G01n 21/46 — G01N 21/46 — МПК (original) (raw)
Рефрактометр
Номер патента: 463044
Опубликовано: 05.03.1975
Авторы: Госьков, Шелковников
МПК: G01N 21/46
Метки: рефрактометр
...и обработки видеосигпала со скан истора, необходимость использования источника пилообразного напряжения опроса и измерителя временных итервалов,Цель изобретения - существенное упрощение электронной части рефрактометра, повышение сго надежности, экономичности и раз-,решающей способности. 15Поставленная цель достигается благодарятому, что вывод пизкоомного слоя сканистора подключен к выходу операционного усилителя, к инвертирующему входу которого подключеши один из выводов высокоомного слоя 20делителя сканистора и через резистор-источник смещения. Второй вывод делителя сканистора подключен к измерителю выходного напряжения. опсрацион усилителя 4, ис жсния смепения 5, резисторов рптсля выходного напряженияПрп неравенстве коэффицис...
Дифференциальный рефрактометр
Номер патента: 468138
Опубликовано: 25.04.1975
Авторы: Госьков, Шелковников
МПК: G01N 21/46
Метки: дифференциальный, рефрактометр
...соответственно на идентичныесканисторы 2 к которым подают параллельно одно и то же напряжение смешенияЕо от источника 3 и одно и то же пнло 5 разное напряжение опроса Г, от источика 4 через противофаз ичные обмотки диффере орматора 5. На его вт щей обмотке выделяется новключенные пернцируюшего трансричной суммируюразностный сит(22) Заявлено 24.05,73 (2 Изобретение относится к областям науки и техники, в которых необходимо измерять ,коэффициент преломления веществ.И звестны дифференциальные рефрактомет;ры на основе полупроводниковых сканисторов, в которых о местоположении контролируемого светового потока судят по временному положению видеосигнала со сканистора, т. е, координата атого потока определяется интервалом времени от начала оп...
Поляризационный селектор
Номер патента: 480001
Опубликовано: 05.08.1975
Авторы: Жашков, Панкратов, Сомов
МПК: G01N 21/46
Метки: поляризационный, селектор
...осей которых указывается плоскостью ориентирования 5.Между пластинами 2 и 3 помещен 90-градусный поляризационный ротатор, состоящийиз двух полуволновых пластин, оптическиеоси которых составляют между собой угол45. Ротатор поворачивает плоскость поляризации проходящего через него луча на угол90, независимо от ее ориентации на входе.На фиг. 2 представлены сечения и стрелкамп указана поляризация световых пучковсоответственно на входе устройства, на выхо 20 дах из первой пластины, второй пластины,ротатора, третьей пластины и на выходе устройства, Пунктиром обозначены положения иформа световых пучков на входе соответствующего элемента поляризационного селектора.25 Главные плоскости пластин 1 4 повернуты на 90 относительно друг друга....
Рефрактометр типа пульфриха
Номер патента: 494668
Опубликовано: 05.12.1975
Авторы: Аникин, Исхаков, Молочников
МПК: G01N 21/46
Метки: пульфриха, рефрактометр, типа
...отражающее покрытие.В диапазоне тгнр ( гг :У - 0,01 показатель преломления образцов измеряется наблюдением через зрительную трубу границы тени и света от предельных лучей, которые не тспытывают полного внутреннего отражения на выходной грани измерительной призма:, и фиксацией углового смешения.На чертеже изображена призма предложенного рефрактометра,В диапазоне 1 ( тг . гг нр показатель преломления образцов измеряется наблюдением через зрительную трубу границы тени и света от предельных лучей, испытывавших спача.-.а полное внутреннее отражение на выходной грани 1 измерительной призмы, затем отражающихся от напыленного па гипотенузной грани 2 призмы слоя и проходящих через вь ходную грань призмы, и последующей фиксацией углового...
Фотоэлектрическое устройство для регистрации границы полосы
Номер патента: 498535
Опубликовано: 05.01.1976
Автор: Молочников
МПК: G01N 21/46
Метки: границы, полосы, регистрации, фотоэлектрическое
...щели взаимно смещены по высоте, а сумма расстояния между ще лями и ширины более широкой щели меньше полуширины регистрируемой полосы,Недостатком известного устройства является погрешность регистрации положения гра 1 ницы при наличии фоновых засветок. 1В предложенном устройстве уменьшено влияние фона благодаря тоиу, что в диафрагме выполнена дополнительная щель, расположенная на высоте более узкой щелки и сдвинутая относительно этой щели в сторону, 2 противоположную границе полосы, причем ширина дополнительнои щели раув рширин широкой и узкой щелей.На чертеже показано предложенное фотоэлектрическое устройство, содержащее дифференциальную диафрагму 1 с широкой 2, узкой 3 и дополнительной 4 щелями, а также спектральная полоса 5 (линия аа...
Теневой прибор
Номер патента: 501340
Опубликовано: 30.01.1976
Авторы: Арбузов, Полещук, Федоров
МПК: G01N 21/46
...исследуемый объект, линзу прямого Фурье- преобразования, фильтр пространственных частот, выполненный в виде двойной фазовой пластинки Кастлера, линзу обратного Фурье- преобразования, поляроид, выделяющий составляющую эллиптической поляризации, ортогональную первоначальной, и регистрирующую фотопластинку,Недостатками такого устроиства являются: высокая трудоемкость изготовления пластинки Кастлера, обусловленная необходимостью изготовления двух строго идентичных очень тонких (полувол новых) двоякопереломляющих фазовых пластинок с зазором между их стыкуемыми краями много меньше пятна Эйри системы (т, е. порядка Х), а также отсутствие возможности регулировки контраста изображения. Для упрощения конструкции в предлагаемом теневом...
Способ контроля параметров жидкостей
Номер патента: 504139
Опубликовано: 25.02.1976
МПК: G01N 21/46
Метки: жидкостей, параметров
...параметров, жидкостей, состоящий в измерении показателя преломления путем определения угла пол ного внутреннего отражения с помощью двух фотоприемников, один из которых неподвиже М светлой части светлов ию показаый тем жеи основнойт естному и постоянному) эначен еля преломления, воспринимаем одвижным фотоприемником, что змеряют вспомогательный сиги 10 тем ж находится в, образованн ого по. ус и приз- , ле костью,та распола- б но шениемерой ойством, что и основной, и о показатереломления судят по отношению резульсвета ой жиджный и Перем го источником в измерения основного и вспомогательконтролируемиемник подви гналов е светотен Иэмеретируюшего преломлен шее значе е вспомогательно известное эначени сигнала, им ипоказателя оприемника...
Способ измерения рефрактометрических постоянных
Номер патента: 505942
Опубликовано: 05.03.1976
МПК: G01N 21/46
Метки: постоянных, рефрактометрических
...или четыре световых пучка.Деление эбшегэ световэгэ потока на пучки производят, например, с помощью многошелевой диафрагмы, выделяют в каждомсветовом пучке нужные участки спектра,например, с пэмошью светофильтров, мэдулируют каждый световой пучок последэвательно со сдвигом вэ времени так, что П-образные электрические сигналы от них, снимаемые с фотоприемника, оказываются сдви505942 Составитель А,Шеломова Техред М,Сеж нов Корректор Т Добровольская еда ктоР Т.Орловская Тираж 1029 одписноеЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений яоткрытий Заказ /;ЦЧ113 О 35, Москва, Ж 35, Раушская наб, д.4/5 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 онутыми между собой пэ Фазе на 90 . Затемвсе разделенные...
Интерференционно-теневой прибор
Номер патента: 505943
Опубликовано: 05.03.1976
Авторы: Арбузов, Полещук, Федоров
МПК: G01N 21/46
Метки: интерференционно-теневой, прибор
...относительно оптической оси пластинки.Световой поток от источника направляется с помощью объектива 2 на полупрозрачную светоделительную пластину 13, которая делит его по интенсивности пополам, Часть пучка, прошедшая через пластину 13, с помощью объективов 3, 4 преобразуется в широкий пучок (рабочий канал прибора), на пути которого помещена камера 5 для исследуемой неоднородности. Пройдя камеру 5, пучок попадает на зеркальный объектив 6, отражается от него и через промежуточный объектив 8 попадает на полупрозрачную пластину 15.Для получения теневого изображения в фокальной плоскости объектива б установлен нож Фуко 7. Нож 7 устанавливают таким образом, чтобы он частично перекрывал изображение первого потока света, не срезая при этом...
Фотоэлектрическое устройство для регистрацииграницы полосы
Номер патента: 509819
Опубликовано: 05.04.1976
Автор: Молочников
МПК: G01N 21/46
Метки: полосы, регистрацииграницы, фотоэлектрическое
...что одна из сторон более узкой щели диафрагмы располо жена на одной прямой линии с соответствующей стороной широкой щели диафрагмы.На фиг. 1 показана схема регистрации границы полосы, где 1 - дифференциальная диафрагма с широкой 2 и узкой 3 шелями, 25 4 - изображение спектральной полосы, 5 -рабочая граница полосы,При перемещении спектральной полосы 4 относительно диафрагмы из положения тп в положение тт, т. е. при вхождении полосы в поле зрения диафрагмы со стороны нерабочей границы полосы, световые потоки, проходящие через щели 2 и 3, меняются так, как показано на фиг. 2, Равенство св товых потоков ( Ь Ф=О) наступает в некоторой точке А, что характеризует наведение на границу полосы, и сохраняется при дальнейшем перемещении полосы...
Теневой прибор
Номер патента: 512412
Опубликовано: 30.04.1976
МПК: G01N 21/46
...где и1 и, может быть различным в каждой группе, расстояние между соседними штрихами в два раза меньше, чем на регулярных участках днфракционной решетки, Такие сбои не поглощают света, н темная линия образуется только в рез, льтате дифракции света. При этом линза обратного преобразования Фурье и экран наблюдения расположены в направлении первого порядка дифракции.На фиг. 1 приведена структура неоднородной дифракцпоннон решетки со многими сбоями шага нарезки. Шаг на участках с регулярной нарезкой равен а, а шаг на линиях сбоя - а/2. При этом расстояние между линиями сбоя равно, как правило, постоянной величине. Принцип работы неоднородной дифракционной решетки в качестве расфокусированнойдиафрагмы не нарушится, если расстояния между...
Автоматический рефрактометр
Номер патента: 517836
Опубликовано: 15.06.1976
МПК: G01N 21/46
Метки: автоматический, рефрактометр
...условий правильности работы схемы.Интерференционные светофильтры 11 и 12предназначены для выделения необходимыхмонохроматических световых пучков, проходящих через выбранные щели диафрагмы 3 или10, из белого или суммарного линейчатогоспектра источника света. Практически они могут быть установлены как у входной диафрагмы 3, так и у выходной диафрагмы 10.После выходной диафрагмы 10 и светофильтров все отдельные световые пучки попадают на проекционный объектив 13, который проектирует неподвижный зрачок входадифференциальной кюветы 7 на светочувст 10 15 2 О 25 30 35 40 45 50 55 60 65 вительную поверхность фотоприемника 14, например фотоумножителя, поэтому даже при значительных и различных по величине отклонения световых пучков в плоскости...
Рефрактометр
Номер патента: 518703
Опубликовано: 25.06.1976
Авторы: Бендецкий, Мирошниченко, Тесленко, Щекотихин
МПК: G01N 21/46
Метки: рефрактометр
...среды, а" также изменение к", ентрации раствора по высоте содержашей его емкости вносят значительные погрешности измерения и:з-ча отсутствия фиксированного базового и черцтельисг участка. Пель изобретения - повыситрз,.измерения концентрации -,аствоЭто достигается тем, что соединительиые части светоеода снабжены защитнойоптической оболочкоф, а его измерительнаячасть выполнена в виде горизонтальногоотрезка. 4На чертеже представлена принципиальнаясхема предлагаемого рефрвктометра дпя измерения концентрации растворов.О - образный световод 1 своей измерительной частью погружен в контролируемую 1 Осреду 2, Соединительные чести световода,примыкающие к его торцам, покрыты оптической запвтной оболочкой 3. На одномконце световодв расположен...
Автоматический рефрактометр
Номер патента: 433857
Опубликовано: 05.08.1976
Авторы: Айолло, Девдариани, Карабегов, Кейн, Комраков, Пожидаев
МПК: G01N 21/46
Метки: автоматический, рефрактометр
...точности измерений, уменьшения времени термостатирования и устранен я влияния внешне;: среды, кювета располож ьза таким образом, что ее поверхность ко;.,тактирует с тс, мостатируюшим устройством, в 20 котором каналы для протока жидкостей расположены симметрично относительно натревательных ал -ментов, причем нагревательные элемен "ь" р . ".псжены непосредственно иа цовер:лос и тари; зстатирующего устройства 25 которая вместе с нагревтельньми термоизолирована от окружаНа фиг. 1 представлена оптма поедлагаемого рефрактометртермостатируемая кювета; на фистатируюшее устр:йстс с нагретермоизоляцией.Рефрактометр работает - леиуюСветовой поток от источникаоптическую систему 2 направля Постоянство те.ературы иэмеряесравнительной жидкостей...
Способ определения показателя преломления жидкостей
Номер патента: 525011
Опубликовано: 15.08.1976
Авторы: Городинский, Тоскуев
МПК: G01N 21/46
Метки: жидкостей, показателя, преломления
...стекла. Если исследуемая жидкость агрессивна по отношению кстеклу, то после измерений матовое стекло30заменяют другим, вырезанным из того жематированного листа. Покровное стекло 2представляет собой полированную ппоскопараллельную стеклчнную пластинку.Определение видности интерференционнойполосы производят в следующей последовательности,Нить пампы 3 конденсором 4 проецируютна ножи спектральной .цели 5.40Устанавливают ширину раскр.тля ножейспектральной щели 5 в пределах 10 - 30 мкм,Перемещением колдиматорного объектива6 вдоль оптической оси получают параллельный световой пучок, падающий на объектив9.Перемешают вдоль оптической оси блокфотоумножителя 11 со спектральной щелью10 и совмещают плоскость ножей щели 10с фекальной плоскостью...
Интерферометр для исследования поля флуктуаций плотности в оптически прозрачных средах
Номер патента: 527642
Опубликовано: 05.09.1976
Автор: Суюшев
МПК: G01N 21/46
Метки: интерферометр, исследования, оптически, плотности, поля, прозрачных, средах, флуктуаций
...Аналогичныеоптические Фурье - преобразователи, состоящие из линзы 11 и экрана 12, могут бытьрасположены последовательно с зеркалами1 О6, при этом эти зеркала должны быть полупрозрачными,Интерферометр работает следующим образом.Пучок света от источника 1 проходит ч15рез коллимирующую систему 2 и разделяется зеркалом 3 на два пучка А и Б, которые, отразившись от зеркал 4, проходят через исследуемую среду 5, где пересекаются,После прохождения через среду световые20пучки с помощью системы зеркал 6 и 7вновь соединяются. Узкополосный монохроматический фильтр 10 выделяет узкую спектральную линию, линза 8 производит оптическое Фурье- разложение суммарной комплекс 25ной амплитуды интерферирующих пучков, Наплоскости экрана 9 регистрируется...
Коинцидентный рефрактометр
Номер патента: 531069
Опубликовано: 05.10.1976
Автор: Молочников
МПК: G01N 21/46
Метки: коинцидентный, рефрактометр
...рефрактомеТра; на фиг,2 - взаимное расположение первой пары поляризаторов и входной щели, а также второй пары поляризаторов и призм,образцовой и исследуемой; на фиг. 3 - поле зрения коинцидентного рефрактометра.Коинцидентный рефрактометр содержитисточник света 1, конденсор 2, первую пару поляризаторов 3,4, входную щель 5,зеркало 6, коллимационный объектив 7, щвторую пару поляризаторов 8, 9, образцовую и исследуемую призмы 10, 11, объектив телескопической трубы 12, оптическиймикрометр 13 и окуляр 14,Источник света 1 с помощью конденсо- рра 2 освещает входную щель 5, перед которой расположена первая пара поляризаторов 3, 4 с взаимно-ортогональными направлениями плоскостей поляризации, перекрььвающих верхнюю и нижнюю половины вход-...
Рефрактометр
Номер патента: 531070
Опубликовано: 05.10.1976
МПК: G01N 21/46
Метки: рефрактометр
...пучки, пройдя исследуемуюсреду, например атмосферу, попадают воптическую телескопическую систему 6,проходят через последовательно располо- Яженные пластины 8 - 11, поляризационный модулятор-анализатор, попадают начувствительную поверхность фотодетектора 1 3, сигнал с которого усиливается усилителем 1 4 и фиксируется индикатором 1 5, 60 В зависимости от того, какой угол имеется между плоскостями поляризации излучений с длинами волн 1 и Лвыходящих из излучателей 1 и 2, выбирается толщина пластины 9, которая должна обеспечивать поворот плоскости поляризации проходящего излучени- на такой же угол.В случае когда л 1 ) Л, угловой анализ выполняется для излучения с длиной волны А пластинами 10 и 11. При этом через пластину 8 излучение с...
Устройство для измерения изменений коэффициента преломления прозрачных сред
Номер патента: 534674
Опубликовано: 05.11.1976
МПК: G01N 21/46
Метки: изменений, коэффициента, преломления, прозрачных, сред
...каждого пучка света проходит разделительную пластину, ачасть отражается от нее. Части пучков, про 40шедшие разделительные ппастины, принимаютса наблюдательными объективами 15,16и поспе фокусировки на ножах Фуко 17, 18направляются на фотоприемники 23,24, Отра 45женные части пучков поступают на формирующие параллельные пучки света линзы 21,22, Сформированные параллельные пучкипринимаются диафрагмами 9,10, поспе чеголинзами 13,14 формируются в сходящиесяпучки, которые направляются на фотоприемники 25,26, С фотоприемников 23-26 электрические сигналы поступают на блок обработки сигнапов 27, представляюший собой коррелятор и приборы автоматической записиобработанных сигналов,При корреляционной обработке выделяются сигналы от пар...
Способ измерения функции распределения фотонов по пробегам в светорассеивающих средах
Номер патента: 542126
Опубликовано: 05.01.1977
МПК: G01N 21/46
Метки: пробегам, распределения, светорассеивающих, средах, фотонов, функции
...множество частей (1, 2, 3, 4,), каждая из которых проходит путь разной длины и по - своему ослабляется. Таким образом, вследствие прохода частями цуга разных путей на выходе из среды будет реализован пуг, длина которого 8 значительно больше с, Амо илитуда колебаний внутри него не остается постояннок. Зто непостоянство амплитуды определяется огибающей волнового процесса. Очевидно, квадраты значений ординат огибающей характеризуют искомую функцию распределения фотонов по пробегам,Измерение функции распределения производится следую;цкм образом. Если часть 1 рассеянного цуга до областк взаимодействия с опорным излучением пройдет путь той же оптической длины, то результатом взакмодекствия будет интерференционная картина, которую можно...
Способ определения интегрального группового показателя преломления воздуха
Номер патента: 542127
Опубликовано: 05.01.1977
МПК: G01N 21/46
Метки: воздуха, группового, интегрального, показателя, преломления
...показателя преломнения воздуха при одновременном упрощении процесса измерешш. Это достигается благодаря томучто при приеме измеряют величину девиации несущей частоты и определяют искомый показатель преломления воздуха гго формулез 2 Х с (и) д щ"Р гп 5(42 Д,СВсю+ Сьгэ)где Л э - девиация несущей частоты, измеренная при приеме колебаний;а - коэффициент глубины амплитудной модуляции энектромагиигных конебаний при передаче;Ц - частота амшиггудной модуляции;В, С - коэффициенты дисперсионной формулы показателя преломления воздуха при стандартных условиях;с - скоросгь света в вакууме.Способ реализуют следующим образом.С конечного пункта линии, дня которой тре. буется определитель интегральный групповой пока. затель преломления воздуха,...
Способориентации монокристаллов
Номер патента: 521819
Опубликовано: 05.02.1977
МПК: G01N 21/46
Метки: монокристаллов, способориентации
...лазера (или любо го, другого генерирующего в видимом диаиа зоне и попадающего по частоте в полосу прозрачности кристалла). Для достпжс; ия необхо- димой точности ориентации лазер работает в режиме основной поперечной моды, конфокальный параметр сфокусированного лазерного пучка намного превышает линей ные размеры кристалла, Плоскость поляризации лазерного луча вертикальна. Йследствие большого двулучепреломления нели- И нейных кристаллов луч лазера, проходя через кристалл, разделяетса на два луча с противоположной поляризацией - обыкновенный луч и необыкновенный луч. При помощи микроскопа, сфокусированного на вы хопную грань криста 1 и 1 а, измеряется рас 1 СФстояние Ь между пятнышкам, соответствуюни 1.,1 и обыкновенному и ы...
Модуляционный способ определения показателя пластин
Номер патента: 550564
Опубликовано: 15.03.1977
Автор: Бродичко
МПК: G01N 21/46
Метки: модуляционный, пластин, показателя
...пластинах (из-за большой угловой ширины полос).О Целью настоящего изобрповышение точности измерпреломления.Цель достигается снятием дифференциальной зависимости интенсивности прошедшего 5 или отраженного пластинкой света от углападения модулированного света. Для этого пластину при ее вращении одновременно приводят в колебательное движение вокруг оси вращения с частотой, на которой регистриру- ЗО ют картину с помощью избирательного уси550564 Составитель А. СубочевТехред И. Карандашова Редактор Л, Селищева Корректор И. Позняковская Заказ 682/3 Изд, Ме 311 Тираж 1054 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Типография, пр, Сапунова, 2...
Способ и кювета для измерения показателя преломления жидкой или газообразной среды
Номер патента: 551547
Опубликовано: 25.03.1977
МПК: G01N 21/46
Метки: газообразной, жидкой, кювета, показателя, преломления, среды
...обладает инерционностью, что приводит в процессе выравнивания температуры сравнительной среды приизменении температуры измерительной среды к возникновению погрешности, определяемой по формуле:Ф 9е (т, )(т 7+1)где Тс - постоянная времени сравнительной полости, зависящая от массысравнительной среды;Т - постоянная времени измерительОной полости;Р - оператор преобразования Лапласа;6(Р)- изменение температуры во времени.Устройство работает следующим образом,Световой пучок источника света 1 с по- З 0мощью щелей 2 и 3 разделяют на два пучка,направленных перпендикулярно один к другому пропускают их через кювету 6, регистрируют фотоприемниками 7 и 87 включенными,например, в мостовую схему, усиливаютэлектрические сигналы усилителями 9 и 10.При...
Способ интерференционного измерения показателя преломления прозрачных твердых тел
Номер патента: 553525
Опубликовано: 05.04.1977
Авторы: Грязнова, Ильин, Полянский
МПК: G01N 21/46
Метки: интерференционного, показателя, преломления, прозрачных, твердых, тел
...картина, получаемая при исследовании оптически неоднородного образца при помощи данного способа измерения; ца фцг. 2 - интерференциоццая кар. тина, получаемая при исследовании огпически однородного образца; ца фиг. 3 - образец; ца фиг. 4- эта. лон.553525 иг. 1 Для одновременного измерении локальногоабсолютного значения показателя преломления влюбой точке образца последний выполняют со скошенной гранью. Близость показателей преломленияиммерсии, эталона и среднего показателя преломления образца, а также плавно изменяющаяся гео.метрическая тожщци образца и эталона приводят ктому, что интерференционное поле практически неимеет разрыва на границах "образец - иммерсия" и"эталон - иммерсия", что позволяет определитьпоказатель...
Способ определения коэффициента преломления среды
Номер патента: 554485
Опубликовано: 15.04.1977
Авторы: Богаткин, Другов, Лобов, Штыков
МПК: G01N 21/46
Метки: коэффициента, преломления, среды
...длинах волн вблизи 10,6 мкм. Выделение разиостных частот можно осуществить при помощи распределенных систем с электрооптическими кристаллами или точечных детекторов со структурой металл - диэлектрик - металл.Схема установки с использованием в качестве источника излучения СО-лазера и преобразователей на электрооптических кристаллах из арсенида галлия СаАз представлена на фиг, 2,В установке используют СО,-лазер 10, работающий в режиме одновременной генерации нескольких частот. Этот лазер работает в импульсном режиме, хотя можно использовать и режим непрерывной генерации. Его питание осуществляется от импульсного блока питания 11. Излучение лазера 10 делится на два луча пластинкой 12 из кристалла кремния. Один из лучей используется для...
Дифференциальный рефрактометр
Номер патента: 562756
Опубликовано: 25.06.1977
МПК: G01N 21/46
Метки: дифференциальный, рефрактометр
...измерений.,Поставленная цель доптический микрометр споворота на 180 вокругтива. еренциальный рефрактометр и 2104, о т л и ч а ю щ и й с я тем, овышения точности измерений, микрометр нониального совме механизмом поворота на 180 в рного объектива,является повышечп Дифф св.29 целью п 0 ческий снабжен осп камечто, с опти. стигается тем, чтонабжен механизмом си камерного объекения круг Изобретение оборостроению.По ав, св.292104 известенальный рефрактометр, содержащсвета, щель, два экрана с прореемую и эталонную призмы, оптиметр нониального совмещения ищую систему,Недостатком данного рефраляется низкая точность измеренпараллакса двух изображенийвозникает вследсгвие неравенсгпутей двух лучей, вышедших ии эталонной призм, и проходящные...
Дифференциальный рефрактометр
Номер патента: 565235
Опубликовано: 15.07.1977
МПК: G01N 21/46
Метки: дифференциальный, рефрактометр
...в виде единого поворотного диска.На чертеже изображена схема описываемого рефрактометр а.Рефрактометр содержит источник света 1 с конденсором, щель 2, экран 3, зеркало 4, коллиматорный объектив 5, исследуемую 6 и эталонную 7 призмы, зеркало 8, камерный объектив 9, оптический микрометр нониального совмещения 10 и окуляр 11.Рефрактометр работает следующим образом.При поа ложении экранов, изображенном н вет идет только от левой половинь щели и только через призму 6. При повороте экрана на 90 свет пойдет только от правой половины щели и толыко через призму 7, Экран 3 вращается со скоростью, обеспечиваю щей частоту перекрытия световых пучков,превышающую временную разрешающую способность глаза. В результате изображения спектров от эталонной и...
Устройство для измерения структурной характеристики показателя преломления атмосферы
Номер патента: 568876
Опубликовано: 15.08.1977
МПК: G01N 21/46
Метки: атмосферы, показателя, преломления, структурной, характеристики
...прием;ой с;- стемой 4, попадает на светоделнтельную пластину б, установленную под некоторым углом к оптической оси системь. Большая часть потока, отразив.пись от пластины, через дпафсо целПО 6, устапов,челн;ю в фокгльпой ллоскост:1 объектива, нейтральный светофильтр 7, плтсрференцпонлый фильтр 8 лолгдает на сотоэлс-.ктоонный умножптель 9 (ФЭЪ), Сигнал с ФЭУ поступает на первый вход двухканального селективного .с,чптелл 10, настроенного на частоту модуляции. Меньшая часть потока 1 Злученпя п 1 чоходт через пластн5, нейт 1 альн 11 светофльтР 11, интерференционный фпл 1 тр 12, пОадасУ на фотаэлектрсвы 1 умножптель 13, идентичный фотоумножителю 9. Сгнал с ФЭУ 13 ло568876 3 20 ступает на второй вход селективного усилителя 10. Сигналы с...
Рефрактометрическая кювета
Номер патента: 570822
Опубликовано: 30.08.1977
Авторы: Васильева, Лейкин, Молочников
МПК: G01N 21/46
Метки: кювета, рефрактометрическая
...известной рефрактометрической кювете навторую внешнюю пластинку также нанесено отражающее покрытие, в каждом из отражающих покрытий имеются окна для входа и выхода световых пучков, причем центры окон 15 расположены на одинаковой высоте по отношению к преломляющему ребру кюветы и по разные стороны от плоскости, перпендикулярной этому ребру и проходящей через его середин.20 На фиг. 1 изображен вариант выполнениярефрактометрической кюветы: кювета, содержащая две полости, причем отражающие покрытия нанесены непосредственно на внешние пластинки; на фиг. 2 - то же, с тремя поло стями.Кювета (фиг, 1) содержит призполости 1 и 2, ограниченные внешстинками 3 и 4 с отражающими пв которых имеются окна 5 и 6 и30 пластинкой 7.Кювета работает...