Exploration des techniques de fouille de données pour un monitoring efficace des systèmes intégrés sur puce (original) (raw)
La miniaturisation des technologies de semi-conducteurs a permis en quelques decennies de concevoir des systemes toujours plus complexes, comprenant aujourd'hui plusieurs milliards de transistors sur un meme substrat de silicium. Cette augmentation des densites d'integration fait face a une contrainte physique representee par la quantite de puissance consommee par unite de surface. A cela s'ajoutent egalement des problemes de fiabilite, en raison notamment des hot-spots, qui peuvent accelerer la degradation des transistors et reduire en consequence la duree de vie du composant. L'efficacite energetique des circuits devient un enjeu majeur, aussi bien dans le domaine de l'embarque que pour des applications de calcul haute performance. La prise en compte de ces contraintes necessite la mise en place de solutions nouvelles, s'appuyant notamment sur des techniques d'auto-adaptation. Celles-ci reposent generalement sur un processus boucle en trois phases: (i) ...
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