С использованием двойной фокусировки — H01J 49/32 — МПК (original) (raw)
Энерго-массанализатор
Номер патента: 957317
Опубликовано: 07.09.1982
МПК: H01J 49/32
Метки: энерго-массанализатор
...систему 3 фокусировки пучка ионовна исследуемый образец 4, расположенныепо ходу пучка анализируемых частиц коллимирующую и замедляющую систему 5, установленную на входе полусферического энергоанализатора 6, отклоняющее устройство 7, выполненное, например, в виде плоского конденсатора, и установленное на выходе энергоанализатора 6. За отклоняющим устройством 7 по ходу движения анализируемых частиц расположен массанализатор 8 и детектор 9 ионов. Управляемый извне манипулятор 1 О осуществляет поворот образца 4 на любой угол относительно направления падения пучка бомбардирующих ионов.Коллимирующая и замедляющая система 5, энергоанализатор 6 и отклоняющее устройство 7 механически жестко связаны между собой и размещены на поворотной...
Призменный масс-спектрометр
Номер патента: 974458
Опубликовано: 15.11.1982
Авторы: Зернов, Кельман, Мит, Назаренко, Якушев
МПК: H01J 49/32
Метки: масс-спектрометр, призменный
...линзыбыла совмещена с плоскостью щели источника 1 ионов е. Потенциал на среднем электроде электростатическойтелескопической системы рассчитывается так, .чтобы удовлетворить усло-вию ее телескопичности. Потенциал Она общем для линзы и электростатичес.кой телескопической системы электроде, угол У и угол О - входа пучка в каждую призму магнитной дисперсионной системы должны удовлетворятьравенству= (1 + 3 сд . с )Ч,Вторая электростатическая телескопическая система 3, примыкающая к нейфбкусирующая линза 4 и щель 5 приемника ионов находятся в такой же кон-структивной взаимосвязи, что и истЬчник 1 и электроды. Магнитная диспергирующая система расположена между первой и второй электростатическими системамиЗ. В отличие от прототипа она...
Масс-спектрометр
Номер патента: 993362
Опубликовано: 30.01.1983
Авторы: Гартманов, Коган, Павлов
МПК: H01J 49/32
Метки: масс-спектрометр
...входного окна здесь должна быть малой. 20Повышение чувствительности, определяемое ростом геометрического фактора толька за счет увеличения площади входного окна, приводит к существенному увеличению размеров и ве са масс-спектрометра, что недопустимо в условиях космического эксперимента, или к ухудшению его разрешающей способности.30Цель изобретения - повыениечувствительности и увеличение разрешающей способности масс-спектрометрапредназначенного для космическихисследований. 35Указанная цель достигается тем,фчто в масс-спектрометре, состоящем.,Ускоряющих пластин, электростатического энергоанализатора, масс-анали; затора, содержащего электростатический конденсатор и постоянный магнит,и приемника с выходной целью, обкладки...
Призменный масс-спектрометр
Номер патента: 995156
Опубликовано: 07.02.1983
Авторы: Зернов, Кельман, Мит, Назаренко, Якушев
МПК: H01J 49/32
Метки: масс-спектрометр, призменный
...установлены коллиматорная линза (электроды 2 - 4) и электростатический анализатор энергий (электроды 5 и 6),магнитный анализатор 7, за которым расположен второй анализатор энергий, фокусируюшая линза и детектор 8 ионов. Параметры прибора подобраны так, что суммарная дисперсия электростатических энергоанализаторов равна по величине и обратна по знаку дисперсии магнитного анализатора. Вблизи магнитного анализатора расположено электростатическое зеркало (электроды 9 и 10). В зависимости от конструктивных особеннос 1 ей вместо изображенного на чертеже трехэлектродного зеркала может быть использовано двухэлектродное,Устройство работает следующим образом,Расходящийся пучок ионов, выходящий из источника 1, формируется коллиматорной...
Масс-спектрометр с тройной фокусировкой
Номер патента: 1014068
Опубликовано: 23.04.1983
Автор: Фишкова
МПК: H01J 49/32
Метки: масс-спектрометр, тройной, фокусировкой
...электрод выполнен в виде двугранного угла величиной %2, ребро которого лежит в средней глоскости электромагнитного анализатора:, а грани расположейы симметрично относительно этой плоскости, при этом кратчайшие расстояния от ребра двугранного угла до полюсов электромагнита и до первого электрода электростатической системы равны между собой, а также равны расстоянию от первого электрода до плоской части ярма электромагнита.При указанном взаимном расположении полюсрв и электродов создается совмещенное в пространстве комбинированное электромагнитное неоднородное поле, изменяющееся по линейному закону, причем силовые пинии электростатического поля перпендикулярны магнитным силовым линиям (скрещенные поля).Для малых углов наклона пучка...
Масс-спектрометр
Номер патента: 1061193
Опубликовано: 15.12.1983
Авторы: Гартманов, Коган, Кошевенко, Павлов
МПК: H01J 49/32
Метки: масс-спектрометр
...массанализатор, состоящий из постоянного магнита с плоскими полюсниками,разделенными зазором, электростатического цилиндрического конденсатора, и приемник с коллимацион ной щелью, паралледьные обкладкамконденсаторов оси симметрии выходного окна первого конденсатора ивходного окна второго конденсатора лежат в плоскости, проходящей 65 через середину зазора магнита,параллельную его полюсникам, и параллельны между собой, а обкладкиконденсаторов выпуклостью направленыв противоположные стороны, при этомсоотношение ширины коллимационной,щели В и радиусов кривизны обкладокконденсатора масс-анализатораиудовлетворяют неравенству 0,008 с(Э 4)Ра угол о,кривизйы обкладок конденсатора энер гоанализатора и угол о(г кривизныобкладок...
Призменный масс-спектрометр с фокусировкой по энергии
Номер патента: 1081705
Опубликовано: 23.03.1984
Авторы: Гликман, Дразнинас, Карецкая, Кельман, Сайченко
МПК: H01J 49/32
Метки: масс-спектрометр, призменный, фокусировкой, энергии
...ахроматизирующий элемент. Линейная дисперсия 0 д определяется формулойРв =Рч 1 - рр - )где 0 - угловая дисперсия магнитной призмы;-заднее фокусное расстояние фокусирующей линзы;Чи -углы падения и преломления пучка для преломляющей системы, расположенной после магнитной призмы;В случае двумерного магнитного поля 0 = 1 рК, где, - угол падения пучка на магнитную призму 2.Однако в известном устройстве не полностью используется возможность увелиличения дисперсии за счет ахроматизирующего элемента, так как полученный выигрыш дисперсии частично теряется при последующем прохождении пучка через фокусирующую линзу. Это существенно снижает удельную дисперсию прибора, а следовательно, его разрешающую способность и чувствительность, Кроме того,...
Масс-спектрометр
Номер патента: 1091257
Опубликовано: 07.05.1984
Авторы: Карецкая, Кельман, Сайченко
МПК: H01J 49/32
Метки: масс-спектрометр
...элементработает в режиме ионного зеркала,Величина угла падения пучка на зеркаО оло лежит в интервале 20-45 . Отношение ширины пластин, образующих электроды зеркала, к расстоянию междуними для крайних электродов равнопримерно 3, для средних лежит в интервале от 1 до 6. Отношение длиныпластин к расстоянию между ними зависит от угла падения ионного пучка илежит в интервале от 10 (для меньшегоугла) до 20 (для большего угла),Удельная дисперсия по энергии у такого зеркала В Несколько раз больше дисдисперсии секторного магнита, поэтому при взаимной компенсации этих дисперсий электростатический элемент может быть сделан значительно меньшемагнита и,следовательно, уменьшеныОбщие размеры масс-спектрометра и повьштена его удельная...
Призменный магнитный масс-спектрометр
Номер патента: 723980
Опубликовано: 07.06.1984
Авторы: Кельман, Павличкова
МПК: H01J 49/32
Метки: магнитный, масс-спектрометр, призменный
...образованного вращением трапеции вокруг оси, параллельной ее основаниям и проходящей через точку (в дальнейшем именуемую центральной) 10 пересечения продолжений ее боковых сторон, с двумя плоскостями, проходящими через ось вращения под небольшим углом друг к другу, в кольце, двумя плоскостями, проходящими через ось вращения, вырезан клиновидный участок, освобождающий место для межполюсного зазора. Таким образом, межполюсной зазор приобретает клиновидную форму, а поверхности полюсов-форму трапеций. Высота этих трапеций должна быть достаточно большой по сравнению с расстоянием между полюса ми для того, чтобы параллельные оси вращения края полюсов были удалены 25 от зоны прохождения ионного пучка на расстояние не менее, чем в 4 раза...
Энерго-массанализатор
Номер патента: 1265890
Опубликовано: 23.10.1986
Авторы: Голиков, Косячков, Черепин
МПК: H01J 49/32, H01J 49/44
Метки: энерго-массанализатор
...поверхностью ионы или электроны проходят через систему 5 коллимирующих и замедляющих электродов, ограничивающих угол отбора частиц, определяя тем самым угловое разрешение анализа, и через входную щель 7 внутреннего электрода 6 попадают в энерго анализатор. В последнем частицыподвергаются анализу по энергии в поле соответствующей конфигурации, образованном внутренним электродом 6 и двумя симметричными электрически 40 разъединенными частями 9 и 10 внешнего электрода. Выходящие через выходную щель 8 внутреннего электрода 6 энергоанализатора частицы проходят через входную щель 13, прорезан; 45 ную во внутренней пластине 11 плос" кого конденсатора. При анализе электронов разность потенциалов на плас" тинах 11 и 12 плоского...
Устройство для измерения угловых зависимостей вторичной ионной эмиссии
Номер патента: 1465923
Опубликовано: 15.03.1989
Авторы: Гамаюнова, Коваль, Коппе, Соболев
МПК: H01J 49/32
Метки: вторичной, зависимостей, ионной, угловых, эмиссии
...и материалов. При этомдве пары нлоскопараллельных пластинобеспечивают изменение траекториипучка первичных ионов таким образом,чтобы угол падения пучка первичныхионов на мишень сохранялся неизменным при вращении мишени во всеминтервале изменения полярного угла,необходимого для получения достоверных результатоа,Обеспечение неизменного угла падения пучка первичных ионов на мишень ва всем интервале изменения угла регистрации вторичных ионов требует поворота лучка первичных ионовна угол 1, равный углу поворота мишени, путем изменения величины потенциалов подаваемых на плоскопарал1465923 лельные пластины. Связь между углом поворота, геометрическими размерами пластин, их расположением и величиной напряжения на каждой из пластин5можно...
Масс-спектрометр
Номер патента: 1600645
Опубликовано: 15.10.1990
МПК: H01J 49/32
Метки: масс-спектрометр
...в вертикальной плоскости (Фиг. 3 и 7), достигается при помощи шелевой линзы 22.На входе спектрометра перед входной шелью 3 установлены с одной стороны собирательная электростатическая линза 27, которая делает возмож в . ным управляемое послеускорение, а после нее - первый шестиполюсник 18. Линза 28 в вертикальном сечении пучка частиц служит для сужения потока частиц в точке, расположенной перед электростатическим сектором 4, Первый шестиполвсник 18 отцентрирован на уровне этого сужения.Шестиполюсник 18 установлен для компенсирования аберраций отверстий второго порядка, создаваемых электрЬ- статическим сектором 4 для траекторий, расположенных в радиальной плоскости. Прежде всего, он не оказывает никакого влияния на траектории,...
Масс-спектрометр с фокусировкой по энергии
Номер патента: 1438522
Опубликовано: 30.04.1992
Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман
МПК: H01J 49/32
Метки: масс-спектрометр, фокусировкой, энергии
...4-6,Каждый электрод зеркала представляет.собой две идентичные, параллельныедруг другу пластинь 1, расположенные 25симметрично относительно средней плоскости,обращенные друг к другу боковыеповерхности пластин соседних электродов имеют цилиндрическую форму. Главная оптическая ось масс-спектрометра 30в поле зеркала обращена выпуклостьюк оси О этих поверхностей. В массспектрометре нд фиг. 2 выходная щельисточника .ионов 1 расположена вглавной фокальной плоскости зеркалас электродами 4-6. В масс-спектрометре, изображенном на фиг. 3, выходнаящель источника ионов 1 расположенав главной Фокальной плоскости первого по ходу пучка зеркала с электродами 4"6. Входная щель приемника 2ионов расположена в главной фокальной плоскости второго...