H01J 3/40 — ловушки для удаления или отклонения нежелательных частиц, например отрицательных ионов, краевых электронов; избирательные устройства по скорости или массе (original) (raw)
286090
Номер патента: 286090
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Погорельский, Пошехонов
МПК: H01J 3/40
Метки: 286090
...из рабочего объема электровакуумного прибора, например способ, при котором частицы улавливаются в сцециальные ловушки путем их механического перемещения, например при вибрации.Этот способ неэффективен, поскольку вероятность попадания частиц в ловушки весьма незначительна.Предлагаемый способ позволяет повысить эффективность очистки и заключается в том, что при вибрации прибора на его электроды подают высокое напряжение, создающее напряженность электрического поля на поверхности электродов более 1 кв/см.При подаче напряжения свободные металлические или диэлектрические частицы, находящиеся на поверхности электродов, отрываются от них, переносятся на соседний электрод, перезаряжаются, снова открываются и т. д.5 Совместное воздействие...
Фильтрующий элемент для очистки плазмы
Номер патента: 492011
Опубликовано: 15.11.1975
Автор: Лазарев
МПК: H01J 3/40
Метки: плазмы, фильтрующий, элемент
...в этой конструкции необходимо увеличение длины цилиндра, что приведет к усложнению установки.Целью изобретения является увеличение эфрективности очистки плазмы от примесей.Это достигается тем, что в предлагаемом фильтрующем элементе установлены диафрагмы с отверстиями, просветы которых перекрываются каким-либо телом, например телом другой диафрагмы. Для улучшения теплоотвода от диафрагмы и упрощения конструкции, диафрагмы электрически не рованы от корпуса н одна от другой.На чертеже показан предлагаемый фильтрующий элемент.В корпусе 1 из теплопроводяшего материала расположены диафрагмы 2 с отверстиями 3. На внешней части корпуса выполнены две трубки 4 для выхода и входа теплоносителя, проходящего через рубашку 5. На боковых сторонах...
Устройство для электрического торможения пучка заряженных частиц
Номер патента: 376027
Опубликовано: 05.08.1978
МПК: H01J 3/40
Метки: заряженных, пучка, торможения, частиц, электрического
...является тормозящим дпя вторичных частиц, того жезнака, рождающихся наэлектроде 4 ( рассма 11 ривается случай, когда осн овным потоком являются электроны, вторичные частицы - также электроны), Подавляющая часть электронов попадает на электрод 4, вторичныеэлектроны с этого электрода останавливаются благодаря действию соответствующей разности потенциалов, между электродами 2 и 4,Некоторая часть первичного потокаотражается от сетки электрода 2. Этиотраженные электроны летят в направле 20нии, встречном к основному потоку, инабирают энергию, соответствующуюнапряжению между электродами 1 и 2,т.е. практически имеют ту же энергию,что и поток до начала торможения (такие25частицы можно называть вторичными,так как точно определить...
Устройство для изучения ионатомной перезарядки
Номер патента: 698070
Опубликовано: 15.11.1979
Автор: Донец
МПК: H01J 3/40
Метки: изучения, ионатомной, перезарядки
...модуляторы ионного пучка5например конденсаторного типа, подключенныек регулитору временного интервала между срабатыванием модуляторов, и в устройство вве.ден блок синхронизации запуска ионного источника и первого из модуляторов. ОНа чертеже изображена схема предлагаемогоустройства для изучения ион-атомной перезарядки,Устройство состоит из электроннолучевогоионного источника 1, пролетных труб 2 и 3, 15изоляторов 4, перезарядной камеры 5, модуляторов ионного пучка 6 и 7, устройства синхронизации 8 и схемы задержки 9.Устройство работает следующим образом.Импульс ионного тока смеси ионов различцых зарядностей из иоцного источника 1 посту.пает в первую пролетную трубу 2, Синхроннос максимумом ионного тока срабатывает первыймодулятор 6,...