Для измерения радиуса кривизны — G01B 11/255 — МПК (original) (raw)
Устройство для измерения радиусов кривизны больших поверхностей
Номер патента: 34190
Опубликовано: 31.01.1934
Автор: Максутов
МПК: G01B 11/255
Метки: больших, кривизны, поверхностей, радиусов
....причем отсчеты длин производятся по шкале пониженной точности.На чертеже фиг. 1 изображает вид устройства сверху; фиг. 2 - схему устройства для измерения радиуса кривизны .вогнутых поверхностей; фиг. 3 - схему уст 1 аойства для измерения радиуса кривизны выпуклых поверхностей.Устройство (фиг, 1) состоит из снабженной делениями линейки 1 из прозрачного материала (стекла) и одного или двух шариков 2 и 2.На нижней поверхности линейкивыфрезерован желобок 3 для прохождения нити 4, с помощью которой по измеряемой поверхности подтягивается шарик 2 до соприкосновения с линейкой . Для отсчетов и установки на центр шарика предусмотрен хомутик 5, снабженный любыми штрихами и нониусом на зеркальном стекле, которое, кроме того, может быть...
Оптический микросферометр для измерения радиуса закругления подпятников
Номер патента: 50886
Опубликовано: 01.01.1937
Автор: Кульбуш
МПК: G01B 11/255, G01B 9/04
Метки: закругления, микросферометр, оптический, подпятников, радиуса
...объектд и у в величи его действительного изображения.В п редлагаемом микросферометре осветительная лампа 7 (фиг. 2), расположенная под объективным столиком 2, служит для яркого освещения тонкого кольца 3 с полированной закругленной кромкой; кольцо 3 образовано краем металлического колпачка 4, укрепленного на объективе 5 микроскопа, Освещаемому краю кольца 3 придают малый радиус кривизны (порядка 0,5,ял) для того, чтобы размер отражающегося светлого кольца не зависел от изменения положения осветительной нити, что может иметь место, например, при замене одной лампы другою.., Освещенное кольцо 3 отражается от измеряемой сферы подпятникд б, установленного на предметном столике 2, и величина действительного изображения этого кольца...
Устройство для измерения радиусов кривизны вогнутых сферических поверхностей
Номер патента: 55017
Опубликовано: 01.01.1939
Автор: Максутов
МПК: G01B 11/255, G02B 27/54
Метки: вогнутых, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических
...изображенный, посылает пучок света на вогнутое зеркало 3, дающее изображение круглого отверстия О на шарике Ш. Со стороны шарика зеркало 3 представляется светящим ся диском, поэтому в фокусе шарика (на расстоянии Ы его диаметра от передней повЕрхности) окажется , уменьшенное изображение зеркала 3, 1 и от полученной таким образом светящейся точки в пространство выйдет пучок достаточно большой апертуры.Зеркало 3 частично (ниже горизонтального диаметра) экранирует изделие и, что несущественно для исследования. Так как зеркало 3 расположено почти на оси освещающего пучка, то при высоких его апертурах нам приходится считаться только со сферической аберрацией шарика Ш, Простой расчет показывает, что эта аберрация для большинства случаев...
Способ измерения эллиптичности шариков
Номер патента: 63059
Опубликовано: 01.01.1944
Автор: Коломийцев
МПК: G01B 11/255, G01B 9/02
Метки: шариков, эллиптичности
...пу.чков лежат в плоскости, перпендикулярной чертежу. После отражения ог сферических поверхностей все пучки идут обратно по прежнему направлеош 1 о и собираюся объективом О в фокальнгой плоскости окуляра О. Установку собирают так, чтобы пучок % интерферировал с пучком М, пучок Х. - с пучком Х 2 и т. д.Четыре интерференционные картины наблюдают на поверхности объектива О непосредственно глазом (убрав окуляр О и поместив глаз на его место) или с помощью телескопической лупы.Юстировкой интерферометра добиваются того, чтобы гири испытании заведомо идеального шарика(качество этого шарика легко проверить, поворачивая его вокруг вертикальной оси) разность хода для всех четырех пучков была равна нулю, что проверяется по появлению нулевой белой...
Автоколлимационный сферометр
Номер патента: 66636
Опубликовано: 01.01.1946
Автор: Лебедев
МПК: G01B 11/255, G01B 9/06
Метки: автоколлимационный, сферометр
...65 к. Вак. 22 Те к рдакт.р Г Тира)к 500 акз Цеч, 0289 юпограсЬия Госплапиздата ис Воровского, Калуга большой апертуры без потери точности. Благодаря большой чувствительности стереоскоп (ческого совмещения, прибор обладает высокоц точностью,Предмет изобре(ения Лвтоколлимационный сферометр с визиром, сфокусированным на точку сходимости лучей, в пространдактор В, Н. Костров одписаго к печати 1 В 1-1948 г. стве предметов коюрогзо исс,1 едемая поверхность устанавливается в зт точку сначала своей вергицной, а затем центром кривизны о т л пи а (о щ и й ся тем. что с целью пс - вышения точности совмещения при первой и втог,ой мстановках визир выпо;шен по автоколлпмаццонной стереоскопической схеме с сетками 5, несугцими измери гельцые...
Оптический сферометр
Номер патента: 79150
Опубликовано: 01.01.1949
Автор: Иконников
МПК: G01B 11/255, G01B 9/04
Метки: оптический, сферометр
...А; и Аа.ВО изое)канне няесения специяльцоц икяль) в Оксляре мик)0- скопа на предметном столике крепится устройство, позволяю)цее перемещать испытуемый объект в цяправ,Сццц прямой А,А. отцс)сительно тубуса микроскопа.При отсутствии в окуляре специальной шкалы аожцо пользоваться микрометром, яющим отсчет с точностьк) до сотых долей миллимет. ра. КакСць в этом случае перемещают, чтосн,) добиться подведения под середину окуляра сначала одного изображения, я затем второго.Рязшашу показаний микрометра отмечают и, располагая шкалу подМ 79150соответствующим масштабом, получают величину радиуса. Для удобства наблюдения в окуляре помещается линза с двумя линиями, пересекающимися под углом 90, из которых одна совпадает с направлением АА...
Интерферометр
Номер патента: 130209
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Духопел, Коломийцев
МПК: G01B 11/255, G01B 9/02
Метки: интерферометр
...если проверяемая поверхность 10 имеет местные дефекты.Для обеспечения совмещения центров кривизны эталонной и проверяемой поверхностей столик, на который накладывается проверяемая линза, может перемещаться в трех взаимно-перпендикулярных направлениях. Совмещение контролируется наблюдением в окуляр 12 автокол130209лимационных изображений 13 отверстия 4, полученных после отражения лучей от поверхностей 8 и 10 и полупрозрачной пластинки 14. Интсрферометр обеспечивает возможность изменения кривизны полос, т, е. точный контроль местных дефектов по искривлению прямых полос, астигматической разности радиусов кривизны поверхности в двух сечениях и отступления радиусов поверхности от номинального значения по числу наблюдаемых колец,...
Автоколлимационная установка для контроля асферических поверхностей
Номер патента: 139082
Опубликовано: 01.01.1961
МПК: G01B 11/255, G01B 9/04
Метки: автоколлимационная, асферических, поверхностей
...микроскоп состоит из линз 1 и 2, призмы 8 и зеркала 4 с наружным покрытием. Они могут независимо друг от друга перемещаться вдоль оси вращения измеряемой поверхности 5, При этом их положения фиксируются по шкале. Зеркало, кроме того, может вращаться вокруг оси, расположенной перпендикулярно оси вращения поверхности 5.Измерение профиля поверхностей производится следующим образом.При перемещении микроскопа (при данном положении зеркала) поочередно наблюдаются автоколлимационные изображения от центров кривизны сагиттального и меридионального направлений и от измеряемой поверхности, Разности отсчетов положений микроскопа при наведениях на центры кривизны и измеряемую поверхность дают величины радиусов кривизны.Расстояние от...
157789
Номер патента: 157789
Опубликовано: 01.01.1963
МПК: G01B 11/255, G01B 9/02, G02B 5/28 ...
Метки: 157789
...и Окуляра.На чертеже изображена оптическая схема устройства.И точник 1 белого света помещен в фокусе двояковыпуклой линзы 2 Поворотный интерферегционный светофильтр 3 помещен в наЪо 157789 ра,лелыом и",1 ке светОВВх лучей, пдуцих От липзь к разделитсльнОЙ пласти 1 е 4, Отра)каощей их на 110 сопос стскло а, контактирующее с контролируемой де алыо 6. ИпчеР(1)еренциону 0 картину, Возникающую В Возду 1 ппом зазоре между прооным стеклом и контролтруел 10 й дста:1 ыО, наол 10 да 10 т чс)ез Опт 1 с-скуО систему, сост 051 щО пз Обьектива 7 и окуляра о.При поворотах светофильтра Вс)круг осп 9 благодаря изменению угла падения света на свеофильтр пзменяется длина волны света, падающего на контролируемую деталь. Это вызывает перемещение...
160887
Номер патента: 160887
Опубликовано: 01.01.1964
МПК: G01B 11/25, G01B 11/255, G02B 27/60 ...
Метки: 160887
...3 устацавлцвают ца расстояццц а от ооъектива фотоаппе 1 рата 2. Згттеъг ргстр, цапсенныйный ца экран 1, раьцгомрцо освегцгпот доиолггцтельцымц цсточццкамц цзлучецця (ца гертежс цс показацы) и фото. рафцруюг отражение указанного растра от цссле;1 умой погерхцостц 3 фотоаппаратом 2 через отверстие в экране 1. Не меняя взацмцого расположсцця экрана ц фотоаппарата. смецсатот цх ца велтгчц У . ОТ 1 ОСЦТЕЛЬЦО 11 ССЛЕГУЕ:1011 ПОВЕРХ 110 СТЦ В цаправлеции, перпендикулярном полосам растра, и повторно фотографиругот его отражеггц От исследуе. гой поверхгости па тот же 11 сгг ив. В результате цаложеция двух изображений растра, отражеццых от исследуемой поверхгости, цаходящейся в двух положеццях, образуется картина муаровьгх полос, вдоль...
191851
Номер патента: 191851
Опубликовано: 01.01.1967
МПК: G01B 11/255, G01B 9/06, G02B 27/32 ...
Метки: 191851
...в поле зрения окуляра формируется световым потоком от лампы накаливания 24, который проходит через конденсор 25, объектив 26, в фокальной плоскости которого установлена сетка 27, объектив 28 с сеткой 29 дециметровой шкалы в виде двойного биссектора и направляющих призм 30, 31. Изображение двойного биссектора дециметровой шкалы проецируется однократным объективом 32 в плоскость миллиметровой шкалы 33. Совмещенные изображения сеток 27, 29 и миттлитхтетровой шкалы 33 проецируются оптической системой из микрообъектива 34, прямоугольной призмы 35,плоскопараллельной пластины 36 в плоскостисеток 37, 38, на которых нанесены микронная шкала и шкала двойных биссекторов. Изображение полученное в плоскости этих сеток,проецируется с помощью...
Способ измерения кривизны поверхности
Номер патента: 196375
Опубликовано: 01.01.1967
Автор: Кубрик
МПК: G01B 11/255, G01D 5/39
Метки: кривизны, поверхности
...светового пятна на контролируемой поверхности, по которым и судят о кривизне, Благодаря этому можно определить кри визну поверхности во всех трех направлениях.На чертеже изображена схема измерения кривизны поверхности.По описываемому способу кривизну поверхности 1 измеряют путем регистрации коорди пат светового пятна, отраженного от контролируемой поверхности с помощью перемещающихся источника 2 света и светоприемника. В качестве светоприемника используют передающую телевизионную трубку 3, равномерно 25 перемещающуюся вместе с источником света в выбранном направлении. При каждом перемещении измеряют приращения координат последовательных положений светового пятна Л на контролируемой поверхности. Так как эти координаты характеризуют...
Автоколлимационный прибор для определения профиля нелинейных поверхностей
Номер патента: 209795
Опубликовано: 01.01.1968
МПК: G01B 11/255, G01B 9/06
Метки: автоколлимационный, нелинейных, поверхностей, прибор, профиля
...что лучи, выходящие из микрообъекгива 5, попадают на поверхность желоба кольца б под углом, позволяющим контролировать весь угол охвата желоба при двух положениях поворотной головки (О - 180). На чертеже изображена пово 5 ротная головка в положении для контролянижней части поверхности желоба, 11 осле поворота головки на 180 контролируется, верхняя часть поверхности.Для измерения радиуса кривизны в любой10 точке контролируемой поверхности в плоскости зрачка микрообъекгива находится подвижная сканирующая щель 7, перемещающаяся перпендикулярно оси объектива,В приборе использован объектив с число 15 вой апертурой А,65. Однако при сканировании поверхности желоба действующая апертура объектива определяется шириной щелии значительно меньше...
273471
Номер патента: 273471
Опубликовано: 01.01.1970
Автор: Бондарев
МПК: G01B 11/255, G02B 21/00, G02B 21/02 ...
Метки: 273471
...показана) производить измерения расстояний между двумя биссекторами сетки 5 окулярной головки для определения масштаба увеличения. О Обьектив микроскопа снабжен панкратцческой системой линз 6, 7, 8. Перемещение двух крайних из них обеспечивает измене ше увеличения объектива, строящего изобр ажение в плоскости сетки 5, в непосредственной 5 близости к которой размещена пластина 9 снанесенными па ней установочными,штрихами.На сетке 5 окулярной головки микро:копананесены дуги определенных радиусов (штри ховые линии). Рядом с каждой из них имеется по два биссектора, расстояние между которыми равно 1 мл при увеличении 1,Измерения на микроск дующим образом: фокус штрих предметного стекл зрения одну из дуг, нане таким образом, чтобы ш между...
Автоколлимационный сферометр для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей
Номер патента: 324489
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Ахремчик, Голод, Никитин, Обрадович
МПК: G01B 11/255
Метки: автоколлимационный, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических, сферометр
...ес це оа кривизиы с прсдмстиой плоскости обьг изооражсиия копцов итри:;ов сетки р." 30 ся в разиь 1 с стороны. Шторка 15 пГ25 30 35 перемещении перекрывает штрих сетки, при этом в цепи фотоприемников 12 и 13 возникает электрический ток. В случае совпадения концов штрихов сетки в электронный блок И с фотоприемников поступают совпадающие по времени электрические импульсы, и индикаторное устройство 17 покажет поль. Если совпадение концов штрихов сетки отсутствует, то в электроннын блок 14 поступят не совпадающие по времени электрические импульсы, и индикаторное устройство покажет значение, отличное от нулевого. Для отсечения электрических импульсов, возникающих при обратном ходе шторки 15, перед ней устанавливают обтюратор 18, выполненный в...
Радиусомер для выпуклых неполных цилиндрических и сферических поверхностей
Номер патента: 408141
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Стандартизации, Якирин
МПК: G01B 11/255, G01B 9/02
Метки: выпуклых, неполных, поверхностей, радиусомер, сферических, цилиндрических
...рабочимиизмеряеют два оттсчетов и 25 ный коэфтличается тем зводительности лоскостей приз Изобретение относится нике и может быть ис щения производительнос выпуклых неполных цилИзвестен радиусомер ных цилиндрических и с тей, содержащий прозр призму с определенным между ее рабочими пло устройство со шкалой и лением для наводки на онных картин, возникаю не между рабочей пло призмы и измеряемой по циент проп онмым радиус игранного уг докартины.На чертеже показан предлагаемый радиусомер.Он содержит подвижный стол 1, на котором находится прозрачная установочная призма 2 с определенным углом О между рабочими плоскостями, отсчетное устройство 3 со шкалой 4 и визирным приспособлением 5, прижим 6, прижимающий измеряемый объект 7 с...
Компенсатор для контроля вогнутых эллиптических
Номер патента: 370458
Опубликовано: 01.01.1973
Автор: Вител
МПК: G01B 11/255, G02B 13/18, G02B 3/04 ...
Метки: вогнутых, компенсатор, эллиптических
...1 и контролируемой линзы 2, одна из поверхностей линзы вогнутая эллиптическая, д - толщина компенсатора, 5 - расстояние от плоской.поверхности компенсатора до вершины контролируемой эллиптической поверхности, Ро - задний фокус компенсатора, С, - центр кривизны при вершине контролируемой поверхности. Собственно компенсатор представляет собой плоско-выпуклую линзу. Выпуклая поверхность которой - эллиптическая, Причем эксцентриситет этой поверхности равен величине, обратной показателю преломления линзы, а толщина линзы где и - ,показатель преломления компенсатора; г - радиус кривизны при вершине эллиптической поверхности компенсатора; Р - радиус кривизны при вершине контролируемой эллиптической поверхности,Можно доказать, что именно при...
Прибор для измерения радиусов кривизны и несферичности вогнутой сферической поверхности
Номер патента: 373520
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Григорьев, Ершова, Жуковска
МПК: G01B 11/255, G01B 9/02
Метки: вогнутой, кривизны, несферичности, поверхности, прибор, радиусов, сферической
...в диске 8, закрытые заглушками И.Эталонный шар 1 выполнен в соответствии сноминальным радиусом контролируемой детали 7.ЗС Конструкция прибора позволяет производить смену эталонного шара 1 и измерительных наконечников 5 в соответствии с размерами контролируемой детали 7,На корпусе 9 предусмотрены посадочныеместа для крепления установочного устройст 5ва на оправе объектива 15 интерферометра(интерферометр для контроля плоских поверхностей),Предварительно собранное установочноеустройство располагается на интерферометре,эталонная пластина которого снята.После установки устройства на интерферометр производится регулировка измерительного клина, который создан плоской поверхностью пяты 10 и поверхностью плоскопараллельной стеклянной пластины...
Фотоэлектрический способ измерения размера изделия
Номер патента: 517786
Опубликовано: 15.06.1976
Автор: Фридлянд
МПК: G01B 11/02, G01B 11/06, G01B 11/255 ...
Метки: изделия, размера, фотоэлектрический
...первоначального направления под углом,имеющим биссектрису, расположенную перпендикулярно линии измерения, а затем производят сравнение интенсивности основного идополнительного потоков, по которому и судят об измеряемом размере.На чертеже изображена принципиальнаясхема, реализующая предлагаемый способ.Схема содержит источники 1 и 2 света, оптическую систему 3, фотоприемники 4 и 5.Предлагаемый способ осуществляют следующим образом,На один край измеряемой кромки (прямоугольной или круглой) изделия 6 направляютпод углом основной параллельный световой поток 7 прямоугольного сечения, сформированный источником 1 света. Частьпотока, ограниченную этим краем кромки, отражают оптической системой 3, например плоским зеркалом, под угломк...
Способ определения радиуса кривизны вогнутых поверхностей
Номер патента: 567947
Опубликовано: 05.08.1977
Авторы: Горшков, Кряхтунов, Лозбенев, Максимова, Харионов
МПК: G01B 11/255, G01B 9/02
Метки: вогнутых, кривизны, поверхностей, радиуса
...интерферещионных колец иполе зрения.Из зависимостиг2 = 1 Ягде- величина смешения зеркала;У - зонаповерхности (пол= зренияинтерферометра)М - радиус контролируемой поверхности,К - количество интерференционныхколец в поле зренйя;Л - алина волны света,определяют радиус кривизны поверхности.На схеме показаны: точечный источниксвета 1, зеркальный интерферометр сдвига2, светоделитель 3, зеркала 4 и 5 интерферометра, контролируемая поверхность 6,эталонная линза 7,Способ осуществляется следующим образом, 25Световой пучок, отраженный от контролируемой поверхности 6, направляют в зеркальный интерферометр сдвига 2. Поворотомодного иэ .зеркал интерферометра, например5, осуществляют боковой сдвиг волновогофронта, отраженного от зеркала 4, В...
Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов
Номер патента: 593070
Опубликовано: 15.02.1978
МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 11/30 ...
Метки: геометрических, зеркальных, оптических, параметров, элементов
...Схема устройства по 25 строена таким образом, что рассеиватель бустановлен, перед отражателем б на расстоянии , меньшем фокусного расстояния отражателя.Устройство работает следующим образом.З 0 Поток излучения от источника 1 когерентно.го излучения через светоделитель 2, блок 4 освещения и рассеиватель б подается на отражатель 5, на место которого в процессе измерения устанавливают исследуемый зеркальный оптический элемент. Отраженный зер кальным элементом поток через рассеяватель б подается на регистратор 7 излучения одновременно с опорным пучком излучения, поступающим через систему 8 формирования опорного пучка излучения. После получения 10 на регистраторе 7 голограммы исследуемый зеркальный оптический элемент сдвигают механизмом 8...
Способ контроля радиуса кривизны сферических поверхностей
Номер патента: 557621
Опубликовано: 05.03.1978
Авторы: Казанкова, Ларионов, Лукин, Мустафин, Рафиков
МПК: G01B 11/255
Метки: кривизны, поверхностей, радиуса, сферических
...поверхность с центром кривизны;5 - объектив; б - контрольный прибор. В качестве контрольного прибора, обеспечивающего формирование светящейся точки 1 и юстиронку схемы, используют .либо антоколлимационный микроскоп, либо интерферометр типа Тваймана-Грина.Способ осуществляется следующим образом. При контроле вогнутых поверхностей голограмму 2 устанавливают на)5 расстоянии К от светящейся точки и наблюдают ее антоколлимациопное изображение .(фиг,1), При контроле выпуклых поверхностей голограмму 2 устанавливают на расстоянии В от изображения С светящейся точки 1, сформированного объективом 5 (фиг.2). Это положение голограммы фиксируют с помощью щупа 3, производят первый отсчет, голограмму заменяют контролируемойповерхностью 4,...
Способ измерения радиуса кривизны цилиндрической поверхности
Номер патента: 729439
Опубликовано: 25.04.1980
Авторы: Балясников, Балясникова
МПК: G01B 11/255
Метки: кривизны, поверхности, радиуса, цилиндрической
...определяют ее кривизну с использованием соотношения: где е,"- ширина изображенной наэкране освещенной зоны пверхностиЬ - ширина щели;Я - расстояние от плоскостищели до экрана;Н - радиус крИвизны цилиндрической поверхностиИзобретение поясняется чертежна котором дана схема устройствадля измерения радиуса кривизны иверхности по предлагаемому спосо729439 ФоРмула изобретения О.Шилкирейко ставител хред О.Ан орректор О. КовинскР Редакто агова Под комитета СССР иоткрытий ушская наб., акаэ 1248/35цНИИПИ Росудпо делам113035, Мос Тираж 801рственногоэобретенийа, Ж, Р но Филиал ППП Патент, г,ужгород, ул,Проектная Щель 1 с фиксированным расстоянием Ь между кромками ножей устанавливают на фиксированном расстоянии Я от экрана 2, На экране...
Интерферометр типа майкельсона для измерения криволинейных поверхностей
Номер патента: 741041
Опубликовано: 15.06.1980
МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 9/02 ...
Метки: интерферометр, криволинейных, майкельсона, поверхностей, типа
...саттестованной длиной.На фиг. 1 изображена оптическаясхема интерферометра типа Майкельсона для измерения криволинейных поверхностей; на фиг. 2 - то же, в процессеконтроля,Интерферометр содержит (фиг. 1)осветительную систему 1, светоделительный кубик 2 с зеркальной гранью3, образующей референтное зеркало,измерительную ветвь, включающую элемент, предназначенный для наложенияна измеряемую поверхность (фиг. 2)и выполненный в виде гибкого световода 4 с отражательным торцом 5; оптическую систему (окуляр 6), предназначенную для образования в плоскости иэображения интерференционной картины.Работает описываемый интерферометр следующим образом.5Гибкий световод 4 накладывается на измеряемую пов ерхнос ть 7 (фиг. 2) . Крепление световода 4 к...
Устройство для контроля формы зеркал
Номер патента: 796658
Опубликовано: 15.01.1981
Автор: Щеглов
МПК: G01B 11/255, G01B 9/02, H01S 3/08 ...
...оси.Тыльная сторона прозрачной подложки эталонного зеркала 2 выполнена в виде трехгран.ной усеченной пирамиды,Один из активных оптических элементов 1расположен по оптической оси О.О устройства,а остальные, в предлагаемом исполнении четыре, попарно установлены в горизонтальной ивертикальной плоскостях, проходящих черезоптическую ось 0-0 устройства, симметричновокруг первого.Устройство работает следующим образом.После предварительной юстировки устройстваотносительно контролируемого зеркала 8 лазеры,образованные эталонным зеркалом 2, активными элементами 1 и контролируемым эерка.лом 8, начинают генерировать.Частота генерации каждого лазера определяется длиной его резонатора, т. е. фактическимрасстоянием между соответствующими точкамиА и Б...
Устройство для измерения геометрическихпараметров зеркальных оптическихэлементов
Номер патента: 847026
Опубликовано: 15.07.1981
Авторы: Голиков, Гурари, Прытков
МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 9/021 ...
Метки: геометрическихпараметров, зеркальных, оптическихэлементов
...фокусного расстояния отражателя 5,причемрасстояние Ь от прямолинейного краяА рассеивателя б до оптической осиотражателя 5 меньше половины диаметра 0 отражателя 5. Регистратор 7 излучения расположен таким образом, чтоплоскость, проходящая через центррегистратора 7 излучения и прямолииейный край А рассеивателя б, составляет с этим рассеивателем угол с 6, величина которого находится в диапазонеот Ф/2 до .Устройство работает следующим 20образом.Поток излучения от источника 1кегерентного излучения через светоделитель 2, блок 4 освещения и рассеиватель б падают на отражатель 5, на рместо которого в процессе измеренияустанавливают исследуемый зеркальныйоптический элемент. Отраженный зеркальными элементом поток поступаетна регистратор б...
Способ измерения радиуса кривизны сферических лазерных зеркал
Номер патента: 1059420
Опубликовано: 07.12.1983
Авторы: Баржин, Данильченко, Мунтян
МПК: G01B 11/255, G02B 27/48, H01S 3/08 ...
Метки: зеркал, кривизны, лазерных, радиуса, сферических
...прогиба поверхности,а также высокая вероятность механическогоповреждения поверхности, что делает его не.пригодным для измерения радиусов кривизнысферических лазерных зеркал,Наиболее близким по технической сущностик изобретению является способ измерения радиуса кривизны сферических лазерных зеркал,заключающийся в том, что направляют на изме.ряемое зеркало вдоль его оптической оси пучок лазерного излучения, регистрируют излу.чение после его взаимодействия с измеряемымзеркалом и определяют радиус кривизны 2.Недостатком известного способа являетсясравнительно низкая точность измерений,обусловленная тем, что значение радиуса кривизнызеркала определяется по величине угловогосмещедия отраженного от него лазерногопучка при смещении...
Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов
Номер патента: 1100497
Опубликовано: 30.06.1984
Авторы: Голиков, Гурари, Прытков
МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 9/021 ...
Метки: геометрических, зеркальных, оптических, параметров, элементов
...расположенных источника 1 когерентного излучения, светоделителя2, связанного оптически с системой 3формирования опорного пучка излученияи системой формирования предметногопучка излучения, включающее блок 4освещения и сигнальный канал, состоящий из отражателя 5, рассеивателя 6и регистратора 7 излучения.Отражатель 5 установлен на подвижной каретке механизма 8 пространственного сдвига. В устройство введенасистема дополнительных отражающихэлементов 9, расположенных перед отражателем 5 и выполненных в виде тонких пластинок из отражающего материала, например металлической фольги,внедренных в толщу прозрачной пластины, на которой рассеиватель 6получен матировкой одной из ее поверхностей, Допустимо расположениеотражающих элементов 9...
Способ контроля радиусов сфер большой кривизны
Номер патента: 1128115
Опубликовано: 07.12.1984
Авторы: Иванов, Иванова, Учуваткин
МПК: G01B 11/255, G01B 9/02
Метки: большой, кривизны, радиусов, сфер
...сравнения, а. другая - образована после отражения другого когерентного пучка от контролируемой.поверхности и является рабочей волной, и наблюдают интерференционную картину, получающуюся в результате наложения этих двух волн, устанавливают шаблон интерференционной картины установленного размера, перемещают интерференционную картину до совпадения ее размеров с размерами шаблона и по величине этого перемещения определяют размер контролируемого радиуса сферы.На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего предлагаемый способ контроля радиусов сфер большой кривизны,Устройство содержит двухлучевой микроинтерферометр ИИИ1, плоскую образцовую поверхность 2, винт 3, фотоокуляр 4, экран 5, шаблон 6 интерференционной картины,...
Способ измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали
Номер патента: 1293484
Опубликовано: 28.02.1987
Автор: Бакеркин
МПК: G01B 11/255
Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической
...методом с использованиемплоского зеркала 2. Излучение с помощью измеряемого объектива 1 фокусируют на поверхность плоского зеркала 2, Фиксируют положение А плоского зеркала, смещают.его по направлению к измеряемому объекту до положения А 9 при котором происходит фокусировка излучения в вершину поверхности объектива 1, обращенной к плоскому зеркалу 2, Величину Б объектива 1 фопределяют как: Б:. 2 А - А",/,Затем плоское зеркало 2 заменяют на деталь 3, радиус кривизны выпуклой поверхности которой требуется измеРить. С помощью объектива 1 фокусируют излучение в вершину измеряемой поверхности детали, при этом фиксируют положение А детали. Затем смещают деталь 3 по направлению к объективу 1 до положения, при котором излучение...