В дальнейшем с ослаблением влияния коррегирующих элементов этот угол может увеличиться до 1,5.Таким образом, электростатическое поле в комбинированной магнитоэлектростатической системе юстировки с заземленными электродами, расположенными по одну сторону от пучка, отклоняет пучок практически без аберраций при углах наклона до 1,5, если наконечники верхней и нижней пары имеют прямолинейные края (причем наконецник, к которому...
160781
Номер патента: 160781
Опубликовано: 01.01.1964
МПК: H01J 29/62, H01J 37/26
Метки: 160781
...отличается от известных тем, что в полость канала полюсного наконечника промежуточной линзы электронного микроскопа вводят металлический ццлш 1 др, изолированный от заземленных частей микроскопа, и подают на него регулируемое напряжение, изменяющее фокусное расстояние указацной линзы.Получение дифракционной картины по предлагаемому способу заключается в том, что изменение фокусного расстояния промежуточной линзы магнитного электронного микроскопа при переходе от электронно-микроскопических исследований к дифракционцым производят без изменения ускоряющего напряжения микроскопа. Известно, что фокусное расстояние длиннофокусных магнитных линз, к числу которых относится промежуточная линза, можно записать в виде з приведенного выражения...
160858
Номер патента: 160858
Опубликовано: 01.01.1964
МПК: H01J 37/26
Метки: 160858
...электронагревателе для соъекта к электронному микроскопу, с целью сохранения предельного увеличения микроскопа, патрон объектодержателя выполнен цз цемагнитцого сплава с большим омическцм сопротивлением, а для создания наибольшей плотности тока у места расположения объекта в патроне сделан разрез.На чертеже схематично показан патрон объектодержателя, разрез,Патрон 1 объектодержагеля выполнен из нема гиитиого сплава с большим омическим сопротивлением. Для создания наибольшей плотности тока у места расположения объек 1 а в патроне сделан разрез 2. К осиоваишо патрона, це соприкасающемуся с кареткой предметного столика (ца чертеже це изображеи), прикревторого токопкроскопа.Для цзмереш 1 я температуры об рону объектодержателя можно...
Абсорбционный ионный проектор
Номер патента: 168815
Опубликовано: 01.01.1965
МПК: H01J 37/26
Метки: абсорбционный, ионный, проектор
...повторять 100 - 1000 раз в секунду.Атомы щелочного металла десорбируются в электрическом поле в виде положительных ионов, которые, ускоряясь разностью потенциалов между острием и экраном, бомбардируют последний. Экран от этого светится, и на нем получается увеличенное (в 105 - 106 1 С раз) изображение кончика острия, вернее,тех его мест, откуда преимущественно десорбируются атомы рабочего вещества.Разрешающая способность б десорбционного проектора по Мюллеру равнаг. иб = 0,45 10-+0,52 10-в -ПЪ /г Е/2где г - радиус острия в сантиметрах;гп - масса иона в граммах;20 Т - температура в градусах Кельвина;Е - напряженность электрического поля уповерхности острия в вольтах на сантиметр.Определенная по этой формуле для случая 25 щелочных ионов...
Электронный микроскоп
Номер патента: 170132
Опубликовано: 01.01.1965
Автор: Жилейко
МПК: H01J 37/26
Метки: микроскоп, электронный
...качестве уск электронов, объектива и проектива ис 20 ваны электромагнитные резонаторы менным высокочастотным напряжение зазорах. 2. Электронный микроскоп по п. 1, о щийся тем, что в качестве ускорптел 25 ронов использован диафрагмированнь новод, щии исектив ицелью орителя пользос перем на их лича я электй волПодписная группа97 Известные электронные микроскопы, содержащие источник и ускоритель электронов, объектив и проектив, громоздки.Предлагаемый электронный микроскоп отличается от известных тем, что в качестве ускорителя электронов, объектива и проектива использованы электромагнитные резонаторы с переменным высокочастотным напряжением на их зазорах. Кроме того, в качестве ускорителя электронов может быть использован также...
Электронный микроскоп
Номер патента: 183846
Опубликовано: 01.01.1966
МПК: H01J 29/80, H01J 37/26
Метки: микроскоп, электронный
...объектов служит замедлителем пучка электронов, проходящего г в стволе электронного микроскопа. Он выполнен в виде расположенных на оптической оси двух внешних электродов и одного внутреннего с полостью, служащей камерой объектов. Торцы электродов со стороны входа и выхода 1 образуют конденсор и иммерсионный объектив соответственно, При этом внешние электроды заземлены, а внутренний электрод и электрически контактирующий с ним объектодержатель подключены к вводу регулируемо го высокого напряжения. На чертеже показан узел формирования изображения объектов в разрезе.Электроды 1 и 2 находятся под потенциалом земли. На электрод 3 от высоковольтного делителя через высоковольтный ввод 4 подается высокое напряжение.Объект 5 и...