欠落検査 - Weblio 英和・和英辞典 (original) (raw)
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欠落検査の英語
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英訳・英語 completeness check
| JMdictでの「欠落検査」の英訳 | | | ------------------------------------------------------------------------------------------------------ | |
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欠落検査
| 文法情報 | （名詞） |
|---|---|
| 対訳 | completeness check |
「欠落検査」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 23件
例文
物品**欠落検査装置例文帳に追加
ARTICLE OMISSION CHECKING DEVICE - 特許庁
リブ付カラーフィルター基板のリブ欠落の検査方法例文帳に追加
METHOD FOR INSPECTING RIB OMISSION OF COLOR FILTER SUBSTRATE WITH RIB - 特許庁
本発明の目的は、簡素な構成によって物品の欠落の有無を検査することのできる安価な物品**欠落検査装置を提供することにある。例文帳に追加
To provide an article omission checking device which is simple in structure, inexpensive in cost, and capable of checking of omission of articles. - 特許庁
欠落の有無をより確実に検出することができる刻印形状の検査方法及びこの検査方法に適した検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide an inspection method for a marking shape detecting surely the presence of default, and an inspection device suitable for the inspection method. - 特許庁
半田の撮像画像の欠落を無くすことが可能な印刷半田検査装置を提供することにある。例文帳に追加
To provide a printed solder inspection device capable of eliminating the missing of a solder pick-up image. - 特許庁
この端子検査用治具１は、電子部品２の底面から突出する複数の端子５に発生する曲がりや欠落等を検査するために用いられる。例文帳に追加
This terminal inspection jig 1 is used to inspect a plurality of terminals 5 projecting from the bottom face of an electronic component 2 for bend or missing. - 特許庁
例文
検査装置部２０により、一括搭載装置部１０において搭載したウエハ２上の導電性ボール３の欠落あるいは位置ずれを検査する。例文帳に追加
The defects or position deviations of conductive balls 3 on a wafer 2 mounted in a batch mounting equipment part 10 are examined with an inspection equipment part 20. - 特許庁
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欠落検査
「欠落検査」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 23件
例文
ＢＧＡ(ball grid array)等の半導体装置において、半田ボールが欠落しているか否かを簡単に検査する。例文帳に追加
To simply inspect whether a solder ball lacks or not in a semiconductor device such as a ball grid array(BGA) or the like. - 特許庁
燃料棒の検査にあたり、燃料棒上部端栓溶接前に燃料棒内部の部品の欠落を感知し、前記各部品の再使用を可能ならしめる。例文帳に追加
To reuse each part by detecting faults of parts inside a fuel rod before welding fuel rod upper end plug for inspecting a fuel rod. - 特許庁
したがって、一対の第２接点１７、１７間の非導通、導通により半田ボール５が欠落しているか否かを簡単に検査することができる。例文帳に追加
Consequently, whether the solder balls 5 lack or not can be inspected simply by whether the pairs of second contacts 17, 17 are set to continuity or not. - 特許庁
ＰＴＰ製剤の、錠剤の欠け、欠落や粉かみ不良、および網目状の凸部の不良を明瞭に捉えることができる検査装置およびその検査方法を提供する。例文帳に追加
To provide an inspecting device and method capable of clearly capturing chips in tablets, missing, powder catching failures, and failures in mesh- shaped protruded parts in PTP preparation. - 特許庁
自動外観検査装置１でチップ部品の欠落が検出されると、その検査対象の基板はＸ線透過撮影装置に送られて、撮影がなされる。例文帳に追加
When a defect of a chip component is detected by an automatic appearance inspecting device 1, a substrate to be inspected is sent to X-ray transmission equipment and photographed. - 特許庁
この部品飛び検査は、実装部品検査で部品の欠落が検出されたとき、高速マウンタで吸着ノズルの交換時期が近づいたときなど、現場の事情に応じた条件に基づき、実施することができる。例文帳に追加
This parts jump test can be executed under conditions corresponding to the situations of the job site when the failure of the parts is detected in the mounted parts test or when the exchange period of an absorption nozzle approaches in the high speed mounter. - 特許庁
次に、事前画像データから検査画像データを減算して第一の差分画像を求め、これを検査して、プレプリント用紙に含まれる事前画像データの像欠落部分を検出する（Ｓ２０４〜Ｓ２０５）。例文帳に追加
Then, the image processing device obtains a first differential image by subtracting the inspection image data from the pre-image data, inspects this, and detects an image missing part of the pre-image data included in the pre-printing paper (S204-S205). - 特許庁
例文
セレクタ部３１０は、上記変換動作により、デジタルデータの欠落や誤りによって表示画像に生じる階調表示の異常を検査する際に、表示階調の変化を大きくして表示させることができるので検査に失敗がなくなる。例文帳に追加
The selector part 310 is capable of intensifying and displaying a change of display gradation by the conversion operation when abnormality of gradation display which is caused on a display image by lack or error of digital data is inspected, whereby the inspector doesn't fail in inspection. - 特許庁
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