Profilometer (original) (raw)
El perfilòmetre és un instrument de mesura utilitzat per a mesurar el perfil d'una superfície per tal de quantificar la seva rugositat. La noció històrica d'un perfilòmetre ens indica que era un dispositiu similar a un fonògraf, el qual mesurava una superfície a la vegada que aquesta es mou de manera relativa a un palpador. Aquesta idea, però, està canviant amb l'aparició de nombroses tècniques que no requereixen contacte.
| Property | Value |
|---|---|
| dbo:abstract | El perfilòmetre és un instrument de mesura utilitzat per a mesurar el perfil d'una superfície per tal de quantificar la seva rugositat. La noció històrica d'un perfilòmetre ens indica que era un dispositiu similar a un fonògraf, el qual mesurava una superfície a la vegada que aquesta es mou de manera relativa a un palpador. Aquesta idea, però, està canviant amb l'aparició de nombroses tècniques que no requereixen contacte. (ca) Ein Profilometer ist ein Messgerät zur zwei- oder dreidimensionalen Vermessung mikroskopischer oder submikroskopischer Oberflächentopografien. Profilometer arbeiten entweder taktil mit einer kleinen Diamantnadel, die die Oberfläche abtastet, oder berührungslos mit optischen Methoden wie der Konfokaltechnik oder der Laserprofilometrie bzw. der Weißlichtinterferometrie. Die so gemessenen Profile werden typischerweise mit standardisierten Verfahren, beispielsweise nach ISO 25178 oder anderen Methoden der geometrischen Produktspezifikation (GPS), ausgewertet, um daraus charakteristische Kenngrößen abzuleiten. Die technische Bedeutung von Profilometern ergibt sich aus dem entscheidenden Einfluss der Oberflächencharakteristik auf das Materialverhalten. (de) A profilometer is a measuring instrument used to measure a surface's profile, in order to quantify its roughness. Critical dimensions as step, curvature, flatness are computed from the surface topography. While the historical notion of a profilometer was a device similar to a phonograph that measures a surface as the surface is moved relative to the contact profilometer's stylus, this notion is changing with the emergence of numerous non-contact profilometry techniques. Non-scanning technologies are able to measure the surface topography within a single camera acquisition, XYZ scanning is no longer needed. As a consequence, dynamic changes of topography are measured in real-time. Contemporary profilometers are not only measuring static topography, but now also dynamic topography – such systems are described as time-resolved profilometers. (en) Un profilomètre est un instrument utilisé pour mesurer le relief d'une surface, notamment dans le but d'en évaluer la rugosité ou la micro-géométrie. Les profilomètres sont à leur origine dotés d'une pointe très fine en diamant qui lit l'altitude lorsqu'on la déplace le long de la surface. Ce principe est toujours très utilisé, mais il est aujourd'hui complété par nombre de dispositifs optiques. (fr) Il profilometro è uno strumento di misura per la quantificazione della rugosità di una superficie. La risoluzione verticale è di solito il nanometro mentre la risoluzione laterale è di solito più bassa. Mentre storicamente il profilometro era simile a un fonografo, che funzionava per contatto tramite uno stilo in moto relativo con la superficie, adesso sono disponibili molte tecniche di profilometria senza contatto. (it) Profilometr – przyrząd pomiarowy służący do pomiaru parametrów chropowatości i falistości powierzchni. Na podstawie topografii powierzchni obliczane są wymiary krytyczne takie jak krzywizna i płaskość. Pod względem historycznym pojęcia "profilometr" używano do określenia urządzenia podobnego do fonografu, który mierzy topografię podczas przemieszczania się powierzchni badanej względem igły profilometru stykowego. Jednak pojęcie to zmienia się wraz z pojawieniem się wielu bezkontaktowych technik profilometrycznych. W zależności od metody pomiaru rozróżniamy: * profilometry kontaktowe: * profilometr stykowy * mikroskopia sił atomowych (ATM) * * profilometry bezkontaktowe optyczne * oparte na interferometrii: * cyfrowa mikroskopia holograficzna * interferometria światła białego * różnicowa mikroskopia kontrastowo-interferencyjna (mikroskopia Nomarskiego) * oparte na metodzie rzutowania: * profilometria Fouriera, * * metody odbicia wzorcowego Współczesne profilometry mierzą nie tylko statyczną topografię, ale również dynamiczne zmiany na powierzchni w czasie rzeczywistym. (pl) Профілометр (від фр. profil — обрис і грецького — вимірюю) — прилад, яким визначають розмір нерівностей (шорсткість) обробленої поверхні деталей. Електродинамічний профілометр складається з алмазної голки, що переміщаючись по поверхні зазнає коливань перпендикулярно до контрольованої поверхні відслідковуючи нерівності на ній, і датчика на базі індуктивного, ємнісного чи п'єзоелектричного перетворювача, який перетворює коливання голки на відповідні значення електричного сигналу, що подається на електровимірювальний прилад. Типовий профілометр має шкалу, з якої і зчитуються значення шорсткості поверхні. Таким профілометром можна вимірювати плоскі, циліндричні завнішні і циліндричні внутрішні поверхні при діаметрі не менше 6 мм. Є також оптичні профілометри, що відтворюють у збільшеному масштабі профіль поверхні на екрані, інтерфренційні тривимірні та лазерні скануючі, що дозволяють будувати дво- та тривимірне зображення поверхні, отримувати кількісні характеристики рельєфу поверхні, спостерігати інтерференційні картини, проводити металографічні дослідження. Більшість сучасних профілометрів можуть записувати профілограму завдяки чому вони ще мають назву профілографи. Профілометри, що працюють за щуповим методом можуть вимірювати висоту нерівностей в діапазоні від 0,125 до 20 мкм. Сучасні оптичні (інтерференційні та лазерні) профілометри забезпечують чутливість до зміни профілю поверхні до 1 нм. Профілометри випускаються стаціонарного і переносного типів. Профілометри застосовують головним чином у машинобудуванні для контролю параметрів шорсткості у цехових або лабораторних умовах. Визначення параметрів шорсткості поверхні проводиться за системою середньої лінії згідно з номенклатурою і діапазонами значень, передбаченими ГОСТ 2789-73. (uk) Контактный профило́метр — прибор, предназначенный для измерения неровностей поверхности. Для оценки неровности поверхности часто используют специальный показатель — шероховатость поверхности. Типичный профилометр содержит шкалу, на которой и отсчитываются значения показателя шероховатости поверхности. В технике профилометры в основном предназначены для измерений в лабораторных и цеховых условиях машиностроительных, приборостроительных и других предприятий, а также в полевых условиях, шероховатости поверхностей изделий, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию. Измерение параметров шероховатости поверхности производится по системе средней линии в соответствии с номенклатурой и диапазонами значений, предусмотренными ГОСТ 2789-73. (ru) |
| dbo:thumbnail | wiki-commons:Special:FilePath/NANOVEA_PS50_Non-Contact_Optical_Profilometer.jpg?width=300 |
| dbo:wikiPageID | 2723140 (xsd:integer) |
| dbo:wikiPageLength | 10156 (xsd:nonNegativeInteger) |
| dbo:wikiPageRevisionID | 1030325743 (xsd:integer) |
| dbo:wikiPageWikiLink | dbr:Moire dbr:Road_profilometery dbr:Interferometry dbr:Measuring_instrument dbr:Confocal_microscopy dbr:Cryogenic dbr:Stylus dbr:Triangulation_sensor dbc:Dimensional_instruments dbc:Metalworking_measuring_instruments dbr:Differential_interference_contrast_microscopy dbr:Digital_holographic_microscopy dbr:Digital_holography dbr:Focus_variation dbr:Fourier_profilometry dbr:Quantification_(science) dbr:Atomic_force_microscopy dbr:Surface_metrology dbr:Surface_roughness dbr:Coherence_scanning_interferometry dbr:Phonograph dbr:Scanning_tunneling_microscopy dbr:Optical_fiber dbr:Self-healing_material dbr:White_light_interferometry dbr:Surface_finish dbr:MEMS dbr:Fringe_projection dbr:File:Contact_profilometer_at_LAAS_0419.jpg dbr:File:NANOVEA_PS50_Non-Contact_Optical_Profilometer.jpg dbr:File:Talysurf,_Snibston.jpg dbr:Pattern_reflection_methods dbr:Phase_shifting_interferometry dbr:Vertical_scanning_interferometry dbr:File:Self-Healing-Polymer-DHM-Digital-...croscopy-lyncee-Tosoh-Corporation.gif dbr:File:Ultrasonic-Transducers-MUT-IPMS-Digital-Holographic-Microscopy.gif |
| dbp:wikiPageUsesTemplate | dbt:Commons_category dbt:Refimprove dbt:Reflist |
| dct:subject | dbc:Dimensional_instruments dbc:Metalworking_measuring_instruments |
| gold:hypernym | dbr:Instrument |
| rdf:type | dbo:Agent yago:Artifact100021939 yago:Device103183080 yago:Instrument103574816 yago:Instrumentality103575240 yago:Object100002684 yago:PhysicalEntity100001930 yago:Whole100003553 yago:WikicatDimensionalInstruments |
| rdfs:comment | El perfilòmetre és un instrument de mesura utilitzat per a mesurar el perfil d'una superfície per tal de quantificar la seva rugositat. La noció històrica d'un perfilòmetre ens indica que era un dispositiu similar a un fonògraf, el qual mesurava una superfície a la vegada que aquesta es mou de manera relativa a un palpador. Aquesta idea, però, està canviant amb l'aparició de nombroses tècniques que no requereixen contacte. (ca) Un profilomètre est un instrument utilisé pour mesurer le relief d'une surface, notamment dans le but d'en évaluer la rugosité ou la micro-géométrie. Les profilomètres sont à leur origine dotés d'une pointe très fine en diamant qui lit l'altitude lorsqu'on la déplace le long de la surface. Ce principe est toujours très utilisé, mais il est aujourd'hui complété par nombre de dispositifs optiques. (fr) Il profilometro è uno strumento di misura per la quantificazione della rugosità di una superficie. La risoluzione verticale è di solito il nanometro mentre la risoluzione laterale è di solito più bassa. Mentre storicamente il profilometro era simile a un fonografo, che funzionava per contatto tramite uno stilo in moto relativo con la superficie, adesso sono disponibili molte tecniche di profilometria senza contatto. (it) Ein Profilometer ist ein Messgerät zur zwei- oder dreidimensionalen Vermessung mikroskopischer oder submikroskopischer Oberflächentopografien. Profilometer arbeiten entweder taktil mit einer kleinen Diamantnadel, die die Oberfläche abtastet, oder berührungslos mit optischen Methoden wie der Konfokaltechnik oder der Laserprofilometrie bzw. der Weißlichtinterferometrie. (de) A profilometer is a measuring instrument used to measure a surface's profile, in order to quantify its roughness. Critical dimensions as step, curvature, flatness are computed from the surface topography. While the historical notion of a profilometer was a device similar to a phonograph that measures a surface as the surface is moved relative to the contact profilometer's stylus, this notion is changing with the emergence of numerous non-contact profilometry techniques. (en) Profilometr – przyrząd pomiarowy służący do pomiaru parametrów chropowatości i falistości powierzchni. Na podstawie topografii powierzchni obliczane są wymiary krytyczne takie jak krzywizna i płaskość. Pod względem historycznym pojęcia "profilometr" używano do określenia urządzenia podobnego do fonografu, który mierzy topografię podczas przemieszczania się powierzchni badanej względem igły profilometru stykowego. Jednak pojęcie to zmienia się wraz z pojawieniem się wielu bezkontaktowych technik profilometrycznych. W zależności od metody pomiaru rozróżniamy: (pl) Контактный профило́метр — прибор, предназначенный для измерения неровностей поверхности. Для оценки неровности поверхности часто используют специальный показатель — шероховатость поверхности. Типичный профилометр содержит шкалу, на которой и отсчитываются значения показателя шероховатости поверхности. В технике профилометры в основном предназначены для измерений в лабораторных и цеховых условиях машиностроительных, приборостроительных и других предприятий, а также в полевых условиях, шероховатости поверхностей изделий, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию. (ru) Профілометр (від фр. profil — обрис і грецького — вимірюю) — прилад, яким визначають розмір нерівностей (шорсткість) обробленої поверхні деталей. Електродинамічний профілометр складається з алмазної голки, що переміщаючись по поверхні зазнає коливань перпендикулярно до контрольованої поверхні відслідковуючи нерівності на ній, і датчика на базі індуктивного, ємнісного чи п'єзоелектричного перетворювача, який перетворює коливання голки на відповідні значення електричного сигналу, що подається на електровимірювальний прилад. Типовий профілометр має шкалу, з якої і зчитуються значення шорсткості поверхні. Таким профілометром можна вимірювати плоскі, циліндричні завнішні і циліндричні внутрішні поверхні при діаметрі не менше 6 мм. Є також оптичні профілометри, що відтворюють у збільшеному масшт (uk) |
| rdfs:label | Perfilòmetre (ca) Profilometer (de) Profilometro (it) Profilomètre (fr) Profilometr (pl) Profilometer (en) Профилометр (ru) Профілометр (uk) |
| owl:sameAs | freebase:Profilometer yago-res:Profilometer wikidata:Profilometer dbpedia-ca:Profilometer dbpedia-de:Profilometer dbpedia-et:Profilometer dbpedia-fa:Profilometer dbpedia-fr:Profilometer dbpedia-it:Profilometer dbpedia-kk:Profilometer dbpedia-pl:Profilometer dbpedia-ru:Profilometer dbpedia-uk:Profilometer https://global.dbpedia.org/id/476EX |
| prov:wasDerivedFrom | wikipedia-en:Profilometer?oldid=1030325743&ns=0 |
| foaf:depiction | wiki-commons:Special:FilePath/Contact_profilometer_at_LAAS_0419.jpg wiki-commons:Special:FilePath/NANOVEA_PS50_Non-Contact_Optical_Profilometer.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Self-Healing-Polymer-...croscopy-lyncee-Tosoh-Corporation.gif wiki-commons:Special:FilePath/Talysurf,_Snibston.jpg wiki-commons:Special:FilePath/Ultrasonic-Transducer...MS-Digital-Holographic-Microscopy.gif |
| foaf:isPrimaryTopicOf | wikipedia-en:Profilometer |
| is dbo:product of | dbr:Novacam_Technologies |
| is dbo:wikiPageDisambiguates of | dbr:Profiler |
| is dbo:wikiPageRedirects of | dbr:Profilometery dbr:Profilometry dbr:Surface_profile_measurement |
| is dbo:wikiPageWikiLink of | dbr:Elasto-capillarity dbr:Road_texture dbr:Indentation_plastometry dbr:Measuring_instrument dbr:Novacam_Technologies dbr:Titanium_adhesive_bonding dbr:MountainsMap dbr:Crocodile_cracking dbr:Furrow_profilometer dbr:Bruker dbr:Lapping dbr:Mirau_interferometer dbr:Alan_James_Duncan dbr:Diamond_turning dbr:Digital_Surf dbr:Profiler dbr:Road dbr:King_Abdullah_University_of_Science_and_Technology dbr:Surface_metrology dbr:Surface_roughness dbr:Institute_of_Nano_Science_and_Technology dbr:Taylor_Hobson dbr:ISO_16610 dbr:Surface_finish dbr:Molecular_engineering dbr:Nondestructive_testing dbr:Thin-film_thickness_monitor dbr:Profilometery dbr:Profilometry dbr:Surface_profile_measurement |
| is rdfs:seeAlso of | dbr:Surface_metrology |
| is foaf:primaryTopic of | wikipedia-en:Profilometer |
