previous test - Weblio 英和・和英辞典 (original) (raw)
例文
In this section, we use the GlassFish Tester application as a test client for the RESTful web services we created in the previous section.例文帳に追加
この節では、前の節で作成した RESTful Web サービスのテストクライアントとして GlassFish Tester アプリケーションを使用します。 - NetBeans
A conditional parameter group examines the user input from previous parameter groups and only displays its parameter prompts if a single parameter fits a test.発音を聞く 例文帳に追加
これは、前のパラメータグループでのユーザの入力を検証し、それが条件を満たす場合にのみプロンプトを表示します。 - PEAR
A floppy disk in which the progression state/test record data up to the previous time is stored is set in a floppy disk drive 34.例文帳に追加
フロッピーディスクドライブ３４に、前回までの進捗状況／テスト成績データが格納されたフロッピーディスクをセットする。 - 特許庁
Based on this test, we found that the "entry rates (for the previous period and earlier)" have an effect on the "(current) exit rate."例文帳に追加
これによると、「（前期以前の）開業率」が「（当期の）廃業率」に影響を与えているという結果が得られた。 - 経済産業省
By the semiconductor test device 100, a status memory 111 is referred to, and a fail memory storing no fail information on the previous test, is selected, and the fail information on the previous and present tests are ORed and stored to the same address as that of DUT.例文帳に追加
半導体試験装置１００は、状態メモリ１１１を参照して前回の試験におけるフェイル情報を記憶していないフェイルメモリを選択し、前回および現在の試験におけるフェイル情報のＯＲをとってＤＵＴと同一のアドレスに記憶させる。 - 特許庁
Also, when coincidence is detected by the logical comparator 4 in a test of the present time, an uncoincidence detected signal detected in a test of the present time is added to a signal stored in the defect analyzing memory 7 in a test of the previous time, these signals are stored in a multi- bit memory.例文帳に追加
また今回のテストで論理比較器４で一致が検出されると前回のテストで不良解析メモリ７に記憶させた信号に今回のテストで検出された一致検出信号を加えて、これらの信号を多ビットメモリに記憶させる制御回路６を設ける。 - 特許庁
In this test (a), not only a mounted parts test for discriminating the mounted condition of chip parts mounted in the previous process but also a parts jump test for discriminating whether or not the chip parts have jumped to a place where variant parts are mounted in the next process C are executed.例文帳に追加
この検査ａでは、前工程で実装されたチップ部品の実装状態などを判別する実装部品検査のほか、つぎの工程Ｃで異形部品が実装される場所にチップ部品が飛んでいないかどうかを判別する部品飛び検査を実行する。 - 特許庁
例文
This device is provided with a compression means for forming only the change portion from the previous pattern, while paying attention to a test pattern file used for a semiconductor test every pattern vector, to compress the test pattern file, and a memory means for storing the test pattern file compressed by the compression means.例文帳に追加
また、半導体の試験に使用するテストパターンファイルをパターンベクタ毎に着目し、前のパターンベクタからの変更分のみをファイル化して上記テストパターンファイルの圧縮を行う圧縮手段と、該圧縮手段で圧縮されたテストパターンファイルを記憶する記憶手段とを備える。 - 特許庁