Пенина — Автор (original) (raw)

Пенина

Способ определения кристаллографических направлений 110 в полупроводниковых материалах типа а в

Номер патента: 1755335

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Возмилова, Пенина

Метки: кристаллографических, материалах, направлений, полупроводниковых, типа

...Корректор И, Шулла Заказ 2897Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород. ул, Гагарина, 101 водниковых материалах, включающему механическое воздействие на поверхность полупроводникового материала пирамидой Виккерса с последующим анализом образовавшихся в результате воздействия фигур, механическое воздействие осуществляют в трех точках, выбранных из условия получе-. ния неперекрывающихся фигур, с нагрузкой 30-100 г, причем диагональ пирамиды Виккерса располагают в направлении 100, подсчитывают число трещин в двух взаимно перпендикулярййх направлениях от углов полученных отпечатков, и направление...

Калибровочный образец для эпр-спектроскопии

Номер патента: 1603266

Опубликовано: 30.10.1990

Авторы: Баранов, Ильгасова, Лесков, Любченко, Папков, Пенина, Прохоров, Стельмах, Стригуцкий

МПК: G01N 24/10

Метки: калибровочный, образец, эпр-спектроскопии

...характерспектров ЭПР, обуславливает появление узких и симметричных линий, слабо насыщающихся СВЧ-мощностью. Этиобстоятельства существенно повышаютэксплуатационные воэможности предлагаемого калибровочного образца иобеспечивают возможность калибровкиразвертки постоянного магнитного пои определения чувствительности радиспектрометров ЭПР и концентрации ПМЦпри высоких уровнях СВЧ-мощности.В предлагаемом калибровочном образрадикал становится элементом мелкойструктурной единицы матрицы и стабилен в этой единице как по времени,так и стойкости к внешним воздействиям.Важно и то, как показали исследования насыщенных углеводородов на свременных радиоспектрометрах ЭЛР спользованием накопительной техники,что собственный парамагнетизм в...

Способ калибровки спектрометра эпр

Номер патента: 1578610

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Мытько, Папков, Пенина, Стельмах, Цвирко

МПК: G01N 24/10

Метки: калибровки, спектрометра, эпр

...резонатором, образующимединый узел с генератором, детектором 25СВЧ и наконечниками магнита и имеетрабочую частоту в пределах трехсантиметрового диапазонаДержатель с калибровочным учебнымобразцом располагают в измерительномрезонаторе, Посредством вращения держателя относительно корпуса резонатора предварительно устанавливают линию ЭПР иона Сг+, соответствующую .спектральному переходу (1/2, -1/2),в пределах интервала между третьейи четвертой линиями .спектра ЭПР1 и в МяО, Для контроля установкииспользуют осциллографический индикатор спектрометра. От линий иных спект 40ральных переходов линию (1/2,-1/2)отличают по характерной зависимостие амплитуды от угла вращения (фиг4),Окончательно положение образца, требуемое для...