Шлирен-оптика — G02B 27/54 — МПК (original) (raw)
Устройство для измерения радиусов кривизны вогнутых сферических поверхностей
Номер патента: 55017
Опубликовано: 01.01.1939
Автор: Максутов
МПК: G01B 11/255, G02B 27/54
Метки: вогнутых, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических
...изображенный, посылает пучок света на вогнутое зеркало 3, дающее изображение круглого отверстия О на шарике Ш. Со стороны шарика зеркало 3 представляется светящим ся диском, поэтому в фокусе шарика (на расстоянии Ы его диаметра от передней повЕрхности) окажется , уменьшенное изображение зеркала 3, 1 и от полученной таким образом светящейся точки в пространство выйдет пучок достаточно большой апертуры.Зеркало 3 частично (ниже горизонтального диаметра) экранирует изделие и, что несущественно для исследования. Так как зеркало 3 расположено почти на оси освещающего пучка, то при высоких его апертурах нам приходится считаться только со сферической аберрацией шарика Ш, Простой расчет показывает, что эта аберрация для большинства случаев...
Осветительное устройство для исследования по теневому методу фуко
Номер патента: 61544
Опубликовано: 01.01.1942
Автор: Максутов
МПК: G02B 1/08, G02B 1/10, G02B 27/54, G02B 3/14 ...
Метки: исследования, методу, осветительное, теневому, фуко
...кислоты, чтобы получить глубину штриха порядка нескольких десятых долей микрона и в то же время не сделать матовой поверхность штриха. После этого при посадке на контакт на месте штриха будет происходить полное внутреннее отражение. Верхнее стекло может быть наклеено бальзамом. Можно обойтись и без верхнего стекла, нанеся сетку или перекрестие на верхней поверхности составного стекла.Недостатком обоих вариантов является то, что, во-первых, изображение штриха по его ширине лежит в плоскости, не перпендикулярной оптической оси, что при малой ширине штриха несущественно и, во-вторых, что применение такого осветителя для теневых исследований затруднительно.От этих недостатков свободен следующий вариант,На фиг. 2 изображена иная...
Осветитель оптического прибора
Номер патента: 711520
Опубликовано: 25.01.1980
Авторы: Камалов, Сухоруких, Харитонов, Шаров
МПК: G02B 19/00, G02B 27/54
Метки: оптического, осветитель, прибора
...А(, формируемое реблекто ,ром 3 и объективом 4, с(,- угол между источником света 2 и меридианальной плоскостью - с(. - угол между меридианальной плоскостью и изображением бисточника света 2. 45Расходящийся пучок лучей света, испускаемый точкой А; в направлении объектива 4 (фиг, 1), после прохождения через объектив 4 преобразуетсяв телецентрический пучок, наклонен- уоный к меридианальной плоскости наугол:и к сагиттальной плоскости - наугол;ОА со 5 д.Пучок лучей после отражения от двугранногозеркала 3 вновь пацает яа объектив 4, При этом угол телецентрического пучка с сагиттальной плоскостью не изменится, а угол с ме ридианальной плоскостью изменит свойзнак на противоположный:ОА ЬЮАЧ =-ч =-агойМ 1 ВОА СО 5 А,15 1 Ьт, е, точка А и ее...
Автоколлимационное теневое устройство для контроля формы поверхностей оптических деталей
Номер патента: 977946
Опубликовано: 30.11.1982
Авторы: Бакеркин, Кондратов, Кореньков
МПК: G01B 11/24, G02B 27/54
Метки: автоколлимационное, оптических, поверхностей, теневое, формы
...одинаковые размеры и конфигурацию,рабочего сечения и представляют со бой, негативные отображения друг друга.Кроме того одна иэ диафрагм выполнена в виде непрозрачного шарика, а другая - в виде экрана с круглым отверстием, представляющим собой рабочее сече Онйе диаметр которого равен диаметру шарика.На фиг. 1 изображена принципиальнаясхема автоколлимационного теневого уст-,ройства для контроля формы поверхностейоптических деталей; на фиг. 2-5 - варианты выполнения диафрагм,Устройство содержит осветитель 1 ипоследовательно расположенную по ходуаветовых лучей задающую диафрагму 2, уополупрозрачную пластину 3, анализирующую диафрагму 4 и регистрирующий блок5, обрабатывающий теневую картину отповерхности. контролируемой...
Интерферометр для контроля оптических поверхностей
Номер патента: 1065684
Опубликовано: 07.01.1984
Авторы: Бубис, Ган, Кузнецов, Робачевская, Флейшер
МПК: G01B 11/24, G01B 9/021, G02B 27/54 ...
Метки: интерферометр, оптических, поверхностей
...бинарную фазавуюсинтезированную голограмму б, рас-.положенную перед светоделителем 5в другой ветви, наблюдательную систему, включающую объектив 7 с пере"менным фокусном расстоянием,объектив 8 и окуляр 9, прямалиней"нцй ножфуко, установленныйс возможностью йрадольпого и поперечного перемещения относительноосн наблюдательной системц..Иитерферометр работает следующим образом.Пучок света ат манохроматического 1 источника света, собираетсяв.:точкулинзой.2 в плоскости однойиз сменнцх диафрагм набора 4. Лнн"эой 3 формируется точечный источ них света в виде точки О в центрекривиэнц поверхности а светоделителя 5, выполненного в виде при; М змеина-линзового блока. Поверхностьа является эталонной поверхностью интерферометра. На поверхности а...
Теневая установка
Номер патента: 1094013
Опубликовано: 23.05.1984
Авторы: Давыдов, Дрейден, Островский, Этинберг
МПК: G02B 27/54
Метки: теневая
...1 представлена оптическая схема предлагаемой установки и ход лучей в ней; на фиг, 2-10 - различные варианты исполнения ее визуализирующей диафрагмы, где неэаштрихованные участки соответствуют прозрачным участкам диафрагмы, черные - непрозрачным, а заштрихованные - зеркальным.Теневая установка включает установленные последовательно на оптической оси 1 точечный источник 2 света, коллиматор 3, объектив 4, виэуализирующую диафрагму 5, расположенную в фокусе объектива 4, и регистратор б, оптически сопряженный с013 3 1094исследуемым объектом 7, Кроме того,в состав установки входит второйрегистратор 8, также оптически сопряженный с объектом 7. При этом непрозрачная часть диафрагмы 5 содержит5зеркальные участки, а ее плоскостьсоставляет с...
Теневой прибор
Номер патента: 1173373
Опубликовано: 15.08.1985
Авторы: Витриченко, Пушной
МПК: G02B 27/54
...участ.ком одной пластины 8, третий квадрант экранируется участками обеих наложенных друг на друга пластин и, наконец, последний квадрант экранируется свободным участком второй пластины 9. Поляризатор 2 имеет фиксированные положения, при которых направления его собственного вектора (на. фиг,1,4 и 5 показаны стрелкой) пооче.редно совпадают с направлением собственных векторов каждой из пластинок.8 и 9 составляющих фильтр пространственных частот 5. 1 О Поставленная цель достигается тем,,что в теневой прибор, содержащий по следовательно расположенные на оптической оси источник света, объективпрямого преобразования Фурье,держатель контролируемого объекта, фильтр.пространственных частот в виде двумерного теневого ножа, объектив обратного...
Теневой прибор
Номер патента: 1173374
Опубликовано: 15.08.1985
Авторы: Витриченко, Евсеев, Пушной
МПК: G02B 27/54
...объектив 4, фотометрический компенсатор (на фиг.1 выделен пунктирной линией), состоящий из элементов 5, 6 и 7, объектив фурье 8 и сканирующий фотоприемник 9, подключенный к блоку электронной обработки сигнала 10, выходы которого соединены с входами визуализирующих устройств- монитора 11 и осциллографа 12. При этом излучение регулируемого по полю 55 источника света б совмещено с главной оптической осью прибора через свето- делитель 7, установленный за светопо 77 4глощаюшпм компонентом 5 фотометрического компенсатора.В качестве элемента 5, уменьшающего Освещенность, может быть использована фотографическая пластина с негативным изображением идеальной теневой картины. В свою очередь идеальная теневая картина может быть получена либо...
Теневой фотоэлектрический прибор
Номер патента: 1179256
Опубликовано: 15.09.1985
Автор: Алехин
МПК: G02B 27/54
Метки: прибор, теневой, фотоэлектрический
...к входу осциллографа 7 (положение П).Устройство работает следующим образом.При настройке прибора в отсутствие оптической неодйородности 20 линейным перемещением основного анализирующего элемента - призмы 11 перпендикулярно направлению распространения зондирующего пучка света 21 добиваются идентичности отраженных боковыми гранями 12 и 13 призмы пучков света 22,и 23 (см. фиг. 2), сравнивая сигналы на осциллографах 6 и 7 от фотоприемников 4 и 5. При этом дополнительные анализирующие элементы - нейтрально серые клинья 15 и 16, представляющие собой оптические элементы с коэффициентом пропускания, меняющимся по линейному закону вдоль выбранного направления, являющегося в дальнейшем рабочим, устанавливают так, чтобы отраженные световые...
Способ определения скорости изменения нестационарной газовой неоднородности
Номер патента: 1233089
Опубликовано: 23.05.1986
Авторы: Калачев, Сухоруких, Фокеев, Харитонов
МПК: G01N 21/61, G02B 27/54
Метки: газовой, изменения, неоднородности, нестационарной, скорости
...конденсорных систем и развернуты по отношению к одноименнымграням соседних призм на угол 90,;входную диафрагму 29 с двумя параллельными одна другой щелями; поворотное зеркало 30; объектив коллиматора 31; камеру 32 с исследуемойгазовой неоднородностью; объективприемной части 33; поворотное зеркало 34; визуализирующую диафрагмув виде четырех ножей Фуко 35; выходной отражательный призменный блок 36(выполненный аналогично призменномублоку 28), зеркальные гипотенузныеграни которого обращены в сторонуфотографических объективов 37-40,служащие для. формирования изображения теневой картины в приемниках,Изображение 41 входной щели фоторегистратора 42 в обратном ходе лучейстроится объективами 37 и 33 в исследуемом поле 43 оптического прибора. С...
Датчик гартмана
Номер патента: 1312511
Опубликовано: 23.05.1987
Авторы: Витриченко, Пушной
МПК: G01M 11/02, G02B 27/54
...как преобразователь Гильберта в широком диапазоне спектра, 35Работу устройства можно рассмотреть на примере контроля качестваглавного зеркала телескопа.Источник света 1 освещает, черездиафрагму Гартмана 2 объект контроля - 40фокусирующий оптический элемент 3.Диафрагма Гартмана 2 выделяет рядзон изучаемого волнового фронта Изображения зон получаются в плоскостиустановки Фотоприемника 5, При этом 45изображения пятен получаются послепрохождения светом плоскости фокусировки излучения, в которой установленфазовый нож 4, Изображение каждой зоны в случае, когда фазового ножа нет, 50имеет распределение интенсивности,показанное на фиг.2, Это распределение имеет плавный ход, близкий кэкспоненциальному, т,е. границы ицентр пятна размыты, 55...
Устройство для контроля неполированных поверхностей антенных отражателей
Номер патента: 1388712
Опубликовано: 15.04.1988
Авторы: Бархударов, Лорецян, Петросян
МПК: G01B 11/24, G02B 27/54
Метки: антенных, неполированных, отражателей, поверхностей
...чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого устройства.Устройство содержит осветительный блок в виде двух параллельно установ ленных лазеров 1 и 2 соответственно видимого и инфракрасного диапазонов волн, проекционную систему в виде последовательно установленных вогнутого сферического зеркала 3 с цент ральным отверстием, выпуклого сферического зеркала 4, ориентированного так, что его выпуклая поверхность обращена к вогнутой поверхности вогнутого сферического зеркала 3, плоско го зеркала 5, установленного в фокальной плоскости вогнутого сферического зеркала 3, набора диафрагм 6, установленньм в плоскости промежуточного изображения осветительного бло ка, и прямолинейного ножа 7 Фуко,установленного в той же плоскости, и...
Теневой прибор
Номер патента: 1421995
Опубликовано: 07.09.1988
МПК: G01B 11/255, G01B 11/30, G02B 27/54 ...
...тень от экрана 4 при контроле детали 2 идеальной формы будет иметь вид прямых линий. Измерительный экран 5 установлен за плоскостью изображения источника 1 света в плоскости анализа теневой картины, т. е. в плоскости компенсации кривизны экрана 4, с возможностью перемещения его вдоль оптической оси измерения величины этого перемещения. Взаимная ориентация и размерные зависимости прямых на измерительном экране 5 и кривых на криволинейном экране 4 определяется, параметрами контролируемой детали 2 и схемой контроля. На фиг. 2 представлен вариант разметки экрана 5, где 6 - линии разметки, 7 линия световой апертуры, 8 - центр теневой картины,Теневой прибор работает следующим образом.Перед началом измерений точечный источник 1 света...
Способ контроля формы вогнутых эллиптических поверхностей
Номер патента: 1712776
Опубликовано: 15.02.1992
Авторы: Кондратов, Контиевский
МПК: G01B 11/24, G02B 27/54
Метки: вогнутых, поверхностей, формы, эллиптических
...тем, чтоусовершенствуется способ контроля вогнутых эллиптических поверхностей, заключающийся в том, что контролируемуюповерхность освещают из дальнего ее фокуса гомоцентрическим пучком лучей, устанавливают вспомогательный оптическийэлемент перпендикулярно оси излучения,регистрируют отраженный волновой фронт,по которому судят о форме контролируемойповерхности,В качестве вспомогательного оптического элемента используют плоское зеркалои устанавливают его так, что отражающаяповерхность совмещается с ближним к контролируемой поверхности ее фокусом.На чертеже изображена схема, реализующая способ контроля вогнутой эллиптической поверхности с помощью теневогоприбора,Схема контроля включает источник света 1, конденсор 2, точечную, диафрагму...