functional tests - Weblio 英和・和英辞典 (original) (raw)
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意味・対訳 機能検査
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functional tests
「functional tests」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
例文
Once the first and second stages are assembled at the Tobishima plant, electrical and functional tests are performed.発音を聞く 例文帳に追加
飛島工場で第１段と第２段が組み立てられた後，電気試験や機能試験が行われます。 - 浜島書店 Catch a Wave
To provide a single chip microcomputer capable of executing tests of RAM and another functional block in parallel.例文帳に追加
ＲＡＭと他の機能ブロックのテストをパラレルに行えるシングルチップマイコンを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device capable of performing functional tests at the actual speed of a part to be tested and connection tests between parts to be tested and reducing costs by reducing the number of external pins dedicated for tests.例文帳に追加
試験対象部の実速度での機能試験と、試験対象部間の接続試験と、試験専用の外部ピンの削減によるコストダウンとを図ることができる半導体装置を提供する。 - 特許庁
Tests for obtaining a functional peptide high in specificity and affinity from enormous libraries have been performed to find a homologous peptide.例文帳に追加
膨大なライブラリからより特異性、親和性が高い機能ペプチドを取得する試みを行いホモロジーのあるペプチドを見出した。 - 特許庁
To provide a fire receiver for a dwelling unit capable of performing various functional tests and reducing the number of operation parts and display parts to have excellent operability.例文帳に追加
各種機能試験が実施可能であるとともに、操作部や表示部が少なく操作性に優れる住戸用火災受信機を提供する。 - 特許庁
... is an automated functional testing tool that helps developers and testers rapidly create tests for Windows applications created with any development tool.発音を聞く 例文帳に追加
...は自動化機能テストツールであり、これは任意の開発ツールで作られたウィンドウズ・アプリケーションのためのテストを開発者や試験者が早急に作る手助けをします。 - コンピューター用語辞典
例文
To provide an evaluation method for experimentally evaluating the relish in oil fried food even without performing any functional tests for experimentarily evaluating the mouthfeel of oil fried food having batter coating.例文帳に追加
衣を有する油ちょう食品の食感を実験的に評価するための官能試験を行わなくても、油ちょう食品の美味しさを実験的に評価するための評価方法を提供すること。 - 特許庁
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functional tests
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「functional tests」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
例文
To provide a restorable contact structure suited for temporary connection with an electronic component such as a semiconductor die, subjected to aging and functional tests.例文帳に追加
エージング及び機能試験のために、半導体ダイ等の電子コンポーネントに対して一時的な接続をなすのに好適な復元性のある接触構造の提供。 - 特許庁
To easily and quickly perform functional tests on a semiconductor integrated circuit with a small number of probes even when the number of outputs of the circuit is large without preparing any complicated expected value data by reducing the number of terminals for test.例文帳に追加
機能試験に複雑な期待値データを作成する必要がなく、簡単に素早くテストすることが可能で、且つテスト用端子数を減少させることにより、出力数が多くとも簡単に少ないプローブ針数でテストができるようにする。 - 特許庁
To provide a test system of a semiconductor device, which eliminates such a probability that large current flows through a connection section of a connected semiconductor device in the case setting of terminals is changed in accordance with a change in functional tests, thereby avoiding such a state that a measurement is carried out unstably or the test can not be conducted.例文帳に追加
機能テスト変更に伴う端子の設定変更の際、接続した半導体装置との接続部分に大電流が流れる虞がなく、測定の不安定や試験が行えなくなったりすることなどのない半導体装置用試験装置を提供する。 - 特許庁
This multilayer analysis element for liquid specimen analysis is a multilayer analysis material for liquid specimen analysis made by layering/unifying at least one functional layer and at least one granular structure developing layer in this order on one side of a water-impermeable and light-transmissive planar support body and is characterized in that the developing layer is not broken by 20 times or less of 25g continuous load surface abrasion repetition tests.例文帳に追加
水不透過性光透過性平面支持体の片面上に、少なくとも１つの機能層と少なくとも１つの粒状構造物展開層がこの順に積層一体化された液体試料分析用多層分析材料において、該粒状構造物展開層が２５gの連続荷重表面擦り繰り返し試験において２０回以下では破壊しないことを特徴とする液体試料分析用多層分析要素。 - 特許庁
例文
This semiconductor testing device 1 having a pattern memory circuit 12 used for performing functional tests on semiconductor integrated circuits is provided with a backup power source 14 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 when the power supply from a power supply unit 11 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 at normal time is shut off.例文帳に追加
半導体集積回路の機能試験をするためのパターンメモリ回路１２を有する半導体試験装置１において、通常時にパターンメモリ回路１２に電源を供給する電源ユニット１１からの電源の供給が遮断されたとき、パターンメモリ回路１２に電源を供給するバックアップ電源１４を備えた。 - 特許庁
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| ※この記事は「原子力資料情報室（CNIC）」ホームページ内の「脱原発のための和英小辞典」の情報を転載しております。 |
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