| dbo:abstract |
Der Wafer-Test ist eine Funktionsprüfung im Fertigungsablauf der Halbleitertechnik bei der Produktion von Halbleiterbauteilen wie integrierten Schaltungen. (de) Wafer testing is a step performed during semiconductor device fabrication after BEOL process is finished. During this step, performed before a wafer is sent to die preparation, all individual integrated circuits that are present on the wafer are tested for functional defects by applying special test patterns to them. The wafer testing is performed by a piece of test equipment called a wafer prober. The process of wafer testing can be referred to in several ways: Wafer Final Test (WFT), Electronic Die Sort (EDS) and Circuit Probe (CP) are probably the most common. (en) Тестирование полупроводниковых пластин, тестовый контроль полупроводниковой пластин — один из этапов полупроводникового производства. Во время этого этапа автоматизированные установки тестирования проводят функциональное тестирование интегральных схем, изготовленных на полупроводниковой пластине. Этот этап проводится на неразрезанной пластине и позволяет определить, какие из схем были корректно изготовлены и могут быть переданы на этап корпусирования. (ru) |
| dbo:thumbnail |
wiki-commons:Special:FilePath/Wafer_prober_service_configuration.jpg?width=300 |
| dbo:wikiPageID |
1085127 (xsd:integer) |
| dbo:wikiPageLength |
6501 (xsd:nonNegativeInteger) |
| dbo:wikiPageRevisionID |
1094534887 (xsd:integer) |
| dbo:wikiPageWikiLink |
dbr:Integrated_circuit_design dbr:Integrated_circuit_packaging dbr:Contact_pad dbr:Chip-scale_package dbr:CPU_cache dbr:Die_preparation dbr:Wafer_prober dbr:Back_end_of_line dbr:Bond_characterization dbr:Probe_card dbc:Semiconductor_device_fabrication dbr:Substrate_mapping dbr:Automatic_test_equipment dbr:Automatic_test_pattern_generation dbr:Fabrication_(semiconductor) dbr:Integrated_circuits dbr:Non-contact_wafer_testing dbr:Semiconductor_fabrication dbr:Die_attachment dbr:File:Wafer_prober_service_configuration.jpg dbr:Test_program |
| dbp:wikiPageUsesTemplate |
dbt:ISBN dbt:Reflist |
| dct:subject |
dbc:Semiconductor_device_fabrication |
| gold:hypernym |
dbr:Step |
| rdf:type |
dbo:MilitaryConflict |
| rdfs:comment |
Der Wafer-Test ist eine Funktionsprüfung im Fertigungsablauf der Halbleitertechnik bei der Produktion von Halbleiterbauteilen wie integrierten Schaltungen. (de) Wafer testing is a step performed during semiconductor device fabrication after BEOL process is finished. During this step, performed before a wafer is sent to die preparation, all individual integrated circuits that are present on the wafer are tested for functional defects by applying special test patterns to them. The wafer testing is performed by a piece of test equipment called a wafer prober. The process of wafer testing can be referred to in several ways: Wafer Final Test (WFT), Electronic Die Sort (EDS) and Circuit Probe (CP) are probably the most common. (en) Тестирование полупроводниковых пластин, тестовый контроль полупроводниковой пластин — один из этапов полупроводникового производства. Во время этого этапа автоматизированные установки тестирования проводят функциональное тестирование интегральных схем, изготовленных на полупроводниковой пластине. Этот этап проводится на неразрезанной пластине и позволяет определить, какие из схем были корректно изготовлены и могут быть переданы на этап корпусирования. (ru) |
| rdfs:label |
Assaig d'oblies (ca) Wafertest (de) Тестирование полупроводниковых пластин (ru) Wafer testing (en) |
| owl:sameAs |
freebase:Wafer testing wikidata:Wafer testing dbpedia-ca:Wafer testing dbpedia-de:Wafer testing dbpedia-fa:Wafer testing dbpedia-ru:Wafer testing https://global.dbpedia.org/id/2PEJx |
| prov:wasDerivedFrom |
wikipedia-en:Wafer_testing?oldid=1094534887&ns=0 |
| foaf:depiction |
wiki-commons:Special:FilePath/Wafer_prober_service_configuration.jpg |
| foaf:isPrimaryTopicOf |
wikipedia-en:Wafer_testing |
| is dbo:wikiPageRedirects of |
dbr:Wafer_prober dbr:Wafer_sort |
| is dbo:wikiPageWikiLink of |
dbr:Integrated_circuit dbr:Integrated_circuit_design dbr:Wafer_(electronics) dbr:Die_(integrated_circuit) dbr:Semiconductor_device_fabrication dbr:Wafer_prober dbr:Back_end_of_line dbr:Teradyne dbr:Probe_card dbr:Substrate_mapping dbr:Automatic_test_equipment dbr:PlayStation_3 dbr:CP dbr:Ring_oscillator dbr:Wafer_sort |
| is foaf:primaryTopic of |
wikipedia-en:Wafer_testing |
