Перечень выполняемых типовых работ на уникальной научной установке «Комплексный оптоэлектронный стенд»: (original) (raw)

Наименование услуги Единица измерения Время выполнения Цена за единицу (руб.)/час Примечание
Проведение экспериментов При проведении экспериментов необходимо присутствие экспертов НИУ ВШЭ-Санкт-Петербург по используемому методу
Эксперименты с использованием различных комбинаций систем исследование по запросу 5180,00 Эксперименты по исследованию фото- и электролюминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм в с высоким пространственным и спектральным разрешением в диапазоне температур 5-298 К.
Эксперименты по исследованию частотного отклика оптоэлектронных приборов и устройств исследование по запросу 5180,00 Исследование частотных характеристик оптоэлектронных приборов и устройств с использованием СВЧ-анализатора цепей до 43,5 ГГц.
Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов исследование по запросу 2600,00 Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов с использованием системы импульсной лазерной накачки с перестраиваемой длиной волны и переключаемой длительностью импульсов (спектральный диапазон возбуждения от 700 нм до 980 нм) или с использованием непрерывной накачки YLF:Nd лазером (мощность 100мВт) с помощью системы синхронного детектирования фотолюминесценции.
Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов в диапазоне температур 5-298 К. исследование по запросу 2600,00 Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов с использованием автоматизированной гелиевой криостанции замкнутого цикла с помощью системы синхронного детектирования фотолюминесценции.
Эксперименты по исследованию фотолюминесценции с временным разрешением в диапазоне температур 5-298 К.. исследование по запросу 5180,00 Эксперименты по исследованию кинетики фотолюминесценции с использованием системы дифференциального измерения кинетик в ИК диапазоне c оптическим стробированием флуоресценции в спектральном диапазоне от 720 нм до 1700 нм и автоматизированной гелиевой криостанции замкнутого цикла.
Исследование деградационных характеристик лазерных диодов (ВАХ, ВтАХ) при нормальных условиях исследование по запросу 14400,00 Цена за образец Исследование с использованием установки исследования деградационных характеристик оптоэлектронных приборов
Исследование деградационных характеристик лазерных диодов (ВАХ, ВтАХ) при условиях ускоренного старения исследование по запросу 14400,00 Цена за образец Исследование с использованием установки исследования деградационных характеристик оптоэлектронных приборов
Исследования и фотолюминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм в с высоким пространственным и спектральным разрешением. исследование по запросу 5180,00 Исследование с использованием установки для высокоточного пространственного и спектрального сканирования и визуализации нано- и микрообъектов
Исследования электро- и фотолюминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм в с высоким пространственным и спектральным разрешением. исследование по запросу 5180,00 Исследование с использованием установки для высокоточного пространственного и спектрального сканирования и визуализации нано- и микрообъектов и комплекса для исследования наноструктур при электрической импульсной накачке
Исследования фотолюминесценции в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм в с высоким пространственным и спектральным разрешением в диапазоне температур 5-298 К. исследование по запросу 5180,00 Исследование с использованием установки для высокоточного пространственного и спектрального сканирования и визуализации нано- и микрообъектов и автоматизированной гелиевой криостанции замкнутого цикла.
Исследования вольт- и ватт-амперных характеристик лазерных диодов в импульсном режиме. исследование по запросу 5180,00 Исследование с использованием установки для измерения вольт- и ватт-амперных характеристик лазерных диодов в импульсном режиме и анализатора оптического спектра.
Исследования электрического спектра и электрических сигналов приборов электроники и оптоэлектроники, в том числе исследование шумовых характеристик приборов. исследование по запросу 5180,00 Исследование с использованием анализатора спектра и сигналов FSW26
Исследования фотолюминесценции и комбинационного рассеяния в спектральном диапазоне от 340 нм до 1100 нм с высоким пространственным и спектральным разрешением исследование по запросу 5180,00 Исследование с использованием 3D сканирующиего лазерного рамановского спектрометра Confotec NR500
Исследования спектров возбуждения люминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 250 нм до 2200 нм с высоким пространственным и спектральным разрешением. исследование по запросу 5180,00 Исследование с использованием излучения перестраиваемого монохроматического источника TLS 3- X 500 A
Исследование нелинейно-оптических свойств сред и полупроводниковых наногетероструктур исследование по запросу 5180,00 Исследование с использованием излучения системы импульсной лазерной накачки с перестройкой длины волны