Фотоэлектронной — Метка (original) (raw)
Патенты с меткой «фотоэлектронной»
Способ определения фотоэлектронной составляющей инерционности видикона
Номер патента: 263004
Опубликовано: 01.01.1970
Автор: Кубрик
МПК: G01R 13/38
Метки: видикона, инерционности, составляющей, фотоэлектронной
...инерционностипроцесс накопления продолжается некоторос время после прекращения проектирования таблицы, Стертый погеущиальный рельеф со временем восстанавливается. Восстановленный О рельеф считывается повторной коммутацией,263004 Предмет изобретения 20 Составитель Э. Гилинская Текред Л. В. Куклина Корректор Орловска аврил дакгор Г. Заказ 1333/4 Тираж 500 ПодписноеЦНИИПИ Комитета но делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква Ж, Раушская наб., д. 4/5 ипография, пр. Сапуно Значение сигнала при повторной коммутации определяет величину фотоэлектрической составляющей инерционности.Видикон включают в установку, блок.схема которой приведена на чертеже,Блок-схема состоит из,видикона 1, оптической системы 2,...
Способ получения фотоэлектронной эмиссии
Номер патента: 764009
Опубликовано: 15.09.1980
Авторы: Ждан, Лушников, Россуканый, Ченский
МПК: H01J 40/16
Метки: фотоэлектронной, эмиссии
...в полупроводнике на величину у ров "ЕРр Обычно Щсоставляет несколько десятых долей электронвольта. Таким образом, электронное сродство полупроводника в статическом поле понизится относительно уровня Е е в .объеме на величину равновесного изгиба зон М равнЕсли поле сделать высокочастотнымпричем таким, чтобы его обратная частота 1/1 была меньше времени максвелловской релаксации в полупроводнике Г то оно будет свободно проникать в объем полупроводника, что приведет к значительно большим изгйбам зон. При обогащающем знаке поля зоны в полупроводнике изгибаются вниз, вызывая соответствующее понижение уровня вакуума, т.е,электронного сродства. Очевидно, что,изгиб зон, а следовательно, и электронное сродство будут "следить" за мгновенными...
Устройство для исследования диэлектриков методом фотоэлектронной спектроскопии
Номер патента: 1474529
Опубликовано: 23.04.1989
МПК: G01N 23/227
Метки: диэлектриков, исследования, методом, спектроскопии, фотоэлектронной
...сигнал сизмерителя 6 электростатического поляравен нулю, управляющий электрод 11источника 9 медленных электронов находится под положительным потенциаломотносительно катода 10.Попеременно включая источник 1возбуждающего излучения и источник 9медленных электронов, по сигналам сизмерителя 6 электростатического поляи блока 15 регистрации Фотоэлектронных спектров, настроенного на электроны определенной энергии поверхность исследуемого образца 3 устанавливается на электронно-оптическую осьэнергоанализатора 12 с помощью манипулятора 2 и рычагов 18 и 19. Затемна ней совмещаются зарядовые пятна,образующиеся на образце 3 под действием остросфокусированпых пучковисточника 1 возбуждающего излученияи источника 9 медленных электронов,Причем,...