機能面のテスト - Weblio 英和・和英辞典 (original) (raw)
例文
半導体マクロのアイソレーションテストの機能を有し、かつ、チップ面積を削減した半導体テスト回路を提供すること。例文帳に追加
To provide a semiconductor test circuit having a function for implementing an isolation test of semiconductor macros, and reducing a chip area. - 特許庁
テスト回路は、行ドライバーの機能に対して最小の面積と複雑さを加えるだけであるので、テスト回路によって誘引される故障の可能性は最小の状態で、広いテスト適用範囲を低コストで提供することができる。例文帳に追加
The test circuit adds only minimal area and complexity to the row drive function, providing a high degree of test coverage at a low cost, with minimal possibility of test circuit-induced failures. - 特許庁
スイッチング用薄膜トランジスタを静電気から保護するための静電気保護機能およびテスト 機能を備えた液晶表示装置において、額縁面積を小さくする。例文帳に追加
To reduce a frame area in a liquid crystal display provided with static electricity protecting function of protecting a thin-film transistor for switching from static electricity, and test functions. - 特許庁
利用推奨部107は、テストの採点結果に基づいて、自システム100が備えている複数の翻訳支援機能の中からユーザに推奨する翻訳支援機能を選択し、選択した翻訳支援機能の利用を可能にする利用機能表示画面を利用者端末300-1へ送信する。例文帳に追加
A utilization recommending part 107 selects the translation support function to be recommended to the user out of the plurality of the translation support functions provided in the system 100 on the basis of a mark result of the test, and transmits a utilizing function display screen by which the selected translation support function becomes available to the user terminal 300-1. - 特許庁
テスト 機能の１つとして内蔵されるＲＡＭテストデータ生成回路の回路面積を縮小し、半導体集積回路のコスト削減を行う。例文帳に追加
To reduce the cost of a semiconductor integrated circuit by reducing the circuit area of a RAM test data generating circuit incorporated as one of test functions. - 特許庁
チップ面積を増加させずにテスト 機能を充実させ、低コストで高信頼性の半導体集積回路ウェハを提供しようとするものである。例文帳に追加
To provide a semiconductor integrated-circuit wafer which enriches a test function without increasing a chip area and which is low-cost and of high reliability. - 特許庁
例文
テスト 機能部８は表示データ記憶部７に保存されているデータを使用し、作成した対話画面が正常に動作するかを試験する。例文帳に追加
A text function part 8 tests whether or not the generated interactive screen operates normally by using the data saved in the display data storage part 7. - 特許庁