Утенкова — Автор (original) (raw)
Утенкова
Держатель образца рентгеновского гониометра
Номер патента: 1833808
Опубликовано: 15.08.1993
Авторы: Горбачева, Едигарова, Жигалова, Парилов, Сидохин, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: гониометра, держатель, образца, рентгеновского
...скобы - вставки в середине соосно выполнены клиновидные прорези 9. На верхней плоскости верхней полки и на нижней плоскости нижней полки-образной скобы расположены прижимы 1 С, На одной иэ полок -образной скобы-вставки смонтировано средство натяжения 11.Работа с держателем образца рентгеновского гониометра осуществляется следующим образом,Держатель образца рентгеновского гониометра устанавливается в посадочное место гониометра и.крепится в ней известным способом. Для установки в держатель образца 12 в виде тонкой проволоки необходимо освободить съемную вставку 7, оттянув подпружиненный прижим 6, Образец 12 устанавливают в соосно выполненных клиновидных прорезях 9, прижимают его прижимом 10, Натяжение образца осуществляют с помощью...
Способ изготовления блока монохроматора рентгеновской трубки
Номер патента: 1800502
Опубликовано: 07.03.1993
Авторы: Баженова, Байдюк, Горбачева, Дрон, Минина, Сидохин, Утенкова
МПК: G21K 1/06, H01J 35/18, H01L 21/64 ...
Метки: блока, монохроматора, рентгеновской, трубки
...рентгеновской трубки в изложницу 2, выполненную в виде цилиндра 2 со сьемным дном 4, где осуществляется ее ориентирование посредством наклонной под заданным углом грани 5 на выступе 6 в стенке цилиндра и фиксация в этом положении посредством наполнителя 7. При этом рабочая плоскость 8 монохроматора 1 защищается от повреждений благодаря плотному контакту грани 5 с выступом 6, Внешние контуры блока монохроматора совпадают с контурами окна трубки и поэтому он легко монтируется в окне,Пример реализации способа.Производим изготовление блока монохроматора для рентгеновской трубки типа БСВс размерами фокусного пятна 1 10 2 мм, диаметром отверстия окна трубки 18 мм и материалом мишени анода Си, Ре и,Сг. Длинам волн рентгеновского иэлуче ния...
Держатель образца рентгеновского гониометра
Номер патента: 1770866
Опубликовано: 23.10.1992
Авторы: Горбачева, Едигарова, Жигалова, Сидохин, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: гониометра, держатель, образца, рентгеновского
...образной скобе на головке, и снабжена на торцах ее полок в середине соосными вырезами в виде призмы, при этом на одной из полок вставки выполнены сбоку щечки, охватывакйцие соответствующую полку скобы нз головке, а вставка подпружинена посредством прижима к скобе на головке,Нз фиг,1 схематически показан вид держателя; на фиг.2 - разрез А - А нз фиг.1 (расположение образца держателя сбоку); на фиг.3- разрез Б-Б на фиг.2 (вид на образец сверху).Держатель образца рентгеновского гониометра содержит основание 1, установленную на нем головку 2, выполненную в виде платформы с жестко закрепленной на ней -образной скобой 3. На торцах полок 4 -образной скобы 3 нз головке выполнена базовая плоскость 5. Держатель образца снабжен подпружиненным...
Способ определения содержания в глиноземе альфа-оксида алюминия
Номер патента: 1749797
Опубликовано: 23.07.1992
Авторы: Гашков, Горбачева, Егошин, Малеева, Сидохин, Сорокин, Тимофеева, Утенкова, Шмуилов
МПК: G01N 23/20
Метки: альфа-оксида, алюминия, глиноземе, содержания
...образом, в интегральной интенсив ности указанного участка спектра содержится информация о количественном составе всех фаз оксида алюминия, содержащихся в глиноземе. В то же время близость взаимного расположения линий 15 исКлючает возможность выделения интегральных интенсивностей каждой в отдельности. Такая возможность существует только для участка линии альфа-фазы с межплоскостным расстоянием 1,37 нм от максимума до фона в сторону больших 20 брэгговских углов.Принимая отношение интегральной интенсивности этого участка линии 1,37 нм к полной интегральной интенсивности всего указанногоучастка спектра за показатель 25 относительного содержания в глиноземеальфа-фазы, можно построить градуировочйую зависимость этого отношения от...
Способ контроля качества электролитического покрытия
Номер патента: 1684628
Опубликовано: 15.10.1991
Авторы: Сидохин, Утенкова
МПК: G01N 17/00
Метки: качества, покрытия, электролитического
...углах, соответствующих наибольшему пути излучения в покрытии. Наиболее походящим для этого является излучение Ка Ге, которое однако вызывает сильную флуоресценцию хрома и сильный фон, мешающий надежно выявлять малые количества контролируемой фазы. Решение задачи достигается тем, что излучение, рассеянное обьектом, направляется на кристалл-монохроматор, который полностью убирает из спектра Кф линию и флуоресцентный фон. Наличие лионии с б = 2,215 А свидетельствует о присутствии фазы Н 2 е покрытии и его неудовлетворительном качестве для целей эксплуатации. Целесообразна дополнио тельная проверка по линии с б = 1,252 А которая выгодно расположена для ее надежного выявления, но имеет недостаточную интенсивность и поэтому чувствительность...
Рентгенодифрактометрическое устройство для контроля кольцевых изделий
Номер патента: 1681210
Опубликовано: 30.09.1991
Авторы: Егорова, Колосов, Лашманов, Минина, Стрельцов, Утенкова, Хабарин, Швидак, Шихторин, Щербединский
МПК: G01N 23/20
Метки: кольцевых, рентгенодифрактометрическое
...в свою очередь, надето,г.ТО/:, ф г .СИР/.11ЭЛо,.Ь / а ДИСКЕ 28, г.Я торцовой , Верхнос;и диска 28 установя(8,:. Оголи(,)2 г(еХкоордиРтного переМеЦВНИЯ (ИЛИ ЛИЕЙНОГС П 81 ЭВМЭ;ЦЕНИЯ, 3 НЯ Нем ЖЕСТКО 331;ОС 1)ЛВН КОЖУХ 4 РЕНТГВНО вской троки,".,(ежду кареткой 7 и подвешенной на 88 Оси Я платфсрмОЙ 119 уСТЯНОЕЛ 8/10 ) СТрОЙС ГЕЭ).), Наг,рИМЕр, ТИПЯ В 1411 т гайкэ, об(зсг)ечивающее изменение угЛа На Кг(ОНЯ П(Л а ( фор 4(.1 1 У, Е 8118 СТ 8 С НЕЙ ОСИ еал(.ка 22 по оноше 11 и о .; Оси шпинделя 9,уг ИС;, т;,: Рг;(;. 3 ,01 КОН(че КОЙ( Г 10 ВЕРХНОСтл;лЗДЕЛИЯ ;.,;,З 0(1,:г: Яг (%то/(к",г, ВгОРГ(( б.)азгвав1 ееся;гтвеОс)ие изделия 1; со зставленН Ь 14 ЕО Ь Н ,"Т ) Ь Н 8 Г О ") Д 1 И (4 И 3М Е Н Н Ы", КОЛЕЦ12 и надевают 8 ГО на еал 1 НЯ конЦ 8...
Установка для рентгенографического исследования текстуры
Номер патента: 1679317
Опубликовано: 23.09.1991
Авторы: Синани, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: исследования, рентгенографического, текстуры
...образца 6, Внутри обоймы 5 установлен объемный диск 9, на котором смонтирован блок 10, обеспечивающий закрепление и вращение образца 6 во время съемки. Внутри блока 10 на стороне 11 съемного диска 9, противоположной рабочей плоскости 12, закреплена стойка 13, несущая валик 14, Нэ валик 14 надет барабан 15, который частично заходит вовнутрьвыполненной в сьемном диске 9 прорези 16, Барабан 15 может приводиться во вращение индивидуальным электроприводом (не показан) или может быть снабжен лопастями 17, на которые воздействует поток воздуха от компрессора не показан).Установка работает следующим образом. На наружную поверхность барабана 15наклеивают контролируемый ленточныйобразец, Барабан 15 надевают на валик 14и устанавливают вместе с...
Способ контроля степени восстановления молибденового концентрата
Номер патента: 1679312
Опубликовано: 23.09.1991
Авторы: Бабенко, Вайсман, Минина, Пельтек, Сова, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: восстановления, концентрата, молибденового, степени
...В процессе обжига молибденосодержащего концентрата молибден из окисла Мо 20 з переходит в карбид благодаря присутствию кокса в шихте,В результате непрерывно увеличивается содержание МорС и интенсивность его регистрируемого рефлекса. В то же время уменьшается содержание графита в смеси и интенсивность его рефлекса, Следовательно, нормированная интенсивность 1 мо 2 с1 испытывает, будучи отношением возрастающей величины к уменьшающейся, более сильное изменение, чем 1 мо 2 с, при изменении степени восстановления концентрата. Поэтому способ благодаря указанному дополнению имеет более высокую чувствительность и точность, особенно на более поздних стадиях процесса восстановления, что обнаружено при экспериментальной проверке,Определяют...
Способ контроля коррозионной стойкости сварных швов нержавеющих сталей
Номер патента: 1636746
Опубликовано: 23.03.1991
Авторы: Бабенко, Захаров, Лазебнов, Минина, Райцес, Утенкова, Ценципер
МПК: G01N 23/20
Метки: коррозионной, нержавеющих, сварных, сталей, стойкости, швов
...значениями (1 Й 1) чувствительны к микро- напряжениям в кристаллической решетке. Интегральную интенсивность линии 15 (110) о -феррита нормируют на интенсивность линии (200) аустенита и устанавливают корреляционную зависимость нормированнойинтенсивности линии110) о-феррита от содержания 20-феррита, определенного магнитным или другим методами, и коррозионной стойкости. 1(оррозионную стойкость. эталонов определяют кипячением их в агрессивной среде в течение опреде ленного времени с последующим измерением потери массы за время испытания. После установления корреляционной зависимости определяют коррозионную стойкость сварных швов нержавеющих сталей. Дпя этого ренгенографируют контролируемый участок сварного шва, измеряют интегральные...
Приставка для рентгеновского дифрактометра
Номер патента: 1627944
Опубликовано: 15.02.1991
Авторы: Сидохин, Утенкова, Щербединский
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометра, приставка, рентгеновского
...винтом 17, В вертикальной полке упора 15 выполнено сквозное резьбовое отверстие, в котором устанавливается либо подпружиненный прижим, либо винт 18. Фигурный вьреэ 19 в верхней части вертикальной полки необходим для расширения угловогодиапазона рентгеносьемки, Устройство снабжено сьемной вставкой 20 с фигурным вырезом, аналогичным по назначению и выполнению фигурному вырезу 19. В корпусе 6 смонтированы подпружиненный прижим 15 20 25 30 35 40 45 50 55 21, опорная поверхность 22 которого имеет форму призмы, и фиксатор 23.Приставка работает следующим образом,С помощью винтов 3 приставку закрепляют фланцем 2 на валу гониометра, Посредством винта 7 юстируют базовую плоскость 12 приставки, совмещая ее с гониометрической осью 14....
Рентгеновская камера
Номер патента: 1617345
Опубликовано: 30.12.1990
Авторы: Минина, Овсянников, Парилов, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: камера, рентгеновская
...камерой (фиг,3,4)работают следующим образом,Камеру ставят ца оперативныйстол рентгеновского аппарата так,чтобы оси 17 подшипников 15 вилки 14располагались горизонтально или вертикально в зависимости от того, ввертикальной или горизонтальной плоскости соответственно выходит коллимированный луч из окна кожуха рентге16173 10 ников.Работа подставки опробована при 35 исследовании легированной стали при съемке на аппарате УРС,0 с рентгеновской трубкой БСВСг со встроенным монохроматором из пирогафита в рентгеновской камере РКУи ДСК.40 Формула изобретения 1. Рентгеновская камера, включающая корпус с держателем образца и коллиматором и подставку, содержащую основание, столик, выполненный с возможностью возвратно-поступательного...
Способ юстировки рентгеновского дифрактометра
Номер патента: 1608527
Опубликовано: 23.11.1990
Авторы: Егоров, Минина, Парилов, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометра, рентгеновского, юстировки
...отраженного пучка при рр, вновьфиксируя угловое положение а 2 находятпоправочное значение углаа 2 а 1 - 180д -2. Поворачивают держатель в обратную сторону на угол д и 10 152025303540 ГУРснабженным позиционно-чувстви тельным детектором (ПЧД) типа РКД-02, На дифрактометре установлена рентгеновская трубка БСВс железным анодом со штриховой проекцией фокусного пятна, расположенной параллельно оси гониометра (т,е вертикально). В качестве зеркала полного внешнего отражения используют стеклянную полированную плоскопараллельную пластину К(размером 60 х 60 х 20 мм) из комплекта оптического гониометра - секундометра ГС, поскольку стекло имеет резкий край границы ПВО и уЪр около 17 - 20 угл. мин.Следовательно, проекция плоскости пластины Кпри...
Рентгенодифрактометрическое устройство
Номер патента: 1594393
Опубликовано: 23.09.1990
Авторы: Баженова, Байдюк, Минина, Парилов, Петров, Пилюгин, Утенкова, Щербединский, Щукин
МПК: G01N 23/20
Метки: рентгенодифрактометрическое
...окна ПЧД 28. Устанавливаютв гнездо 29 коллиматор 30 и перемещением каретки 16 освещают .ось коллиматора 30 с направлением дифрагированного луча. Затем с помощью средствюстировки производят юстировку щелевого устройства 25, выводя его щелина первичный пучок, выделяемый щелевым коллиматором 30,Формула изобретения Рентгенодифрактометрическое устройство, содержащее корпус с предметным столом и размещенной на нем повоторной платформой, на внешней стороне которой выполнена базовая плоскость с отверстием в центре, рентгеновскую трубку с окном, размещенную в кожухе, источник питания рентгеновской трубки, щелевое устройство, детектор рентгеновского излучения, средства поворота рентгеновской трубки и детектора вокруг оси, лежащей в базовой...
Установка для рентгенографического исследования текстуры
Номер патента: 1594392
Опубликовано: 23.09.1990
Авторы: Жукас, Минина, Рагульскис, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: исследования, рентгенографического, текстуры
...образец 6 с помощью пластилина. Кольцо 12 вставляют в гнездо 18, где оно фиксируется подпружиненным шариком (не показан). Упор 20 в виде двуплечего рачага устанавливают в зависимости от рода работы либо с опорой на кулачковую поверхность 19, либо на цилиндрическую поверхность втулки 11. После этого дополнительный держатель закрепляют всей внешней обоймой 9 в основном держателе 5 и включают генератор 17, который запускает электропривод 13. Последний вызывает вращение втулки 11, а вместе с ней кольца 12 и закрепленного в нем образца, 6. Если по роду работы достаточно,только вращения образца 6 вокругоси 8, перпендикулярной плоскостиобразца,. то упор 20 устанавливают впозицию, в которой он удерживаетвтулку 11 от колебания вокруг...
Рентгеновский дифрактометр
Номер патента: 1583808
Опубликовано: 07.08.1990
Авторы: Агеев, Киселев, Рейзис, Сидохин, Утенкова
МПК: G01N 23/207
Метки: дифрактометр, рентгеновский
...11 монтируется съемным образом на установочнойплощадке 14 с возможностью его вывода в створ одного из каналов коллимирующей системы 7, в створе другогоканала которой находится ось поворота держателя 9 гониометра 8. Ось 5поворота рентгеновского излучателя1 и оси позорта.держателей 9 и 12параллелЬны друг другу, Позициями 15и 1 б на чертеже обозначены соответственно монохроматизированный и прямой полихроматический первичные пучкирентгеновского излучения.Рентгеновский дибрактометр работает следующим образом,Рентгеновская трубка 2 с встроенным в ее выходное окно 3 монохроматором 4 Формирует два расходящихсядруг от друга первичных пучка, один15 из которых монохроматизированный,а другой 16 - полихроматический. Мо-,нохроматизированный...
Приставка к рентгендифрактометру
Номер патента: 1571485
Опубликовано: 15.06.1990
Авторы: Минина, Прохорова, Румак, Сакун, Сапожников, Тишкевич, Утенкова, Щербединский
МПК: G01N 23/20
Метки: приставка, рентгендифрактометру
...осуществляют сканирование путем возвратно-поступательного перемещения корпуса 1 по направляющим 9, а при исследовании образцов типа проволок сканирование осуществляют с помощью электропривода 11 возвратными пово 35 ротами корпуса 1 относительно основания 15.Предлагаемая приставка обладает расширением методическими возможностями и, как следствие, большим удобством и производительностью в работе. Так, например, для выведения плоскости образца на ось гониометра перемещения корпуса 1 приставки удобно осуществлять с помощью привода 11, а с помощью привода 12.удобно производить не только вращательные, но и колебательные движения корпуса 1 вокруг вертикальной оси, что необходимо при исследовании проволочных образцов. Широкие возможности для...
Способ рентгенографического определения напряжений
Номер патента: 1520410
Опубликовано: 07.11.1989
Авторы: Горбачева, Дударев, Сидохин, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: напряжений, рентгенографического
...стального кольцевого оЬразца, Измерения производилина внутренней и внешней цилиндричес"ких поверхностях и на торце в КСгизлучении на дифрактометре ДРОН-УИ 1,"1 Т"Е В щв е ее аеатеаВ Е а (до выполнения эталонной зоны) 2,8766 2,8799 2,8796 2,87 Я а (после выполненияэталонной зоны уточки М ) 2,8766 2,8781 28773 2)8769 а (на торце околоМ,иИ) 2,8773Д кг/мм 2 -71 +27д 6 кг/мм 2 -60 Ь 6 кг/мм 2 28771 +7 +12 +17 снимая дифракционные кривые отражения (211) с углом дифракции 26 - 15 Представленные результаты свидетельствуют о том, что в точке М, после выполнения вырезов напряжения полностью снимаются, и полученные значения а=ао могут использоваться для нахождения напряжений в кольцевом образце до его разрезания.Для нахождения...
Устройство для рентгеновского фазового анализа
Номер патента: 1516916
Опубликовано: 23.10.1989
Авторы: Баженова, Байдюк, Петров, Сидохин, Утенкова, Щербединский, Щукин
МПК: G01N 23/20
Метки: анализа, рентгеновского, фазового
...40расположены на фокусирующей окруж"ности 8, а эталон 12, детектор 16 имнимый фокус Р на фокусирующейокружности 19, реализуют две симметричные схемы фокусировки по ЗеемануБолину. Устройство может содержатьтакже защитный корпус 20,Устройство для рентгеновского фазового анализа работает следующимобразом, 50Рентгеновское излучение из фокуса Р анрда 2 рентгеновской трубкимонохроматизируется мохроматором 4и в виде двух монохроматических пучков вьисодит через окна 6 и 7, падает .55на эталон 12 и образец 10, дифрагируется на них и направляется на позиционно-чувствительный детектор 16,сигналы которого обрабатываются блоком 47. Посредством приводов 15 и 4 эталон 12 и образец 10 можно настроить на другие углы дифракции.Использование двух...
Установка для рентгенографического исследования текстуры
Номер патента: 1497534
Опубликовано: 30.07.1989
Автор: Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: исследования, рентгенографического, текстуры
...с червяком на валу шагового двигателя 8, а на другом - шестерней 19, взаимодействующей с шестерней 20, закрепленной на промежуточном валу 21 привода сканирования нли на валу электродвигателя 5 (не показано). Вал 17 вместе с промежуточной шестерней 16 или независимо внутри нее по шлицам может совершать перемещение в осевом направлении под действием, например, электромагнита 22.Приставка работает следующим образом.При выполнении текстурных исследований посредством электромагнита 22 червячное колесо 18 вводится в зацепление с червяком на валу шагового двигателя 8.В тех случаях, когда возникает необходимость в проведении иных исследований, например фазовый анализ, определение микраискажений, исследование текстуры с помощью обратных...
Способ определения внутренних напряжений в объекте из поликристаллического материала
Номер патента: 1474462
Опубликовано: 23.04.1989
Авторы: Сидохин, Утенкова, Щербединский
МПК: G01B 15/06
Метки: внутренних, напряжений, объекте, поликристаллического
...точно опре 1делять внутренние напряжения в материале, так как систематические погрешности измерения параметров кристаллической решетки при этом взаимнокомпенсируются, а используемые длярасчета данные (кроме модуля упругости и коэффициента Пуассона) более25 точно отражают реальные свойства исследуемого материала.формула и з о б р е т е н и яСпособ определения внутреннихнапряжений в объекте из поликристаллического материала, заключающийсяв том, что исследуемый участок поверхности объекта облучают пучкомрентгеновских лучей, регистрируютдифракционную кривую, определяют35положение выбранного дифракционногомаксимума, а по нему - параметр решетки материала и по этим даннымопределяют сумму главных напряжений,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,...
Способ контроля степени восстановления молибденового концентрата
Номер патента: 1469402
Опубликовано: 30.03.1989
Авторы: Бабенко, Бражевский, Григорьев, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: восстановления, концентрата, молибденового, степени
...Основным технологическим критерием оценки качества металлизованного молибденосодержащего концентрата - легирующего материала является остаточное со 50 держание кислорода в продукте, т.е, степень его восстановления. Наличие повышенного содержания кисльрода в металлизованном молибденсодержащем концентрате (более 157) ограничивает сортамент сталей, выплавляемых с его применением.В промышленных условиях процесс восстановления молибденового концентрата организован в шахтных печах непрерь 1 вного действия с постепенным перемещением брикетированной шихты в зоне высоких температур . При повышенной скорости продвижения емкостей с брикетами но высоте муфеля имеют место значительные потери молибдена в виде возгонов оксидных соединений...
Рентгеновский дифрактометр
Номер патента: 1427263
Опубликовано: 30.09.1988
Авторы: Горбачева, Петьков, Поленур, Утенкова, Щербединский
МПК: G01N 23/207
Метки: дифрактометр, рентгеновский
...работает следующим образом,Перед дифрагированием в держателе 4 закрепляют образец 5. Второйдетектор 9 устанавливают в положениерегистрации выбранной дифракционнойлинии (Ый) образца для излучения схарактеристической длиной волны Аф,имеющегося в спектре источника 1,Первый детектор 8 устанавливают подуглом 2 цо.вблизи от второго детектора 9 или под углом, которому соответствует наибольшая интенсивностьднфрагированного образцом 5 полихроматического излучения. Калибровкутракта знергодисперсионного первогодетектора 8 производят с помощьюстандартного радиоактивного источника( Ре, йп), размещаемого перед щеЮГ хилевым коллиматором 11. После калибров"ки радиоактивный источник убирают ивключают источник 1 полихроматического излучения и другие...
Немагнитная сталь
Номер патента: 1420062
Опубликовано: 30.08.1988
Авторы: Алексеева, Барсегян, Блинов, Рахштадт, Утенкова
МПК: C22C 38/38
Метки: немагнитная, сталь
...ее резко снижается,чтоотрицательно сказывается на проведении операции холодной пластическойдеформации с большими степенями об"жатия, Суммарное содержание углерода и азота менее 0,45% не обеспечивает сохранение немагнитной структуры после сильной пластической деформации, при этом уровень деформационного упрочнения оказывается низким,Легцрование стали хромом в количестве менее 12% делает ее некоррозионностойкой, а концентрация хрома свыше 14% приводит к образованию послезакалки стали о -феррита. При содержании марганца ниже 16% аустенитне стабилен по отншнению к-ф с мартенситному превращению в процессепластической деформации, а увеличение концентрации марганца до 19% ивыше приводит к повьппению энергиидефектов упаковки и,...
Установочное устройство для длинномерного изделия, контролируемого рентгенодифракционным методом
Номер патента: 1368745
Опубликовано: 23.01.1988
Авторы: Бабенко, Киричевская, Миневич, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: длинномерного, изделия, контролируемого, методом, рентгенодифракционным, установочное
...относится к рентгеноструктурному контролю изделий,Цель изобретения - повышение производительности контроля длинномерных изделий с поверхностями постоянной или переменной кривизны.На Фиг.1 показано установочноеустройство, общий вид; на фиг.2конструкция упора; на фиг.3 - одиниз типов контролируемых длинномерныхизделий, общий вид.Установочное усройство содержитоснование 1 с юстировочными винтами2 на его нижней части. платформу 3плавающего типа, на которой закреплено контролируемое изделие 4, поджимаемое к жестко связанному с основанием 1 упору 5 посредством упругого прижима, состоящего из корпуса 6,толкателя 7 и пружины 8. На противоположном стороне закрепления изделия4 конце платформы 3 имеется направляющий палец 9, заходящий в...
Камера для прицельной съемки рентгенограмм
Номер патента: 1368744
Опубликовано: 23.01.1988
Авторы: Горбачева, Сифорова, Утенкова, Щербединский
МПК: G01N 23/20
Метки: камера, прицельной, рентгенограмм, съемки
...различным в зависимости от 44 2рабочей температуры ванны и физических свойств расплава. Вместо ванны 16 при исследовании закалки твердых веществ монтируются зажим и сбрасыватель образцаРабота предлагаемой камеры может быть проиллюстрирована на примере исследования закалки капель галлия,Ванну 16 в этом случае заполняют галлием или его расплавами и поднимают температуру нагревателя 15 выше точки плавления металла, поддерживая ее на заданном уровне с помощью средств регулирования (типа ВРТ-З). Одновременно устанавливают в холодильнике рабочую температуру, либо заполняя его объем средой с подходящей температурой (например, жидким азотом), либо включив и отрегулировав работу батареи термоэлементов 12.После этого посредством сбрасывателя...
Рентгеновская камера -монохроматор
Номер патента: 1357810
Опубликовано: 07.12.1987
Авторы: Греков, Данильченко, Утенкова, Харитонов
МПК: G01N 23/20
Метки: камера, монохроматор, рентгеновская
...камера-монохроматорработает следующим образом.10 Первичный рентгеновский пучокг 1 роходит через ко;1 лиматор 2 и попадает на кристалл-монохроматор 8,установленный таким образом, чтобыго отражающая пл 11 скость находилась15 в отражаю 111 ем положении. При этомхарактеристическое излучение отражается и первичный ренггеновский пучок делится на два пучка - прошедший первичный и отраженный монохроматичес 20 кий. Прошедший первичный пучок непосредственнс эа кристаллом-монохроматором 8 перехватьпается ловушкой ипоглощается экране м 1 О, а отраженныймонохроматвческий пучок распростра няется под углом 2 8 к оси коллиматорд 2, где В - брэгговский угол отражающей плоскости кристалла-монохроматорд, выходит в отверстие корпуса 9,.попадает на...
Установка для рентгенографического исследования текстуры
Номер патента: 1317343
Опубликовано: 15.06.1987
Авторы: Румак, Сакун, Сапожников, Тишкевич, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: исследования, рентгенографического, текстуры
...Изобретение относится к рентгеновской аппаратуре и может быть использовано для дифрактометрического исследования текстуры поликристаллических материалов, металлов и сплавов методами построения полюсных фигур или сбора данных для расчета функций распределения ориентировок кристаллитов,Цель изобретения - расширение функциональных возможностей установки эа счет увеличения диапазона скоростей вращения образца.Поставленная цель достигается тем, что изменена конструкция держателя образца, к которой присоединен дополнительный двигатель, позволяющий независимо от работы других частей .установки обеспечивать широкий диапазон скоростей вращения образца. Стабильность результатов при получе,нии прямых полюсных фигур по сравнению с...
Приставка к рентгеновскому дифрактометру для исследования монокристаллов
Номер патента: 1317341
Опубликовано: 15.06.1987
Авторы: Кулиш, Мельникова, Мироненко, Петренко, Порошин, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: дифрактометру, исследования, монокристаллов, приставка, рентгеновскому
...и механизма 11 радиального перемещения образец 1 юстируют для выведения плоскости среза и плоскостиотражения в соответствии с выбраннойметодикой исследования. Рентгеновскиелучи падают на образецчерез полуснерическую крынку 5 иэ бериллия, чтопозволяет ориентировать образецпод любым углом без изменения степени поглощения рентгеновских лучейкрышкой 5. Откачка воздуха или напус Окание любой газовой среды в замкнутый объем приставки осуществляютсячерез отверстие 7. Вакуум необходимдля уменьшения теплообмена между образцом 1 и окружающей средой, улучшения э 4 ективности и экономичности работы холодильных средств, устраненияобмерзания образца 1 и рассеяния рентгеновских лучей на воздухе вблизи от образца 1. Пропусканием тока в одном или другом...
Способ термической обработки стальных изделий
Номер патента: 1306968
Опубликовано: 30.04.1987
Авторы: Замбржицкий, Кулемин, Мешалкин, Некрасова, Сидохин, Утенкова, Энтин
Метки: стальных, термической
...воздействию ультразвуковых колебаний (частота колебаний 19,5 кГц) при комнатной температуре с помощью резонансной волноводной системы, жестко соединенной 35 с образцом. Образцы имели резонансную длину 2=9/2 (9/2 - равна 130 мм половина длины волны звука при комнатной температуре). Воздействие производили при амплитудах деформации в пределах ,=1,5 10 - 2 10 . Результаты обработки приведены в табл, 2.Перед ультразвуковой обработкой для установления необходимой амплитуды ультразвуковой деформации произво дится определение доли мартенсита (х в об,7) металлографическим или магнитометрическим методами. Так, например, в стали 130 Х 6 после режима термической обработки по варианту 2 (табл, 2) содержится 407 мартенсита. о 100-хИ формулы...
Устройство для подготовки образца из легкоплавкого материала для рентгеноструктурных исследований
Номер патента: 1242784
Опубликовано: 07.07.1986
Авторы: Горбачева, Минин, Утенкова, Щербединский
МПК: G01N 23/20
Метки: исследований, легкоплавкого, образца, подготовки, рентгеноструктурных
...которого вызывают посредством затравки 9,подводимой с открытой стороны рамки 1.Выступ 3 имеет высоту, меньшую высоты рамки 1, Он может занимать частьширины рамки 1 или проходить по всейее ширине,Примером использования устройства может служить его применение приисследовании дислокаций, образуюшихся при кристаллизапии и пластическойдеформации монокристаллов галлия,имеющего низкую точку плавленияо(29,8 С) и низкие прочностные и упругие свойства (предел текучести около 10 г/ьм и модуль упругости 0,710 дн/см)Для изготовления монокристалловна нлоскую поверхность водяного термостата б устанавливают нижнюю крышку 5, выполненную из тонкой (0,020;05 мм) фторопластовой ленты, нанее помещают П-образную рамку 1 из 15 20 25 30 оргстекла толщиной 1 мм,...