Neutron reflectometry (original) (raw)
Neutron reflectometry is a neutron diffraction technique for measuring the structure of thin films, similar to the often complementary techniques of X-ray reflectivity and ellipsometry. The technique provides valuable information over a wide variety of scientific and technological applications including chemical aggregation, polymer and surfactant adsorption, structure of thin film magnetic systems, biological membranes, etc.
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dbo:abstract | Die Neutronenreflektometrie ist eine zur Untersuchung von Grenzflächen und dünnen Schichten. Dazu werden Neutronen auf eine Grenzfläche gestrahlt und dort gestreut. Die gestreuten Neutronen werden detektiert und ausgewertet. Das Grundprinzip ist daher vergleichbar mit anderen reflektometrischen Methoden wie der Röntgenreflektometrie oder der Ellipsometrie, die jedoch auf der Reflexion elektromagnetischer Strahlung basieren. Die Methode eignet sich für die Gewinnung von Informationen über die Oberfläche oder die Grenzfläche einer Festkörperschicht oder eines -schichtsystems bis zu einer Tiefe von 150 nm. Besonders Materialien mit magnetischen Eigenschaften lassen sich gut untersuchen. Durch die Tiefenabhängigkeit der mittleren Neutronen-Streulängendichte ergibt sich ein hohes Auflösungsvermögen von etwa einem Nanometer, so dass sich u. a. Interdiffusion zwischen benachbarten Schichten unterschiedlicher Isotope nachweisen lässt. Diese „Isotopensensitivität“ gründet darauf, dass Neutronen bevorzugt mit Atomkernen und nicht wie elektromagnetische Strahlung mit der Atomhülle wechselwirken. (de) Neutron reflectometry is a neutron diffraction technique for measuring the structure of thin films, similar to the often complementary techniques of X-ray reflectivity and ellipsometry. The technique provides valuable information over a wide variety of scientific and technological applications including chemical aggregation, polymer and surfactant adsorption, structure of thin film magnetic systems, biological membranes, etc. (en) |
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