Scanning confocal electron microscopy (original) (raw)

About DBpedia

Scanning confocal electron microscopy (SCEM) is an electron microscopy technique analogous to scanning confocal optical microscopy (SCOM). In this technique, the studied sample is illuminated by a focussed electron beam, as in other scanning microscopy techniques, such as scanning transmission electron microscopy or scanning electron microscopy. However, in SCEM, the collection optics is arranged symmetrically to the illumination optics to gather only the electrons that pass the beam focus. This results in superior depth resolution of the imaging. The technique is relatively new and is being actively developed.

thumbnail

Property Value
dbo:abstract Scanning confocal electron microscopy (SCEM) is an electron microscopy technique analogous to scanning confocal optical microscopy (SCOM). In this technique, the studied sample is illuminated by a focussed electron beam, as in other scanning microscopy techniques, such as scanning transmission electron microscopy or scanning electron microscopy. However, in SCEM, the collection optics is arranged symmetrically to the illumination optics to gather only the electrons that pass the beam focus. This results in superior depth resolution of the imaging. The technique is relatively new and is being actively developed. (en) Um equipamento do tipo microscópio eletrônico confocal de varredura ou a técnica de microscopia eletrônica confocal de varredura (SCEM, do inglês scanning confocal electron microscopy) é uma técnica de microscopia eletrônica análoga à microscopia óptica confocal de varredura (SCOM, scanning confocal optical microscopy). Nesta técnica, a amostra estuda é iluminada por um feixe de elétrons focado, como em outras técnicas de microscopia de varredura, tais como microscopia eletrônica de varredura por transmissão ou microscopia eletrônica de varredura. Entretanto, em SCEM, a óptica de coleta é disposta simetricamente à óptica de iluminação para capturar apenas os elétrons que passam do foco do feixe. Isso resulta em uma resolução de profundidade superior da imagem. A técnica é relativamente nova e está sendo ativamente desenvolvida. (pt)
dbo:thumbnail wiki-commons:Special:FilePath/SCEM.jpg?width=300
dbo:wikiPageID 19408628 (xsd:integer)
dbo:wikiPageLength 6400 (xsd:nonNegativeInteger)
dbo:wikiPageRevisionID 1054213207 (xsd:integer)
dbo:wikiPageWikiLink dbr:Scanning_transmission_electron_microscopy dbr:Scanning_electron_microscope dbc:Electron_microscopy dbr:Spherical_aberration dbr:Confocal_laser_scanning_microscopy dbr:Confocal_microscopy dbr:Electron_microscopy dbr:Angular_resolution dbc:Scientific_techniques dbr:Transmission_electron_microscopy dbr:Scanning_electron_microscopy dbr:Nestor_J._Zaluzec dbr:File:SCEM.JPG
dbp:wikiPageUsesTemplate dbt:Div_col dbt:Div_col_end dbt:Reflist
dct:subject dbc:Electron_microscopy dbc:Scientific_techniques
gold:hypernym dbr:Technique
rdf:type dbo:TopicalConcept yago:WikicatScientificTechniques yago:Ability105616246 yago:Abstraction100002137 yago:Cognition100023271 yago:Know-how105616786 yago:Method105660268 yago:PsychologicalFeature100023100 yago:Technique105665146
rdfs:comment Scanning confocal electron microscopy (SCEM) is an electron microscopy technique analogous to scanning confocal optical microscopy (SCOM). In this technique, the studied sample is illuminated by a focussed electron beam, as in other scanning microscopy techniques, such as scanning transmission electron microscopy or scanning electron microscopy. However, in SCEM, the collection optics is arranged symmetrically to the illumination optics to gather only the electrons that pass the beam focus. This results in superior depth resolution of the imaging. The technique is relatively new and is being actively developed. (en) Um equipamento do tipo microscópio eletrônico confocal de varredura ou a técnica de microscopia eletrônica confocal de varredura (SCEM, do inglês scanning confocal electron microscopy) é uma técnica de microscopia eletrônica análoga à microscopia óptica confocal de varredura (SCOM, scanning confocal optical microscopy). Nesta técnica, a amostra estuda é iluminada por um feixe de elétrons focado, como em outras técnicas de microscopia de varredura, tais como microscopia eletrônica de varredura por transmissão ou microscopia eletrônica de varredura. Entretanto, em SCEM, a óptica de coleta é disposta simetricamente à óptica de iluminação para capturar apenas os elétrons que passam do foco do feixe. Isso resulta em uma resolução de profundidade superior da imagem. A técnica é relativamente nov (pt)
rdfs:label Scanning confocal electron microscopy (en) Microscópio eletrônico confocal de varredura (pt)
owl:sameAs freebase:Scanning confocal electron microscopy yago-res:Scanning confocal electron microscopy wikidata:Scanning confocal electron microscopy dbpedia-pt:Scanning confocal electron microscopy https://global.dbpedia.org/id/4uPN8
prov:wasDerivedFrom wikipedia-en:Scanning_confocal_electron_microscopy?oldid=1054213207&ns=0
foaf:depiction wiki-commons:Special:FilePath/SCEM.jpg
foaf:isPrimaryTopicOf wikipedia-en:Scanning_confocal_electron_microscopy
is dbo:wikiPageRedirects of dbr:Scanning_Confocal_Electron_Microscope dbr:Scanning_confocal_electron_microscope
is dbo:wikiPageWikiLink of dbr:Scanning_transmission_electron_microscopy dbr:Electron_microscope dbr:List_of_materials_analysis_methods dbr:4D_scanning_transmission_electron_microscopy dbr:High-resolution_transmission_electron_microscopy dbr:Transmission_electron_microscopy dbr:Scanning_Confocal_Electron_Microscope dbr:Scanning_confocal_electron_microscope
is foaf:primaryTopic of wikipedia-en:Scanning_confocal_electron_microscopy