High-resolution transmission electron microscopy (original) (raw)

About DBpedia

المجهر الإلكتروني النافذ عالي الدقة (High-resolution transmission electron microscopy) الذي يرمز له (HRTEM) عبارة عن مجهر إلكتروني نافذ له القدرة على إظهار صور للبنى البلورية للعينات على المستوى الذري. بسبب دقته العالية فإنه يعد من الأجهزة التي لا يستغنى عنها لدراسة خصائص المواد البلورية على مستوى النانو مثل شبه الموصلات والفلزات. حالياً، أعلى دقة يمكن الوصول إليها تبلغ 0.8 أنغستروم أي 0.08 نانومتر. تماثل هذه الأبعاد ما هو موجود على المستوى الذري بحيث يمكن تصوير العيوب البلورية والذرات بحد ذاتها. بما أن البنى البلورية ثلاثية الأبعاد لذلك فإنه من الضروري أخذ عدة صور من عدة زوايا للبلورة وتجميعها إلى خريطة ثلاثية الأبعاد. تسمى هذه التقنية علم البلورات الإلكتروني electron crystallography.

thumbnail

Property Value
dbo:abstract المجهر الإلكتروني النافذ عالي الدقة (High-resolution transmission electron microscopy) الذي يرمز له (HRTEM) عبارة عن مجهر إلكتروني نافذ له القدرة على إظهار صور للبنى البلورية للعينات على المستوى الذري. بسبب دقته العالية فإنه يعد من الأجهزة التي لا يستغنى عنها لدراسة خصائص المواد البلورية على مستوى النانو مثل شبه الموصلات والفلزات. حالياً، أعلى دقة يمكن الوصول إليها تبلغ 0.8 أنغستروم أي 0.08 نانومتر. تماثل هذه الأبعاد ما هو موجود على المستوى الذري بحيث يمكن تصوير العيوب البلورية والذرات بحد ذاتها. بما أن البنى البلورية ثلاثية الأبعاد لذلك فإنه من الضروري أخذ عدة صور من عدة زوايا للبلورة وتجميعها إلى خريطة ثلاثية الأبعاد. تسمى هذه التقنية علم البلورات الإلكتروني electron crystallography. (ar) Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (englisch high resolution transmission electron microscopy, HRTEM) ist ein TEM-Abbildungsmodus, der es erlaubt, die kristallographische Struktur einer Probe mit atomarer Auflösung abzubilden. Wegen seiner hohen Auflösung ist HRTEM ein weitverbreitetes Werkzeug zur Untersuchung von in kristallinen Materialien wie Halbleitern und Metallen. Zurzeit kann standardmäßig eine Auflösung von 0,8 Å (0,08 nm) erreicht werden. Um diese Auflösung mit dem TEM direkt nutzen zu können, werden Korrektoren für die sphärische Aberration eingesetzt. Durch die Entwicklung neuartiger Korrektoren, die neben der sphärischen Aberration auch die chromatische Aberration verringern, wird bald eine Auflösung von bis zu 0,5 Å nutzbar. In der HRTEM werden Objekte mit Dicken von wenigen Nanometern untersucht. Der Kontrast in HRTEM-Bildern wird deshalb im Wesentlichen aufgrund von Phasen- und nicht von Amplitudenunterschieden generiert. Phasenkontrast-Bilder können in HRTEM häufig nicht direkt interpretiert werden, da Aberrationen ebenfalls die Phase der Elektronen-Wellenfunktion modulieren und damit die Strukturdetails in der Abbildung verschmieren. (de) La microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (en inglés, High-resolution transmission electron microscopy, o HRTEM) es una técnica para obtener imagen mediante el microscopio electrónico de transmisión (TEM) que permite la formación de imágenes de la estructura cristalográfica de una muestra en una escala atómica.​ Debido a su alta resolución es una valiosa herramienta ampliamente utilizada para el estudio de nanoestructuras de materiales cristalinos como los semiconductores y los metales. En la actualidad, por defecto, se alcanza una resolución de 0,8 Å (0,08 nm). Para utilizar esta resolución directamente con el TEM deben utilizarse correctores para la aberración esférica. A través del desarrollo de nuevos correctores, además de la aberración esférica y la aberración cromática, a veces se puede obtener hasta una resolución de 0,5 Å (0,05 nm ). A estas escalas pequeñas se pueden obtener imágenes, de átomos individuales y defectos cristalinos. Puesto que todas las estructuras cristalinas son 3-dimensional, se puede necesitar combinar varias vistas del cristal, tomadas desde ángulos diferentes, en un mapa 3D. Esta técnica se llama cristalografía de electrones. Una de las dificultades del HRTEM es que la formación de la imagen depende de contraste de fase y no generada por las diferencias de amplitud. No es siempre fácil interpretable como la imagen ha sido influida por las fuertes aberraciones de las lentes. Una aberración mayor es causada por el enfoque y el astigmatismo, que a menudo puede ser estimada a partir de la transformada de Fourier de la imagen HRTEM. (es) High-resolution transmission electron microscopy is an imaging mode of specialized transmission electron microscopes that allows for direct imaging of the atomic structure of samples. It is a powerful tool to study properties of materials on the atomic scale, such as semiconductors, metals, nanoparticles and sp2-bonded carbon (e.g., graphene, C nanotubes). While this term is often also used to refer to high resolution scanning transmission electron microscopy, mostly in high angle annular dark field mode, this article describes mainly the imaging of an object by recording the two-dimensional spatial wave amplitude distribution in the image plane, in analogy to a "classic" light microscope. For disambiguation, the technique is also often referred to as phase contrast transmission electron microscopy. At present, the highest point resolution realised in phase contrast transmission electron microscopy is around 0.5 ångströms (0.050 nm). At these small scales, individual atoms of a crystal and its defects can be resolved. For 3-dimensional crystals, it may be necessary to combine several views, taken from different angles, into a 3D map. This technique is called electron crystallography. One of the difficulties with high resolution transmission electron microscopy is that image formation relies on phase contrast. In phase-contrast imaging, contrast is not intuitively interpretable, as the image is influenced by aberrations of the imaging lenses in the microscope. The largest contributions for uncorrected instruments typically come from defocus and astigmatism. The latter can be estimated from the so-called Thon ring pattern appearing in the Fourier transform modulus of an image of a thin amorphous film. (en) Microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução (HRTEM, do inglês high-resolution transmission electron microscopy) é um modo de obtenção de imagens do microscópio eletrônico de transmissão (MET) que permite a obtenção de imagem da de uma amostra em uma escala atômica. Devido à sua alta resolução, é uma ferramenta valiosa para estudar as propriedades em nanoescala do material cristalino, como semicondutores e metais. Atualmente, a mais alta resolução obtida é 0,8 angstroms (0,08 nm) com microscópios como o OAM no . No andamento de pesquisa e desenvolvimento, tais como os esforços no âmbito da microscopia eletrônica de transmissão de aberração corrigida (TEAM, de Transmission Electron Aberration-corrected Microscope) irão em breve levar a resolução do HRTEM a 0,5 Å. Nessas pequenas escalas, átomos individuais e defeitos cristalográficos podem ser observados. Dado que toda estrutura cristalina é tridimensional, pode ser necessário combinar vários pontos de vista do cristal, tomados de diferentes ângulos, em um mapeamento 3D. Esta técnica é chamada . (pt)
dbo:thumbnail wiki-commons:Special:FilePath/HrtemMg.png?width=300
dbo:wikiPageExternalLink http://www.maxsidorov.com/ctfexplorer/index.htm http://www.tf.uni-kiel.de/matwis/amat/def_en/kap_6/backbone/r6_3_4.html https://dx.doi.org/10.1088/0031-8949/9/1/014107 http://hyperphysics.phy-astr.gsu.edu/hbase/quantum/debrog2.html%23c1
dbo:wikiPageID 4527733 (xsd:integer)
dbo:wikiPageLength 19335 (xsd:nonNegativeInteger)
dbo:wikiPageRevisionID 1121710247 (xsd:integer)
dbo:wikiPageWikiLink dbr:Electron_crystallography dbr:Electron_diffraction dbr:Electron_energy_loss_spectroscopy dbr:Electron_microscope dbr:Energy_filtered_transmission_electron_microscopy dbr:National_Center_for_Electron_Microscopy dbr:Scanning_electron_microscope dbr:Bragg_diffraction dbr:Dennis_Gabor dbr:Contrast_transfer_function dbr:Transmission_Electron_Aberration-corrected_Microscope dbr:Transmission_Electron_Microscopy dbr:Transmission_electron_microscope dbr:Aberration_in_optical_systems dbc:Electron_microscopy_techniques dbr:Abscissa dbc:Scientific_techniques dbr:Holography dbr:Scanning_transmission_electron_microscope dbr:Weak_phase_object_approximation dbr:Scanning_confocal_electron_microscopy dbr:Interference_(wave_propagation) dbr:Phase-contrast_imaging dbr:Spatial_frequency dbr:Sextupole_magnet dbr:Electron_beam_induced_deposition dbr:Talbot_Effect dbr:Wave-particle_duality dbr:Crystal_defect dbr:File:Simulation_GaN.png dbr:File:Focal_series_reconstruction.png dbr:File:HrtemMg.png dbr:File:OAM_CTF.png
dbp:by no (en)
dbp:onlinebooks no (en)
dbp:wikiPageUsesTemplate dbt:Clarify dbt:Cmn dbt:Convert dbt:Reflist dbt:Wikibooks dbt:Library_resources_box
dcterms:subject dbc:Electron_microscopy_techniques dbc:Scientific_techniques
gold:hypernym dbr:Mode
rdf:type yago:WikicatMicroscopes yago:Artifact100021939 yago:Device103183080 yago:Instrument103574816 yago:Instrumentality103575240 yago:Magnifier103709206 yago:Microscope103760671 yago:Object100002684 yago:PhysicalEntity100001930 dbo:Single yago:ScientificInstrument104147495 yago:Whole100003553
rdfs:comment المجهر الإلكتروني النافذ عالي الدقة (High-resolution transmission electron microscopy) الذي يرمز له (HRTEM) عبارة عن مجهر إلكتروني نافذ له القدرة على إظهار صور للبنى البلورية للعينات على المستوى الذري. بسبب دقته العالية فإنه يعد من الأجهزة التي لا يستغنى عنها لدراسة خصائص المواد البلورية على مستوى النانو مثل شبه الموصلات والفلزات. حالياً، أعلى دقة يمكن الوصول إليها تبلغ 0.8 أنغستروم أي 0.08 نانومتر. تماثل هذه الأبعاد ما هو موجود على المستوى الذري بحيث يمكن تصوير العيوب البلورية والذرات بحد ذاتها. بما أن البنى البلورية ثلاثية الأبعاد لذلك فإنه من الضروري أخذ عدة صور من عدة زوايا للبلورة وتجميعها إلى خريطة ثلاثية الأبعاد. تسمى هذه التقنية علم البلورات الإلكتروني electron crystallography. (ar) Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (englisch high resolution transmission electron microscopy, HRTEM) ist ein TEM-Abbildungsmodus, der es erlaubt, die kristallographische Struktur einer Probe mit atomarer Auflösung abzubilden. Wegen seiner hohen Auflösung ist HRTEM ein weitverbreitetes Werkzeug zur Untersuchung von in kristallinen Materialien wie Halbleitern und Metallen. Zurzeit kann standardmäßig eine Auflösung von 0,8 Å (0,08 nm) erreicht werden. Um diese Auflösung mit dem TEM direkt nutzen zu können, werden Korrektoren für die sphärische Aberration eingesetzt. Durch die Entwicklung neuartiger Korrektoren, die neben der sphärischen Aberration auch die chromatische Aberration verringern, wird bald eine Auflösung von bis zu 0,5 Å nutzbar. (de) High-resolution transmission electron microscopy is an imaging mode of specialized transmission electron microscopes that allows for direct imaging of the atomic structure of samples. It is a powerful tool to study properties of materials on the atomic scale, such as semiconductors, metals, nanoparticles and sp2-bonded carbon (e.g., graphene, C nanotubes). While this term is often also used to refer to high resolution scanning transmission electron microscopy, mostly in high angle annular dark field mode, this article describes mainly the imaging of an object by recording the two-dimensional spatial wave amplitude distribution in the image plane, in analogy to a "classic" light microscope. For disambiguation, the technique is also often referred to as phase contrast transmission electron m (en) La microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (en inglés, High-resolution transmission electron microscopy, o HRTEM) es una técnica para obtener imagen mediante el microscopio electrónico de transmisión (TEM) que permite la formación de imágenes de la estructura cristalográfica de una muestra en una escala atómica.​ Debido a su alta resolución es una valiosa herramienta ampliamente utilizada para el estudio de nanoestructuras de materiales cristalinos como los semiconductores y los metales. En la actualidad, por defecto, se alcanza una resolución de 0,8 Å (0,08 nm). Para utilizar esta resolución directamente con el TEM deben utilizarse correctores para la aberración esférica. A través del desarrollo de nuevos correctores, además de la aberración esférica y la aberración crom (es) Microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução (HRTEM, do inglês high-resolution transmission electron microscopy) é um modo de obtenção de imagens do microscópio eletrônico de transmissão (MET) que permite a obtenção de imagem da de uma amostra em uma escala atômica. Devido à sua alta resolução, é uma ferramenta valiosa para estudar as propriedades em nanoescala do material cristalino, como semicondutores e metais. Atualmente, a mais alta resolução obtida é 0,8 angstroms (0,08 nm) com microscópios como o OAM no . No andamento de pesquisa e desenvolvimento, tais como os esforços no âmbito da microscopia eletrônica de transmissão de aberração corrigida (TEAM, de Transmission Electron Aberration-corrected Microscope) irão em breve levar a resolução do HRTEM a 0,5 Å. Nessas pequenas (pt)
rdfs:label مجهر إلكتروني نافذ عالي الدقة (ar) Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (de) Microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (es) High-resolution transmission electron microscopy (en) Microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução (pt)
owl:sameAs freebase:High-resolution transmission electron microscopy yago-res:High-resolution transmission electron microscopy wikidata:High-resolution transmission electron microscopy dbpedia-ar:High-resolution transmission electron microscopy dbpedia-de:High-resolution transmission electron microscopy dbpedia-es:High-resolution transmission electron microscopy dbpedia-pt:High-resolution transmission electron microscopy dbpedia-vi:High-resolution transmission electron microscopy https://global.dbpedia.org/id/52Cwy
prov:wasDerivedFrom wikipedia-en:High-resolution_transmission_electron_microscopy?oldid=1121710247&ns=0
foaf:depiction wiki-commons:Special:FilePath/Simulation_GaN.png wiki-commons:Special:FilePath/Focal_series_reconstruction.png wiki-commons:Special:FilePath/HrtemMg.png wiki-commons:Special:FilePath/OAM_CTF.png
foaf:isPrimaryTopicOf wikipedia-en:High-resolution_transmission_electron_microscopy
is dbo:academicDiscipline of dbr:John_C._H._Spence
is dbo:wikiPageRedirects of dbr:HRAEM dbr:HREM dbr:Hrtem dbr:High-resolution_electron_microscopy dbr:HRTEM dbr:High_Resolution_Transmission_Electron_Microscopy dbr:High_Resolution_Transmission_Electron_Microscopy_(HRTEM)
is dbo:wikiPageWikiLink of dbr:Scanning_transmission_electron_microscopy dbr:Electron_crystallography dbr:Electron_diffraction dbr:Electron_microscope dbr:Electron_tomography dbr:Barium_ferrate dbr:April–June_2021_in_science dbr:List_of_examples_of_lengths dbr:Detonation_nanodiamond dbr:List_of_materials_analysis_methods dbr:CrysTBox dbr:Geometric_phase_analysis dbr:Low-voltage_electron_microscope dbr:Michael_A._O'Keefe dbr:Contrast_transfer_function dbr:Crystallographic_database dbr:Angus_Kirkland dbr:Transmission_electron_microscopy_DNA_sequencing dbr:Nanoradio dbr:4D_scanning_transmission_electron_microscopy dbr:Crystallographic_image_processing dbr:Carbon_nanotube dbr:Direct_methods_(electron_microscopy) dbr:Tavarekere_Kalliah_Chandrashekar dbr:Jillian_Banfield dbr:John_C._H._Spence dbr:Heterogeneous_gold_catalysis dbr:Transmission_electron_microscopy dbr:HRAEM dbr:HREM dbr:Orders_of_magnitude_(length) dbr:Xie_Yi dbr:WPOA dbr:Hrtem dbr:High-resolution_electron_microscopy dbr:HRTEM dbr:High_Resolution_Transmission_Electron_Microscopy dbr:High_Resolution_Transmission_Electron_Microscopy_(HRTEM)
is foaf:primaryTopic of wikipedia-en:High-resolution_transmission_electron_microscopy