test bank - Weblio 英和・和英辞典 (original) (raw)
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testbank
語源
From test + bank, analogous to databank.
発音
名詞
testbank (複数形 testbanks)
- (education, publishing) A collection of test questions and/or tests; a databank full of such items.
The chemistry department hired me to write batches of questions for a testbank.
「test bank」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 22件
例文
BANK SELECTABLE PARALLEL TEST CIRCUIT AND PARALLEL TEST METHOD THEREOF例文帳に追加
バンク選択が可能な並列テスト回路及び該並列テスト方法 - 特許庁
In an operation test of a plurality of memory cells, the bank decoder simultaneously selects the first bank and the second bank.例文帳に追加
複数のメモリセルの動作テスト時に、バンクデコーダは第１バンクと第２バンクを同時に選択する。 - 特許庁
To provide a parallel test circuit capable of performing a selective test on a specific bank only.例文帳に追加
特定バンクのみを選択的にテストすることができる並列テスト回路を開示する。 - 特許庁
Consequently, the single eFuse bank preserves data of a plurality of sets from a plurality of test stages.例文帳に追加
その結果、単一のeFuse バンクが複数のテスト・ステージからの複数セットのデータを保存する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR USING SINGLE eFUSE BANK TO PRESERVE TEST DATA CONTINUOUSLY FROM MULTIPLE TEST STAGE例文帳に追加
多重テスト・ステージからテスト・データを連続的に保存するために単一のｅＦｕｓｅバンクを使用するための装置および方法 - 特許庁
To shorten a data write-in time at a test time by giving a function writing the data read out from a specified bank in another bank in a synchronous type DRAM(dynamic random access memory) having multi-bank constitution.例文帳に追加
マルチバンク構成を有する同期型ＤＲＡＭにおいて、特定のバンクから読み出したデータを他のバンクに書き込みを行う機能を持たせ、試験に際してデータ書き込み時間を短縮する。 - 特許庁
例文
A W-amplifier/D-amplifier 72 reads out test data from a memory bank 80, a W-amplifier/D-amplifier 73 reads out test data from a memory bank 90.例文帳に追加
Ｗアンプ／Ｄアンプ７２はメモリバンク８０からテストデータを読み出し、Ｗアンプ／Ｄアンプ７３はメモリバンク９０からテストデータを読み出す。 - 特許庁
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test bank
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a bank
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the main bank
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the angle of bank
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the Hypothee Bank
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the test-match
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a test
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例文
during the examination
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例文
（試験の続く間は）―during the examination―（試験のすまぬ間は、答案を出すまでは）―pending the examination
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例文
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銀行強盗.
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試験管.
例文
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例文
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例文
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「test bank」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 22件
例文
A test pattern generated with the test pattern generation circuit 1 is given to the related circuit of the selected bank and the test pattern given from a tester is given to the related circuit of the other banks.例文帳に追加
選択されたバンクの関連回路にテストパターン発生回路１で生成されたテストパターンを与えるとともに、他のバンクの関連回路にはテスタから与えられたテストパターンを与える。 - 特許庁
To provide a device and method for using a single electrical fuse (eFuse) bank in order to preserve test data continuously.例文帳に追加
テスト・データを連続的に保存するために単一の電気的ヒューズ（eFuse）バンクを使用するための装置および方法の提供。 - 特許庁
In this method, an error address is transmitted for an external test layer in a compressed form from an error position in a bank.例文帳に追加
この方法では、エラーアドレスは、バンクでのエラー位置から圧縮された形状で外部試験層に向けて伝送される。 - 特許庁
It can be therefore determined that which part of the bank of the eFuse is already programmed by the previous test stage, and that where operation for programming next data set to the bank of the eFuse is to be started.例文帳に追加
従って、eFuse のバンクのどの部分が前のテスト・ステージによって既にプログラムされていたか、および次のデータ・セットをeFuse のバンクにプログラムする動作をどこで開始すべきかを容易に決定することが可能である。 - 特許庁
To provide a semiconductor test device which can perform a device test for a shorter time by applying a bank memory provided in an AFM and being not used and storing fall information from a DUT.例文帳に追加
ＡＦＭ内に備える使用されていなかったバンクメモリを適用して、ＤＵＴからのフェイル情報を格納させることで、より短時間にデバイス試験が実施可能な半導体試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁
In an incorporated test circuit 150, an internal control signal in accordance with an operation pattern previously set is generated, the selector 124 selects an internal control signal outputted from the incorporated test circuit 150, and outputs it to a bank 1(112).例文帳に追加
内蔵テスト回路１５０では、予め設定された動作パターンに応じた内部制御信号を生成されており、セレクタ１２４は、内蔵テスト回路１５０の出力する内部制御信号を選択し、バンク１（１１２）に出力する。 - 特許庁
The light emission substrate 1003 is provided with: a pixel region 110 having bank regions 220 and light emission regions 230 divided by the bank regions 220; a droplet material spotting precision test region 210 disposed besides the pixel region 110; function layers disposed on the light emission regions 230; and a spotting precision test layer 226 disposed on the droplet material spotting precision test region 210.例文帳に追加
本発明の発光用基板１００３は、バンク領域２２０およびバンク領域２２０によって区画された発光領域２３０を有する画素領域１１０と、画素領域１１０以外に設けられた着弾精度試験用領域２１０と、発光領域２３０に設けられた機能層と、着弾精度試験用領域２１０に設けられた着弾精度試験用層２２６と、を備える。 - 特許庁
例文
A latch on a scan chain holding programming information for each eFuse is used in order to encode and preserve array redundant data from each test in the same eFuse bank.例文帳に追加
各テストからのアレイ冗長性データを同じ eFuse バンクにおいてエンコードおよび保存するために、各eFuse に対するプログラミング情報を保持するスキャン・チェーン上のラッチが使用される。 - 特許庁
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