第２相試験 - Weblio 英和・和英辞典 (original) (raw)
例文
三 論文式による試験において、前条第二項第二号に掲げる科目について審議会が相当と認める成績を得た者 その後に当該科目について行う論文式による試験例文帳に追加
(iii) A person who has attained such a grade in the essay examination on the subject listed in paragraph (2) (ii) of the preceding Article as the council recognizes appropriate: Any essay examination on the subject which is conducted thereafter.発音を聞く - 日本法令外国語訳データベースシステム
第１の検出手段３で試験ケーブル２０からの電界ノイズの電界強度を検出し、第 ２の検出手段１，２により試験ケーブル２０で発生するコモンモード電圧を検出し、電界強度のスペクトラムとコモンモード電圧のスペクトラムの相関度を表す相関係数を算出、保存する。例文帳に追加
The electric field strength of the electric field noise from a test cable 20 is detected by a first detecting means 3, the common mode voltage produced in the test cable 20 is detected by second detecting means 1, 2, and a coefficient of correlation representing a correlation degree of a spectrum of the electric field strength and a spectrum of the common mode voltage is calculated and stored. - 特許庁
二 論文式による試験において、前条第二項第一号に掲げる科目について審議会等（国家行政組織法（昭和二十三年法律第百二十号）第八条に規定する機関をいう。）で政令で定めるもの（以下「審議会」という。）が相当と認める成績を得た者 当該論文式による試験に係る合格発表の日から起算して二年を経過する日までに当該科目について行う論文式による試験例文帳に追加
(ii) A person who has attained such a grade in the essay examination on the subject listed in paragraph (2) (i) of the preceding Article as the councils, etc. (refer to organs provided in Article 8 of National Government Organization Act (Act No. 120 of 1948)) specified by Cabinet Order (hereinafter referred to as "Council") recognize appropriate: Any essay examination on the same subject which is conducted by the day on which two years have elapsed from the date of announcement of the examination result pertaining to such passed essay examination.発音を聞く - 日本法令外国語訳データベースシステム
半導体メモリ試験装置に、不良解析専用のＣＰＵ２、第１不良解析メモリ７と同じ構成をもつ第 ２不良解析メモリ８、２個のＣＰＵ１、２および２個の不良解析メモリ７、８を相互に切換える切換用マルチプレクサ５、６を新たに追加する。例文帳に追加
A semiconductor memory test device is newly added with a CPU 2, which is dedicated to conduct a defect analysis, a second defect analysis memory 8, which has a same constitution of a first defect analysis memory 7, and switching multiplexers 5 and 6 which mutually switch the two CPUs 1 and 2 and the two defect analysis memories 7 and 8. - 特許庁
プライマー制限の代替法として、単一試験管において2以上の時間的に連続するPCR段階を用い、2以上のPCR反応を効果的に分離して、第一の増幅段階および第二の増幅段階中、第一のプライマーセットによる第一のアンプリコン産生、および第二のプライマーセットによる第二のアンプリコン産生の相対率を変調する。例文帳に追加
In the method, two or more sequential temporal PCR stages are used to effectively separate two or more PCR reactions in a single test tube as an alternative to primer limiting to modulate the relative rate of production of a first amplicon by a first primer set and a second amplicon by a second primer set during the first and second amplification stages. - 特許庁
プライマー制限の代替法として、単一試験管において2以上の時間的に連続するPCR段階を用い、2以上のPCR反応を効果的に分離して、第一の増幅段階および第二の増幅段階中、第一のプライマーセットによる第一のアンプリコン産生、および第二のプライマーセットによる第二のアンプリコン産生の相対率を変調する、方法。例文帳に追加
The method comprises two or more sequential temporal PCR stages used to effectively separate two or more PCR reactions in a single test tube as an alternative to primer limiting to modulate the relative rate of production of a first amplicon by a first primer set and a second amplicon by a second primer set during first and second amplification stages. - 特許庁
例文
ゲート絶縁膜の完全な絶縁破壊（ハードブレイクダウン）に相当する第１のクライテリアだけでなく、第 ２又は第３のクライテリアを設定することにより、極薄のゲート酸化膜のＴＤＤＢ試験を全ゲート面積が１００００μｍ^2 に達する半導体デバイス（チップ）に対しても、行なうことができる。例文帳に追加
Since second or third criterion is set as well as the first criterion corresponding to complete dielectric breakdown (hard breakdown) of a gate insulation film, TDDB test of an extremely thin gate oxide film can be performed even for a semiconductor device (chip) having a total gate area as large as 10000 μm^2. - 特許庁