divergence S - Weblio 英和・和英辞典 (original) (raw)
例文
The degree of divergence from a coupling lens 52 becomes large in proportion to the shortness of divergence S, and the degree of divergence becomes small in proportion to the longness of divergence S.例文帳に追加
発散度Ｓは、カップリングレンズ５２から第１レンズ系５５ａ，５５ｂに至る光線を後方に延長して像を結んで得た虚像の位置をカップリングレンズ５２の後側主点からの距離で示したものをいう。 - 特許庁
A divergent beam emitted from first lens systems 55a, 55b has the divergence S in the range of -2,000 to -800 (-2,000<S<-800).例文帳に追加
発散度Ｓが短ければ短いほどカップリングレンズ５２からの発散の度合いが大きく、発散度Ｓが長ければ長いほど発散の度合いが小さいことになる。 - 特許庁
The safety factor S for compensating the divergence is set in a low level in the low line pressure operating region A where change of the line pressure characteristic caused by deterioration is small, and the safe factor S is set in a high level in the other operating region B.例文帳に追加
従って上記の乖離を補償するための安全率Ｓを、劣化によるライン圧特性変化が小さい低ライン圧運転域Ａでは安全率Ｓを低くし、それ以外の運転域Ｂでは安全率Ｓを高くする。 - 特許庁
In this X-ray diffraction device, an X-ray radiated from an X-ray source F is regulated by a divergence slit 2 and irradiated to the sample S, and a diffraction line R_2 emitted from the sample S is detected by an X-ray detector 10.例文帳に追加
Ｘ線源Ｆから放射されたＸ線を発散スリット２によって規制して試料Ｓに照射し、試料Ｓから出た回折線Ｒ_２をＸ線検出器１０によって検出するＸ線回折装置である。 - 特許庁
The divergence S is a distance from a rear principal point of the coupling lens 52, of a position of a virtual image acquired by being imaged by elongating backward a beam from the coupling lens 52 to the first lens systems 55a, 55b.例文帳に追加
第１レンズ系５５ａ，５５ｂから出射される発散ビームは、発散度Ｓが−２０００よりも大きく、かつ、−８００よりも小さい（−２０００＜Ｓ＜−８００）。 - 特許庁
To accurately detect a knock even in a condition where divergence of a vibration intensity distribution due to deviation of the vibration intensity distribution by machine difference dispersion or frequency of knocks appears, in s knock determining device for an internal combustion engine.例文帳に追加
内燃機関のノック判定装置において、機差ばらつきによる振動強度分布のずれやノック頻発による振動強度分布の発散が現れる条件下でも、ノックを精度良く検出できるようにする。 - 特許庁
例文
The slit width of the divergence slit 2 is changed so that X-ray irradiation width W_0 always coincides with sample width W_S and the slit width of the scattering slit 8 is held to a constant value.例文帳に追加
発散スリット２のスリット幅はＸ線照射幅Ｗ_０が常に試料幅Ｗ_Ｓに一致するように変化し、散乱スリット８のスリット幅は一定値に保持される。 - 特許庁