Хорошкеев — Автор (original) (raw)

Хорошкеев

Интерферометр для контроля цилиндрических поверхностей

Номер патента: 1359663

Опубликовано: 15.12.1987

Метки: интерферометр, поверхностей, цилиндрических

...цилиндрическую линзу 10, регистратор 11 интерференционной картины. 25Интерферометр работает следующим образом.Пучок лучей от монохроматического источника 1 света проходит через поляроид 2, регулирующий интенсивность пучка света. С помощью цилиндрической телескопической системы 3 сечение пучка света преобразуется в продолговатое, Далее нучок лучей преломляется зеркалом 4 и с помощью цилиндри 2ческой линзы 5 собирается в плоскости щелевой диафрагмы 6. Цилиндрический объектив 7 формирует параллельный пучок, который светоделителем 8 преломляется к второму цилиндрическому объективу 9, формирующему предметную светящуюся линию. За вторым цилиндрическим объективом 9 располочжена концентрическая цилиндрическая линза 10 выпуклой...

Устройство для контроля качества телескопических оптических систем

Номер патента: 1293486

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Бубис, Канатов, Любарский, Соболева, Хорошкеев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G01M 11/00 ...

Метки: качества, оптических, систем, телескопических

...1 света и интерференционный блок 2 - интерферометр типа Физо. Выходящий из интерференционного блока 2 параллельный пучок лучей расширяется контролируемой системой и часть этого пучка падает на контрольное зеркало 3, диаметр которого может быть существенно меньше диаметра зеркала 7 контролируемой системы.Отраженный от зеркала 3 пучок лучей возвращается контролируемой системой и интерферирует с пучком, отраженным от эталоннои поверхности пластиныинтерферометра типа Физо, Соответс 1вующей настройкой схемы добиваютсяпоявления в поле зрения интерферен 5 ционной картины. В данном случае,в поле зрения интерферометра будетвидна интерференционная картина волнового фронта, проходящего черезверхнюю краевую часть контролируемойсистемы. Затем...

Интерферометр для контроля цилиндрических поверхностей

Номер патента: 1226041

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Бубис, Канатов, Кузинков, Хорошкеев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, поверхностей, цилиндрических

...преоб 11 узуется цилиндрической линзой 7.Коаксиальный цилиндрический мениск8, ось цилиндрических поверхностейЪкоторого совпадает с задней фокальной Яинией цилиндрической линзы 7,разделяет падающий на его волновойфронт на рабочий (прошедший черезнего) и опорный (отраженный от вогнутой поверхности мениска и образующий волновой Фронт сравнения), Рабочий волновой фронт собирается в1фокальную линию О, с которой Совмещается фокальная линия контролируемой цилиндрической поверхности 10,отражается от контролируемой поверхности, идет в обратном направлениии интерферицует с опорным, Интерференционную картину, несущую информацию об ошибках, контролируемой цилиндрической поверхности, наблюдают телескопической трубкой 9. 15 20 25 30 35 40 45 50 55...

Интерферометр для контроля вогнутых эллипсоидов вращения

Номер патента: 1084597

Опубликовано: 07.04.1984

Авторы: Бубис, Кузнецов, Плошкин, Хорошкеев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, эллипсоидов

...что интерферометр для контроля вогнутых эллипсоидов вращения, содержащий монохроматический источник света, оптическую систему, формирующую точечное изображение источника света, и светоделитель, делящий световой пучок на две ветви, зеркало с эталонной поверхностью, установленное в одной ветви, и наблюдательную систему, снабжен последовательно расположенными за оптической системой диафрагмой, установленной в плоскости точечного изображения источника света,и выпуклым сферическим зеркалом с центральным отверстием, сферическое зеркало установлено так, что центр его кривизны и диафрагма находятся с одной стороны. относительно выпуклой поверхности этого зеркала.На чертеже изображена принципиальная схема интерферометра для контроля вогнутых...

323645

Номер патента: 323645

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Голубовский, Хорошкеев

МПК: G01B 9/02

Метки: 323645

...которыйпроходит пластину 4 и направляется на неподЗ 0 вижный отражатель 6, отражается от него и5 10 15 направляется вновь на пластину 4 где разделяется на два пучка, которые направляются на фотоприемники 14, 15. Пучок лучей, отракснный от гластины 4 проходит через систему зеркал, представляющую воздушную призму и состоящую из зеркального блока 8 и зеркала 9, отражается от подвжного отражателя 12 и снова проходит систему зеркал 8 и 9.При перемещении отражателя 12 вдоль оптической оси (в направлении оси У) происхо,дит смещс;шс пнтерференционных полос, которые рсгпстрируотся фотоприемниками 14 и Ы Наличие двух фотоприемников, получающих засветку от участков интерференционной картины, сдвинутых по фазе на 114 периода, позволяет...