Рассеивающей — Метка (original) (raw)
Патенты с меткой «рассеивающей»
Устройство для измерения собственной рассеивающей способности электролитов
Номер патента: 294867
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Акимов, Балхашский, Дернейко, Махмутова, Пономарева, Синельникова, Фридман
МПК: C25C 7/06
Метки: рассеивающей, собственной, способности, электролитов
...электролитов, представляющее собой ячейку, разделенную перегородками на отсеки, в которых расположены анод ц катоды, отличаюи 1 ееся тем, что, с целью устранения влияния поляризации на измерение, в перегородках отсеков имеются вертикальные щели, в которые встроены элементы сравнения, а в цепи ближнего и дальнего катодов подключены подстроечные реостаты.2. Устройство по п. 1, отличаощееся тем, что, с целью снятия конфигурации электрического поля исследуемого электролита, в измерительном отсеке расположен измерительный зонд,Изобретение относится к металлургической и химической промышленности и может быть использовано в электролитных и гальванических цехах.Известно устройство для измерения рассеивающей способности электролитов,...
Устройство для определения рассеивающей способности электролитов анодирования
Номер патента: 357271
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Альтовский, Уразбаев, Шорина
МПК: C25D 21/12
Метки: анодирования, рассеивающей, способности, электролитов
...расположены стержни 2 с цилиндрической головкой.Стержци 2 электрически изолированы от диска анода 1 втулками 3 и прокладками 4, причем каждый из стержней через токоподводы подключен к измерительным приборам 5, б, 7, 8, 9, позволяющим проводить запись изменения силы тока во времеци ца каждом стержне и диске. Кроме того, диск и каждый стержець включецы в общую цепь тока, в которой по прибору. 10 устанавливается значение силы тока,цеобходимое для проведения процесса ацодировация,Собранное устройство монтируют в ванне11, в верхней части которой расположен сетчатый катод 12.После окончания ацодировацця устройство0 демонтируют из ванны; стержци освобождают из отверстий основного диска, На торцевых поверхностях стержней и диска,...
Устройство для определения рассеивающей способности электролитов
Номер патента: 372481
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Ворвулев, Кась, Лошкарев
МПК: G01N 13/04
Метки: рассеивающей, способности, электролитов
...провод, выведенный через шланг к разъему. Кронштейн покрыт кислотостойким лаком. На торце его крепится с помощью штыря-разъема 7 съемный электрод-анод 8. Полость эбонитового основания 1 и трубки 4 с проводами от шаровых сегментов-катодов залита полиэтиленовой смолой, чем достигнута герметичность датчика, Под выступом 9 эбонитовой трубки расположен пенопластовый поплавок 10, сообщающий датчику положительную плаьучесть при погружении его в электролит.Измерительная приставка (фиг, 2) представляет собой коммутирующую схему на372481 ираж 755 аказ 2077/14 Изд,52 Подписное Ц 11 ИИПИ Комитета изобретений и открытий Министров ССС 4 осква, Ж, Раушскаяпо делампри Совете Р наб., д. 4/ Фиг. 2 юграфия, пр. Сапунова 3микропереключателях МП, -...
Способ определения рассеивающей способности покрытий в процессе электроосаждения
Номер патента: 494685
Опубликовано: 05.12.1975
Авторы: Агранат, Ярославцев
МПК: G01N 33/32
Метки: покрытий, процессе, рассеивающей, способности, электроосаждения
...материалом.Способ осуществляют следующим обр и м е р . При пр нного злектрическог 100 вт в течение 6 на пористую проклад эмали ЭПполуч таты (в мм): цвета:пусканиитока напрясек и нанеу 10 г растны следующиепостожениесенииворов разул Эмаль разо Изобретение относится к способамисследования свойств покрытий, получаемых методом электроосаждения. Известны способы определения каМежду анодом и катодом помещаютпористую прокладку, затем эту прокладку пропитывают жидким лакокрасочным материалом и создают электростатическоеполе. Полученную на аноде в результатеэлектроосаждения площадь покрытия измеряют и по ней судят о рассеивающей способности того или иного покрытия, причем площадь катода для всех измерений 15 должна быть постоянной, форма...
Устройство для определения рассеивающей способности электролита
Номер патента: 881599
Опубликовано: 15.11.1981
Авторы: Воронина, Помосов, Сироткин
МПК: G01N 27/26
Метки: рассеивающей, способности, электролита
...электроды 45 3, механизм управления 4 величиной угла наклона вспомогательных электродов к рабочему электродуУстройство работает следующим образом.Замеряют ширину и начальную толщину обрабатываемого изделия рабочего электрода 2. В соответствии с Формулой у:Л рассчитывают угол накбКолона р вспомогательных электродов 55 к рабочему электроду и с помощью механизмауправления 4 устанавливают их в электрохимической ячейке симметрич 4но рабочего электрода на одинаковом от него расстоянии, под углом ф к не-, му. Проводят процесс электрохимической обработки, затем замеряют в одной точке конечную толщину рабочего электрода и рассчитывают рассеиваемую способность по Формуле бК -РТ =1007.1 х+ РфВ качестве рабочего электрода применяют при...
Способ оценки рассеивающей способности электролитов
Номер патента: 968723
Опубликовано: 23.10.1982
Автор: Слепушкин
МПК: G01N 27/48
Метки: оценки, рассеивающей, способности, электролитов
...электричества.В способе электрохимическим путемисследуется распределение металла иаповерхности катода, расположенного вэлектролитической ванне, которая моделирует тот или иной технологическийпроцесс. После нанесения гальваническго осадка на поверхность катода устанливают прижимную электролнтическуюячейку-датчик, выделяющую на поверх .ности определенный участок 5 =0,5 мм,который подвергается анодной поляризации от полярографа, потенциостата илиспециального устройства. При этом регистрируется или рассчитывается кошОпределение РС-электролита производится следующим образом, Например, в . случае исследования электролита кадми рования, получают на катоде кадмиевое покрытие в электролизере, который моде лирует конкретный технологический...
Способ измерения рассеивающей способности электролитов и устройство для его осуществления
Номер патента: 972385
Опубликовано: 07.11.1982
Авторы: Антонов, Зыбин, Кутыгин, Озеров, Фомичев
МПК: G01N 27/52
Метки: рассеивающей, способности, электролитов
...2 (состав электролита приведенв табл, 2) на анод 3. Ток перераспределяется согласно скоростям электрохимических процессов, протекаюших на каждомэлектроде сборного катода 4, находящихся под одним значением потенциала 0,12 В,задаваемым дифференциальными усилителями 6 и 9 в комплексе с усилителями 10и 11. Токи на каждом электроде катода4 являются функцией электрохимическогопроцесса восстановления, определяемогохарактеристикой рассеиваюшей способности в данной точке пространства электрслитической ячейки,С целью идеализации передаточной функции во входную цепь логарифматоров 7 и8 от источника 5 тока задается обратныйток. Токи с электродов катода 4 проходятчерез логарифматоры 7 и 8, где происходит измерение отношения токов, котороена...
Способ определения рассеивающей способности вещества
Номер патента: 1087856
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Астахова, Григорьев, Конев, Рубцова, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: вещества, рассеивающей, способности
...для окисей железа и свинца; на фиг, 3 - спектры рассеянного излучения,Эксперимент выполнен на спектрометре ФРС - 7 при различных напряжениях (.) на рентгеновской трубке и двух режимах работы амплитудного анализатора импульсов (ААИ) - интегральном и дифференциальном (И и Д): кривая 1 -= 30 кВ, ААИ - И; кривая 2 - (.) = 30 кВ; ААИ - Д; кривая 3 - (.) = 50 кВ; ААИ - И, кривая 4 - (.) = 50 кВ; ААИ - Д; кривая 5 - ) = 70 кВ; ААИ - И; кривая 6 - (.) = 70 кВ, ААИ - Д.Монотонная зависимость параметраот Е (а это необходимое условие для реализации предлагаемого способа определения(2) где К эффек О с),б/дЯ ) наблюдается в интервале 11 = 1,0 5,0 мм при напряжении на рентгеновской трубке, превышающем потенциал возбуждения1 флуоресценции атомов...
Способ определения рассеивающей способности многокомпонентного вещества (его варианты)
Номер патента: 1187039
Опубликовано: 23.10.1985
Авторы: Астахова, Григорьев, Конев, Рубцова, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: варианты, вещества, его, многокомпонентного, рассеивающей, способности
...анализа соста" ва вещества и может быть использовано при анализе материалов сложного5 химического состава (порошков, растворов, сплавов).Цель изобретения - расширение возможностей рентгеиоспектрального анализа.Изобретение применимо к исследованию материалов, содержащих элементы с атомными номерами от 6 до 92 (а известные способы - только от 6 до 30), реализуется на любом кристаллдиффракционном спектрометре, квантометре, дифрактометре (варианты 1 и 2), а также на любом рентгеновском спектрометре, в том числе на реитге-, норадиометрических спектрометричес ких приборах (вариант 3).Предлагаемый способ определения рассеивающей способности многокомпойоднентного вещества й применим при 25анализе порошкообраэных, жидких итвердых...
Способ определения рассеивающей способности вещества
Номер патента: 1257484
Опубликовано: 15.09.1986
Авторы: Григорьев, Конев, Рубцова, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: вещества, рассеивающей, способности
...трубки перпен дикулярна к поверхности образца-излучателя (средний угол падения перовичного пучка на пробу=90 ) Уголотбора вторичного излучения 1 =30, чтоообеспечивает регистрацию квантовогоизлучения, рассеянного в среднем на уголоС=120 . Рассеянное пробой 1 излучение проходит через коллиматор, разлагается в спектр по схеме Кошуакристалл-анализатором 5 из кварцатолщиной 0,012 см с отражающей плоскостью 1010 и через приемную щель брегистрируется сцинтилляционным счетчиком 7 типа СРС(разрешающая способность его равна 557 для излученияСцК ),Д 11Спектрометр ФРСоснащается блоком сменных коллиматоров 2-4 с различным зазором 1 между пластинами(1=0, 16 см; 1, =О, 25 см; 1, =0,40 см) .Пробу анализируемого порошкообразного вещества засыпают в...
Способ определения рассеивающей способности излучателя
Номер патента: 1278693
Опубликовано: 23.12.1986
Авторы: Астахова, Григорьев, Конев, Рубцова, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: излучателя, рассеивающей, способности
...рентгеновской т.чбки (РТ), 3,5 БВХ -938 (Рд), корпус,2 РТ, бериллиевое выходное окно 3 РТ толщиной 0,05 см, образец-излучатель 4, выходной коллиматор 5, "эффективно" рассеивающий объем б излучателя, бленду 7 из свинца толщиной 0,5-1,0 мм и более,Ось РТ перпендикулярна к поверхности обраэца-излучателя (средний угол падения первичного пучка на пробу Ю = 90 ), Угол отбора вторичного излучения 9=30, что обеспечивает регистрацию квантов излучения, рассеянного на угол 8 =120 , Высоковольтный источник питания обеспечивает генерирование напряжения до 70 кВ при токе 50 пА. Вторичное излучение разлагают в спектр кристал лом иэ кварца толщиной 0,012 см с отражающей плоскостью 1010. Излучение регистрируют сцинтилляционнымсчетчиком СРС(разрешающая...
Способ определения оптической плотности рассеивающей среды
Номер патента: 1312455
Опубликовано: 23.05.1987
Авторы: Горячев, Кутлин, Ларионов, Могильницкий, Савельев
МПК: G01N 21/59
Метки: оптической, плотности, рассеивающей, среды
...нулевого пропускания измеряют К отраженный световой поток слоя нулевого пропускания и нормируют его на величину падающего потока, Полученное значение К используют в расчетах. Расчет оптической плотности Р проводят по следующей методике. Из уравнений для световых потоков прошедших слой и отраженных слоем можно получить следующее выражение: 1 1-К(1+1 ) 0 1 п ----- -(1). 11+1-К1 пргде 1 = - . - прошедший световой по 1 1ток;1 отр1 = --- отраженный световой по 2) К - отраженный световой поток слоя нулевого пропускания;К - функция ослабления.5 П р и м е р 1. Проводится определение оптической плотности раствора частиц попистиролового латекса(диаметр частиц 0,2 мкм). Растворпомещают в кювету с геометрическимиразмерами х = 20 мм, у = г =...
Способ определения коэффициента отражения рассеивающей среды
Номер патента: 1408315
Опубликовано: 07.07.1988
Авторы: Горячев, Кутлин, Ларионов, Могильницкий, Савельев
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициента, отражения, рассеивающей, среды
...их неравентва увеличивают число зеркальныходложек, устанавливаемых по перимету кюветы, до получения максимальноо значения интенсивности отраженно-. 30о потока, которое используют дляпределения отношения интенсивноститраженного потока и интенсивностиадающего,П р и м е р. Проводят определениеоэффициента отражения слоя взвесиастиц полистиролового латекса. Диаетр частиц полистирола 0,44 мкмспользуют стандартную схему измерейия; источник коллимированного теплоВого излучения, полупрозрачное зерсапо, кювета прямоугольного сечения,.зеркальные подложки, интерференционфый светофильтр с полосой пропускасия (633 +. 6) нм. Интенсивностьветовых потоков измеряют с помощьюФЭУ. Измеряют коэффициенты отражеия слоев, которые характеризуютсяпродольной...
Способ определения прозрачности участка рассеивающей среды
Номер патента: 1523974
Опубликовано: 23.11.1989
Авторы: Виленчиц, Высоцкий, Кугейко, Малевич, Умрейко, Фут
МПК: G01N 21/47
Метки: прозрачности, рассеивающей, среды, участка
...Л 2 Рт 50 55Лналогично отношению сигцалонБ(Б, БЭ) и ",(Б 4, Б), полученных от границ струи в точке Б., определяется н ниде с(Б, Б) . - . Р,(Б Б )(Б, г ):." (1) 2,),где Л- постояццац цсточника 2;Р, - энергия излучения источника2;1 э,.) - коэффициент рассеяния подуглом 90Т(".;,Б) - прозрачность участковгБ ),Д , 1,2,3 .,Я) = 1,2,3,;где Е(г) - коэффициент прозрачности,1 ри посылке зондирующего излучения вторым источником, расположенным с противоположной стороны струи, величины сцгцалон, рассеянных под углом Т/2 от границ струи ц вос.2)Б)Бо)/Б(Г 4 ъ Б 2) с ( Я)/48 о -Я( Я) г,е. для сред с ицдикатрисой рассеяня й 1эя счет пренебрежения отличием ), и 0,овносилась бы существенная ошибка в результаты измерецш. В данном случаерегистрации...
Система контроля рассеивающей способности электролита
Номер патента: 1532606
Опубликовано: 30.12.1989
Авторы: Момбелли, Попов, Сабашников
МПК: C25D 21/12
Метки: рассеивающей, способности, электролита
...равным радиусу внутреннихЪ кр омок лепе ст ков только при полном раскрытии диафрагмы. Степень приближения к кругам промежуточных отверстий диафрагмы зависит от числа лепестков: чем их больше, тем форма отверстий ближе к форме круга, Кроме ирисовой диафрагмы могут быть применены и другие типы регулируемых диафрагм (типа "кошачий глаз" и т.д,).В сменную диаФрагму (Фиг. 2 б) входят сменные пластины с различными размерами отверстий. Оператор, выставляя их последовательно в направляющие измерительной ячейки в порядке возрастания (или уменьшения) диаметра отверстияЙяз обеспечивает равенство средней плотности тока на шайбе 10, ближайшей к аноду 2, средней плотности на деталях.Система контроля рассеивающей способности электролита работает...
Способ дистанционного оптического зондирования рассеивающей среды
Номер патента: 1624380
Опубликовано: 30.01.1991
Автор: Егоров
МПК: G01W 1/00
Метки: дистанционного, зондирования, оптического, рассеивающей, среды
...трасс П =- (2)1 ЛсЛггде Ь 1, Л г - величины, определяемыевыражениями 0)п Яхо,Уо г )и сугхо,уо г б)п Яз С 1(4) Затем определяют показатель П для случая пяти трассП= --- + - (х - хо)+ - (У-Уо)1, (5)1 Л 1 Лз Л 52 Лг Л 4 Л 4где Лз, Лб, Л 5 - величины, определяемые выражениями со 5 121 1 п а 15 п 2 аг 2 б 1 и 5115,1 п агСО 122 51 О У 12 51 П 2 П 2 хо,уо 1 О Угг2 2 б 1 п 52бг2со 5 уг з 1 О а 3 51 и 2 и 3г г б 1 п 5 з1 хо уо 51 П Угэ2б 1 з2со 5 о 4 51 О и 4 5 О 2 а 42 2 б 1 О 54)хо,уо 51 О 124гб 14с 05 уг 5 51 О 25 51 О 2 о 5г б 051 хо,уо 5 и Угв2б 15сов а 1 з)п агзп 2 а 1 сова в 1 па 1соз а 2 в)п а 2 в)п га 2 сова 2 впасоз 2 аз з 1 пазз 1 п 2 аз сосаз впазсозга 4 з 1 п 2 азз)п 2 а 4 сова 4 з)па 4сов аз з)п 2 авв 1 п 2 аз созаз...
Способ измерения толщины прозрачных пластин с рассеивающей поверхностью
Номер патента: 1672209
Опубликовано: 23.08.1991
Автор: Кизеветтер
МПК: G01B 15/00
Метки: пластин, поверхностью, прозрачных, рассеивающей, толщины
...Р подложки образца с темным (неосвещен1672209 иг. ным) кругом вокруг лазерного луча, Из фиг,1 видно, что диаметр темной области Ог связан с толщиной образца как Н -0,25 О со ус . Для того, чтобы поверхность Р являлась рассеивающей, высота шероховатости поверхности Вдолжна быть больше половины длины волны лазерного излучения, Рассмотренный эффект будет иметь место и в том случае, если ВвА/2, но контраст изображения будет ниже, и при Ва -+ 0 иэображение вообще исчезнет вследствие отсутствия диффузного рассеяния, Наилучшим условием наблюдения, соответственно, и условием измерения толщины пластины является размещение исследуемого образца на хорошо отражающей поверхности, например на листе белой бумаги, Угол падения лазерного луча...
Способ определения относительной рассеивающей способности электролитов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1684650
Опубликовано: 15.10.1991
Автор: Чекунов
МПК: G01N 27/26
Метки: относительной, рассеивающей, способности, электролитов
...фи ектролитов, ния является повыше ссности способа опре ьной рассеивающей проволоки, подвергаемой электрохимической обработке в исследуемом электролите, и на такой же проволоке и при той же плотности тока - в эталонном электролите,.а затем по предлагаемой простой формуле рассчитывается рассеивающая способность. Устройство реализации способа состоит иэ ячейки для исследуемого электролита с рабочим электродом в виде проволоки и вспомогательным электродом. Рабочий электрод закреплен в фиксаторе прямолинейности и расположен вдоль нормали к поверхности вспомогательного электрода. Токоподвод к электродам осуществляется с противоположных сторон. Последовательно с этой ячейкой соединены такая же ячейка, но заполненная эталонным электролитом,...
Способ оптического зондирования рассеивающей среды
Номер патента: 1695187
Опубликовано: 30.11.1991
Авторы: Бойцов, Егоров, Емельянова
МПК: G01N 21/47, G01W 1/00
Метки: зондирования, оптического, рассеивающей, среды
...один другому. При этом углы поля зрения приемных устройств приемопередатчиков 1 и 2 долж. ны целиком охватывать общую зондируемую область 2,Определение оптических характеристик ведется для точки А, Для этого посылают световой импульс от приемопередатчика 1 по трассе а в направлении на общую область 2. С помощью приемопередатчика 1 фиксируют сигнал, пришедший в обратном направлении из точек А, С и Е, а с помощью приемопередатчика 2 фиксируют сигнал, пришедший из точки А, Произвольно уменьшают угол зондирования и посылают световой импульс от приемопередатчика 1 па трассе Р в направлении на общую зондируемую область 2, Затем с помощью приемопередатчика 1 фиксируют сигнал, пришедший в обратном направлении из то1695187 С. Непомнящая гентал...
Способ определения коэффициента ослабления рассеивающей среды
Номер патента: 1809408
Опубликовано: 15.04.1993
Авторы: Кугейко, Малевич, Шиперко
МПК: G01N 21/47, G01W 1/00
Метки: коэффициента, ослабления, рассеивающей, среды
...зондирования слоисто-неоднородных сред, в которых наряду с изменением концентрации рассеивающих частиц по трассе зондирования происходит изменение их, микрофизических характеристик, а значит илидарного отношения д(2), использование 40 алгоритмов, основанных на неизменнрсти9(2) становится некорректным. Очевидно и следствие из этого - рост ошибки определения 3 (2). Данного недостатка можно избежать, если произвести корректировку 45 экспериментально измеряемой функции, наперепадлидарного отношения после границы раздела. Действительно, запишем функцию ф (2) для точки Ъ, лежащей до границы раздела, и точки Ъ+1, лежащей после грани цы раздела;ф (21) = Я(Ъ)Сьф (Ъ+1) = 5(Ъ+1)С+1 = Щ+1)Сдо+1, (3)Я где Я(Ъ) = Р(Ъ)Ъ; Я(5+1) = Р(Ъ+1)5+1 -...