Миренский — Автор (original) (raw)

Миренский

Малогабаритный деревообрабатывающий станок

Загрузка...

Номер патента: 1834798

Опубликовано: 15.08.1993

Авторы: Бекетов, Бурьянов, Калинин, Лисненко, Миренский, Ткачев

МПК: B27C 9/04

Метки: деревообрабатывающий, малогабаритный, станок

...3 показанорасположение ножевых валов; нэ фиг,4 и 5показано использование фуговального ифрезерного валов, 30Деревообрабатывающий. станок имееткоробообразнь"й корпус 1, внутри которогосмонтированы две поперечные несущиестени 2 и 3, Иа стенке 2 смонтирован ножевой вал 4, ось которого параллельна рабочей 35плоскости 5 корпуса 1. На стенке 3 смонтирован ножевой вал о, ось которого перпендикулярна рабочей плоскости 7 корпуса 1,Г 1 ривод электромотор) 8 закреплен нэнерабочей стенке 9 корпуса 1 и соедлнен 40ременными передачами 10 и 11 с ножевымивалами 4 и б, установленными в системах 12,13 радиальных подшипников, Р каждую систему 12, 13 для обеспечения работы валовв вертикальном положении введено па одному упорному подшипнику.Для выполнения...

Преформатор к канатовьющей машине

Загрузка...

Номер патента: 1779272

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Алексеев, Березуев, Губин, Ивашкевич, Калоша, Миренский, Пикулин, Филиппов

МПК: D07B 7/02

Метки: канатовьющей, машине, преформатор

...роторе машины и нресущий направляющие и дефор 20 мирующие ролики, установленные с возможностью регулировочного перемещения в собственнОй плоскости, каждый из деформирующих роликов снабжен двумя 25 30 канавками для прохода заготовок, а диаметры роликов определяются из соотношения- = 2,6 - 3,1,бггде б 1 и бг - диаметры направляющего и деформирующего роликов соответственно.Расстояниемежду центрами канавок деформирующих роликов определяется из соотношения35 - =3,7 - 41 б 2 Нэ фиг, 1 .изображен преформатор со схемой преформирования в нем заготовки(проволоки), общий вид, разрез; нэ фиг. 2 -вид на преформатор со стороны свивочных 40 плашек.Преформатор содержит корпус 1, выполненный с одной стороны в виде распре-делительного шаблона с ниппелями...

Способ изготовления и сборки комбинированных полых заклепок

Загрузка...

Номер патента: 1771435

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Ивлев, Миренский, Позняков, Синяков

МПК: B21K 1/60

Метки: заклепок, комбинированных, полых, сборки

...5изготовленной пустотелой гильзы на стержень и их размещения в матрице путем холодного выдавливания пуансоном эа одинрабочий ход,Сопоставление заявленного способа 10показало, что отличительные признаки отсутствуют в известном способе, т.е. предложение соответствует критериюизобретения "новизна".Сравнение предполагаемого изобретения с уровнем техники по известным решениям показало, что заявляемаясовокупность существенных признаков является новой, а ее отличительные признакипридают ей новые свойства - уменьшениерасхода металла, сокращение трудоемкости, повышение производительности и качества изделий, т.е, предложениесоответствует критерию изобретения "существенные отличия".На фиг, 1 изображен стержень комбинированной заклепки; на...

Эпоксифенольный лак

Загрузка...

Номер патента: 1758055

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Азаров, Брацлавская, Ларченко, Миренский, Цейтлин, Шодэ

МПК: C09D 163/02

Метки: лак, эпоксифенольный

...175-205Применение монопропаргйлуретана2,4-толуилендиизоцианата для модификации эпоксидиановых олигомеров не известно.Известно использование эпоксиуретановых олйгомеров в эпоксиаминных системах для повышения химстбйкостипокрытий,Однако использование моноаллилуретана 2,4-толуилендиизоцианата для эпоксифенольных композиций недалозначительного результата.П р и м е р 1, Получение монопропаргилуретана. 56 мас,ч. (1 моль) пропаргиловогоспирта прикапывают в аиде 50 О-ного раствора в циклогексаноне к 174 мас,ч, (1 моль)2,4-толуилендиизоцианата, растворенногов 174 мас,ч, цикльгексаанойа, в течение 1 - 1,5ч при 20-40 С и йеремешивании, реакционную массу выдерживают при этой температуре 2-3 ч до 50 О-ной степенипревращения...

Эпоксифенольный лак

Загрузка...

Номер патента: 1754749

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Азаров, Брацлавская, Ларченко, Миренский, Цейтлин, Шодэ

МПК: C09D 163/10

Метки: лак, эпоксифенольный

...для защиты продольных швов консервной олигомер 25-30; о-фосфорная кислота 0,38- тары, - Лакокрасочныематерйалыиихпри,78; органический растворитель 100-200;менение, 1985, М 6, с, 33-35..:.: Лак получают перемешиванием растворовСорокин М,ф., Шодэ Л,Г;, Кузина С,И олигомеров в органическом растворителеф Зпоксиуретановые олигомеры для пок)ы- . принагреванйи и после охлаждения добавтий. - , Лакокрасочные материалы и их при- . ляюто-фосфорную кислоту. 3 табл,мененйе, 1985; Ф 5, с,4-6, :. ,;:- .:.;.: :.: : .:.".,;:,:. . СгЭ1 1Изобретение относится к получению жайшие по техническсй сущности и дости - ф эпоксифенольных покрытий с повь 1 шеннойгаемому эффекту принятй за прототип;химичеСкой и адгезионной прочностью.:. Покрытия на...

Эпоксидная композиция

Загрузка...

Номер патента: 1232669

Опубликовано: 23.05.1986

Авторы: Еселев, Кардаш, Кузина, Миренский, Оносова, Скороходова, Сорокин, Фиговский, Шодэ

МПК: C08G 59/40, C08L 63/02, C09D 3/58 ...

Метки: композиция, эпоксидная

...отверждения, вязкостью 7,0 П, содержанием азота 4,7 .,содержанием гидроксильных групп 3,9 .П р и и е р 3. Получение отвердителя в соотношении 2:1, 1:1:0,07.Смешивают 30 г (0,2 моль) фенилглицидилового эфира, 10 г (О, 11 моль)этилцеллозольва и 1 г (0,007 моль)эфирата трехфтористого бора. Послеокончания экэотермического подъематемпературы в реакционную смесь вводят 20 г (О, 1 моль) диаминодифенилометана, нагревают до 100 С и выдерживают 30 мин до полной убыли эпоксидных групп. Получают продукт с содержанием нелетучих веществ 100% при 232669 2температуре отверждения, вязкостью 8,5 П, содержанием азота 3,75 , содержанием гидроксильных групп 4,33 ,П р и м е р 4. 100 мас.ч. эпоксидной смолыЭсмешиваютс 20 мас.ч, отвердителя из примера 1,...

Полимербетонная смесь

Загрузка...

Номер патента: 1194856

Опубликовано: 30.11.1985

Авторы: Кардаш, Кузьмин, Лившиц, Малков, Миренский, Скороходова, Соболев, Сорокин, Шодэ

МПК: C04B 26/14, C09D 3/58

Метки: полимербетонная, смесь

...соединения трехфтористого бора и карбамида, В качестве ароматического диамина применяли полиэтиленполиамии, метафенилендиамин, 4,4-диаминодифенилметан или полиметиленфениленамин. В качестве комплексного соединения трехфтористого бора применяли соединения общей формулы В х, где х - этилцеллозольв, этиленгликоль или диэтиленгликоль.В качестве модификатора использовали триэтоксисилан или глицидиловый эфир монокарбоновой кислоты.Рассматриваемый состав является двухкомпонентным, 11 ервый компонент (эпоксидный) приготовляют смешением эпоксидных олигомеров, модификатора, пигмента и наполнителя, Второй комСтойкость покрытия к агрессивнымвоздействиям определяли методом погружения в соответствии с ГОСТ21826-76. Прочность сцепления отверв ,25...

Рентгеновский спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 1141321

Опубликовано: 23.02.1985

Авторы: Дейген, Ковьев, Миренский, Семилетов

МПК: G01N 23/207

Метки: рентгеновский, спектрометр

...спектрометр,содержит источник 1 излучения, представляющий собой рентгеновскую отпаянную трубку БСВ, БСВс системой настройки и механизмом поворота трубки относительно оси вращения О, крис. - талла-монохроматора 2 с гониометрической головкой.Наиболее близким к изобретению по З технической сущности и достигаемому эффекту является рентгеновский спектрометр, содержащий расположенные иа общем основании источник излучения, коллиматор, кристалл-монохрома тор и кристалл-анализатор, держатель исследуемого кристалла и детектор, выполненные с возможностью вращения относительно оси главного гониометра и детектор излучения ь 21.1Недостатком известных устройств является невозможность применениярентгенооптических схем при исследовании дифракции в...

Измеритель осевой нагрузки

Загрузка...

Номер патента: 1125481

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Бару, Лагутин, Миренский, Надточий, Чепелев, Шепель

МПК: G01L 1/12

Метки: измеритель, нагрузки, осевой

...кода индикации, анализатора регистра индук Оции и регистра пределов измерения.Измеритель осевой нагрузки (фиг. 1)содержит силоперадающий элемент 1,который представляет собой полый ци"линдр из титана. Перпендикулярно осидействия нагрузки расположены сопряженные соосно электромагнит 2 возбуждающей системы и измеритель магнитной индукции, например дифференциальный феррозонд 3. Обмотка возбужденияферрозонда не показана. По оси действия нагрузки расположен вспомогательный электромагнит 4, Обмотка электромагнита 2, питается от стабильногоисточника 5 тока. Выходная обмотка 25феррозонда 3 соединена с входом время-импульсного модулятора 6. Выходвремя-импульсного модулятора соединенс входом регистра кода индукции 7,Регистр кода индукции соединен с...

Способ определения структурных характеристик тонких приповерхностных слоев монокристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1103126

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Александров, Афанасьев, Головин, Имамов, Миренский, Степанов, Шилин

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристаллов, приповерхностных, слоев, структурных, тонких, характеристик

...пучком рентгеновского излучения, выводят в положение, соответствующее дифракционному отражению в условиях полного внешнего отражения, путем поворота исследуемого кристалла и изме-, ряют интенсивность дифрагированного излучения, по которому судят о структурных характеристиках, пучок коллимируют только перпендикулярно плоскос. ти дифракции и интенсивность дифрагированного излучения в плоскости дифракции измеряют при неподвижном крис. талле в зависимости от угла выхода дифрагированного излучения с поверхностью кристалла.Кроме того, для различных углов выхода к поверхности кристалла измеряют зависимость интенсивности зеркальной компоненты от угла падения. На чертеже представлена схема реализации предлагаемого способа,Схема...

Преформатор к канатовьющей машине

Загрузка...

Номер патента: 1063898

Опубликовано: 30.12.1983

Авторы: Антонов, Гроза, Губин, Ивашкевич, Иевлев, Мамаев, Миренский, Царюк

МПК: D07B 7/02

Метки: канатовьющей, машине, преформатор

...направлениями свивки прядей.Указанная цель достигается тем, что в преформаторе к канатовьющей машине, содержащем смонтированный на роторе машины эа распределительным диском по ходу технологического процесса полый корпус и жестко закрепленные на нем обоймы, несуе каждая по три деформирующих ролика, корпус выполнен в виде усеченной пирамиды, а каждая обойма выполнена в виде изогнутой соответственно двум соседним граням корпуса пластины, на одной стороне которой размещены два крайних ролика, а на другой - средний ролик, и закреплена порредством одного держателя на ребре корпуса.Кроме того, преформатор может быть снабжен сменными прокладками, размещенными между каждой обоймой и корпусом.При этой оси крайних роликов каждой обоймы...

Канатовьющая машина

Загрузка...

Номер патента: 1049594

Опубликовано: 23.10.1983

Авторы: Алексеев, Баукин, Бортовой, Гроза, Губин, Лебедь, Миренский, Ропаков, Феоктистов, Штых

МПК: D07B 3/00

Метки: канатовьющая

...концах дисков устанонУИны направляющие стальные трубки10, обводные ролики 11 и 12. На валунижнего диска устанонлен обводнойролик 13, выполнен канал 14, а навалу верхнего диска установлен дополнительный обводной ролик 15, выполчен канал 16 и дополнительный канал17, На валах дисков закреплен общий,,для всех питающих катушек катушкодер жатель 18. который вращается в под-шипниках 19, В. общем катушкодержателе на осях 20 на подшипниках скольжения (на чертежах не показаны)установлены питающие катушки 21,5 В катушкодержателе закреплены обнодные ролики 22-29. На валу 7 закреплена плашка 30, на плите закрепленыобводные ролики 31 и 32, механизм 33ложной крутки, обводные рслики 34-36,р вытяжные барабаны 37, обводной ролик38, механизм 39 ложной...

Устройство для рентгеновской топографии

Загрузка...

Номер патента: 1040388

Опубликовано: 07.09.1983

Авторы: Головченко, Ефанов, Ковьев, Лютцау, Миренский, Чуховский

МПК: G01N 23/207

Метки: рентгеновской, топографии

...массовогопроизводства не представляется воз"можным или сопряжено со значительнымитехничеСкими трудностями.Цель изобретения - повышение пространственного разрешения топографического изображения и контрастнойчуй:твительности устройства.Поставленная цель Яостигается тем,что в устройстве для рентгеновскойтопографии, содержащем микрофокусныйисточник рентгеновского излучения сосредствами линейного перемещения Фокусного пятна, гониометр с механизмом линейного перемещения образца идетектор, перед детектором введенкристалл-анализатор, размещенный так,что отражающие его плоскости перпендикулярны направлению перемещенияфокусного пятна.Введение кристалл-анализатора перед детектором позволяет практическиисключить рассеянное и...

Канатовьющая машина

Загрузка...

Номер патента: 1023016

Опубликовано: 15.06.1983

Авторы: Гроза, Дроздов, Коровайный, Лебедь, Миренский, Мищиха, Мусолова, Недовизий, Псарев, Ропаков, Старченко, Черненко, Шахпазов, Штых

МПК: D07B 3/00

Метки: канатовьющая

...К тому же лепестки оболочкиротора расположены через 120 О так,что при вращении ротора в зазоре между нолюсными наконечниками. электромагнита и катушкодержателем попадает только один лепесток 31 .Недостатки известной канатовьющей машины состоят в сложной заправке проволокой, что влечет за собой обрывность проволоки в процессе свивки каната или прядей; в необходимости установки электромагнитной системы фиксации на каждый катушкодержатель, что усложняет и удорожает машину, в необходимости изготовления дорогостоящих оболочек, которые имеют большие окна, при этом много металла идет в отходы, в трудности установки четвертой питающей катушки, необходимой в случае надобности изготовления четырехпроволочной пряди или сразу упрощенных...

Рентгеновский дифрактометр

Загрузка...

Номер патента: 1004834

Опубликовано: 15.03.1983

Авторы: Андрианова, Гусев, Заневский, Миренский, Пешехонов, Попов, Хейкер, Черненко

МПК: G01N 23/207

Метки: дифрактометр, рентгеновский

...исследуемым кристаллом и двухкоординатным детектором 10Описанный дифрактометр работаетследующим образом,На кристалл 5, установленный нагониометре 3, направляют монохроматизированный и коллимированный пучок 15рентгеновских лучей от источникарентгеновского излучения 1, Возни"кающая двумерная дифракционная картина регистрируется с помощью двухкоординатного детектора 2. Юстиро"ванне кристалла производится поворотами держателя 4 с кристаллом вокруг трех независимых осей ч хг, Хгониометра. Измерение рентгеновскихотражателей происходит при непрерыв- дном сканировании держателя с кристаллом вокруг вертикальной осиФ .Выбор оптимальной геометрии съемкии достижение необходимого при исследовании разрешения осуществляетсяпутем поворотов источника...

Автоматический многокружный дифрактометр

Загрузка...

Номер патента: 928208

Опубликовано: 15.05.1982

Авторы: Бухардинов, Домбровский, Миренский, Резников, Хейкер, Шилин

МПК: G01N 23/20

Метки: автоматический, дифрактометр, многокружный

...кристалла относительно оси 1 на под.вижном кольце поворотного устройстваотносительно оси Х , являющегося одновременно датчиком 2 углового положения кристалла относительно этойоси,Неподвижное кольцо поворотного устройства датчика 2 углового положения Х укреплено на валу 18, с которым скреплено подвижное кольцо датчика 4 углового положения кристалла относительно оси соУстройство работает следующим об разом.Рентгеновский луч, например, от источника излучения 1 направляют на исследуемый кристалл 15, Дифрагированные лучи принимаются и регистрируются системой регистрации 6. Дляустановки кристалла в положение регистрации определенных рефлексов используется автоматический гониометрдифрактометра, позволяющий вращатькристалл независимо вокруг...

Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов

Загрузка...

Номер патента: 898302

Опубликовано: 15.01.1982

Авторы: Имамов, Ковальчук, Миренский, Шилин, Якимов

МПК: G01N 23/207

Метки: исследования, монокристаллов, рентгеновский, совершенства, спектрометр, структурного

...содержит стационарный источник рентгеновского излучения 1, первый кристаллмонохроматор 2, установленный в поворотном держателе 3, второй кристалл-монохроматор 4, установленный в поворотном держателе 5, который расположен на поворотной платформе 6, Исследуемый монокристалл 7 установлен в поворотном держателе 8, когорый расположен на второй поворотной платформе 9, Оси поворотов платформ б и 9 совпадают с осью поворотадержателя 3 первого кристалла-монохроматора 2, Дифрагированное исследуемым монокристаллом 7 излучение регистрируют детектором 10, который установлен с возможностью поворота относительно оси поворота держателя 8 исследуемого монокристалла 7 В спектрометр могут быть введены дополнительные детекторы для целейнастроики...

Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов

Загрузка...

Номер патента: 894502

Опубликовано: 30.12.1981

Авторы: Имамов, Ковальчук, Миренский, Суходольский, Шилин

МПК: G01N 23/207

Метки: исследования, монокристаллов, рентгеновский, совершенства, спектрометр, структурного

...на собственном поворотном держа" теле 13, установленном на держателе 8.Все держатели 3, 5, 8, 13 снабжены, как это принято в дифрактометричес- фо кой аппаратуре, средствами юстировки кристаллов путем их перемещения в двух взаимно перпендикулярных направлениях, как зто, например, реализовано в известном устройстве, 65 Спектрометр работает следующим образом.Рентгеновский пучок от стационарного источника 1 падает на первый кристалл-монохроматор 2, установленный в отражающее положение, например, с помощью детектора (не показан), Отраженный от кристалла-монохроматора 2 рентгеновский пучок падает на воторой кристалл-монохроматор 4,установленный параллельно монохроматору 2 с помощью поворотной платформы 6 и поворотного держателя 5. При этом...

Рентгеновский спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 881592

Опубликовано: 15.11.1981

Авторы: Имамов, Ковальчук, Миренский, Шилин

МПК: G01N 23/20

Метки: рентгеновский, спектрометр

...в непосредственной близости к поверхности кристалла, регистрирует флуоресцентные кванты, попадающие в телесный угол, определяемый апертурой детектора. При этомсчетчик, находящийся в положении,перпендикулярном поверхности образца (т.е, продольная ось счетчикасовпадает с нормалью к поверхностикристалла), регистрирует Флуоресцентные кванты с максимально возможной глубиной выхода. Если детекторнаходится в положении, при которомего продольная ось образует некоторый угол с нормалью к поверхности,то он уже регистрирует кванты, выходящие с глубины 2, , меньшейпоскольку расстояние 1.0 -В достаточно для поглощения квантов. В тоже время кванты, образовавшиеся наменьшей глубине кристалла Ь 1 , могут преодолеть расстояние Ь, В ивыйти...

Рентгеновский спектрометр длясинхротронного источника излучения

Загрузка...

Номер патента: 817553

Опубликовано: 30.03.1981

Авторы: Афанасьев, Имамов, Ковальчук, Ковьев, Миренский, Семилетов, Шилин

МПК: G01N 23/207

Метки: длясинхротронного, излучения, источника, рентгеновский, спектрометр

...Вал 1 закреплен в опоре подвижной каретки б, установленной на направляющих 7, параллельных падающему на кристалл монохроматор 2 пучку.Вал 3 установлен в механизме поворота 8 в небольшом угловом интервале, а каретка б с валом 1 снабжена винтовым механизмом 9 для линейного перемещения по направляющим 7 вдоль направления падающего пучка. При линейном перемещении происходит одновременный поворот вала 1 с кристалломмонохроматором 2 на заданный угол. На каретке б коаксиально валу 1 укреплена цилиндрическая шестерня (или сектор) 10, жестко связанная с рычагом 11, другой конец которого свободно проходит через вращающуюся опору 12, выполненную на вале 3. На свободном конце рычага 11 укреплен детектор излучения 13, служащий для юстнровки...

Способ изготовления монохромато-pa рентгеновского излучения

Загрузка...

Номер патента: 805419

Опубликовано: 15.02.1981

Авторы: Болдырев, Буйко, Имамов, Ковальчук, Ковьев, Лобанович, Миренский, Шилин

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, монохромато-pa, рентгеновского

....содержит две параллельныемонокристаллические пластины, установленные на общем основании 2 1,Недостатком такого монохроматораявляется то, что он позволяет проводить измерение в весьма ограниченномдиапазоне длин волн и порядков отражения,Цель изобретения - расширениефункциональных возможностей изготавливаемых монохроматоров.Поставленная цель достигается тем, что в способе изготовления монохроматора рентгеновского излучейия, заключающемся в формировании из одной монокристаллической пластины щели с параллельными стенками, исходную пластину закрепляют на параллельных опорных поверхностях по обеим сторонам пластины таким образом, что части поверхности и:;астины, обратные по отношению к частям ее поверхности, закрепленным на опорных...

Устройство для исследования совер-шенства структуры монокристалли-ческих слоев

Загрузка...

Номер патента: 800836

Опубликовано: 30.01.1981

Авторы: Афанасьев, Болдырев, Имамов, Ковальчук, Ковьев, Лобанович, Миренский, Семиошкина, Смирнов, Шилин

МПК: G01N 23/20

Метки: исследования, монокристалли-ческих, слоев, совер-шенства, структуры

...эмиссии в виде газонаполненной камеры 4 снаходящимся в ней держателем образца,установленной на гониометрической головке главного гониометра 5, и детектор 6 дифрагированного образцом излучения.Камера 4 представляет собой объем 7,внутри которого расположены держательс образцом 8, нитевые электроды 9 и10. Держатель с образцом с помощьюустройства 11 может перемещаться относительно электродов. Камера такжеимеет два штуцера 12, служащих цляввода и вывода газовой смеси, наполняющей объем, и два окна 13, прозрачныхдля рентгеновских лучей, Напряжениеподается на держатель с образцом и одиниз электродов 9 или 10, что соответствует исслецованию образца при брэгговской или лауэвской дифракции (на просвет). Предварительно коллимированное и...

Авторулевой

Загрузка...

Номер патента: 656028

Опубликовано: 05.04.1979

Авторы: Миренский, Шлейер, Юргенс

МПК: G05D 1/00

Метки: авторулевой

...2и суммирующему усилителю 4, Блокинтегрирования 2 подключен к входу суммирующего усилителя 4, Блок 3подключен к входу суммирующего усилителя 4. Выход суммирующего усилителя 4 подключен к входу рулевого привода (на чертеже не "показан). Датчик момента 5 на . валу гребного винта подключен к вычислительному блоку 6, выход которого 65:подключен к блоку адаптации 7. Выход блока 7 подключен к управляющему входу блока дифференцирования 3.Устройство работает следующим образом. В режиме стабилизации курса при рыскании судна относительногенерального курса сигналы блока 3,пропорциональные производной от угла курса блока рассогласования 1 по курсу и блока интегрирования 2, постуйают на вход суммирующего усилителя 4.В результате рулевой привод...

Авторулевой

Загрузка...

Номер патента: 569485

Опубликовано: 25.08.1977

Авторы: Миренский, Мордовченко

МПК: B63H 25/04

Метки: авторулевой

...соединенные усилитель 10, исполнительный узел 11, и датчик 12 обратной связи, С датчиком 4 курса кинемагически связан кулачок 13 кулачково-контактного механизма 14, замыкающие контак-,0 ты 15 и 16 которого подсоединены к втооичным обмоткам трансформаторе 17, в первичная обмотке последнего подключена к источнику переменного напряжения, например к сети .(на чертеже не показан), 15Устройство работает следукнцим образом.При появлении рассогласования между заданным и фактическим углом поворота руля 9 направления, вызванного либо отклонением судна от заданнога прямого курса 20 в режиме стабилизации, либо вводом поправки к курсу с помощью эедетчике 1, датчик 4 курса разворачивается на угол, пропорциональный атому рвссогласоввнию. Куда чок...

Устройство для исследования совершенства структуры кристаллов

Загрузка...

Номер патента: 543858

Опубликовано: 25.01.1977

Авторы: Батурин, Имамов, Ковальчук, Ковьев, Миренский, Палапис, Семилетов, Шилин

МПК: G01N 23/22

Метки: исследования, кристаллов, совершенства, структуры

...рентгеновских лучей 13, механизм 14 для поворота счетчика излучения 5 относительно осиглавного гониометра 6,25На чертеже обозначено:м0 - ось вращения кристалл-монохроматора;О - ось вращения главного гониометра0-0 - оптическая ось спектрометра;- рентгеновские кванты первичногоизлученияЙ - кванты флуоресцентного излучения;Е - электроны внешней фотоэммиссии,Устройство рабоает следующим образом.Рентгеновские лучи от источника 3 огра-З 5ничиваются по расходимости коллиматором 4,кристалл-монохрома 1 ором 1 и падают подуглом дифракции Ч для выбранной системы кристаллографических плоскостей на исследуемый кристалл 2. Кристалл располо Ожен в геометрии Брагг-дифракции. Дифрагированные им лучи регистрируются счетчиком излучения 5,...

Многоканальный дифрактометр

Загрузка...

Номер патента: 502300

Опубликовано: 05.02.1976

Авторы: Бухардинов, Миренский, Хейкер

МПК: G01N 23/207

Метки: дифрактометр, многоканальный

...устройств измерения интенсивности излучения 8, механизма 9 изменения расстояний между одномерными детекторами, содержащего телескопические втулки 10 - 13 с рычагами 14 - 17, установленные на центральной направляющей втулке 18, и вспомогательный направляющий стержень 19. Тяги приводов 20, 21 (две другие не показаны),размещены внутри центральной втулки и соединены через винтовые пары 22 и 23 (две другие не показаны) с индивидуальными приводами 24, 25,Дифрактометр работает следующим образом.Исследуемый образец устанавливается на валу привода его вращения 3. Одна из его кристаллографических плоскостей выводится в направление главной оси дифрактомегра.Верхняя платформа гониометра 2 с приводом вращения 3 образца, одномерными детекторами 4...

Криостат для рентгенографии кристаллов

Загрузка...

Номер патента: 489025

Опубликовано: 25.10.1975

Авторы: Вологин, Комисарин, Миренский

МПК: G01N 23/02

Метки: криостат, кристаллов, рентгенографии

...соплом, для выхода газа,Ны ныружн й поверхности насалки 14 навита электросцирип, 15 для ее подогрева.Описываемое устрой 1 во работает следукэшим образом,Пары хладагечта (эцэоты), обэ 1 эызуюшиеся в результате исп;эреция жидкого азотав сосуде 1, по змеевику 7 поступают в те 1 ъмокамеру 8, Температура газового потокатерм камеи Ь, а саедоьатс лицо, иструи газо, выходящие из двухходовог окоаксиыльного сопла 11 и 12, регулирунэтся с помсшью электроспирыли нагревателя9, помеше)ыо о в потоке газа. Темцерытуры газового потока измеряется термопарой 10, которая яв л етс и датчиком обратнсэй связи систем автоматического регулирования темперы 1 уры потока,Выхоляший из термоквмеры 8 газовыйпоток раздваивается двухходовым коаисиальным соплом...

Рентгеновский спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 487338

Опубликовано: 05.10.1975

Авторы: Ковальчук, Ковьев, Миренский, Пинскер, Фокин, Шилин

МПК: G01N 23/20

Метки: рентгеновский, спектрометр

...дополнительного кристалла.На чертеже показан предложенный спектрометр с раздельными осями поворота основного и дополнительного кристаллов-монохроматоров,Кристаллы-монохроматоры 1 и 2 и кристалл-анализатор 3 расположены таким образом, чтобы дифрагированный кристалломмонохроматором 2 пучок проходил через кристалл-анализатор 3; затем отражался от кристалла-моцохроматора 1 и в центре гониометра 4 попадал на поверхность кристаллаанализатора 3. Для этого предусмотрены механизм поворота 5 источника рентгеновского излучения 6, механизм поворота 7 кристалламонохроматора 1, коллпматор 8, размещенный 5 на плите 9, снабженной механизмом лшейного перемещения 1 О относительно главного гониометра 4.Спектромстр работает следующим...

Криостат для рентгенографии кристаллов

Загрузка...

Номер патента: 469917

Опубликовано: 05.05.1975

Авторы: Бабаянц, Бойко, Вологин, Иванов, Миренский

МПК: G01N 23/02

Метки: криостат, кристаллов, рентгенографии

...вращения 14 и с контейнером 8, В контейнере выполнена фиксирующая положение держателя 9 образца плоскость 15. Прижим держателя 9 25 к плоскости 15 осуществлен с помощью пружины 16. Для уменьшения теплопритока к образцу со стороны привода 14 держатель 9 соединен с зажимом мембранной пластиной 17. Контейнер 8 и обойма 13 окружены 30 изолирующим слоем 18, в котором выполне.на пробка 19, совпадающая с каналом обоймы 13.Корпус криостата 1 смонтирован на основании 20 с юстировочным механизмом, приспособленным для установки на стандартных дифрактометрах. Предусмотрен нагреватель 21 для предотвращения замерзания окон 2. Также предусмотрены датчики уровня хладагента, двигатель для передачи вращения обойме 13 (не показаны).Устройство работает...

Рентгеновский спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 463045

Опубликовано: 05.03.1975

Авторы: Ковальчук, Ковьев, Миренский, Пинскер, Фокин, Шилин

МПК: G01N 23/20

Метки: рентгеновский, спектрометр

...когда отраженный от оси кристалла-моцохроматора 3 луч проходит через ось О гоциометра 10, При враще нии кристалла-анализатора 5 в определенном угловом интервале вокруг оси О гониометра 10 счетчиком 7 измеряется кривая дифракционного отражения 12.Переход нд другис значения углов дифрдк ции ха 1)ате 1 зистцчсс 01 о и сплоцгцоо сцс 1 т 1 здосуществляется поворотом 1 ристалла-моцохроматорд 3 и псрпсндикмлярным смещением его отцосителыго направления цадд 1 огцих рентгеновских лучей, выходящих из коллцмдто 30 ра 2. Посколыу осц кристалла-монохромдтоРедактор кая Изд Лв 531 сударственноко комитета 1 о делам зобретенииказ 13877 Ц 1.111 И П И Г пиен Тирад 902 Совета Чинистр открытий иао, д чо131:иирайии, ир Саииоа, 2 ра 3 и...