delay testing - Weblio 英和・和英辞典 (original) (raw)
Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 専門用語対訳辞書 > delay testingの意味・解説
| 意味 | 例文 (79件) | | | -- | ----------------------------------------------------------------------------------------- | |
ピン留め
追加できません
(登録数上限)
単語を追加
| Weblio専門用語対訳辞書での「delay testing」の意味 | | | ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- | |
× この辞書を今後表示しない
※辞書の非表示は、設定画面から変更可能
delay testing
Weblio専門用語対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。
「delay testing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 79件
例文
DELAY FAULT TESTING CIRCUIT例文帳に追加
遅延故障試験回路 - 特許庁
I am testing that without delay.発音を聞く 例文帳に追加
私はそれを早速試してみている。 - Weblio Email例文集
DELAY CIRCUIT AND TESTING DEVICE例文帳に追加
遅延回路、及び試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT FOR MEASURING OUTPUT DELAY TIME例文帳に追加
出力遅延時間測定用テスト方法およびそのテスト回路 - 特許庁
Operation testing machine, insulation resistance tester, withstand voltage testing device, temperature testing device, and delay time measuring device発音を聞く 例文帳に追加
作動試験用機械、絶縁抵抗計、耐電圧試験装置、温度試験装置及び遅動時間測定装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
VARIABLE DELAY CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加
可変遅延回路及び半導体回路試験装置 - 特許庁
例文
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MAXIMUM DELAY TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路及びその最大遅延試験定方法 - 特許庁
調べた例文を記録して、 効率よく覚えましょう
Weblio会員登録無料で登録できます！
- 履歴機能
過去に調べた
単語を確認! - 語彙力診断
診断回数が
増える! - マイ単語帳
便利な
学習機能付き! - マイ例文帳
文章で
単語を理解! 
「delay testing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 79件
例文
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING DELAY THEREOF例文帳に追加
半導体集積回路およびその遅延検査方法 - 特許庁
SELECTION DEVICE, DELAY DEVICE AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
選択デバイス、遅延デバイス及び試験装置 - 特許庁
HIGH FREQUENCY DELAY CIRCUIT, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
高周波遅延回路、及び試験装置 - 特許庁
VARIABLE DELAY DEVICE, SIGNAL DELAYING METHOD AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
可変遅延装置、信号遅延方法、および半導体装置の試験方法 - 特許庁
To reduce a time for testing delay fault of a memory peripheral circuit.例文帳に追加
メモリ周辺回路に対する遅延故障テストの時間を削減すること。 - 特許庁
On the occasion of testing, besides, the delay control circuit 9 for testing increases the delay time for testing for one side and decreases it for the other, while the total delay time is left fixed.例文帳に追加
また、テストの際、テスト用遅延制御回路９は、合計遅延時間を一定にしたまま、テスト用遅延時間の一方を増加させ他方を減少させてゆく。 - 特許庁
On the occasion of testing the two variable delay circuits 3 and 17, the delay time for testing is set on the circuits 3 and 17 and the reference clock signal delayed through the reference variable delay circuit 3 is input to the strobe variable delay circuit 17.例文帳に追加
両可変遅延回路３，１７のテストの際、当該回路３，１７にはテスト用遅延時間が設定され、基準可変遅延回路３を経て遅延された基準クロック信号はストローブ可変遅延回路１７に入力される。 - 特許庁
例文
The delay control circuit 1 includes a reference variable delay circuit 3 which delays a reference clock signal, a strobe variable delay circuit 17 which delays the strobe signal, and the delay control circuit 9 for testing which sets a delay time for testing on the variable delay circuits 3 and 17 having the same constitution.例文帳に追加
遅延制御回路１は、基準クロック信号を遅延させる基準可変遅延回路３と、ストローブ信号を遅延させるストローブ可変遅延回路１７と、同一構成である上記可変遅延回路３，１７にテスト用遅延時間を設定するテスト用遅延制御回路９と、を備える。 - 特許庁
 |
「delay testing」の意味に関連した用語 |
|---|
1
2
3
4
5
| 意味 | 例文 (79件) | | | -- | ----------------------------------------------------------------------------------------- | |
| 英和辞書の「delay testing」の用語索引 | | | --------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- | |
delay testingのページの著作権
英和・和英辞典 情報提供元は参加元一覧 にて確認できます。
| | | | - |