Зелев — Автор (original) (raw)
Зелев
Способ измерения профиля поверхности
Номер патента: 1737253
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Вагаев, Зелев, Кирин, Медведев
МПК: G01B 5/20
Метки: поверхности, профиля
...измеряемой поверхности.На фиг. 1 изображена схема снятия слепка; на фиг. 2 - круг эластичной пленки; на фиг. 3 - то же, поперечный разрез.Способ осуществляют следующим образом,Сначала подготавливают круг эластичной пленки. Диаметр круга может быть любым, желательно 50 - 200 мм, Ширина пленки 5.-25 мм. Наиболее целесообразно использовать магнитофонную пленку шириной 6 мм и пленку от ЭВМ шириной 10-25 мм. Кроме того, в качестве пленки могут быть использованы бумажная телеграфная лента, индикаторная, диаграммная лента, перфолента, полиэтиленовая лента, тканая лента. Конец пленки склеен с кругом, Плотность скручивания пленки должна быть достаточной для свободного формирования слепка и одновременной самофиксации слоев.Затем кладут круг...
Циркуль-измеритель
Номер патента: 1733270
Опубликовано: 15.05.1992
Авторы: Вагаев, Гринин, Зелев, Кирин
МПК: B43L 9/02
Метки: циркуль-измеритель
...средней ножки, шарнирно закрепленных на ней подпружиненных к ней захватов,На фиг. 1 представлен циркуль-измеритель, общий вид; на фиг. 2 - узел на фиг, 1.Циркул ь-измеритель состоит из рукоятки 1, двух измерительных ножек 2, установленных на одной оси 3 с возможностью перемещения в обе стороны. Ножки 2 имеют измерительные наконечники 4.Циркуль-измеритель снабжен третьей ножкой 5, установленной на оси 3, Ножка 5 размещена между ножками 2, Ножка 5 с помощью тяг 6 равной длины соединена с ножками 2. На ножках 2 имеются тяги, установленные соответственно по шарниру 7, а на ножке 5 - ползун 8. Тяги закреплены с помощью осей на ползуне 8 и шарнирах 7. Шарниры 7 могут перемещаться по ножкам 2 и закрепляться на них с помощью винтов 9, Тяги 6,...
Устройство для модифицирования жидкого металла
Номер патента: 1708860
Опубликовано: 30.01.1992
Авторы: Зелев, Кирин
МПК: C21C 1/00
Метки: жидкого, металла, модифицирования
...вается повышение степени усвоения модифицирующих добавок до 80-95, на 5-10 снижается расход добавок и себестоимость металла. 1 ил.тФ Устройство работает следующим обра- дэом.Жидкий металл излетки вагранки посту- ,пает на желоб и в связи с наклоном желобаприобретает определенную скорость посту- ф .пательного движения. Далее металл посту- Офпает по касательной в винтовой желоб.3 Овнутренней конусной поверхностй воронки, ОБее годврл нели лию винтового илло бе и первоначальной скорости металла последнийприобретает враотвтельное турбулентное сактивным перемешиванием движение, в результате которого в воронке образуется во-,ронкообразный вращающийся слой металлав виде кратера 6. Металл из вращающегосяслоя далее поступает в сливной канал 4...
Устройство для закрывания днища вагранки
Номер патента: 1652779
Опубликовано: 30.05.1991
Авторы: Зелев, Кирин
МПК: F27B 1/10
Метки: вагранки, днища, закрывания
...подвеска 7 шибера 2обеспечивает плотное прилегание последнего к опорной плите 1, а клиновые затворы 11,установленные в гнездах 12, исключают возможность самопроизвольного отката тележки 3 по наклонным направляющим 4 рельсами возможность проседания шибера 2 на пружинной подвеске 7 под воздействием динамических нагрузок загружаемой в вагранкушихты, После окончания плавки в вагранке изгнезд 12 удаляют клиновые затворы 11.От преждевременного открытия шибер 2удерживается в закрытом состоянии за счетпневмоцилиндра 5 и за счет "заклинивания"тележки 3 с шибером 2 под воздействиемпружинной подвески 7 между направляющими 4 и опорной плитой 1. Крометого, в процессеплавки, как правило, шибер 2 приваривается копорной плите 1 и к формовочной смеси,...
Устройство для сжигания топлива
Номер патента: 1645762
Опубликовано: 30.04.1991
Авторы: Зелев, Кирин
МПК: F23D 14/02, F23D 14/20
...в виде огнеупорного каналакруглого или прямоугольного сечения и размещенным в футеровке 2 вагранки,Горелка состоит из воздухоподводящего корпуса 3, конуса 4, стабилизатора 5,чугунного сопла 6, газовой трубки 7 с патрубком 8. Выходной торец 9 туннеля 1 повсей окружности или периметру выполнен ввиде выпукло-вогнутой поверхности с прямоугольным, квадратным, треугольным, полукруглым, трепецеидальным профилямиили их сочетаниями, причем выпуклые участки торца 9 выполнены заподлицо с футеровкой 2, а вогнутые обращены внутрьтуннеля 1, при этом площадь Я вогнутыхучастков равна площади Е проходного поперечного сечения туннеля 1. В футеровке 2вагранки на внешней стороне туннеля 1 выполнено конусное отверстие 10 для выходагазов иэ...
Горн вагранки
Номер патента: 1615515
Опубликовано: 23.12.1990
Авторы: Зелев, Кирин
МПК: F27B 1/10
...в частности к литейному производству, и может быть реализовано в конструкциях вагра нок. Цель изобретения - облегчение удаления подины при выбивке вагранки.На фиг. 1 представлена горновая часть вагранки, общий вид; на фиг. 2 - вид А на фиг. 1; на фиг, 3 - узел 1 на фиг. 1.Горн вагранки содержит футерованную шахту 1, половую плиту 2 с провальным отверстием, шиберную плиту 3, перекрывающую провальное отверстие подовой плиты 2, многослойную подину 4, выполненную в видеасширяющегося вниз усеченного конуса, о оси которого в нее заформован металический стержень 5 с дисковой площадой 6 и кольцевым захватом 7. При этом ольцевой захват 7 стержня 5 изолирован От материала подины слоем сыпучего материала 8.Торцовая поверхность шиберной плиты 3...
Вакуумный шлюз
Номер патента: 1594625
Опубликовано: 23.09.1990
Авторы: Зелев, Кононенко
МПК: H01J 37/00
...3),при этом лампочка 26 сигнализирует о 15 степени откачки шлюзового объема. Рычаг 27 суплотнительным кольцом 28 служит для напуска воздуха в шлюзовой объем. Розетка 29 предназначена для подачи питания к электромагнитному вентилю 25. В колонне 7 электронного микроскопа вакуумный шлюз уплотняется с помощью уплотнения 30.Вакуумный шлюз работает следующим образом. 25Перед работой с дифракционными приставками вакуумный шлюз в закрытом положении устанавливаетсяв колонну 7 электронного микроскопа уплотняется уплотнением 3, штуцер 21 поц соединяется к электромагнитному вентилю 25, к которому подключается ро.зетка 29, а затем в колоннеэлектронного микроскопа создается высокий вакуум.Дифракциониая приставка 3 с исследуемым объектом 4 вводится в...
Устройство для разметки
Номер патента: 1569218
Опубликовано: 07.06.1990
Авторы: Зелев, Кирин, Мельникова
МПК: B25H 7/00
Метки: разметки
...С концами двух соседних звеньев 1 и 2, 3 и 4 парал- ЗО лелограммного механизма шарнирно связаны соосно расположенные подпружиненные в осевом направлении обоймы 5 и 6, Установочные элементы выполнены в виде опори 8 со сквозными отверстиями 9 и 10 для размещения в них соответствуюпрх обойм 5 и 6.Устройство работает следующимобразом.Размечаемую цилиндрическую деталь 40 11 устанавливают боковой поверхностью на столе (не показан) и закрепляют в таком положении. Параллелограммный механизм в сборе с опорами7 и 8 надевают на деталь 11. Приэтом подпружиненные в осевом направлении опоры 7 и 8 плотно поджимаютнавливаются так, чта их оси пересекают ось детали 11При этом аси; "айм 5, 6 перпендикулярны оси детал 11 и соосны друг с другом. Полуа.и...
Способ измерения площади поверхности тела сложной формы
Номер патента: 1551964
Опубликовано: 23.03.1990
Авторы: Ветлугина, Гринина, Зелев, Кирин
МПК: G01B 5/26
Метки: площади, поверхности, сложной, тела, формы
...воздух из оболочки до полного облегания тела. Затем оболочку вместе с телом охлаждают до эатвердевания оболочки и скалывают ее с тела. Измеряют объем и толщину сколотых частей оболочки в затвердевшем состоянии и через него рассчитывают по известной за 7 2бам определения площади поверхности тел сложной формы. Цель изобретення - повышение производительности измерения .и его упрашение. Способ заключается в том, что контролируемое тело помещают в эластичную оболочку, откачивают воздух из оболочки до полного облегания тела. Охлаждают оболочку до затвердевания и скалывают ее с тела. В затвердевшем состоянии определяют ее толщину и объем, а затем по известной зависимости вычисляют е адь, которая соответствует п поверхности тела. Формула...
Просвечивающий электронный микроскоп
Номер патента: 1262593
Опубликовано: 07.10.1986
Авторы: Зелев, Климовицкий, Кононенко
МПК: H01J 37/20
Метки: микроскоп, просвечивающий, электронный
...верхнюю 1 и нижнюю 2платы объектодержателей, которыежестко соединены между собой при помощи вертикальных стержней 3,Для верхнего ввода служит первыйобъектодержатель 4, для бокового ввода - второй объектодержатель 5. Приэтом при боковом вводе может быть использовано несколько объектов 6, фиксация положения которых осуществляется фиксатором 7 и пружиной 8.Стержни 3 выполнены из немагнитного материала и проходят через отверстия в верхнем полюсном наконечнике объективной линзы 9, В немагнитной втулке 10 имеется расточка дляразмещения нижней платы 2.ПЭМ снабжен шлюзовым устройством11 для верхнего ввода и шлюзовымустройством 12 для бокового вводаобъектов,Электронно-лучевая конденсаторнаясистема 13 размещена на объективнойлинзе 9,...
Электронный микроскоп-анализатор
Номер патента: 721868
Опубликовано: 15.03.1980
Авторы: Баталин, Волнухин, Зелев, Кисель, Удальцов
МПК: H01J 37/26
Метки: микроскоп-анализатор, электронный
...1 и обеспечивают постоянное при- Ожатие наклонных поверхностей призм 8, однииз которых размещены на дискеа аругие - на корпусе объективной линзы 11. В объективной линзе 11 раоположен полюсный наконечник 12, щель 4которого с помощью вакуумного провода 13 соединена с рентгеновским спект ром 14, предназначенным для анализарентгеновского излучения 1 5. Конаенсорная система 16 размещена на объективной линзе 11, оптические оси которых совмещены.Преалагаемый электронный микроскопмикроанализатор работает следующим образом.55Первичный пучок электронов, формируемый электронно-лучевой конденсорной системой 16, направляется нд иссле 68 4ауемый объект 7, находящийся в держателе 6 и наклоненный в сторону ренч- геновского спектрометра 14....
Способ компенсации астигматизма электромагнитных линз
Номер патента: 524256
Опубликовано: 05.08.1976
Авторы: Зелев, Климовицкий
МПК: H01J 37/26
Метки: астигматизма, компенсации, линз, электромагнитных
...и скорости компенсации астигматизма.Достижение цели осуществлено тем, что направ. ление корректирующего поля вначале совмещают с направлением астигматизма электромагнитной линзы, а затем разворачивают корректирующее поле на угол 90 .Предлагаемый способ компенсации астигматизма электромагнитных линз осуществляется следуюшим образом.Электрический ток в обмотках стигматора устанавливают равным нулю, затем определяют направление астигматизма электромагнитной линзы, например объективной линзы. После этого направление астигматизма линзы совмещают с направлением астигматизма, вносимого полем стигматора. При этом по обмоткам последнего пропускают постоянный ток максимальной величины, что увеличивает размер дифракционных колец и облегчает...